技术总结
本发明公开了一种基于实测受扰轨迹变化趋势的失步解列判据。该判据基于相量测量单元PMU，通过降维映射将多机系统实测受扰轨迹映射到一维扩展相平面上，为克服一阶导数不光滑产生的误判问题，采用最小二乘法原理对dv/dR‑R受扰轨迹进行实时拟合，根据角速度‑角半径v‑R受扰轨迹及其一阶导数随R变化的dv/dR‑R受扰轨迹变化趋势来实时判断出系统失步情况，为失步解列控制措施的启动提供依据。该判据无须分群，且能够避免个别离散点误差带来的误判，具有准确性和快速性。
技术研发人员：唐飞;郑永乐;王安斯;郭珂;赵婷;叶笑莉;徐君茹;周慧芝;殷巧玲
受保护的技术使用者：武汉大学;国家电网公司;中国电力科学研究院;国网黑龙江省电力有限公司
文档号码：201610538664
技术研发日：2016.07.08
技术公布日：2016.12.07