接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质与流程

文档序号:16693006发布日期:2019-01-22 19:07阅读:143来源:国知局
接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质与流程

本发明涉及计算机应用技术领域,尤其涉及一种接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质。



背景技术:

在如今系统设计的背景下,rest(表述性状态传递,representationalstatetransfer)风格的接口应用越发广泛,针对该类型的接口测试需求也日趋旺盛。

在传统的接口测试模式下,测试人员需要使用各式各样的接口请求工具或者手动编写接口请求代码,并且测试人员还需要维护大量的测试用例与测试数据。对于rest风格的接口来说,非业务逻辑的接口测试存在一定的逻辑规律,并且针对同类型的栏位配置信息,测试用例的相似度非常高。

为了应对频繁变更的系统开发需求,测试人员需要花费大量人力成本在维护接口测试用例上,其中很多都是单一重复的操作。尤其是当接口的栏位数量或者类型发生改变时,修改调试对应的测试用例需要占用大量的时间,而紧凑的开发周期可能会导致这部分接口无法得到充分的测试,从而变向提高了实施接口测试自动化的难度。



技术实现要素:

本发明为了克服上述现有技术存在的缺陷,提供一种接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质,以自动生成并维护测试用例,减少重复的劳动,减轻测试人员的日常工作负担,用以节省不必要的维护成本。

根据本发明的一个方面,提供一种接口测试用例生成方法,包括:

获取待测试接口的接口配置信息,所述配置信息包括至少一个栏位的栏位值设定;

依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表,所述有效栏位值列表中的有效栏位值符合所述栏位值设定,所述无效栏位值列表中的无效栏位值不符合所述栏位值设定;

遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例;

遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例;以及

组合所述待测试接口的各栏位的正面测试用例及负面测试用例,生成待测试接口的接口测试用例列表。

可选地,所述栏位值设定包括:栏位值类型、栏位类型、栏位值长度范围、栏位值连续取值范围、栏位值离散取值范围中的至少一项。

可选地,依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表包括:

依据栏位的栏位值设定中的栏位值类型,随机生成至少一个基础栏位值,并基于所述基础栏位值及所述栏位值长度范围,生成有效栏位值列表和无效栏位值列表。

可选地,依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表包括:

依据栏位的栏位值设定中的栏位值类型,自一预存基础栏位值表中选取符合所述栏位值类型的基础栏位值,并基于所述基础栏位值及所述栏位值长度范围,生成有效栏位值列表和无效栏位值列表。

可选地,还包括:

依据所述待测试接口的接口配置信息判断所述待测试接口是否具有引用接口;

若所述待测试接口具有引用接口,则使所述待测试接口的栏位的有效栏位值列表中的有效栏位值设置为所述引用接口经接口测试用例执行成功时的返回值。

可选地,还包括:

对待测试接口执行所述接口测试用例,若所述待测试接口为引用接口,则保存该待测试接口经接口测试用例执行成功时的返回值。

可选地,所述待测试接口的接口配置信息具有一引用标识,所述引用标识指示所述待测试接口为引用接口、被引用接口或无引用关系接口;

所述待测试接口的接口配置信息基于所述引用标识还配置有与待测试接口具有引用关系的接口标识。

可选地,所述遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例还包括:

对所述有效栏位值列表中各有效栏位值进行去重;

所述遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例还包括:

对所述无效栏位值列表中各无效栏位值进行去重。

可选地,所述组合所述待测试接口的各栏位的正面测试用例及负面测试用例,生成待测试接口的接口测试用例列表还包括:

对接口测试用例列表中的接口测试用例进行去重。

可选地,还包括:

判断所述待测试接口的接口配置信息是否具有变更;以及

若所述待测试接口的接口配置信息具有变更,则基于所述变更更新所述接口测试用例列表。

可选地,若任一栏位的栏位值设定与已生成接口测试用例列表的接口的历史栏位的栏位值设定相同,则将该历史栏位的有效栏位值列表和无效栏位值列表作为该栏位的有效栏位值列表和无效栏位值列表。

