连接器测试方法以及连接器测试治具与流程

1.本发明有关于连接器的测试，特别是关于测试c型通用串行总线连接器的连接器测试方法以及连接器测试治具。


背景技术：

2.c型通用串行总线连接器(usb type-c)的优点是正反皆可插接，在功能上支持usb2.0及usb3.1，电源支持数种电力供应能力(usb pd，usb power delivery)。
3.然而，支持多功能以及任意正反面插接的优点，于测试c型通用串行总线连接器功能时反而致使测试流程复杂化。支持多功能需要针对不同功能(usb2.0及usb3.1)个别设置独立的测试卡，使得多层连接流程的信号传输需要多次信号转换测试，而延长测试时间。同时测试设备也需要通过dio装置(dual i/o)以及外部电源设备连接前述的测试卡，使得测试设备不易架设。
4.同时，c型通用串行总线连接器的正插以及反插需要分别测试。通过人工插拔效率低且容易出错，例如仅反复测试正插而未测试反插等，也降低了测试效率。


技术实现要素：

5.为了解决上述技术问题，本发明提出一种连接器测试方法以及连接器测试治具，其可简化测试设备、提升测试效率并且避免测试错误发生。
6.本发明提出的一种连接器测试方法，用于测试一电子装置的一c型通用串行总线连接器，其中，c型通用串行总线连接器具有一上排待测引脚组以及一下排待测引脚组，且上排待测引脚组以及下排待测引脚组分别具有一第一通道配置检测引脚以及一第二通道配置检测引脚，该连接器测试方法包含：
7.提供一测试端连接器；其中，测试端连接器具有一上排测试引脚组以及一下排测试引脚组；上排测试引脚组以及下排测试引脚组分别具有符合一第一通信协定的第一信号引脚、符合一第二通信协定的第二信号引脚、至少一电力引脚、至少一接地引脚；上排测试引脚组具有一第一通道配置设定引脚，且下排测试引脚组具有一第二通道配置设定引脚；
8.以一缆线连接c型通用串行总线连接器以及测试端连接器；其中，上排待测引脚组以及下排待测引脚组分别对接至上排测试引脚组以及下排测试引脚组其中之一；
9.切换第一通道配置设定引脚通过一下拉电阻电性接地；
10.以上排测试引脚组的电力引脚接收一驱动电力，并启用第一通信协定的通信功能；
11.以上排测试引脚组的第一信号引脚接收一第一通信协定测试信号，并回应第一通信协定测试信号；
12.停用第一通信协定的通信功能，并启用一第二通信协定的通信功能；
13.以对应第一通道配置设定引脚的第二信号引脚接收一第二通信协定测试信号并回应第二通信协定测试信号；
14.停用第二通信协定的通信功能；
15.切换第二通道配置设定引脚通过另一下拉电阻电性接地；
16.以下排测试引脚组的电力引脚接收驱动电力，并启用第一通信协定的通信功能；
17.以下排测试引脚组的第一信号引脚接收第一通信协定测试信号，并回应第一通信协定测试信号；
18.停用第一通信协定的通信功能，并启用第二通信协定的通信功能；
19.以对应第二通道配置设定引脚的第二信号引脚接收第二通信协定测试信号并回应第二通信协定测试信号；以及
20.停用第二通信协定的通信功能。
21.本发明还提出一种连接器测试治具，用于测试一电子装置的一c型通用串行总线连接器，其中，c型通用串行总线连接器具有一上排待测引脚组以及一下排待测引脚组，且上排待测引脚组以及下排待测引脚组分具有一第一通道配置检测引脚以及一第二通道配置检测引脚；连接器测试治具包含一测试端连接器、一缆线、一第一配置通道开关、一第二配置通道开关、一可编程控制芯片、一总线主控芯片以及一储电装置。
22.测试端连接器具有一上排测试引脚组以及一下排测试引脚组；其中，上排测试引脚组以及下排测试引脚组分别具有符合一第一通信协定的第一信号引脚、符合一第二通信协定的第二信号引脚、至少一电力引脚、至少一接地引脚；上排测试引脚组具有一第一通道配置设定引脚，且下排测试引脚组具有一第二通道配置设定引脚。
23.缆线用于连接c型通用串行总线连接器以及测试端连接器；其中，上排待测引脚组以及下排待测引脚组分别对接至上排测试引脚组以及下排测试引脚组其中之一。
24.第一配置通道开关以及第二配置通道开关用于可选择地切换第一通道配置设定引脚或第二通道配置设定引脚电性接地。
