牺牲阳极金属涂层寿命评估方法、终端设备及存储介质与流程

本发明属于材料涂层防护
技术领域：
，尤其涉及一种牺牲阳极金属涂层寿命评估方法、终端设备及存储介质。
背景技术：
：现有技术对涂层，例如牺牲阳极金属涂层，进行服役寿命评估时，一般采用以下三种评估方法：经验判断法、平均腐蚀速度计算法和剩余涂层厚度测量计算法。但是，目前的三种评估方法均存在明显的缺点，导致评估结果和实际的服役寿命期限相差较大，限制上述三种评估方法的应用范围。第一种经验判断法，存在个人的主观随意性，说服力差，且经验的积累需要一个长期的过程。第二种平均腐蚀速度计算法，依靠计算腐蚀失重量即阳极金属涂层的腐蚀失重量，在进行腐蚀失重速率换算时采用涂层的密度进行计算，即可得到阳极涂层损失的单位时间厚度损失速率。但是这种方法首先需要去除阳极涂层表面的腐蚀产物，而去除腐蚀产物的过程中采用的腐蚀介质会将一部分没有腐蚀的阳极涂层一块去掉，导致评估计算的腐蚀速率明显高于实际的腐蚀速率。第三种剩余涂层厚度测量计算法利用扫描电镜(scanningelectronmicroscope扫描电子显微镜，简称sem)检测阳极涂层的平均剩余厚度，利用平均剩余厚度和原始厚度的比值计算出涂层的平均腐蚀速率。此种方法首先需要根据o的浓度梯度划分腐蚀产物层和阳极涂层剩余厚度的界线，进而测量剩余阳极涂层的厚度。当o的浓度梯度不存在或没有o的浓度梯度时，此种检测方法无效。技术实现要素：有鉴于此，本发明实施例提供了一种牺牲阳极金属涂层寿命评估方法、终端设备及存储介质，以解决现有技术不能准确计算牺牲阳极金属涂层服役寿命的问题。根据第一方面，本发明实施例提供了一种牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法，包括：在检测对象上设置金属导线和参比电极；所述检测对象的表面涂覆有牺牲阳极金属涂层；采集所述金属导线和所述参比电极之间的电位差；所述电位差为所述检测对象的开路电位；记录所述开路电位及所述开路电位对应的涂层服役时间；根据所述开路电位及所述开路电位对应的涂层服役时间构建涂层服役寿命评估模型；获取所述检测对象的开路电位阈值；根据所述开路电位阈值和所述涂层服役寿命评估模型，计算所述牺牲阳极金属涂层的服役寿命。本发明实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法，针对涂覆有牺牲阳极金属涂层的检测对象，能够根据其不同的工作环境，设置不同的涂层服役寿命评估模型。由于各个涂层服役寿命评估模型均以涂层服役时间为变量，并以检测对象的开路电位为因变量，因此，在确定的开路电位阈值下，可以通过涂层服役寿命评估模型计算得到开路电位阈值对应的涂层服役时间，即涂层的服役寿命。由于在对不同工作环境的牺牲阳极金属涂层进行服役寿命评估时，分别配置不同的涂层服役寿命评估模型，使得本申请实施例提供的涂层服役寿命评估方法能够准确预算各种牺牲阳极金属涂层的服役寿命，解决了现有技术中缺乏通用且计算结果准确的牺牲阳极金属涂层寿命评估技术的问题。结合第一方面，在第一方面第一实施方式中，所述根据所述开路电位及所述开路电位对应的涂层服役时间构建涂层服役寿命评估模型，包括：获取原始评估模型和多组检测数据；其中，任一组检测数据包括涂层服役时间和对应的开路电位；根据所述多组检测数据计算所述原始评估模型中的各个系数。本发明实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法，以检测对象的开路电位为变量，并以涂层服役时间为因变量，首先建立原始评估模型，进而通过多组检测数据反向计算得到原始评估模型中的各个系数，从而建立与多组检测数据对应的涂层服役寿命评估模型。由于用于反向求解原始评估模型中各个系数的检测数据，是确定工作环境下的牺牲阳极金属涂层的实测数据，因此，通过这些检测数据得到的涂层服役寿命评估模型，是与牺牲阳极金属涂层及工作环境一一对应的。结合第一方面第一实施方式，在第一方面第二实施方式中，所述原始评估模型包括其中，x表示涂层服役时间；y表示开路电位；a1、a2、t1、t2和y0均为所述原始评估模型中的系数。本发明实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法，利用双指数函数构建原始评估模型，进而构建涂层服役寿命评估模型。以双指数函数为基础建立的涂层服役寿命评估模型，能够可靠还原开路电位随涂层服役时间的变化关系，从而准确计算得到涂层的服役寿命。结合第一方面第二实施方式，在第一方面第三实施方式中，在所述根据所述多组检测数据计算所述原始评估模型中的各个系数之后，所述根据所述开路电位及所述开路电位对应的涂层服役时间构建涂层服役寿命评估模型，还包括：对所述原始评估模型进行筛选。