根据本发明的又一方面,还提供一种接口测试用例生成装置,包括:

获取模块,用于获取待测试接口的接口配置信息,所述配置信息包括至少一个栏位的栏位值设定;

栏位值列表生成模块,用于依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表,所述有效栏位值列表中的有效栏位值符合所述栏位值设定,所述无效栏位值列表中的无效栏位值不符合所述栏位值设定;

正面测试用例生成模块,用于遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例;

负面测试用例生成模块,用于遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例;以及

接口测试用例列表生成模块,用于组合所述待测试接口的各栏位的正面测试用例及负面测试用例,生成待测试接口的接口测试用例列表。

根据本发明的又一方面,还提供一种电子设备,所述电子设备包括:处理器;存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器运行时执行如上所述的步骤。

根据本发明的又一方面,还提供一种存储介质,所述存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器运行时执行如上所述的步骤。

相比现有技术,本发明具有如下优势:

1)测试人员无需再自行编写接口测试用例,本算法可根据接口配置信息,一键生成所有的测试用例,覆盖超过90%的接口测试场景,减少测试人员的重复操作,节省时间;

2)不会编写代码的测试人员也可通过本算法,简单实现接口自动化测试;

3)在接口配置发生变化时,测试人员无需手动维护测试用例信息。测试人员可通过本算法读取测试接口的变化信息,更新所有变化接口的测试用例。

附图说明

通过参照附图详细描述其示例实施方式,本发明的上述和其它特征及优点将变得更加明显。

图1示出了根据本发明实施例的接口测试用例生成方法的流程图。

图2示出了根据本发明具体实施例的接口测试用例生成方法的流程图。

图3示出了根据本发明实施例的生成有效栏位值列表的流程图。

图4示出了根据本发明实施例的生成无效栏位值列表的流程图。

图5示出了根据本发明实施例的引用接口赋值的流程图。

图6示出了根据本发明实施例的接口测试用例生成装置的示意图。

图7示意性示出本公开示例性实施例中一种计算机可读存储介质示意图。

图8示意性示出本公开示例性实施例中一种电子设备示意图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而,示例实施方式能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的实施方式;相反,提供这些实施方式使得本发明将全面和完整,并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的结构,因而将省略对它们的重复描述。

下面结合附图描述本发明提供的各个实施例。

首先参见图1,图1示出了根据本发明实施例的接口测试用例生成方法的流程图。图1共示出5个步骤:

步骤s101:获取待测试接口的接口配置信息,所述配置信息包括至少一个栏位的栏位值设定;

步骤s102:依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表,所述有效栏位值列表中的有效栏位值符合所述栏位值设定,所述无效栏位值列表中的无效栏位值不符合所述栏位值设定;

步骤s103:遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例;

步骤s104:遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例;以及

步骤s105:组合所述待测试接口的各栏位的正面测试用例及负面测试用例,生成待测试接口的接口测试用例列表。

由此,本发明提供的接口测试用例生成方法中,一方面,测试人员无需再自行编写接口测试用例,本算法可根据接口配置信息,一键生成所有的测试用例,覆盖超过90%的接口测试场景,减少测试人员的重复操作,节省时间;另一方面,不会编写代码的测试人员也可通过本算法,简单实现接口自动化测试;再一方面,在接口配置发生变化时,测试人员无需手动维护测试用例信息。测试人员可通过本算法读取测试接口的变化信息,更新所有变化接口的测试用例。

具体而言,在本发明的各个实施例中,可以采用java语言,读取rest风格的接口配置信息,接口配置信息例如可以包含接口请求地址,接口请求类型,请求参数信息(至少一个栏位的栏位值设定)以及返回参数信息。本发明的各个实施例中可以根据不同的请求类型以及请求参数类型,通过接口测试的逻辑规则,生成测试用例列表。

下面分别根据图2至图5描述本发明的多个实施例。

首先参见图2,图2示出了根据本发明具体实施例的接口测试用例生成方法的流程图。如图2所示,在本实施例中,接口测试用例生成方法可以针对待测试的接口列表中,逐个读取各待测试接口的接口配置信息。

