芯片年龄判断方法、装置、芯片及终端与流程

技术特征：

技术总结
本发明实施例涉及一种芯片年龄判断方法、装置、芯片及终端。方法包括：控制芯片SRAM多次上下电；多次获取SRAM的上电反馈值；计算所述多次获取的SRAM的上电反馈值的错误率；根据所述错误率判断所述芯片的年龄。通过实施本名发明实施例，可以准确的判断芯片年龄。

技术研发人员：周煜梁
受保护的技术使用者：深圳市纽创信安科技开发有限公司
技术研发日：2019.04.15
技术公布日：2019.08.20