技术特征：
技术总结
本发明提供一种平均磨损方法、内存控制电路单元及内存储存装置。此方法包括根据抹除次数从无存有有效数据的实体抹除单元中选取第一实体抹除单元，并且从存有有效数据的实体抹除单元中选取有效数据量小于一个实体抹除单元的容量的第二实体抹除单元。此方法也包括根据抹除次数从存有有效数据的实体抹除单元中选取有效数据量小于一个实体抹除单元的容量的第三实体抹除单元。此方法还包括将第二实体抹除单元的有效数据与第三实体抹除单元的至少部分有效数据写入第一实体抹除单元。本发明可以有效地避免因执行垃圾收集而影响连续写入的速度。
技术研发人员：黄俊凯
受保护的技术使用者：群联电子股份有限公司
技术研发日：2016.02.25
技术公布日：2017.09.01