注入井和生产井间储层连通性评价方法和装置与流程

文档序号:12672594阅读:320来源:国知局
注入井和生产井间储层连通性评价方法和装置与流程

本申请涉及石油天然气技术领域,特别涉及一种注入井和生产井间储层连通性评价方法和装置。



背景技术:

注入井和生产井间储层的连通性,通常是指注入井和生产井间,各成因的指定储层在垂向上和侧向上相互接触连通的方式和程度。其中,所述指定储层可以包括砂体储层、碳酸盐岩储层、以及泥岩储层等等。

稠油开发方式转换时,例如,蒸汽吞吐开发转换为蒸汽驱开发时,通常需要对注入井和生产井间指定储层的连通性进行分析评价。

现有技术中,通常采用厚度连通系数值或层数连通系数值,来评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

具体地,可以将注入井中,连通的指定储层厚度占总指定储层厚度的百分比,作为注入井的厚度连通系数值;可以将生产井中,连通的指定储层厚度占总指定储层厚度的百分比,作为生产井的厚度连通系数值;可以根据注入井的厚度连通系数值和生产井的厚度连通系数值,评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

可以将注入井中,连通的指定储层层数占总指定储层层数的百分比,作为注入井的层数连通系数值;可以将生产井中,连通的指定储层层数占总指定储层层数的百分比,作为生产井的层数连通系数值;可以根据注入井的层数连通系数值和生产井的层数连通系数值,评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

上述现有技术中,当注入井的指定储层与生产井的指定储层,具有相同或相类似的发育特征时,厚度连通系数值可以较好地评价注入井和生产井间指定储层的连通性。例如,当注入井指定储层的发育特征和生产井指定储层的发育特征,均为块状厚层,或者,均为薄互层时,厚度连通系数值可以较好地评价注入井和生产井间指定储层的连通性。但是,当注入井指定储层的发育特征、与生产井指定储层的发育特征差异较大时,厚度连通系数通常无法准确地评价注入井和生产井间指定储层的连通性。例如,当注入井指定储层的发育特征为块状储层、生产井指定储层的发育特征为薄互层时,厚度连通系数值通常无法准确地评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

与厚度连通系数值相类似,当注入井的指定储层与生产井的指定储层,具有相同或相类似的发育特征时,层数连通系数值可以较好地评价注入井和生产井间指定储层的连通性。但是,当注入井指定储层的发育特征、与生产井指定储层的发育特征差异较大时,层数连通系数值通常也无法准确地评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

综上所述,通过上述现有技术得到的厚度连通系数值和层数连通系数值,均不能够准确、有效、全面的评价注入井和生产井间指定储层的连通性。



技术实现要素:

本申请实施例的目的是提供一种注入井和生产井间储层连通性评价方法和装置,以准确评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

为实现上述目的,本申请实施例提供一种注入井和生产井间储层连通性评价方法,包括:获取注入井的指定储层,作为第一指定储层集中的指定储层;从所述第一指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层,作为第二指定储层集中的指定储层;获取生产井的指定储层,作为第三指定储层集中的指定储层;从所述第三指定储层集选取与注入井具有连通关系的指定储层,作为第四指定储层集中的指定储层;基于所述第一指定储层集中各指定储层的厚度值、所述第二指定储层集中各指定储层的厚度值和渗透率值、所述第三指定储层集中各指定储层的厚度值、以及所述第四指定储层集中各指定储层的厚度值和渗透率值,评价注入井和生成井间指定储层的连通性。

为实现上述目的,本申请实施例提供一种注入井和生产井间储层连通性评价装置,包括:第一指定储层集获取单元,用于获取注入井的指定储层,作为第一指定储层集中的指定储层;第二指定储层集获取单元,用于从所述第一指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层,作为第二指定储层集中的指定储层;第三指定储层集获取单元,用于获取生产井的指定储层,作为第三指定储层集中的指定储层;第四指定储层集获取单元,用于从所述第三指定储层集选取与注入井具有连通关系的指定储层,作为第四指定储层集中的指定储层;第一评价单元,用于基于所述第一指定储层集中各指定储层的厚度值、所述第二指定储层集中各指定储层的厚度值和渗透率值、所述第三指定储层集中各指定储层的厚度值、以及所述第四指定储层集中各指定储层的厚度值和渗透率值,评价注入井和生成井间指定储层的连通性。

