触控垫的充电校正系统及其校正方法与流程

本发明涉及一种触控垫的充电校正系统及其校正方法，尤其是指一种通过基准触控垫校正操作触控垫的充电校正系统及其校正方法。

背景技术：

随着科技日新月异的进步，网络的发达已使如冰箱、冷气的各种电子装置充斥着人们的生活，而电子装置现今都以触控式为主，而在触控式电路均需要经过测试，使得实际上应用于电子装置上可以较为平顺而不容易出问题。

其中，实务上对触控垫进行测试，而触控垫一般视为电容(或是外接较大的电容)，因此测试的过程中，通过一供电模块对触控垫充(放)电，借以求得充放电的次数，并通过充放电的次数来判断触控垫是否受触控。然而，现有技术中，由于都是对相同的触控垫进行测试，因而一般在需要针对不同环境下进行测试时，无法根据环境条件调整出适当的触控垫而有适当的电容，进而在实务上客户无法调校出适合该环境的触控状态，使得应用于上述电子装置时，易有出错而造成消费者使用上的不便的问题，因此，现有技术仍具备改善的空间。

技术实现要素：

本发明所要解决的技术问题是鉴于现有的触控垫的测试方法中，普遍具有无法因应环境调整触控垫的问题，提供一种触控垫的充电校正系统及其校正方法，其主要设有基准触控垫与操作触控垫，并通过先反复对基准触控垫供电，再以所获得的供电时间来校正操作触控垫，以达到随环境调整基准触控垫而可校正操作触控垫的目的。

为了实现上述目的，本发明提供了一种触控垫的充电校正系统，包含多个操作触控垫、一基准触控垫、一供电模块以及一统计模块，该些操作触控垫具有一第一电容值，基准触控垫具有一第二电容值，第二电容值大于第一电容值。供电模块电性连接于该些操作触控垫与基准触控垫，用以在一基准量测模式下以一基准供电周期反复对基准触控垫供电，基准供电周期包含一基准供电阶段与一基准中断供电阶段，借以使基准触控垫在基准供电阶段自一起始电压值充电至一设定电压值，并在基准中断供电阶段自设定电压值放电回到起始电压值。供电模块并进一步用以在一校正模式下以一校正供电周期反复对该些操作触控垫之一供电，校正供电周期包含一校正供电阶段与一校正中断供电阶段，借以使上述该些操作触控垫之一在校正供电阶段自起始电压值充电至设定电压值，并在校正中断供电阶段自设定电压值放电回到起始电压值。统计模块电性连接于供电模块，并设有一基准供电次数，用以在基准量测模式下，统计出当累计的基准供电周期的次数达到基准供电次数时所累计历经的一基准累计供电时间。

其中，基准供电周期大于校正供电周期，在校正模式中，统计模块统计在历经基准累计供电时间时所累计历经的校正供电周期的次数，借以作为各操作触控垫在基准累计供电时间下的一基准被充电次数。.

在上述必要技术手段的基础下，上述触控垫的充电校正系统还包含以下所述的较佳附属技术手段。统计模块包含一计数器、一计时器以及一暂存器，计数器设有基准供电次数，电性连接于供电模块，用以在基准量测模式下，统计出当累计的基准供电周期的次数达到基准供电次数时发送出一基准计数信号。计时器电性连接于计数器，用以在接收到基准计数信号时，计算出基准累计供电时间，并传送出一代表基准累计供电时间的计时信号。暂存器电性连接于计时器，用以接收计时信号，借以储存基准累计供电时间。其中，在校正模式中，计时器读取基准累计供电时间，并在计时器计算至基准累计供电时间时，计数模块统计在历经基准累计供电时间时所累计历经的校正供电周期的次数，借以作为基准被充电次数。

在上述必要技术手段的基础下，上述触控垫的充电校正系统还包含以下所述的较佳附属技术手段。计时器由多个t型正反器所组成，暂存器由多个d型正反器所组成。

基于上述目的，本发明所采用的主要技术手段还提供一种触控垫的充电校正方法，应用于上述的触控垫的充电校正系统，并包含步骤(a)至步骤(d)，步骤(a)在基准量测模式下以基准供电周期反复对基准触控垫供电，基准供电周期包含基准供电阶段与基准中断供电阶段，借以使基准触控垫在基准供电阶段自起始电压值充电至设定电压值，并在基准中断供电阶段自设定电压值放电回到起始电压值。步骤(b)在基准量测模式下，统计出当累计的基准供电周期的次数达到基准供电次数时所累计历经的基准累计供电时间。步骤(c)在校正模式下以校正供电周期反复对该些操作触控垫之一供电，校正供电周期包含校正供电阶段与校正中断供电阶段，借以使上述该些操作触控垫之一在校正供电阶段自起始电压值充电至设定电压值，并在校正中断供电阶段自设定电压值放电回到起始电压值。步骤(d)统计在历经基准累计供电时间时所累计历经的校正供电周期的次数，借以作为各操作触控垫在基准累计供电时间下的基准被充电次数。其中，基准供电周期大于校正供电周期。