25.可编程控制芯片用于提供一控制功能，以控制第一配置通道开关及第二配置通道开关，且可编程控制芯片连接于上排测试引脚组以及下排测试引脚组的第一信号引脚，并用以接收一第一通信协定测试信号并回应第一通信协定测试信号；其中，当第一通道配置设定引脚电性接地，可编程控制芯片以上排测试引脚组的第一信号引脚接收第一通信协定测试信号并回应第一通信协定测试信号；当第二通道配置设定引脚电性接地，可编程控制芯片以下排测试引脚组的第一信号引脚接收第一通信协定测试信号并回应第一通信协定测试信号。
26.总线主控芯片连接于上排测试引脚组以及下排测试引脚组的第二信号引脚组，用以接收一第二通信协定测试信号并回应第二通信协定测试信号；其中，当第一通道配置设定引脚电性接地，总线主控芯片以对应第一通道配置设定引脚的第二信号引脚接收第二通信协定测试信号并回应第二通信协定测试信号；当第二通道配置设定引脚电性接地，总线主控芯片以对应第二通道配置设定引脚的第二信号引脚接收第二通信协定测试信号并回应第二通信协定测试信号。
27.储电装置用以通过该些电力引脚接收一驱动电力进行充电，并放电提供一工作电力，可编程控制芯片、总线主控芯片分别电性连接于储电装置，以取得工作电力；其中，当第一通道配置设定引脚电性接地，储电装置以上排测试引脚组的电力引脚接收驱动电力；当第二通道配置设定引脚电性接地，储电装置以下排测试引脚组的电力引脚接收驱动电力。
28.依据本发明的连接器测试方法以及连接器测试治具，于测试过程中不需要反复地插拔缆线，减少了插拔所需要的时间，并且避免插拔错误。同时，测试流程依序由连接器测试治具的可编程控制芯片、总线主控芯片执行，减少了信号转换的迟滞，缩短每一次测试的时间，并提升整体效率。
29.以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
附图说明
30.图1是本发明实施例中，连接器测试治具的电路方块图。
31.图2是本发明实施例中，连接器测试治具设置于电路板的布局示意图。
32.图3是本发明实施例中，连接器测试治具连接于电子装置以及储存装置的示意图。
33.图4是本发明实施例中，由测试端连接器的插接面观察的引脚配置。
34.图5是本发明实施例中，由c型通用串行总线连接器的插接面观察之引脚配置。
35.图6是本发明实施例中，缆线的电路示意图。
36.图7是本发明实施例中，第一配置通道开关以及第二配置通道开关的电路示意图。
37.图8a以及图8b是本发明实施例中，电子装置所执行的测试流程。
38.图9a至图9c是本发明实施例中，电连接器测试治具所执行的测试流程。
39.附图标记
40.1:连接器测试治具
41.100:测试端连接器
42.110:上排测试引脚组
43.120:下排测试引脚组
44.200:缆线
45.310:第一配置通道开关
46.320:第二配置通道开关
47.400:可编程控制芯片
48.500:总线主控芯片
49.510、520:中继器
50.600:储电装置
51.700:电压转换器
52.800:扩充连接器
53.900:输入连接器
54.2:c型通用串行总线连接器
55.21:上排待测引脚组
56.22:下排待测引脚组
57.3:电子装置
58.4:储存装置
59.a1～a12、b1～b12:位置标记
60.cc1:第一通道配置设定引脚
61.cc2:第二通道配置设定引脚
62.cc1’:第一通道配置检测引脚
63.cc2’:第二通道配置检测引脚
64.gnd:接地引脚
65.d+、d-:第一信号引脚
66.tx1+、tx1-、tx2+、tx2-、rx1-、rx1+、rx2-、rx2+:第二信号引脚
67.vbus:电力引脚
68.sbu1、sbu2:其他引脚
69.usb5v:驱动电力
70.vcc5v:工作电力
71.rp:上拉电阻
72.rd:下拉电阻
73.s101～s112、s201～s217:步骤
具体实施方式
74.下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述：