为实现上述目的,本申请实施例提供一种注入井和生产井间储层连通性评价方法,包括:获取注入井的指定储层,作为第一指定储层集中的指定储层;从所述第一指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层,作为第二指定储层集中的指定储层;获取生产井的指定储层,作为第三指定储层集中的指定储层;从所述第三指定储层集选取与注入井具有连通关系的指定储层,作为第四指定储层集中的指定储层;基于所述第一指定储层集中指定储层的数量、所述第二指定储层集中各指定储层的渗透率值、所述第三指定储层集中指定储层的数量、以及所述第四指定储层集中各指定储层的渗透率值,评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

为实现上述目的,本申请实施例提供一种注入井和生产井间储层连通性评价装置,包括:第一指定储层集获取单元,用于获取注入井的指定储层,作为第一指定储层集中的指定储层;第二指定储层集获取单元,用于从所述第一指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层,作为第二指定储层集中的指定储层;第三指定储层集获取单元,用于获取生产井的指定储层,作为第三指定储层集中的指定储层;第四指定储层集获取单元,用于从所述第三指定储层集选取与注入井具有连通关系的指定储层,作为第四指定储层集中的指定储层;第二评价单元,用于基于所述第一指定储层集中指定储层的数量、所述第二指定储层集中各指定储层的渗透率值、所述第三指定储层集中指定储层的数量、以及所述第四指定储层集中各指定储层的渗透率值,评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

由以上本申请实施例提供的技术方案可见,与现有技术相比,本申请实施例在评价注入井和生成井间指定储层的连通性时,考虑了注入井和生产井间具有连通关系的指定储层的渗透率值,从而能够反映注入井和生产井间指定储层的发育特征,继而可以准确评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例一种注入井和生产井间储层连通性评价方法的流程图;

图2为本申请实施例砂体储层的厚度值和渗透率值的函数关系曲线示意图;

图3为本申请实施例另一种注入井和生产井间储层连通性评价方法的流程图;

图4为本申请实施例一种注入井和生产井的指定储层示意图;

图5为本申请实施例一种注入井和生产井间储层连通性评价装置的功能结构图;

图6为本申请实施例另一种注入井和生产井间储层连通性评价装置的功能结构图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本申请保护的范围。

请参阅图1。本申请实施例提供一种注入井和生产井间储层连通性评价方法。所述方法可以包括如下步骤。

步骤S11:获取注入井的指定储层,作为第一指定储层集中的指定储层。

在本实施例中,所述注入井可以用于向储层注入驱动流体。所述驱动流体包括但不限于水、氮、二氧化碳、和水蒸气等等。

所述指定储层可以为用于评价连通性的储层,具体可以为砂体储层、碳酸盐岩储层、或泥岩储层等等。

所述第一指定储层集中指定储层的数量可以为一个或多个。

在本实施例中,可以采用电法测井、声波测井、或放射性测井等测井方法,获取注入井的测井资料;可以对所述测井资料进行解释,得到注入井的至少一个储层;可以从所述至少一个储层中选取指定储层;可以将选取的指定储层作为第一指定储层集中的指定储层。例如,所述指定储层可以为砂体储层。注入井的至少一个储层可以包括4个泥岩储层和3个砂体储层。那么,可以从所述至少一个储层中选取所述3个砂体储层,可以将所述3个砂体储层作为第一指定储层集中的砂体储层。

当然,还可以采用其他的方法,获取注入井的指定储层,作为第一指定储层集中的指定储层。例如,可以获取注入井所在工区的地震资料;可以对所述地震资料进行解释,得到注入井的至少一个储层;可以从所述至少一个储层中选取指定储层;可以将选取的指定储层作为第一指定储层集中的指定储层。

步骤S12:从所述第一指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层,作为第二指定储层集中的指定储层。

在本实施例中,所述生产井可以用于采油、或采气。

所述第二指定储层集中指定储层的数量可以为零个、一个或多个。

在本实施例中,所述第一指定储层集中的指定储层可以均与生产井连通;或者,所述第一指定储层集中的指定储层可以均与生产井没有连通;又或者,所述第一指定储层集中的指定储层可以部分与生产井连通,部分与生产井没有连通。如此,可以从所述第一指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层,可以将选取的指定储层作为第二指定储层集中的储层。