本发明实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法，由于增设针对原始评估模型的筛选步骤，从而剔除不能准确反映开路电位随涂层服役时间的变化关系的原始评估模型，有利于提高后续步骤中根据原始评估模型建立的涂层服役寿命评估模型，在评估涂层服役寿命方面的准确度。结合第一方面第三实施方式，在第一方面第四实施方式中，所述对所述原始评估模型进行筛选，包括：根据所述原始评估模型中的各个系数以及所述原始评估模型，计算所述开路电位阈值对应的涂层服役时间；当所述开路电位阈值对应的涂层服役时间处于预设时间范围之内时，判定所述原始评估模型通过筛选，并根据所述原始评估模型及其各个系数构建对应的涂层服役寿命评估模型。本发明实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法，通过计算开路电位阈值对应的涂层服役时间，并进一步判断该服役时间是否落入预设时间范围之内，实现对相应的原始评估模型的筛选。由于涂层的开路电位阈值是确定的，并且涂层在该开路电位阈值下的涂层服役时间也是可以通过经验进行初步判断的，因此，在本发明实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法中，通过上述步骤，可以快速准确的筛选出能够准确反映涂层服役时间随开路电位变化关系的原始评估模型。结合第一方面第四实施方式，在第一方面第五实施方式中，所述对所述原始评估模型进行筛选，还包括：当所述开路电位阈值对应的涂层服役时间未处于预设时间范围之内时，判定所述原始评估模型未通过筛选。本发明实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法，通过计算开路电位阈值对应的涂层服役时间，并进一步判断该服役时间是否落入预设时间范围之内，从而剔除不能准确反映开路电位随涂层服役时间变化关系的原始评估模型。结合第一方面，在第一方面第六实施方式中，所述在检测对象上设置金属导线和参比电极，包括：去除所述检测对象上的部分牺牲阳极金属涂层，形成第一测试点；将所述金属导线固定设置在所述第一测试点上；在所述第一测试点上重新涂覆所述牺牲阳极金属涂层；在所述检测对象上随机选取第二测试点；所述第二测试点与所述第一测试点之间的距离与预设的距离阈值相等；将所述参比电极固定设置在所述第二测试点上。本发明实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法，通过在检测对象上选取第一测试点和第二测试点，并在第一测试点和第二测试点上分别设置金属导线和参比电极，从而利用金属导线和参比电极随时采集检测对象的开路电位。根据第二方面，本申请实施例提供了一种牺牲阳极金属涂层服役寿命评估装置，包括：开路电位检测单元，用于在检测对象上设置金属导线和参比电极，以及用于采集所述金属导线和所述参比电极之间的电位差；所述检测对象的表面涂覆有牺牲阳极金属涂层；所述电位差为所述检测对象的开路电位；存储单元，用于记录所述开路电位及所述开路电位对应的涂层服役时间；模型构建单元，用于根据所述开路电位及所述开路电位对应的涂层服役时间构建涂层服役寿命评估模型；服役寿命计算单元，用于获取所述检测对象的开路电位阈值，以及用于根据所述开路电位阈值和所述涂层服役寿命评估模型，计算所述牺牲阳极金属涂层的服役寿命。根据第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面或第一方面任一实施方式所述方法的步骤。根据第四方面，本申请实施例的提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面或第一方面任一实施方式所述方法的步骤。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本申请实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法的一个具体示例的实现流程示意图；图2是本申请实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法的另一个具体示例的实现流程示意图；图3是本申请实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估装置的一个具体示例的结构示意图；图4是本申请实施例提供的终端设备的一个具体示例的结构示意图。具体实施方式以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。