技术特征：
技术总结
本发明公开了一种特征参数提取方法，根据预设的任务分配策略将当前集成电路芯片的版图测试任务分配给集群系统中的多个子进程，以由所述多个子进程并行处理所述当前集成电路芯片的版图测试任务；接收所述多个子进程反馈的处理结果；将所述多个子进程反馈的处理结果进行整合得到所述当前集成电路芯片的版图的特征参数。通过上述方法，快速提取IC芯片的版图的特征参数。相应的，本发明还公开了一种特征参数提取装置。
技术研发人员：黄天怡;陈岚;张贺;曹鹤
受保护的技术使用者：中国科学院微电子研究所
技术研发日：2016.05.11
技术公布日：2017.11.21