具体地,可以获取注入井所在工区的地震资料;可以对所述地震资料进行解释,以从所述第一指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层。

步骤S13:获取生产井的指定储层,作为第三指定储层集中的指定储层。

在本实施例中,获取生产井的指定储层的方式,可以与步骤S11中获取注入井的指定储层的方式,相类似。二者可以对照进行解释,在此不再赘述。

步骤S14:从所述第三指定储层集选取与注入井具有连通关系的指定储层,作为第四指定储层集中的指定储层。

在本实施例中,从所述第三指定储层集选取与注入井具有连通关系的指定储层的方式,可以与步骤S12中从所述第一指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层的方式,相类似。二者可以对照进行解释,在此不再赘述。

步骤S15:基于所述第一指定储层集中各指定储层的厚度值、所述第二指定储层集中各指定储层的厚度值和渗透率值、所述第三指定储层集中各指定储层的厚度值、以及所述第四指定储层集中各指定储层的厚度值和渗透率值,评价注入井和生成井间指定储层的连通性。

在本实施例中,可以采用电法测井、声波测井、或放射性测井等测井方法,分别获取注入井和生产井的测井资料;可以对注入井的测井资料进行解释,得到第一指定储层集中各指定储层的厚度值、和第二指定储层集中各指定储层的厚度值;可以对生产井的测井资料进行解释,得到第三指定储层集中各指定储层的厚度值、和第四指定储层集中各指定储层的厚度值。

当然,还可以采用其他的方法,得到第一指定储层集中各指定储层的厚度值、第二指定储层集中各指定储层的厚度值、第三指定储层集中各指定储层的厚度值、和第四指定储层集中各指定储层的厚度值。例如,可以获取注入井和生产井所在工区的地震资料;可以对所述地震资料进行解释,得到第一指定储层集中各指定储层的厚度值、第二指定储层集中各指定储层的厚度值、第三指定储层集中各指定储层的厚度值、和第四指定储层集中各指定储层的厚度值。

在本实施例中,所述方法还可以包括:提供指定储层的厚度值和渗透率值的函数关系;基于所述函数关系,根据所述第二指定储层集中每个指定储层的厚度值,计算该指定储层的渗透率值;基于所述函数关系,根据所述第四指定储层集中每个指定储层的厚度值,计算该指定储层的渗透率值。

所述函数关系具体可以为y=Aln(x)-B。其中,A和B可以分别为所述函数关系的系数,具体大小可以与指定储层的类型相关;x可以为指定储层的厚度;y可以为指定储层的渗透率值。例如,所述指定储层可以为砂体储层。那么,A的值可以0.6492,B的值可以为4.1852。砂体储层的厚度值和渗透率值的函数关系曲线具体可以如图2所示。

在本实施例中,基于所述第一指定储层集中各指定储层的厚度值、和所述第二指定储层集中各指定储层的厚度值和渗透率值,可以计算注入井指定储层的厚度连通系数值;基于所述第三指定储层集中各指定储层的厚度值、和所述第四指定储层集中各指定储层的厚度值和渗透率值,可以计算生产井指定储层的厚度连通系数值;可以根据注入井指定储层的厚度连通系数值、和生产井指定储层的厚度连通系数值,评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

具体地,可以根据公式计算注入井指定储层的厚度连通系数值。其中,Rhc(I)为注入井指定储层的厚度连通系数值;m1为第二指定储层集中指定储层的数量;Hci为第i指定储层的厚度值;Rwi为第i指定储层的渗透率值;n1为第一指定储层集中指定储层的数量;Hcj为第j指定储层的厚度值;i和j均可以为正整数。

可以根据公式计算生产井指定储层的厚度连通系数值。其中,Rhc(P)为生产井指定储层的厚度连通系数值;m2为第四指定储层集中指定储层的数量;Hci为第i指定储层的厚度值;Rwi为第i指定储层的渗透率值;n2为第三指定储层集中指定储层的数量;Hcj为第j指定储层的厚度值。

可以根据公式计算注入井和生产井间指定储层的厚度连通系数值;可以根据注入井和生产井间指定储层的厚度连通系数值,评价注入井和生产井间指定储层的连通性。其中,Rhc(IP)为注入井和生产井间指定储层的厚度连通系数值。