75.请参阅图1、图2以及图3所示，是本发明实施例所提出的一种用于测试c型通用串行总线连接器2(type-c usb connector)的连接器测试治具1，包含一测试端连接器100、一缆线200、一第一配置通道开关310、一第二配置通道开关320、一可编程控制芯片400、一总线主控芯片500以及一储电装置600。具体而言，连接器测试治具1是用于测试一电子装置3的c型通用串行总线连接器2是否可正常运作。电子装置3可为但不限定于一计算机主机板。前述计算机主机板事先安装必要的存储器、硬盘、操作系统以及测试程序，并且进行供电完成开机。图1是连接器测试治具1的电路方块图，图2是连接器测试治具1于一电路板上布局配置的示意图，图3是连接器测试治具1与c型通用串行总线连接器2连接的示意图。图2所示的布局配置仅为例示，并非用以限定连接器测试治具1于电路板上的布局配置。
76.如图1以及图4所示，测试端连接器100具有一上排测试引脚组110以及一下排测试引脚组120；图4所示的引脚排列是由测试端连接器100的插接面观察之。
77.如图4所示，上排测试引脚组110依序以a1至a12标记相对位置。上排测试引脚组110的组成说明如下：二接地引脚gnd位于a1以及a12；符合第一通信协定(特别是符合usb2.0通信协定)的第一信号引脚d+、d-位于a6、a7；符合第二通信协定(特别是符合usb3.1通信协定)的第二信号引脚tx1+、tx1-、rx2-、rx2+位于a2、a3、a10、a11；第一通道配置设定引脚cc1位于a5；一或多个电力引脚vbus位于a4、a9；位于a8的引脚可为空接或用于其他功能的sbu1引脚。
78.如图4所示，下排测试引脚组120依序以b1至b12标记相对位置，且b1至b12的排列方向与a1至a12的排列方向相反，使得上排测试引脚组110以及下排测试引脚组120上下翻转后，在测试端连接器100的插接面仍能够形成相同的引脚配置关系。
79.如图4所示，下排测试引脚组120的组成说明如下：二接地引脚gnd，位于b1以及b12；符合第一通信协定(特别是符合usb2.0通信协定)的第一信号引脚d+、d-位于b6、b7；符合第二通信协定(特别是符合usb3.1通信协定)的第二信号引脚tx2+、tx2-、rx1-、rx1+位于b2、b3、b10、b11；第二通道配置设定引脚cc2位于b5；一或多个电力引脚vbus位于b4、b9；位
于b8的引脚可为空接或用于其他功能的sbu2引脚。第一通道配置设定引脚cc1与第二通道配置设定引脚cc2互相对应，使得上排测试引脚组110以及下排测试引脚组120上下翻转后，第二通道配置设定引脚cc2可以位于第一通道配置设定引脚cc1原有的位置。
80.如图1以及图4所示，缆线200用于连接c型通用串行总线连接器2以及测试端连接器100。缆线200的线路配置(图中未示出)，大致匹配于上排测试引脚组110以及下排测试引脚组120。
81.如图1以及图5所示，c型通用串行总线连接器2具有上排待测引脚组21以及下排待测引脚组22；图5所示的引脚排列是由c型通用串行总线连接器2的插接面观察之。
82.如图5所示，上排待测引脚组21依序以a1至a12标记相对位置。上排待测引脚组21的组成说明如下：二接地引脚gnd位于a1以及a12；符合第一通信协定(特别是符合usb2.0通信协定)的第一信号引脚d+、d-，位于a6、a7；符合第二通信协定(特别是符合usb3.1通信协定)的第二信号引脚tx1+、tx1-、rx2-、rx2+，位于a2、a3、a10、a11；第一通道配置检测引脚cc1’位于a5；一或多个电力引脚vbus位于a4、a9；位于a8的引脚可为空接或用于其他功能的sbu1引脚。
83.如图5所示，下排待测引脚组22依序以b1至b12标记相对位置，且b1至b12的排列方向与a1至a12的排列方向相反，使得上排待测引脚组21以及下排待测引脚组22上下翻转后，在c型通用串行总线连接器2的插接面仍能够形成相同的引脚配置关系。下排待测引脚组22的组成说明如下：二接地引脚gnd位于b1以及b12；符合第一通信协定(特别是符合usb 2.0通信协定)的第一信号引脚d+、d-位于b6、b7；符合第二通信协定(特别是符合usb3.1)的第二信号引脚tx2+、tx2-、rx1-、rx1+位于b2、b3、b10、b11；第二通道配置检测引脚cc2’位于b5；一或多个电力引脚vbus位于b4、b9；位于b8的引脚可为空接或用于其他功能的sbu2引脚。