本申请实施例提供了一种牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法，如图1所示，该牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法可以包括以下步骤：步骤s101：在检测对象上设置金属导线和参比电极。在实际应用中，检测对象的表面涂覆有牺牲阳极金属涂层。在一具体实施方式中，如图2所示，可以通过以下几个子步骤实现步骤s101的过程：步骤s1011：去除检测对象上的部分牺牲阳极金属涂层，形成第一测试点；步骤s1012：将金属导线固定设置在第一测试点上；步骤s1013：在第一测试点上重新涂覆牺牲阳极金属涂层；步骤s1014：在检测对象上随机选取第二测试点；第二测试点与第一测试点之间的距离与预设的距离阈值相等；步骤s1015：将参比电极固定设置在所述第二测试点上。步骤s102：采集金属导线和参比电极之间的电位差。在实际应用中，该电位差即检测对象的开路电位。步骤s103：记录开路电位及开路电位对应的涂层服役时间。步骤s104：根据开路电位及开路电位对应的涂层服役时间构建涂层服役寿命评估模型。在一具体实施方式中，可以以检测对象的开路电位为变量，并以涂层服役时间为因变量，构建涂层服役寿命评估模型。针对牺牲阳极金属涂层的不同工作环境，可以设置不同的涂层服役寿命评估模型。在另一具体实施方式中，如图2所示，可以通过以下子步骤实现步骤s104的过程：步骤s1041：获取原始评估模型和多组检测数据。其中，任一组检测数据包括涂层服役时间和对应的开路电位。在实际应用中，可以选用公式(1)所示的双指数函数作为原始评估模型：其中，x表示涂层服役时间；y表示开路电位；a1、a2、t1、t2和y0均为原始评估模型中的系数。步骤s1042：根据多组检测数据计算原始评估模型中的各个系数。将检测数据，即涂层服役时间和对应的开路电位带入公式(1)，从而反向计算得到公式(1)中的各个系数a1、a2、t1、t2和y0，进而得到与多组检测数据对应的涂层服役寿命评估模型。由于用于反向求解原始评估模型中各个系数的检测数据，是确定种类及确定工作环境下的涂层的实测数据，因此，通过这些检测数据得到的涂层服役寿命评估模型，是与牺牲阳极金属涂层的工作环境一一对应的。可选的，如图2所示，还可以在步骤s1042之后增设以下步骤：步骤s1043：对原始评估模型进行筛选。在本申请实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法中，由于增设针对原始评估模型的筛选步骤，从而剔除不能准确反映涂层服役时间随开路电位变化关系的原始评估模型，有利于提高后续步骤中根据原始评估模型建立的涂层服役寿命评估模型，在评估涂层服役寿命方面的准确度。在一具体实施方式中，为了实现对原始评估模型的筛选，可以首先根据原始评估模型中的各个系数以及原始评估模型，计算开路电位阈值对应的涂层服役时间；其次，判断开路电位阈值对应的涂层服役时间是否处于预设时间范围之内；当开路电位阈值对应的涂层服役时间处于预设时间范围之内时，判定该原始评估模型通过筛选，进而可以根据该原始评估模型及其各个系数构建对应的涂层服役寿命评估模型；当开路电位阈值对应的涂层服役时间未处于预设时间范围之内时，判定该原始评估模型未通过筛选。步骤s105：获取检测对象的开路电位阈值。在实际应用中，检测对象的表面涂覆有牺牲阳极金属涂层，开路电位即该牺牲阳极金属涂层的开路电位，对应的开路电位阈值可以参见相关标准的规定。例如，行业标准《阴极保护技术条件》hg/t4078-2009中规定，当试样的电位值低于土壤环境中阴极保护的最小电位值-0.75v时，即满足土壤中钢铁构件阴极保护的要求；反之，当试样的电位值高于或等于-0.75v时，即可认为涂层已经失去保护作用。因此，在一具体实施方式中，可以将检测对象的开路电位阈值设置为-0.75v。步骤s106：根据开路电位阈值和涂层服役寿命评估模型，计算牺牲阳极金属涂层的服役寿命。在一具体实施方式中，需要预测铸铁表面znal涂层的服役寿命。在实验室提前制备好所需检测的带有znal涂层的铸铁试样样品，样品大小可以为20mm×20mm×8mm。具体的，可以在样品上设置金属导线和参比电极，从而利用金属导线和参比电极随时采集样品的开路电位。在设置金属导线时，可以将铜导线与样品背面无涂层的表面进行焊接，以便进行电化学测试。在焊接之后，可以采用硅胶对试样的非工作面进行固封，从而在样品的背面保留一定面积的工作区域，工作区域的面积可以为400mm2。在完成焊接和固封之后，可以将样品固定到水饱和的滨海盐渍土中，并将金属导线引出到土壤以外，同时导线端部须漏出电线的金属部分。在设置参比电容是，可以选用饱和kcl甘汞电极作为参比电极，将参比电极连同鲁金毛细管一块固定到涂层的表面，并将参比电极与鲁金毛细管之间的距离设定为0.3mm，同时将参比电极引出土壤之外，以便定期连线测量。