基于SIFT特征点的双标签相对位置信息构建方法与流程

技术特征：

1.一种基于SIFT特征点的双标签相对位置信息构建方法，所述双标签包括上层标签和下层标签；所述上层标签整体边界处在下层标签的边界范围内；所述下层标签的纹理信息为包括丰富的灰度梯度特征信息的用于SIFT特征提取的纹理信息；

包括以下步骤：

1)选择一个带有双层标签的真实商品，对其双标签拍摄n副不同角度的图片记为P_i,i＝1,…,n；选择其中一副作为模板图片，记为P₁，其中的上下层标签的相对位移作为参照物；选择另一副作为待测图片，记为P₂；对图片P₁，P₂中上下层标签进行SIFT特征点检测，得到P₁，P₂上层标签的SIFT特征点集F₁，F₂；P₁，P₂下层标签的SIFT特征点集f₁，f₂；分别获取上下层标签SIFT特征点的物理坐标，存储至少70％的SIFT特征点的坐标信息；

2)对P₁，P₂下层标签进行SIFT特征配准，得到P₁和P₂中相对应的SIFT配准点集f1’和集f2’，存储f1’和f2’中所有SIFT特征点的位置坐标信息；

3)利用f1’和f2’中所有SIFT特征点的位置坐标构造P₂到P₁的仿射变换矩阵M，将P₁和P₂的下层标签归一化到同一个物理位置,以削弱不同拍摄角度和商品不同摆放位置带来的影响；

4)对P₁、P₂上层标签进行SIFT特征配准，得到P₁和P₂中相对应的SIFT配准点集F₁’和F₂’，存储F₁’和F₂’中所有SIFT特征点的位置坐标信息；对F₂’中SIFT特征点利用仿射矩阵计算仿射变换后的SIFT特征点集F₂”；

5)计算F₂”与F₁’中对应SIFT特征点之间的距离d，此距离即反映了P₂中上层标签相对下层标签的相对位置信息。

2.根据权利要求1所述的基于SIFT特征点的双标签相对位置信息构建方法，其特征在于，所述下层标签的面积大于等于上层标签面积的3倍。

3.根据权利要求1所述的基于SIFT特征点的双标签相对位置信息构建方法，其特征在于，所述下层标签底纹至少能检测出300个SIFT特征点。