通常地,注入井和生产井间指定储层的厚度连通系数值的大小,与注入井和生产井间指定储层的连通性,正相关。即,注入井和生产井间指定储层的厚度连通系数值越大,注入井和生产井间指定储层的连通性越好。

需要说明的是,本申请实施例可以先执行步骤S11和步骤S12,后执行步骤S13和步骤S14。当然,本申请实施例也可以先执行步骤S13和步骤S14,后执行步骤S11和步骤S12。或者,依赖于计算机等电子设备的性能,还可以并行执行步骤S11和步骤S12、以及步骤S13和步骤S14。

本申请实施例,可以基于所述第一指定储层集中各指定储层的厚度值、所述第二指定储层集中各指定储层的厚度值和渗透率值、所述第三指定储层集中各指定储层的厚度值、以及所述第四指定储层集中各指定储层的厚度值和渗透率值,评价注入井和生成井间指定储层的连通性。与现有技术相比,本申请实施例在评价注入井和生成井间指定储层的连通性时,考虑了注入井和生产井间具有连通关系的指定储层的渗透率值,从而能够反映注入井和生产井间指定储层的发育特征,继而可以准确评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

请参阅图3。本申请实施例还提供另一种注入井和生产井间储层连通性评价方法。所述方法可以包括如下步骤。

步骤S21:获取注入井的指定储层,作为第一指定储层集中的指定储层。

在本实施例中,获取注入井的指定储层的方式,可以与步骤S11中获取注入井的指定储层的方式,相类似。二者可以对照进行解释,在此不再赘述。

步骤S22:从所述第一指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层,作为第二指定储层集中的指定储层。

在本实施例中,从所述第一指定储层集选取与注入井具有连通关系的指定储层的方式,可以与步骤S12中从所述第一指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层的方式,相类似。二者可以对照进行解释,在此不再赘述。

步骤S23:获取生产井的指定储层,作为第三指定储层集中的指定储层。

在本实施例中,获取生产井的指定储层的方式,可以与步骤S13中获取生产井的指定储层的方式,相类似。二者可以对照进行解释,在此不再赘述。

步骤S24:从所述第三指定储层集选取与注入井具有连通关系的指定储层,作为第四指定储层集中的指定储层。

在本实施例中,从所述第三指定储层集选取与注入井具有连通关系的指定储层的方式,可以与步骤S14中从所述第三指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层的方式,相类似。二者可以对照进行解释,在此不再赘述。

步骤S25:基于所述第一指定储层集中指定储层的数量、所述第二指定储层集中各指定储层的渗透率值、所述第三指定储层集中指定储层的数量、以及所述第四指定储层集中各指定储层的渗透率值,评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

在本实施例中,所述方法还可以包括:提供指定储层的厚度值和渗透率值的函数关系;获取所述第二指定储层集中各指定储层的厚度值、和所述第四指定储层集中各指定储层的厚度值;基于所述函数关系,根据所述第二指定储层集中每个指定储层的厚度值,计算该指定储层的渗透率值;基于所述函数关系,根据所述第四指定储层集中每个指定储层的厚度值,计算该指定储层的渗透率值。

具体地,获取所述第二指定储层集中各指定储层的厚度值、和所述第四指定储层集中各指定储层的厚度值的方式,可以与步骤S15相类似。二者可以对照进行解释,在此不再赘述。

关于所述函数关系,可以参照步骤S15中的相关描述,在此不再赘述。

在本实施例中,基于所述第一指定储层集中指定储层的数量、和所述第二指定储层集中各指定储层的渗透率值,可以计算注入井指定储层的层数连通系数值;基于所述第三指定储层集中指定储层的数量、和所述第四指定储层集中各指定储层的渗透率值,可以计算生产井指定储层的层数连通系数值;可以根据注入井指定储层的层数连通系数值、和生产井指定储层的层数连通系数值,评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

具体地,可以根据公式计算注入井指定储层的层数连通系数值。其中,Rlc(I)为注入井指定储层的层数连通系数值;m1为第二指定储层集中指定储层的数量;Rwi为第i指定储层的渗透率值;n1为第一指定储层集中指定储层的数量。