对于该样品，其涂层种类为znal涂层，其涂层的工作环境为滨海盐渍土。接入电化学工作站chi660。具体的，可以将电化学工作站chi660的工作电极与样品的引出金属导线相连接，将电化学工作站chi660的参比电极线与样品的参比电极连接，从而定期检测和记录样品上涂层的开路电位，如表1所示。表1涂层服役时间开路电位涂层服役时间开路电位涂层服役时间开路电位第1天-1.17第254天-0.95第890天-0.87第2天-1.15第284天-0.95第911天-0.86第4天-1.04第312天-0.95第946天-0.85第8天-1.03第344天-0.95第974天-0.85第16天-1.03第374天-0.95第1001天-0.80第32天-1.04第404天-0.94第1030天-0.86第64天-1.01第437天-0.93第1057天-0.84第96天-0.98第582天-0.90第1093天-0.84第128天-0.97第648天-0.88第1128天-0.84第160天-0.95第710天-0.88第1151天-0.82第190天-0.95第769天-0.87————第222天-0.96第829天-0.86————利用数学分析工具可以对表1中的检测数据进行建模分析，并对建模所得的各个模型进行优化筛选，从而选取最优的拟合模型。在一具体实施方式中，可以在数学分析工具spss中进行开路电位变化曲线的模型建立、拟合与筛选。在所有的拟合模型中，变量均为天数，即涂层服役时间；因变量均为开路电位。在选用双指数函数作为原始评估模型时，通过表1所记载的检测数据可以得到对应的涂层服役寿命评估模型y＝-0.27582·e-x/989.32853-0.24849·e-x/2.31317-0.74407。将开路电位阈值-0.75v带入涂层服役寿命评估模型y＝-0.27582·e-x/989.32853-0.24849·e-x/2.31317-0.74407，可以求得对应的涂层服役时间l＝10.25年。由上述计算结果可以看出，利用双指数函数计算得到的开路电位阈值对应的涂层服役时间，符合涂层的使用经验，因此双指数桉树模型能够用于涂层的防护寿命预测。在一具体实施方式中，需要预测铸铁表面牺牲阳极znalre合金涂层的服役寿命。在采用上文记载的方法制备样品并设置金属导线和参比电极。利用电化学工作站chi660可以定期检测和记录样品上牺牲阳极znalre合金涂层的开路电位，如表1所示。表1涂层服役时间开路电位涂层服役时间开路电位涂层服役时间开路电位第1天-1.01第316天-0.95第969天-0.92第2天-1.01第347天-0.94第993天-0.92第4天-0.99第531天-0.94第1032天-0.92第8天-0.97第580天-0.95第1067天-0.9第16天-0.96第642天-0.92第1091天-0.89第32天-0.96第701天-0.92————第64天-0.97第761天-0.91————第128天-0.95第822天-0.91————第164天-0.95第853天-0.91————第196天-0.96第880天-0.93————第226天-0.95第914天-0.93————第287天-0.95第944天-0.93————利用数学分析工具可以对表1中的检测数据进行建模分析，并对建模所得的各个模型进行优化筛选，从而选取最优的拟合模型。在一具体实施方式中，可以在数学分析工具spss中进行开路电位变化曲线的模型建立、拟合与筛选。在所有的拟合模型中，变量均为天数，即涂层服役时间；因变量均为开路电位。在选用双指数函数作为原始评估模型时，通过表1所记载的检测数据可以得到对应的涂层服役寿命评估模型将开路电位阈值-0.75v带入涂层服役寿命评估模型可以求得对应的涂层服役时间l＝11.6年。由上述计算结果可以看出，利用双指数函数计算得到的开路电位阈值对应的涂层服役时间，符合涂层的使用经验，因此双指数桉树模型能够用于涂层的防护寿命预测。本发明实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法，针对涂覆有牺牲阳极金属涂层的检测对象，能够根据其不同的工作环境，设置不同的涂层服役寿命评估模型。由于各个涂层服役寿命评估模型均以涂层服役时间为变量，并以检测对象的开路电位为因变量，因此，在确定的开路电位阈值下，可以通过涂层服役寿命评估模型计算得到开路电位阈值对应的涂层服役时间，即涂层的服役寿命。由于在对不同工作环境的牺牲阳极金属涂层进行服役寿命评估时，分别配置不同的涂层服役寿命评估模型，使得本申请实施例提供的涂层服役寿命评估方法能够准确预算各种牺牲阳极金属涂层的服役寿命，解决了现有技术中缺乏通用且计算结果准确的牺牲阳极金属涂层寿命评估技术的问题。