首先,执行步骤s201;清除该待测试接口上一次自动生成的接口测试用例列表。

具体而言,在步骤s201中,可以仅清除待测试接口的接口配置信息变更的待测试接口上一次自动生成的接口测试用例列表,保留接口配置信息不变的待测试接口的接口测试用例列表,以实现接口测试用例列表的自动更新。进一步地,在一些具体实施例中,可以仅对接口配置信息中栏位的栏位值设定变更对应的接口测试用例列表的中接口测试用例进行更新,由此,减少系统变更负荷。

然后,执行步骤s202;根据待测试接口的最新接口配置信息的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表。

具体而言,有效栏位值列表包括根据栏位值设定生成的该栏位的符合栏位值设定的有效可能值(有效栏位值)。无效栏位值列表包括根据栏位值设定生成的该栏位的不符合栏位值设定的无效可能值(无效栏位值)。

以有效栏位值列表为例,在判断有效栏位值时,例如可以依次判断栏位的默认值、栏位值类型、栏位类型、栏位值长度范围、栏位值连续取值范围、栏位值离散取值范围、是否必填等信息,依次生成该栏位的可取值范围,并放入有效栏位值列表。无效栏位值列表的生成与有效栏位值列表类似。有效栏位值列表和无效栏位值列表的生成在此不予赘述。

在一些具体实施例中,若任一栏位的栏位值设定与已生成接口测试用例列表的接口的历史栏位的栏位值设定相同,则将该历史栏位的有效栏位值列表和无效栏位值列表作为该栏位的有效栏位值列表和无效栏位值列表,由此,加快有效栏位值列表和无效栏位值列表的生成效率。

然后,执行步骤s203;对有效栏位值列表和无效栏位值列表的各个栏位值进行去重。

然后,执行步骤s204,遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例,遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例。

然后,执行步骤s205,对生成的测试用例进行去重。

最后,执行步骤s206,持久化各测试用例以生成新的接口测试用例列表。

上述步骤s203和步骤s205中可以仅执行其中一个步骤,本发明并非以此为限。

下面,参见图3,图3示出了根据本发明实施例的生成有效栏位值列表的流程图。在本实施例中,假设接口配置信息中,接口存在一个请求栏位,该栏位的栏位值类型为string(字符串),栏位类型必填栏位,栏位值的最小字符数为3(最小长度),最大字符数为10(最大长度)。

开始生成有效栏位值列表,执行步骤s301,判断栏位值类型。在本实施例中,栏位值类型为字符串。然后执行步骤s302,生成随机字符串作为基础栏位值(在本实施例中,随机字符串为usernameabc)。然后执行步骤s303,判断栏位值的最小字符数。在本实施例中,最小字符数限定为3,则在步骤s304将在基础栏位值中提取最小字符数和最小字符数加1的两个有效栏位值。例如,本实施例中,所提取的有效栏位值为use和user(以上仅仅是示意性地示出本发明的有效栏位值的数量,本发明并非以此为限)。然后执行步骤s309,将所提取的有效栏位值为use和user计入有效栏位值列表中。若栏位值的最小字符数无限制,或者在步骤s309将最小栏位值的有效栏位值计入有效栏位值列表之后,执行步骤s305,判断栏位值的最大字符数。在本实施例中,最大字符数限定为10,则在步骤s306将在基础栏位值中提取最大字符数和最大字符数减1的两个有效栏位值。例如,本实施例中,所提取的有效栏位值为usernameab和usernamea(以上仅仅是示意性地示出本发明的有效栏位值的数量,本发明并非以此为限)。然后执行步骤s309,将所提取的有效栏位值为usernameab和usernamea计入有效栏位值列表中。若栏位值的最大字符数无限制,或者在步骤s309将最大栏位值的有效栏位值计入有效栏位值列表之后,执行步骤s307,判断该栏位类型是否为必填,若是,则执行步骤s308,基于基础栏位值,随机选取字符数在限定范围内的字符作为有效栏位值。在本实施例中,例如,选取的栏位值为username,然后执行步骤s309,将栏位值username计入有效栏位值列表中。由此,生成5个有效栏位值分别为:use,user,usernamea,usernameab,username,并可在后序步骤中基于该五个栏位值生成五个正面测试用例。