84.参阅图6所示，缆线200的引脚配置，大致与测试端连接器100的引脚配置相同，而不同于先前技术中的type-c连接线。在先前技术的type-c连接线中，b5引脚的vconn引脚或空接，并且b6、b7也是空接而无导线配置。在本发明中，缆线200的b5则是实接并定义为第二通道配置设定引脚cc2，并且b6、b7也是实接并定义为信号引脚d+、d-。因此，如图4、图5以及图6所示，通过缆线200的连接，c型通用串行总线连接器2的上排待测引脚组21可以对接至测试端连接器100的上排测试引脚组110以及下排测试引脚组120其中之一，且下排待测引脚组22对接至上排测试引脚组110以及下排测试引脚组120其中之另一个，借以使c型通用串行总线连接器2的引脚可以全部对接到测试端连接器100引脚，而不留下空接的引脚。
85.如图1以及图7所示，第一配置通道开关310与第二配置通道开关320用于可选择地切换第一通道配置设定引脚cc1或第二通道配置设定引脚cc2通过下拉电阻rd电性接地。
86.如图1所示，第一配置通道开关310与第二配置通道开关320电性连接于可编程控制芯片400。可编程控制芯片400用于控制第一配置通道开关310及第二配置通道开关320进行切换。可编程控制芯片400连接于上排测试引脚组110以及下排测试引脚组120的第一信号引脚d+、d-，并用以执行usb2.0信号处理功能。连接器测试治具1可更包含一输入连接器900，电性连接于可编程控制芯片400。输入连接器900用于连接于一外部装置，以对可编程控制芯片400进行读写，变更可编程控制芯片400的程序代码。
87.如图1所示，总线主控芯片500电性连接于上排测试引脚组110以及下排测试引脚
组120的第二信号引脚(tx1+、tx1-、rx2-、rx2+以及tx2+、tx2-、rx1-、rx1+)，用以执行usb3.1信号处理功能。总线主控芯片500与第二信号引脚之间可设置中继器510、520(re-driver)，以提升信号质量。前述usb3.1信号处理功能是以tx1/rx1以及tx2/rx2的配对执行，亦即，执行usb3.1信号处理功能时，是分别使用上排测试引脚组110以及下排测试引脚组120的部分第二信号引脚。
88.如图1所示，储电装置600电性连接于上排测试引脚组110以及下排测试引脚组120的电力引脚vbus，以通过c型通用串行总线连接器2取得驱动电力usb5v。驱动电力usb5v通常为符合usb规范的5v直流电，储电装置600可通过驱动电力usb5v进行充电，而放电提供工作电力vcc5v。前述usb5v、vcc5v是方便图式标记进行区隔，并非用以限定驱动电力usb5v的来源或是限定驱动电力usb5v/工作电力vcc5v的电压。储电装置600可为但不限定于二次电池、超级电容，或是其他可进行充电以及放电的装置。
89.如图1所示，可编程控制芯片400、总线主控芯片500以及第一配置通道开关310及第二配置通道开关320分别电性连接于储电装置600，以取得工作电力vcc5v。也就是说，可编程控制芯片400、总线主控芯片500以及第一配置通道开关310及第二配置通道开关320的电力需求，通过储电装置600取得工作电力vcc5v，而非直接采用驱动电力usb5v。因此，在驱动电力usb5v中断时，可编程控制芯片400、总线主控芯片500以及第一配置通道开关310及第二配置通道开关320仍可进行运作。在电压需求低于5v时，例如3.3v时，工作电力vcc5v可先传输至电压转换器700降低电压至3.3v，再传输至需求的元件。
90.参阅图8a～图8b以及图9a～图9c所示，以下进一步说明连接器测试治具1所执行的测试c型通用串行总线连接器2的方法。图8a～8b以及图9a～图9c所示的流程，分别为待测的电子装置3以及连接器测试治具1所执行的步骤。
91.如图8a所示，于测试开始时，先启动电子装置3，例如计算机主机板，并初始化待测试的c型通用串行总线连接器2，如步骤s101所示。