可以根据公式计算生产井指定储层的层数连通系数值。其中,Rlc(P)为生产井指定储层的层数连通系数值;m2为第四指定储层集中指定储层的数量;n2为第三指定储层集中指定储层的数量。

可以根据公式计算注入井和生产井间指定储层的厚度连通系数值;可以根据注入井和生产井间指定储层的厚度连通系数值,评价注入井和生产井间指定储层的连通性。其中,Rlc(IP)为注入井和生产井间指定储层的厚度连通系数值。

通常地,注入井和生产井间指定储层的层数连通系数值的大小,与注入井和生产井间指定储层的连通性,正相关。即,注入井和生产井间指定储层的层数连通系数值越大,注入井和生产井间指定储层的连通性越好。

需要说明的是,本申请实施例可以先执行步骤S21和步骤S22,后执行步骤S23和步骤S24。当然,本申请实施例也可以先执行步骤S23和步骤S24,后执行步骤S21和步骤S22。或者,依赖于计算机等电子设备的性能,还可以并行执行步骤S21和步骤S22、以及步骤S23和步骤S24。

本申请实施例,可以基于所述第一指定储层集中指定储层的数量、所述第二指定储层集中各指定储层的渗透率值、所述第三指定储层集中指定储层的数量、以及所述第四指定储层集中各指定储层的渗透率值,评价注入井和生产井间指定储层的连通性。与现有技术相比,本申请实施例在评价注入井和生成井间指定储层的连通性时,考虑了注入井和生产井间具有连通关系的指定储层的渗透率值,从而能够反映注入井和生产井间指定储层的发育特征,继而可以准确评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

需要说明的是,本申请可以单独基于图1所对应的实施例,来评价注入井和生成井间指定储层的连通性;或者,也可以单独基于图3所对应的实施例,来评价注入井和生成井间指定储层的连通性;当然,还可以结合图1所对应的实施例和图3所对应的实施例,来评价注入井和生成井间指定储层的连通性。

请参阅图4。以下介绍本申请实施例的一个具体应用场景。

所述指定储层可以为砂体储层。

图4中,灰色部分为砂体储层,白色部分为泥岩储层。

生产井C可以包括C1至C6共6个砂体储层。其中,砂体储层C1的厚度值为2m,渗透率值为0.5;砂体储层C2的厚度值为2.3m,渗透率值为0.5;砂体储层C3的厚度值为1.1m,渗透率值为0.2;砂体储层C4的厚度值为1.9m,渗透率值为0.8;砂体储层C5的厚度值为2.9m,渗透率值为0.5;砂体储层C6的厚度值为3.3m,渗透率值为0.7。

注入井J包括J1至J3共3个砂体储层。其中,砂体储层J1的厚度值为8m,渗透率值为0.9;砂体储层J2的厚度值为1.6m;砂体储层J3的厚度值为6m,渗透率值为0.9。

生产井D可以包括D1至D3共3个砂体储层。其中,砂体储层D1的厚度值为7.5m,渗透率值为0.9;砂体储层D2的厚度值为1.6m;砂体储层D3的厚度值为5.5m,渗透率值为0.9。

由图4可知,生产井C砂体储层的发育特征为薄互层,注入井J砂体储层的发育特征为块状厚层和小薄层,生产井D砂体储层的发育特征为块状厚层和小薄层。注入井J和生产井D的块状厚层相连通。如此,注入井J和生产井D间砂体储层的连通性,好于注入井J和生产井C间砂体储层的连通性。

现有技术中,注入井和生产井间砂体储层的厚度连通系数值的计算过程通常如下。

其中,R'hc(C)为基于现有技术中厚度连通系数值计算方法,计算得到的生产井C的砂体储层厚度连通系数值。其中,R'hc(J)为基于现有技术中厚度连通系数值计算方法,计算得到的注入井J的砂体储层厚度连通系数值。其中,R'hc(D)为基于现有技术中厚度连通系数值计算方法,计算得到的生产井D的砂体储层厚度连通系数值。

那么,注入井J和生产井C间砂体储层的厚度连通系数值R'hc(JC)可以为注入井J和生产井D间砂体储层的厚度连通系数值R'hc(JD)可以为

R'hc(JC)=0.95>R'hc(JD)=0.89。因此,基于现有技术中厚度连通系数值计算方法,注入井J与生产井C间砂体储层的厚度连通系数值,大于注入井J与生产井D间砂体储层的厚度连通系数值。也就是说,注入井J与生产井C间砂体储层的连通性,好于注入井J与生产井D间砂体储层的连通性。这与前述分析的客观事实不相符。