在本实施例中,上述基础栏位值基于所确定的栏位值类型随机生成。在本发明的一个变化例中,上述基础栏位值可与栏位值类型关联的储存在一预存基础栏位值表中,由此,可以减少系统每次生成有效栏位值列表时都需要随机生成基础栏位值的步骤。

下面,参见图4,图4示出了根据本发明实施例的生成无效栏位值列表的流程图。

在本实施例中,同样地,假设接口配置信息中,接口存在一个请求栏位,该栏位的栏位值类型为string(字符串),栏位类型必填栏位,栏位值的最小字符数为3(最小长度),最大字符数为10(最大长度)。

开始生成无效栏位值列表,执行步骤s401,判断栏位值类型。在本实施例中,栏位值类型为字符串。然后执行步骤s402,生成字符串类型的非法字符(或者生成其它类型的栏位值)。然后将所生成的非法字符在步骤s410中计入无效栏位值列表。此外,在判断栏位值类型为字符串后还执行步骤s403,生成随机字符串作为基础栏位值(在本实施例中,随机字符串为usernameabc)。然后执行步骤s404,判断栏位值的最小字符数。在本实施例中,最小字符数限定为3,则在步骤s404将在基础栏位值中提取最小字符数减1和最小字符数减任意正整数n的两个无效栏位值。例如,本实施例中,所提取的无效栏位值为us和u(以上仅仅是示意性地示出本发明的无效栏位值的数量,本发明并非以此为限)。然后执行步骤s410,将所提取的无效栏位值为us和u计入无效栏位值列表中。若栏位值的最小字符数无限制,或者在步骤s410将最小栏位值的无效栏位值计入无效栏位值列表之后,执行步骤s406,判断栏位值的最大字符数。在本实施例中,最大字符数限定为10,则在步骤s407将在基础栏位值中提取最大字符数加1和最大字符数加任意正整数n的两个无效栏位值。例如,本实施例中,所提取的无效栏位值为usernameabc和usernameabcd(以上仅仅是示意性地示出本发明的无效栏位值的数量,本发明并非以此为限)。然后执行步骤s410,将所提取的无效栏位值为usernameabc和usernameabcd计入无效栏位值列表中。若栏位值的最大字符数无限制,或者在步骤s410将最大栏位值的无效栏位值计入无效栏位值列表之后,执行步骤s408,判断该栏位类型是否为必填,若是,则执行步骤s409,将空栏位值作为无效栏位值。然后执行步骤s410,将空栏位值计入无效栏位值列表中。由此,生成6个无效栏位值分别为:@¥%@#,us,u,usernameabc,usernameabcd,空栏位值,并可在后序步骤中基于该六个栏位值生成六个负面测试用例。

在本实施例中,上述基础栏位值基于所确定的栏位值类型随机生成。在本发明的一个变化例中,上述基础栏位值可与栏位值类型关联的储存在一预存基础栏位值表中,由此,可以减少系统每次生成有效栏位值列表时都需要随机生成基础栏位值的步骤。在另一个变化例中,无效栏位值列表生成时的基础栏位值采用有效栏位值列表生成时的基础栏位值,由此,减少无效栏位值列表生成时基础栏位值的随机生成步骤。

下面参见图5,图5示出了根据本发明实施例的引用接口赋值的流程图。

具体而言,接口测试过程中,会存在接口与接口之间存在依赖的情况,具体表现为接口1的返回值为接口2的请求值。在接口配置信息中,我们可以指定接口1的返回栏位为接口2的某个请求栏位。生成用例时,本发明可以逐个读取引用标识和引用配置来判断接口1的返回栏位是否存在,并将其放入接口2的测试用例中。