92.此时，计算机主机板通过上拉电阻rp，持续对第一通道配置检测引脚cc1’以及第二通道配置检测引脚cc2’施加电压。接着，电子装置3持续检测第一通道配置检测引脚cc1’以及第二通道配置检测引脚cc2’是否有发生电压下降，如步骤s102所示。
93.如图8a以及图9a所示，接着，以缆线200连接c型通用串行总线连接器2以及连接器测试治具1的测试端连接器100，如步骤s103以及步骤s201。
94.参阅图4以及图5所示，连接c型通用串行总线连接器2以及测试端连接器100时，并不限定测试端连接器100相对于c型通用串行总线连接器2是正插或反插，只要达成上排待测引脚组21对接至上排测试引脚组110以及下排测试引脚组120其中之一，且下排待测引脚组22对接至上排测试引脚组110以及下排测试引脚组120其中之另一个。因此，测试过程中，测试操作者不需要注意缆线200是正插或反插于c型通用串行总线连接器2。
95.在上述的插接关系中，可能有两种插接状态：状态一，上排待测引脚组21对接至上排测试引脚组110，且下排待测引脚组22对接至下排测试引脚组120；状态二，上排待测引脚组21对接至下排测试引脚组120，并且下排待测引脚组22对接至上排测试引脚组110。以下以状态一进行说明。
96.如图7以及图9a所示，可编程控制芯片400控制第一配置通道开关310，以切换第一通道配置设定引脚cc1通过一下拉电阻rd电性接地，如步骤s202所示。在这个步骤中，由于
电子装置3尚未提供驱动电力usb5v，此时连接器测试治具1所需要的工作电力vcc5v，是由储电装置600所储存的电能提供。
97.如图8a所示，电子装置3持续检测第一通道配置检测引脚cc1’以及第二通道配置检测引脚cc2’的电压下降，并依据第一通道配置检测引脚cc1’或第二通道配置检测引脚cc2’的电压下降，启用对应的上排待测引脚组21或下排待测引脚组22的电力引脚vbus，如步骤s104所示。以前述连接方式为例，电子装置3将检测到第一通道配置检测引脚cc1’发生电压下降，而启用对应的上排待测引脚组21的电力引脚vbus，以输出驱动电力usb5v。
98.如图8a所示，接着，电子装置3以上排待测引脚组21的第一信号引脚d+、d-发出一usb2.0测试信号，并判断是否于一定时间内收到回应，如步骤s105所示。
99.如图9a所示，连接器测试治具1通过上排测试引脚组110的电力引脚vbus接收工作电力vcc5v之后，可编程控制芯片400启用usb2.0通信功能，如步骤s203所示。
100.如图9a所示，接着，可编程控制芯片400以上排测试引脚组110的第一信号引脚d+、d-接收usb2.0测试信号，并回应usb2.0测试信号，如步骤s204所示。于步骤s105以及步骤s203中，主要测试对应的上排待测引脚组21是否能正常进行usb2.0通信。若上排待测引脚组21的第一信号引脚d+、d-无法正常收发信号，则可编程控制芯片400便无法回应usb2.0测试信号，而使电子装置3判断测试失败而中断测试流程，并记录c型通用串行总线连接器2为不良品。
101.如图9a所示，于步骤s204之后，连接器测试治具1的可编程控制芯片400测量第一通道配置设定引脚cc1的电压，以供电子装置3判断对应的上排待测引脚组21或下排待测引脚组22的电力输出能力是否正常，如步骤s205所示。
102.电子装置3，如计算机主机板，是通过上拉电阻rp持续对第一通道配置检测引脚cc1’以及第二通道配置检测引脚cc2’施加电压，此电压与电力引脚vbus输出的驱动电力usb5v相关。连接器测试治具1的第一通道配置设定引脚cc1以及第二通道配置设定引脚cc2则是通过下拉电阻rd接地。此时，取得上拉电阻rp产生的电压降，就可以得到电子装置3的电力供应能力(powerdelivery)，以判断电力引脚vbus输出的驱动电力usb5v是否正常，以及c型通用串行总线连接器2所符合的电力输出规格。
103.如图7所示，具体的检测方式是直接检测第一通道配置检测引脚cc1’以及第二通道配置检测引脚cc2’的电压。如图7所示，检测连接器测试治具1的第一通道配置设定引脚cc1以及第二通道配置设定引脚cc2的电压，也等同于检测第一通道配置检测引脚cc1’以及第二通道配置检测引脚cc2’的电压。