本发明的技术效果在于：

在采用本发明所提供的触控垫的充电校正系统及其校正方法的主要技术手段后，由于在基准量测模式下以基准供电次数对基准触控垫供电而求得基准累计供电时间，再以基准累计供电时间获取操作触控垫的次数，因此在不同环境下可直接通过调整基准触控垫的电容值来调整操作触控垫的灵敏度。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为显示本发明较佳实施例的触控垫的充电校正系统的方块示意图；

图2为显示本发明较佳实施例的供电模块与统计模块的示意图；

图3为显示本发明较佳实施例的计时器与暂存器的示意图；

图4为显示本发明较佳实施例的触控垫的充电校正方法的流程示意图。

其中，附图标记

1触控垫的充电校正系统

11操作触控垫

12基准触控垫

13供电模块

131控制开关

132电流源

133nmos开关

134比较器

14统计模块

141计数器

142计时器

143暂存器

s1比较信号

s2基准计数信号

s3计时信号

具体实施方式

下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述：

由于本发明所提供的触控垫的充电校正系统及其校正方法中，其组合实施方式不胜枚举，故在此不再一一赘述，仅列举一个较佳实施例加以具体说明。

请一并参阅图1至图3，图1为显示本发明较佳实施例的触控垫的充电校正系统的方块示意图。图2为显示本发明较佳实施例的供电模块与统计模块的示意图。图3为显示本发明较佳实施例的计时器与暂存器的示意图。

如图所示，本发明较佳实施例的触控垫的充电校正系统1包含多个操作触控垫11、一基准触控垫12、一供电模块13以及一统计模块14，操作触控垫11供一使用者进行触控，且一般来说，操作触控垫11具有一第一电容。

基准触控垫12具有一第二电容，且第二电容大于第一电容，而一般来说，第二电容是第一电容的n倍，而n一般为大于1的整数或小数，其视实务上的设计而定。

供电模块13电性连接于该些操作触控垫11与基准触控垫12，其中，供电模块13例如为弛张振荡(relaxationoscillator)电路，并包含有多个控制开关131、多个电流源132、一nmos开关133以及一比较器134，各电流源132对应地电性连接于各控制开关131，并且电性连接于该些操作触控垫11、基准触控垫12与比较器134，比较器134电性连接于各控制开关131与nmos开关133。

统计模块14电性连接于供电模块13，本发明较佳实施例电性连接于比较器134，且统计模块14包含一计数器141、一计时器142以及一暂存器143，计数器(counter)141电性连接于比较器134。计时器(timer)142电性连接于计数器141，并由多个t型正反器所组成，暂存器(timer)143电性连接于计时器142，并由多个d型正反器所组成。

供电模块13用以在一基准量测模式下以一基准供电周期反复对基准触控垫12供电，基准供电周期包含一基准供电阶段与一基准中断供电阶段，借以使基准触控垫12在基准供电阶段自一起始电压值充电至一设定电压值，并在基准中断供电阶段自设定电压值放电回到起始电压值。

举例来说，本发明较佳实施例中，在基准供电阶段时，图中所标示的控制开关131被导通而使得图中所标示的电流源132对基准触控垫12供电，使得基准触控垫12的电容受充电，而当基准触控垫12的电压达到比较器134所设定的设定电压值后，会使比较器134将一比较信号s1发送至图中所标示的控制开关131与nmos开关133，使得控制开关131被关闭而使nmos开关133开启，从而进入基准中断供电阶段使基准触控垫12对nmos开关133放电而由设定电压值放电至起始电压值(例如为0v)。因此，本发明较佳实施例中所定义的反复供电，即指使基准触控垫12的电压从起始电压值充电至设定电压值，在放电至起始电压值再重复充电一次。

另外，供电模块13并进一步用以在一校正模式下以一校正供电周期反复对该些操作触控垫11之一供电，校正供电周期包含一校正供电阶段与一校正中断供电阶段，借以使上述该些操作触控垫11之一在校正供电阶段自起始电压值充电至设定电压值，并在校正中断供电阶段自设定电压值放电回到起始电压值。同样地，上述对该些操作触控垫11的供电与对基准触控垫12的供电的模式均相同，因此不再赘述。