在本实施例中,本发明可以依据所述待测试接口的接口配置信息判断所述待测试接口是否具有引用接口。若所述待测试接口具有引用接口,则使所述待测试接口的栏位的有效栏位值列表中的有效栏位值设置为所述引用接口经接口测试用例执行成功时的返回值。进一步地,对待测试接口执行所述接口测试用例,若所述待测试接口为引用接口,则保存该待测试接口经接口测试用例执行成功时的返回值。在上述实施例中,所述待测试接口的接口配置信息可以具有一引用标识,所述引用标识指示所述待测试接口为引用接口、被引用接口或无引用关系接口。同时,所述待测试接口的接口配置信息基于所述引用标识还配置有与待测试接口具有引用关系的接口标识。

具体而言,在对当前接口开始执行用例时,执行步骤s501根据引用标识判断是否存在与本接口具有引用关系的接口。若存在本接口需要引用返回值的引用接口时,执行步骤s502,获取该引用接口的标识(获取引用接口的引用值配置)。然后执行步骤s503,判断引用接口的执行结果。若引用接口执行成功,则执行步骤s504,获取引用接口返回值,并在步骤s505,将该引用接口的返回值赋值到当前接口的有效栏位值列表中,然后以当前有效栏位值列表在步骤s506执行用例,并在步骤s507记录执行结果。若步骤s503判断引用接口的执行结果为执行失败时,则直接执行步骤s507记录执行结果(即失败)。若在步骤s501判断不存在本接口需要引用返回值的引用接口时,以先前生成的有效栏位值列表在步骤s506执行用例,并在步骤s507记录执行结果。

由此,具有引用接口的当前接口的正面测试用例中将该栏位标记为引用栏位,并指定引用来源于引用接口的返回值,且当前接口的有效栏位值列表只有在执行用例时,才真正对其赋值。对于具有引用接口的当前接口的负面测试用例中,将不符合引用接口的返回值的皆可以作为负面测试用例的无效栏位值列表中的无效栏位值。可选地,本发明可以随机抽取不符合引用接口的返回值各类型值作为无效栏位值列表中的无效栏位值。

以上仅仅是示意性地描述本发明的多个实施例,在不违背本发明构思的前提下,步骤顺序的变化、步骤的合并和拆分都在本发明的保护范围之内。

本发明还提供一种接口测试用例生成装置,如图6所示。图6示出了根据本发明实施例的接口测试用例生成装置的示意图。接口测试用例生成装置900包括获取模块901、栏位值列表生成模块902、正面测试用例生成模块903、负面测试用例生成模块904及接口测试用例列表生成模块905。

获取模块901用于获取待测试接口的接口配置信息,所述配置信息包括至少一个栏位的栏位值设定;

栏位值列表生成模块902用于依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表,所述有效栏位值列表中的有效栏位值符合所述栏位值设定,所述无效栏位值列表中的无效栏位值不符合所述栏位值设定;

正面测试用例生成模块903用于遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例;

负面测试用例生成模块904用于遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例;以及

接口测试用例列表生成模块905用于组合所述待测试接口的各栏位的正面测试用例及负面测试用例,生成待测试接口的接口测试用例列表。

由此,本发明提供的接口测试用例生成装置中,一方面,测试人员无需再自行编写接口测试用例,本算法可根据接口配置信息,一键生成所有的测试用例,覆盖超过90%的接口测试场景,减少测试人员的重复操作,节省时间;另一方面,不会编写代码的测试人员也可通过本算法,简单实现接口自动化测试;再一方面,在接口配置发生变化时,测试人员无需手动维护测试用例信息。测试人员可通过本算法读取测试接口的变化信息,更新所有变化接口的测试用例。

以上仅仅是示意性地描述本发明的接口测试用例生成装置,在不违背本发明构思的前提下,模块的合并和拆分都在本发明的保护范围之内。

在本公开的示例性实施例中,还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被例如处理器执行时可以实现上述任意一个实施例中所述电子处方流转处理方法的步骤。在一些可能的实施方式中,本发明的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式,其包括程序代码,当所述程序产品在终端设备上运行时,所述程序代码用于使所述终端设备执行本说明书上述电子处方流转处理方法部分中描述的根据本发明各种示例性实施方式的步骤。