104.以电力引脚vbus输出的驱动电力usb5v的电力供应能力为5v/3a(vrd-3.0)为例，c型通用串行总线连接器2在规格要求下可以对cc1’/cc2’引脚提供330μa的电流。下拉电阻rd的阻值为5.1kω，此时，第一通道配置设定引脚cc1或第二通道配置设定引脚cc2的电压为330μa*5.1kω＝1.683v。因此，若测量到第一通道配置设定引脚cc1或第二通道配置设定引脚cc2的电压为1.683v(于图7中cc1/cc2指向的节点测量)，或是落在一定的范围之内，就可以判断c型通用串行总线连接器2的电力供应能力以及所符合的规格。
105.电力供应能力以及对应的电压范围如下表一所示：
106.检测最小电压最大电压电压门槛上限vrd-usb0.25v0.61v0.66v
vrd-1.50.70v1.16v1.23vvrd-3.01.31v2.04v 107.表一
108.因此，连接器测试治具1可以通过测量第一通道配置设定引脚cc1或第二通道配置设定引脚cc2的电压，并将结果通过usb2.0通信功能以及信号引脚组d+、d-传输至电子装置3，电子装置3就能判断对应的上排待测引脚组21或下排待测引脚组22的电力输出能力是否正常，如步骤s106所示。同样地，若电子装置3判断电力供应能力失败，则中断测试流程，并记录c型通用串行总线连接器2为不良品。
109.如图8b所示，于测试完成之后，电子装置3等待一定时间，以对应于第一通道配置检测引脚cc1’的第二信号引脚(tx1+、tx1-、rx1-、rx1+)发出一usb3.1测试信号，并判断是否于一定时间内收到回应，如步骤s107所示。
110.如图9a以及图9b所示，可编程控制芯片400停用usb2.0通信功能，并控制总线主控芯片500启用一usb3.1通信功能，如步骤s206所示。接着，连接器测试治具1以对应第一通道配置设定引脚cc1的第二信号引脚(tx1+、tx1-、rx1-、rx1+)接收usb3.1测试信号，传送至总线主控芯片500以回应usb3.1测试信号，如步骤s207所示。
111.于步骤s107以及s207中，主要测试各组第二信号引脚是否能正常进行usb3.1通信，若c型通用串行总线连接器2的第二信号引脚tx1+、tx1-、rx1-、rx1+(或tx2+、tx2-、rx2-、rx2+)无法正常收发信号，则总线主控芯片500便无法回应usb3.1测试信号，而使电子装置3判断测试失败，中断测试流程，并记录c型通用串行总线连接器2为不良品。
112.如图9b所示，可编程控制芯片400控制总线主控芯片500停用usb3.1通信功能，如步骤s208所示。可编程控制芯片400控制第一配置通道开关310以及第二配置通道开关320，以切换使第一通道配置设定引脚cc1停止接地，而切换为第二通道配置设定引脚cc2通过另一下拉电阻rd电性接地，如步骤s209所示。此一步骤相当于拔除缆线200后进行反插，但实际上并不需要进行反插，而可避免测试流程中测试者忘记进行反插或是插接错误。
113.如图8b所示，此时，电子装置3停止由上排待测引脚21的电力引脚vbus输出驱动电力usb5v，因此连接器测试治具1改由储电装置600所储存的电电力继续提供工作电力vcc5v。电子装置3仍持续检测第一通道配置检测引脚cc1’以及第二通道配置检测引脚cc2’的电压下降，并依据第一通道配置检测引脚cc1’或第二通道配置检测引脚cc2’的电压下降，启用对应的上排待测引脚组21或下排待测引脚组22的电力引脚vbus，以输出驱动电力usb5v，如步骤s108所示。以前述连接方式为例，电子装置3将检测到第二通道配置检测引脚cc2’发生电压下降，而启用下排待测引脚组22的电力引脚vbus，以输出驱动电力usb5v。
114.如图8b所示，接着，电子装置3以下排待测引脚组22的第一信号引脚d+、d-发出一usb2.0测试信号，并判断是否于一定时间内收到回应，如步骤s109所示。
115.如图9b所示，连接器测试治具1通过下排测试引脚组120的电力引脚vbus接收工作电力vcc5v之后，可编程控制芯片400启用usb2.0通信功能，如步骤s210所示。