本申请实施例中,注入井和生产井间砂体储层的厚度连通系数值的计算过程通常如下。

其中,Rhc(C)为基于本申请实施例中厚度连通系数值计算方法,计算得到的生产井C的砂体储层厚度连通系数值。其中,Rhc(J)为基于本申请实施例中厚度连通系数值计算方法,计算得到的注入井J的砂体储层厚度连通系数值。

其中,Rhc(D)为基于本申请实施例中厚度连通系数值计算方法,计算得到的生产井D的砂体储层厚度连通系数值。

那么,注入井J和生产井C间砂体储层的厚度连通系数值Rhc(JC)可以为注入井J和生产井D间砂体储层的厚度连通系数值Rhc(JD)可以为

Rhc(JC)=0.71<Rhc(JD)=0.83。因此,基于本申请实施例中厚度连通系数值计算方法,注入井J与生产井C间砂体储层的厚度连通系数值,小于注入井J与生产井D间砂体储层的厚度连通系数值。也就是说,注入井J与生产井D间砂体储层的连通性,好于注入井J与生产井C间砂体储层的连通性。这与前述分析的客观事实相符。

现有技术中,注入井和生产井间砂体储层的层数连通系数值的计算过程通常如下。

其中,Rl'c(C)为基于现有技术中层数连通系数值计算方法,计算得到的生产井C的砂体储层层数连通系数值。其中,Rl'c(J)为基于现有技术中层数连通系数值计算方法,计算得到的注入井J的砂体储层层数连通系数值。其中,Rl'c(D)为基于现有技术中层数连通系数值计算方法,计算得到的生产井D的砂体储层层数连通系数值。

那么,注入井J和生产井C间砂体储层的层数连通系数值Rl'c(JC)可以为注入井J和生产井D间砂体储层的层数连通系数值Rl'c(JD)可以为

Rl'c(JC)=0.84>Rl'c(JD)=0.67。因此,基于现有技术中层数连通系数值计算方法,注入井J与生产井C间砂体储层的层数连通系数值,大于注入井J与生产井D间砂体储层的层数连通系数值。也就是说,注入井J与生产井C间砂体储层的连通性,好于注入井J与生产井D间砂体储层的连通性。这与前述分析的客观事实不相符。

本申请实施例中,注入井和生产井间砂体储层的层数连通系数值的计算过程通常如下。

其中,Rlc(C)为基于本申请实施例中层数连通系数值计算方法,计算得到的生产井C的砂体储层层数连通系数值。

其中,Rlc(J)为基于本申请实施例中层数连通系数值计算方法,计算得到的注入井J的砂体储层层数连通系数值。其中,Rlc(D)为基于本申请实施例中层数连通系数值计算方法,计算得到的生产井D的砂体储层层数连通系数值。

那么,注入井J和生产井C间砂体储层的层数连通系数值Rlc(JC)可以为注入井J和生产井D间砂体储层的层数连通系数值Rlc(JD)可以为

Rlc(JC)=0.56<Rlc(JD)=0.60。因此,基于本申请实施例中层数连通系数值计算方法,注入井J与生产井C间砂体储层的层数连通系数值,小于注入井J与生产井D间砂体储层的层数连通系数值。也就是说,注入井J与生产井D间砂体储层的连通性,好于注入井J与生产井C间砂体储层的连通性。这与前述分析的客观事实相符。

请参阅图5。本申请实施例还提供一种注入井和生产井间储层连通性评价装置。所述装置可以包括第一指定储层集获取单元501、第二指定储层集获取单元502、第三指定储层集获取单元503、第四指定储层集获取单元504、和第一评价单元505。其中,

第一指定储层集获取单元501,用于获取注入井的指定储层,作为第一指定储层集中的指定储层;

第二指定储层集获取单元502,用于从所述第一指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层,作为第二指定储层集中的指定储层;

第三指定储层集获取单元503,用于获取生产井的指定储层,作为第三指定储层集中的指定储层;