参考图7所示,描述了根据本发明的实施方式的用于实现上述方法的程序产品800,其可以采用便携式紧凑盘只读存储器(cd-rom)并包括程序代码,并可以在终端设备,例如个人电脑上运行。然而,本发明的程序产品不限于此,在本文件中,可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

所述程序产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。

所述计算机可读存储介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读存储介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质,该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。可读存储介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于无线、有线、光缆、rf等等,或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明操作的程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如java、c++等,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“c”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在租户计算设备上执行、部分地在租户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在租户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中,远程计算设备可以通过任意种类的网络,包括局域网(lan)或广域网(wan),连接到租户计算设备,或者,可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

在本公开的示例性实施例中,还提供一种电子设备,该电子设备可以包括处理器,以及用于存储所述处理器的可执行指令的存储器。其中,所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行上述任意一个实施例中所述电子处方流转处理方法的步骤。

所属技术领域的技术人员能够理解,本发明的各个方面可以实现为系统、方法或程序产品。因此,本发明的各个方面可以具体实现为以下形式,即:完全的硬件实施方式、完全的软件实施方式(包括固件、微代码等),或硬件和软件方面结合的实施方式,这里可以统称为“电路”、“模块”或“系统”。

下面参照图8来描述根据本发明的这种实施方式的电子设备600。图8显示的电子设备600仅仅是一个示例,不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图8所示,电子设备600以通用计算设备的形式表现。电子设备600的组件可以包括但不限于:至少一个处理单元610、至少一个存储单元620、连接不同系统组件(包括存储单元620和处理单元610)的总线630、显示单元640等。

其中,所述存储单元存储有程序代码,所述程序代码可以被所述处理单元610执行,使得所述处理单元610执行本说明书上述电子处方流转处理方法部分中描述的根据本发明各种示例性实施方式的步骤。例如,所述处理单元610可以执行如图1、图3及图4中所示的步骤。

所述存储单元620可以包括易失性存储单元形式的可读介质,例如随机存取存储单元(ram)6201和/或高速缓存存储单元6202,还可以进一步包括只读存储单元(rom)6203。

所述存储单元620还可以包括具有一组(至少一个)程序模块6205的程序/实用工具6204,这样的程序模块6205包括但不限于:操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据,这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。

总线630可以为表示几类总线结构中的一种或多种,包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。

电子设备600也可以与一个或多个外部设备700(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信,还可与一个或者多个使得租户能与该电子设备600交互的设备通信,和/或与使得该电子设备600能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(i/o)接口650进行。并且,电子设备600还可以通过网络适配器660与一个或者多个网络(例如局域网(lan),广域网(wan)和/或公共网络,例如因特网)通信。网络适配器660可以通过总线630与电子设备600的其它模块通信。应当明白,尽管图中未示出,可以结合电子设备600使用其它硬件和/或软件模块,包括但不限于:微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、raid系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员易于理解,这里描述的示例实施方式可以通过软件实现,也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此,根据本公开实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来,该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是cd-rom,u盘,移动硬盘等)中或网络上,包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行根据本公开实施方式的上述电子处方流转处理方法。

相比现有技术,本发明具有如下优势:

1)测试人员无需再自行编写接口测试用例,本算法可根据接口配置信息,一键生成所有的测试用例,覆盖超过90%的接口测试场景,减少测试人员的重复操作,节省时间;

2)不会编写代码的测试人员也可通过本算法,简单实现接口自动化测试;

3)在接口配置发生变化时,测试人员无需手动维护测试用例信息。测试人员可通过本算法读取测试接口的变化信息,更新所有变化接口的测试用例。

以上具体地示出和描述了本发明的示例性实施方式。应该理解,本发明不限于所公开的实施方式,相反,本发明意图涵盖包含在所附权利要求范围内的各种修改和等效置换。

当前第1页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1