116.如图9b所示，接着，可编程控制芯片400以下排测试引脚组120的第一信号引脚d+、d-接收usb2.0测试信号，并回应usb2.0测试信号，如步骤s211所示。步骤s109以及s211用于测试下排待测引脚组22是否能正常进行usb2.0通信，若下排测试引脚组120的第一信号引脚d+、d-无法正常收发信号，则可编程控制芯片400便无法回应usb2.0测试信号，而使电子
装置3判断测试失败而中断测试流程，并记录c型通用串行总线连接器2为不良品。
117.如图8b以及图9b所示，于步骤s211之后，连接器测试治具1的可编程控制芯片400测量第二通道配置设定引脚cc2的电压，以判断下排待测引脚组22的电力输出能力是否正常，如步骤s212所示。连接器测试治具1将第二通道配置设定引脚cc2的电压通过usb2.0通信功能以及信号引脚组d+、d-传输至电子装置3，电子装置3就能判断下排待测引脚组22的电力输出能力是否正常，如步骤s110所示。
118.如图8b所示，于测试完成之后，电子装置3等待一定时间，以对应第二通道配置检测引脚cc2’的第二信号引脚发出一usb3.1测试信号，并判断是否于一定时间内收到回应，如步骤s111所示。
119.如图9c所示，接着可编程控制芯片400停用usb2.0通信功能，并控制总线主控芯片500启用一usb3.1通信功能，如步骤s213所示。接着，连接器测试治具1以下排测试引脚组120的第二信号引脚接收usb3.1测试信号，传送至总线主控芯片500以回应usb3.1测试信号，如步骤s214所示。
120.于步骤s111以及s214中，主要测试第二信号引脚tx2+、tx2-、rx2-、rx2+是否能正常进行usb3.1通信，若第二信号引脚tx2+、tx2-、rx2-、rx2+无法正常收发信号，则总线主控芯片500便无法回应usb3.1测试信号，而使电子装置3判断测试失败而中断测试流程，并记录c型通用串行总线连接器2为不良品。
121.此时，测试作业完成，可编程控制芯片400控制总线主控芯片500停用usb3.1通信功能，如步骤s215所示。可编程控制芯片400可进一步控制第一配置通道开关310以及第二配置通道开关320，以切换第一通道配置设定引脚cc1电性接地，而切换为第二通道配置设定引脚cc2停止接地，以恢复初始状态，如步骤s216所示。同样地，于完成下排待测引脚组22的测试之后，电子装置3也停止测试，并记录c型通用串行总线连接器2为正常，如步骤s112以及s217所示。
122.至此，在不需插拔缆线200的情况下，即可完成对c型通用串行总线连接器2的正插以及反插测试。
123.如图8b所示，于电子装置3判断c型通用串行总线连接器2为正常时，亦即完成步骤s111而未被中断测试流程，电子装置3可回归步骤s102，重新执行测试程序，以反复进行多次测试，每一次测试都可以以记录文件加以记录，包括回应usb2.0、usb3.1测试信号的时间、由第一/第二通道配置设定引脚cc1/cc2的取得的电压。或者，电子装置3的多个c型通用串行总线连接器2可分别连接于不同的连接器测试治具1同时进行测试，并以记录文件记录每一c型通用串行总线连接器2的测试结果。
124.参阅图1、图2以及图3所示，连接器测试治具1可进一步包含一扩充连接器800，扩充连接器800包含必要的电连接器以及信号转换芯片。扩充连接器800连接于总线主控芯片500，且用以供一储存装置4插接。于步骤s107、步骤s111之后，电子装置3可进一步以通过第二信号引脚tx1+、tx1-、rx1-、rx1(或+tx2+、tx2-、rx2-、rx2+)对储存装置4进行数据读写测试，以测试数据读写的正确性以及读写速率。
125.前述的测试不需要反复地插拔缆线200，减少了插拔所需要的时间，并且避免插拔错误。同时，测试流程依序由连接器测试治具1的可编程控制芯片400、总线主控芯片500执行，减少了信号转换的迟滞，缩短每一次测试的时间，并提升整体效率。
126.当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。