技术总结
本发明公开了一种显示测试方法和装置。该方法包括：eDP TCON在eDP source输出第一图案后，抓取整帧；在eDP source输出第二图案后，从第二图案中获取选中区域的图案，eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示选中区域的图案的存储位置，eDP TCON的控制寄存器用于开启或者关闭屏幕自刷新模式2；eDP TCON通过控制寄存器进入屏幕自刷新模式2；将第一图案和第二图案中的选中的区域进行混合显示，以对显示进行测试。本发明解决了相关技术中芯片的屏幕自刷新功能的测试对eDp source或DP source的依赖较高，导致测试效率较低、可靠性较差的技术问题。
技术研发人员：郭春成;张箭
受保护的技术使用者：硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司
技术研发日：2016.08.30
技术公布日：2019.06.04