一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置及方法与流程

文档序号:19350065发布日期:2019-12-06 21:17阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种pcie扩展集群测试硬盘的装置,包括lsihba卡内部的主板,与所述主板连接的raid芯片和散热器,其特征是:所述主板上设置有光纤接口,光纤线通过所述光纤接口外接设置有由24个闪存阵列的组成的板卡,所述板卡上设置桥接芯片,通过桥接芯片实现对24个闪存阵列表面的sata接口并联,每个sata接口一侧设置两个指示灯,分别用于实时监控ssd固态硬盘的工作状态;所述lsihba卡的主板通过pcie协议接口与上位机的pice接口连接。

2.根据权利要求1所述的一种pcie扩展集群测试硬盘的装置,其特征在于:所述每个sata接口为7+15pin塑料接口,24个7+15pin塑料接口以4列6行的结构排列在对应的24个闪存阵列的板卡表面,所述板卡框架为金属框架。

3.根据权利要求1所述的一种pcie扩展集群测试硬盘的装置,其特征在于:所述lsihba卡的主板通过pice2.0×8的协议接口与上位机的pice接口连接。

4.根据权利要求1所述的一种pcie扩展集群测试硬盘的装置,其特征在于:所述主板上还设置有备用光纤接口,用于光纤线连接外接设备。

5.根据权利要求1-4任一项所述的一种pcie扩展集群测试硬盘的装置的方法,其特征是:该方法由以下步骤实现:

步骤一、将被测试盘对应插入对24个sata接口,测试硬盘的装置上电,检查上位机及板卡的是否存在连接异常,如存在异常则断电后重新检查连接,如正常,执行步骤二;

步骤二、检测被测试盘工作是否正常,如果是,则对应被测试盘sata接口一侧的绿灯闪烁;如果否,则红灯常亮;

步骤三、查看被测试盘的状态,即,绿灯闪烁或红灯常亮的信号返回至上位机,实现对应被测试盘的状态的检查。


技术总结
本发明公开了一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置及方法,解决现有硬盘接线繁琐、存在安全隐患以及接口受限,测试多个硬盘时存在成本高,效率低,耗时间等问题,包括LSI HBA卡内部的主板,与主板连接的RAID芯片和散热器,所述主板上设置有两个接口,光纤线通过所述接口外接设置有由24个闪存阵列的组成的板卡,板卡上设置桥接芯片,通过桥接芯片实现对24个SATA接口并联,每个SATA接口一侧设置两个指示灯,分别用于实时监控SSD固态硬盘的工作状态;LSI HBA卡的主板通过PCIE协议接口与上位机的PICE接口连接。本发明在同时插上24个SSD固态硬盘进行恒温恒湿情况下测试的时候,可以保证每个SSD固态硬盘在可监控下进行测试,在测试SSD固态硬盘数量上有了质的突破。

技术研发人员:李修录;朱小聪;尹善腾;吴健全
受保护的技术使用者:深圳市安信达存储技术有限公司
技术研发日:2019.09.06
技术公布日:2019.12.06
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