第四指定储层集获取单元504,用于从所述第三指定储层集选取与注入井具有连通关系的指定储层,作为第四指定储层集中的指定储层;

第一评价单元505,用于基于所述第一指定储层集中各指定储层的厚度值、所述第二指定储层集中各指定储层的厚度值和渗透率值、所述第三指定储层集中各指定储层的厚度值、以及所述第四指定储层集中各指定储层的厚度值和渗透率值,评价注入井和生成井间指定储层的连通性。

请参阅图6。本申请实施例还提供另一种注入井和生产井间储层连通性评价装置。所述装置可以包括第一指定储层集获取单元501、第二指定储层集获取单元502、第三指定储层集获取单元503、第四指定储层集获取单元504、和第二评价单元601。其中,

第一指定储层集获取单元501,用于获取注入井的指定储层,作为第一指定储层集中的指定储层;

第二指定储层集获取单元502,用于从所述第一指定储层集选取与生产井具有连通关系的指定储层,作为第二指定储层集中的指定储层;

第三指定储层集获取单元503,用于获取生产井的指定储层,作为第三指定储层集中的指定储层;

第四指定储层集获取单元504,用于从所述第三指定储层集选取与注入井具有连通关系的指定储层,作为第四指定储层集中的指定储层;

第二评价单元601,用于基于所述第一指定储层集中指定储层的数量、所述第二指定储层集中各指定储层的渗透率值、所述第三指定储层集中指定储层的数量、以及所述第四指定储层集中各指定储层的渗透率值,评价注入井和生产井间指定储层的连通性。

在20世纪90年代,对于一个技术的改进可以很明显地区分是硬件上的改进(例如,对二极管、晶体管、开关等电路结构的改进)还是软件上的改进(对于方法流程的改进)。然而,随着技术的发展,当今的很多方法流程的改进已经可以视为硬件电路结构的直接改进。设计人员几乎都通过将改进的方法流程编程到硬件电路中来得到相应的硬件电路结构。因此,不能说一个方法流程的改进就不能用硬件实体模块来实现。例如,可编程逻辑器件(Programmable Logic Device,PLD)(例如现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA))就是这样一种集成电路,其逻辑功能由用户对器件编程来确定。由设计人员自行编程来把一个数字系统“集成”在一片PLD上,而不需要请芯片制造厂商来设计和制作专用的集成电路芯片2。而且,如今,取代手工地制作集成电路芯片,这种编程也多半改用“逻辑编译器(logic compiler)”软件来实现,它与程序开发撰写时所用的软件编译器相类似,而要编译之前的原始代码也得用特定的编程语言来撰写,此称之为硬件描述语言(Hardware Description Language,HDL),而HDL也并非仅有一种,而是有许多种,如ABEL(Advanced Boolean Expression Language)、AHDL(Altera Hardware Description Language)、Confluence、CUPL(Cornell University Programming Language)、HDCal、JHDL(Java Hardware Description Language)、Lava、Lola、MyHDL、PALASM、RHDL(Ruby Hardware Description Language)等,目前最普遍使用的是VHDL(Very-High-Speed Integrated Circuit Hardware Description Language)与Verilog2。本领域技术人员也应该清楚,只需要将方法流程用上述几种硬件描述语言稍作逻辑编程并编程到集成电路中,就可以很容易得到实现该逻辑方法流程的硬件电路。

上述实施例阐明的系统、装置、模块或单元,具体可以由计算机芯片或实体实现,或者由具有某种功能的产品来实现。

为了描述的方便,描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然,在实施本申请时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。

通过以上的实施方式的描述可知,本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在存储介质中,如ROM/RAM、磁碟、光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于系统实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本申请可用于众多通用或专用的计算机系统环境或配置中。例如:个人计算机、服务器计算机、手持设备或便携式设备、平板型设备、多处理器系统、基于微处理器的系统、置顶盒、可编程的消费电子设备、网络PC、小型计算机、大型计算机、包括以上任何系统或设备的分布式计算环境等等。

本申请可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述,例如程序模块。一般地,程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本申请,在这些分布式计算环境中,由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中,程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。

虽然通过实施例描绘了本申请,本领域普通技术人员知道,本申请有许多变形和变化而不脱离本申请的精神,希望所附的权利要求包括这些变形和变化而不脱离本申请的精神。

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