应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。本申请实施例还提供了一种牺牲阳极金属涂层服役寿命评估装置，如图3所示，该牺牲阳极金属涂层服役寿命评估装置可以包括：开路电位检测单元301、存储单元302、模型构建单元303和服役寿命计算单元304。其中，开路电位检测单元301用于在检测对象上设置金属导线和参比电极，以及用于采集所述金属导线和所述参比电极之间的电位差；检测对象的表面涂覆有牺牲阳极金属涂层；电位差为检测对象的开路电位；其对应的工作过程可参见上述方法实施例中步骤s101至步骤s102所述。存储单元302用于记录开路电位及开路电位对应的涂层服役时间；其对应的工作过程可参见上述方法实施例中步骤s103所述。模型构建单元303用于根据开路电位及开路电位对应的涂层服役时间构建涂层服役寿命评估模型；其对应的工作过程可参见上述方法实施例中步骤s104所述。服役寿命计算单元304用于获取检测对象的开路电位阈值，以及用于根据开路电位阈值和涂层服役寿命评估模型，计算牺牲阳极金属涂层的服役寿命；其对应的工作过程可参见上述方法实施例中步骤s105至步骤s106所述。图4是本申请一实施例提供的终端设备的示意图。如图4所示，该实施例的终端设备400包括：处理器401、存储器402以及存储在所述存储器402中并可在所述处理器401上运行的计算机程序403，例如涂层服役寿命评估程序。所述处理器401执行所述计算机程序403时实现上述各个涂层服役寿命评估方法实施例中的步骤，例如图1所示的步骤s101至步骤s102。或者，所述处理器401执行所述计算机程序403时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能，例如图3所示输入单元301、计算单元302和模型获取单元303的功能。所述计算机程序403可以被分割成一个或多个模块/单元，所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器402中，并由所述处理器401执行，以完成本申请。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序403在所述终端设备400中的执行过程。例如，所述计算机程序403可以被分割成同步模块、汇总模块、获取模块、返回模块(虚拟装置中的模块)。所述终端设备400可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述终端设备可包括，但不仅限于，处理器401、存储器402。本领域技术人员可以理解，图4仅仅是终端设备400的示例，并不构成对终端设备400的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。所称处理器401可以是中央处理单元(centralprocessingunit，cpu)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digitalsignalprocessor，dsp)、专用集成电路(applicationspecificintegratedcircuit，asic)、现成可编程门阵列(field-programmablegatearray，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。所述存储器402可以是所述终端设备400的内部存储单元，例如终端设备400的硬盘或内存。所述存储器402也可以是所述终端设备400的外部存储设备，例如所述终端设备400上配备的插接式硬盘，智能存储卡(smartmediacard,smc)，安全数字(securedigital,sd)卡，闪存卡(flashcard)等。进一步地，所述存储器402还可以既包括所述终端设备400的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器402用于存储所述计算机程序以及所述终端设备所需的其他程序和数据。所述存储器402还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/终端设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、u盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(rom，read-onlymemory)、随机存取存储器(ram，randomaccessmemory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。当前第1页12