本发明涉及一种数据接口的性能验证方法，属于计算机技术领域，尤其涉及一种快速pcie3.0信号完整性的检测方法及系统。
背景技术：
为满足高扩展性，在现有的服务器设备上，pcie已经成为不可缺少的扩展接口，通常会外插一些pcie接口的raid卡、sas卡、hba卡等设备来满足不同的客户需求。随着数据传输速率的需求不断增加，pcie接口的模式和传输速率也发展到pcie3.0规格，同样的，pcie3.0信号质量直接影响到这些外插卡的功能和性能，为保证外插的pcie3.0设备能够稳定高效的工作，pcie3.0的信号质量必须符合pcie协议规范，因此，对于pcie3.0接口来说其自身信号传送的完整性风险也随之增大，pcie3.0信号完整性测试已是必不可少的项目。
目前，对于pcie信号完整性的测试主要通过专门的信号测试设备如示波器、误码仪来测试信号完整性，这一类信号测试设备通过依次对pcie中每条分线的信号完整性进行测试，达到测试pcie总线信号完整性的目的，由于这种方法需对每条分线的信号完整性进行测试，使得pcie总线的信号完整性测试效率较低。在实际操作过程当中，需要测试工程师多次重复操作示波器和sigtest软件，其过程非常繁琐、耗时，令测试工程师痛苦不堪。
如中国专利(申请号cn201710147003.1)公开了一种pcie3.0tx信号自动测量方法，属于电子领域、信号完整性验证领域，该发明利用c#语言编写的集示波器控制、sigtest软件调用、结果信息数据库管理以及报告制作为一体，直接运行在示波器操作系统上，测试工程师只需要输入少量信息，便可以一键完成pcie3.0tx信号验证，最后自动进行数据整理和报告制作。该方法虽然一定程度上提高了pcie3.0信号完整性的测量效率，但由于需要处理的参数多、流程长，因此会降低pcie3.0信号完整性的准确度和效率。
技术实现要素：
本发明提供了一种快速pice3.0信号完整性的检测方法及系统，用于解决现有技术中对pice3.0信号完整性的验证效率较低的问题，明确pcie控制器端tx信号的电气特性规范，以保证服务器主板的pcie信号输出质量，提高服务器整体的运行性能。
本发明通过以下技术方案予以实现：
一种快速pice3.0信号完整性的检测方法，包括以下步骤：
首先，搭建带有波形检测功能的测试平台；
然后将测试治具插入被测的pcie插槽中，通过所述测试平台抓取两个pcie3.0波形数据；
再对获取的两个pcie3.0波形数据进行测试分析，并获得测试结果数据；
根据测试结果数据进行判断，若测试结果为pass，则测试通过；若结果为fail，分析测试结果数据并进行故障处理，然后重新测试直至通过。
如上所述的一种快速pice3.0信号完整性的检测方法，所述测试平台由dsa72004示波器和tca-smaadapter通过sma-smp线缆连接构成。
如上所述的一种快速pice3.0信号完整性的检测方法，测试开始前对所述示波器和sma-smp线缆进行校准以保证信号时基同步。
如上所述的一种快速pice3.0信号完整性的检测方法，所述示波器的通道1、2分别连接到测试治具的clkp、n端，通道3、4分别连接到被测lane的tx+及tx-端，打开示波器菜单栏的math——mathsetup，做两个math，math1＝ch1-ch2，math2＝ch3-ch4；math1即为clock的差分信号，math2为data的差分信号，以获取两个pcie3.0波形数据。
如上所述的一种快速pice3.0信号完整性的检测方法，获取的pcie3.0波形数据输入到sigtest软件进行分析，sigtest软件中datatype选择dualportdifferential，选择对应的clock及data文件，然后点击loadandverifydatafile，然后选择technology和template，pcie3.0选择technology“pcie_3_0_sys”，template“dual_port_sys_con_250”，以获得测试结果数据。
一种快速pice3.0信号完整性的检测系统，包括测试平台模块、波形抓取模块、波形分析模块和波形测试验证模块；所述波形抓取模块用于在将测试治具插入被测pcie插槽后抓取两个pcie3.0的波形数据；所述波形测试模块用于将获取的两个pcie3.0的波形输入到系统中进行测试分析，并获得测试结果数据；所述波形测试验证模块根据测试结果数据进行判断，若测试结果为pass，则测试通过；若结果为fail，分析测试结果数据并进行故障处理，然后重新测试直至通过。