统计模块14设有一基准供电次数(例如为50次)，用以在基准量测模式下，统计出当累计的基准供电周期的次数达到基准供电次数时所累计历经的一基准累计供电时间(例如为10ms)。具体来说，计数器141设有上述的基准供电次数，并在基准量测模式下，统计出当累计的基准供电周期的次数达到基准供电次数(即累计供电50次)时发送出一基准计数信号s2，其统计次数的方式例如是每接收到一次比较器134所发送出的比较信号s1即累计一次。

计时器142在接收到基准计数信号s2时，计算出基准累计供电时间，并传送出一代表基准累计供电时间的计时信号s3。暂存器143接收计时信号s3后储存基准累计供电时间。

其中，大电容与小电容的差异反应于充电状态时，大电容所需要的周期较大(充放电时间较长)，因此，基准供电周期大于校正供电周期。在校正模式中，统计模块14统计在历经基准累计供电时间时所累计历经的校正供电周期的次数(统计方式例如同样为每接收到一次比较器134所发送出的比较信号s1即累计一次)，借以作为各操作触控垫11在基准累计供电时间下的一基准被充电次数。

具体来说，在校正模式中，计时器142读取暂存器143所储存的基准累计供电时间(也可视为暂存器143将所储存的基准累计供电时间传送至计时器142)，并在计时器142计算至基准累计供电时间时，计时器142触发计数器141统计在历经基准累计供电时间时所累计历经的校正供电周期的次数，借以作为基准被充电次数。

值得一提的是，在获取基准被充电次数之后，可利用基准被充电次数来判断操作触控垫11是否被使用者触控。举例来说，假若每个操作触控垫11的基准被充电次数是100次，而在被使用者触控的情况下，会使得操作触控垫11电容变大，因此，在相同的基准累计供电时间下，会使得统计出的次数变少(例如为80次)，而在实务上业者可依据基准被充电次数设定误差率，例如是5％(5次)，则假若在5％的误差范围外的话都可判断为有触控。若是在误差范围内的话则视为无触控。

此外，可依据环境状况调整基准触控垫12的电容值，抑或是通过基准触控垫12调整基准供电次数，从而改变基准累计供电时间而可改变基准被充电次数。举例来说，可将一电容电性连接于基准触控垫12，从而改变基准触控垫12的电容值，进而调整基准累计供电时间。另外一种方式可将一电阻(此电阻可为接地或是电性连接于一电压源)电性连接于基准触控垫12，从而改变设定电压值而调整基准累计供电时间。另外一种方式为将一时脉输入电路电性连接于基准触控垫12，进而依据时脉输入电路的时脉信号直接调整基准累计供电时间(以进一部调整基准供电次数)。因此，不论是用电容、电阻或是时脉输入，都是为了改变基准累计供电时间来达到测得不同的校正供电周期的范围。

请一并参阅图1至图4，图4为显示本发明较佳实施例的触控垫的充电校正方法的流程示意图。如图所示，本发明较佳实施例所提供的触控垫的充电校正方法应用于上述的触控垫的充电校正系统1，并包含以下步骤：

步骤s101：在基准量测模式下以基准供电周期反复对基准触控垫12供电，基准供电周期包含基准供电阶段与基准中断供电阶段，借以使基准触控垫12在基准供电阶段自起始电压值充电至设定电压值，并在基准中断供电阶段自设定电压值放电回到起始电压值。

步骤s102：在基准量测模式下，统计出当累计的基准供电周期的次数达到基准供电次数时所累计历经的基准累计供电时间。

步骤s103：在校正模式下以校正供电周期反复对该些操作触控垫11之一供电，校正供电周期包含校正供电阶段与校正中断供电阶段，借以使上述该些操作触控垫11之一在校正供电阶段自起始电压值充电至设定电压值，并在校正中断供电阶段自设定电压值放电回到起始电压值。

步骤s104：统计在历经基准累计供电时间时所累计历经的校正供电周期的次数，借以作为各操作触控垫在基准累计供电时间下的基准被充电次数。

具体来说，基准供电周期大于校正供电周期，步骤s102中可进一步储存基准累计供电时间，步骤s103中，还将暂存器143所储存的基准累计供电时间传送至计时器142并使计时器142同步计数，而步骤s104中可进一步读取基准累计供电时间，以供统计历经基准累计供电时间时所累计历经的校正供电周期的次数。另外，其余上述步骤s101至步骤s104的运作均与触控垫的充电校正系统1的运作相同，因此不再赘述。

综合以上所述，在采用本发明所提供的触控垫的充电校正系统及其校正方法后，由于在基准量测模式下以基准供电次数对基准触控垫供电而求得基准累计供电时间，再以基准累计供电时间获取操作触控垫的次数，因此在不同环境下可直接通过调整基准触控垫的电容值来调整操作触控垫的灵敏度。

当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。