如上所述的一种快速pice3.0信号完整性的检测系统，所述测试平台模块由dsa72004示波器和tca-smaadapter通过sma-smp线缆连接构成。
如上所述的一种快速pice3.0信号完整性的检测系统，所述波形分析模块安装有sigtest软件，sigtest软件接收到测试结果数据并完成测试分析。
与现有技术相比，本发明的有益效果在于：
本发明通过搭建带有波形检测功能的测试平台，然后抓取两个pcie3.0波形数据，并根据获取的两个pcie3.0波形数据进行测试分析，然后再对测试结果数据进行判断，若测试结果为pass，则测试通过；若结果为fail，分析测试结果数据并进行故障处理，然后重新测试直至通过。因此，可有效提高pcie3.0信号完整性的测试效率和准确度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍。
图1是本发明的流程图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
如图1所示，本实施例一种一种快速pice3.0信号完整性的检测方法，包括以下步骤：
首先，搭建带有波形检测功能的测试平台；
然后将测试治具插入被测的pcie插槽中，通过所述测试平台抓取两个pcie3.0波形数据；
再对获取的两个pcie3.0波形数据进行测试分析，并获得测试结果数据；
根据测试结果数据进行判断，若测试结果为pass，则测试通过；若结果为fail，分析测试结果数据并进行故障处理，然后重新测试直至通过。
具体而言，本实施例的工作过程如下：
1、平台搭建
包括测试样机及测试仪器的搭建：测试仪器包含dsa72004示波器一台，tca-smaadapter四个，sma-smp线缆四条及pcie测试治具两个，测试开始前要进行示波器校准、sma线缆校准、信号时基同步等工作。待测系统需要一套可工作的系统。
2、抓取测试波形
将测试治具插入被测pcie插槽，连接好线缆，示波器通道1、2分别连接到clkp、n端，通道3、4分别连接到被测lane的tx+及tx-端，打开示波器菜单栏的math——mathsetup，做两个math，math1＝ch1-ch2，math2＝ch3-ch4；math1即为clock的差分信号，math2为data的差分信号。
在默认情况下输出的波形为pcie1.0波形，按一下测试治具上的切换button会切换到pcie2.0-3.5db，再按一下button会切换到pcie3.0-6db，我们要抓取的就是两个pcie3.0的波形。
3、波形数据分析
波形数据保存后需要用sigtest软件进行分析，打开sigtest软件，datatype选择dualportdifferential，选择对应的clock及data文件，然后点击loadandverifydatafile，然后选择technology和template，pcie3.0选择technology“pcie_3_0_sys”，template“dual_port_sys_con_250”，然后点击test进行分析，分析完成后会显示结果。
4、测试结论
若sigtest测试结果为pass，则测试通过；若结果为fail，需要分析原因并重新安排测试，直至测试通过，以确保系统能稳定、高效的工作。
本发明还提供了一种快速pice3.0信号完整性的检测系统，包括测试平台模块、波形抓取模块、波形分析模块和波形测试验证模块；所述波形抓取模块用于在将测试治具插入被测pcie插槽后抓取两个pcie3.0的波形数据；所述波形测试模块用于将获取的两个pcie3.0的波形输入到系统中进行测试分析，并获得测试结果数据；所述波形测试验证模块根据测试结果数据进行判断，若测试结果为pass，则测试通过；若结果为fail，分析测试结果数据并进行故障处理，然后重新测试直至通过。
本发明以pcie工业规范为基础，明确pcie控制器端tx信号的电气特性规范，包含信号的传输速率、抖动、眼高、眼宽等参数，以保证服务器主板的pcie信号输出质量，提高服务器整体的运行性能。
本发明未详尽描述的技术内容均为公知技术。