一种显示面板和显示装置的制作方法

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板和显示装置。

背景技术：

随着电子屏幕技术的发展，越来越多的操作可以通过触摸屏幕的方式来完成，触控笔就是一种与屏幕接触以实现用户操作的设备。

现有技术中的触控笔包括主动笔，主动笔中包含有电路，通过笔发射信息给触控屏，使得触控屏接收信号，检测笔的轨迹坐标，实现触控笔与触控屏之间的信息传递。

现有的主动笔扫描方案为先扫描x方向的所有触控通道，之后再扫描y方向的触控通道，处理器根据主动笔信号在x，y通道上的位置信息，计算出当下主动笔的触控位置。但是现有技术中的主动笔扫描方案确定的触控位置与实际位置存在差异，无法满足用户要求的主动笔规格。

技术实现要素：

本发明提供一种显示面板和显示装置，增设第一辅助触控检测通道和第二辅助触控检测通道，通过第一主触控检测通道、第二主触控检测通道、第一辅助触控检测通道和第二辅助触控检测通道确定触控位置，提升触控检测精度。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：

沿第一方向延伸的多条第一主触控检测通道和多条第一辅助触控检测通道；

沿第二方向延伸的多条第二主触控检测通道和多条第二辅助触控检测通道；所述第二方向与所述第一方向相交且均与所述显示面板的出光面平行；

驱动芯片，所述驱动芯片分别与所述第一主触控检测通道、所述第一辅助触控检测通道、所述第二主触控检测通道和所述第二辅助触控检测通道电连接；

在第一检测阶段，所述第一主触控检测通道和所述第二辅助触控检测通道接收所述驱动芯片提供的触控驱动信号并向所述驱动芯片反馈第一触控检测信号；

在第二检测阶段，所述第二主触控检测通道和所述第一辅助触控检测通道接收所述驱动芯片提供的触控驱动信号并向所述驱动芯片反馈第二触控检测信号；

所述驱动芯片用于根据所述第一触控检测信号和第二触控检测信号确定主通道检测位置和辅助通道检测位置，并根据所述主通道检测位置和所述辅助通道检测位置确定触控检测位置。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，该显示装置包括第一方面提供的显示面板。

本发明实施例提供的显示面板和显示装置，通过在显示面板中增设多条第一辅助触控检测通道和多条第二辅助触控检测通道，并且第一辅助触控检测通道与第一主触控检测通道的延伸方向相同，第二辅助触控检测通道的延伸方向与第二主触控检测通道的延伸方向相同；在第一检测阶段，通过延伸方向不同的第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道确定第一触控检测信号，在第二检测阶段，根据延伸方向不同的第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道确定第二触控检测信号，并根据第一触控检测信号和第二触控检测信号确定主通道检测位置和辅助通道检测位置，进一步根据主通道检测位置和辅助通道检测位置确定触控检测位置，保证触控位置检测精度高，改善主动笔触控性能，提升用户体验。

附图说明

图1是相关技术中一种主触控检测通道的结构示意图；

图2是图1对应的触控检测位置示意图；

图3是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图4是图3提供的显示面板中第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道的结构示意图；

图5是图3提供的显示面板中第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道的结构示意图；

图6是主动笔触发使能信号示意图；

图7是图3提供的显示面板对应的触控检测位置示意图；

图8本发明实施例提供的技术方案与现有技术方案对应的触控检测位置对比示意图；

图9是图3提供的显示面板对应的另一种触控检测位置示意图；

图10是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图11是图10提供的显示面板对应的触控检测位置示意图；

图12是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图13是图12提供的显示面板中第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道的结构示意图；

图14是图12提供的显示面板中第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道的结构示意图；

图15是图12提供的显示面板中另一种第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道的结构示意图；

图16是图12提供的显示面板中另一种第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道的结构示意图；

图17是图12提供的显示面板中又一种第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道的结构示意图；

图18是图12提供的显示面板中又一种第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道的结构示意图；

图19是图12提供的显示面板中再一种第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道的结构示意图；

图20是图12提供的显示面板中再一种第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道的结构示意图；

图21是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图22是本发明实施例提供的再一种显示面板的结构示意图；

图23是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

图1是相关技术中一种显示面板的结构示意图，图2是图1对应的触控检测位置示意图，结合图1和图2所示，显示面板包括沿第一方向(如图中所示的x方向)延伸的多条第一主触控检测通道，分别为x0’-x4’；沿第二方向(如图中所示的y方向)延伸的多条第二主触控检测通道，分别为y0’-y4’。在第一检测阶段，第一主触控检测通道接收触控驱动信号并基于触控主动笔的触控轨迹确定触控主动笔的触控位置为position1；在第二检测阶段，第二主触控检测通道接收触控驱动信号并基于触控主动笔的触控轨迹确定触控主动笔的触控位置为position2，驱动芯片基于触控位置为position1和触控位置为position2确定触控检测位置position1-2。根据图1和图2，position1-2与触控主动笔的实际触控轨迹相差较大，导致触控位置检测精度交底。发明人研究发现，当触控主动笔的划线速度较快时，会出现主动笔的随迹性较差，比如以约15cm/s划线时，位置偏差会出现0.2mm以上，影响用户使用体验。

基于上述技术问题，本发明实施例提供了一种显示面板和显示装置，显示面板包括沿第一方向延伸的多条第一主触控检测通道和多条第一辅助触控检测通道；沿第二方向延伸的多条第二主触控检测通道和多条第二辅助触控检测通道；第二方向与第一方向相交且均与显示面板的出光面平行；驱动芯片，驱动信号分别与第一主触控检测通道、第一辅助触控检测通道、第二主触控检测通道和第二辅助触控检测通过通道电连接；在第一检测阶段，第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道接收驱动芯片提供的触控驱动信号并向驱动芯片反馈第一触控检测信号；在第二检测阶段，第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道接收驱动芯片提供的触控驱动信号并向驱动芯片反馈第二触控检测信号；驱动芯片用于根据第一触控检测信号和第二触控检测信号确定主通道检测位置和辅助通道检测位置，并根据主通道检测位置和辅助通道检测位置确定触控检测位置。采用上述技术方案，通过在显示面板中增设多条第一辅助触控检测通道和多条第二辅助触控检测通道，并且第一辅助触控检测通道与第一主触控检测通道的延伸方向相同，第二辅助触控检测通道的延伸方向与第二主触控检测通道的延伸方向相同；在第一检测阶段，通过延伸方向不同的第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道确定第一触控检测信号，在第二检测阶段，根据延伸方向不同的第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道确定第二触控检测信号，并根据第一触控检测信号和第二触控检测信号确定主通道检测位置和辅助通道检测位置，进一步根据主通道检测位置和辅助通道检测位置确定触控检测位置，保证触控位置检测精度高，改善主动笔触控性能，提升用户体验。

以上是发明实施例的核心思想，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图3是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，图4是图3提供的显示面板中第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道的结构示意图，图5是图3提供的显示面板中第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道的结构示意图，图6是主动笔触发使能信号示意图，图7是图3提供的显示面板对应的触控检测位置示意图，结合图3-图7所示，本发明实施例提供的显示面板10包括沿第一方向(如图中所示的x方向)延伸的多条第一主触控检测通道11和多条第一辅助触控检测通道12；沿第二方向延伸的多条第二主触控检测通道13和多条第二辅助触控检测通道14；第二方向与第一方向相交且均与显示面板10的出光面平行；驱动芯片15，驱动芯片15分别与第一主触控检测通道11、第一辅助触控检测通道12、第二主触控检测通道13和第二辅助触控检测通道14电连接；在第一检测阶段slot1，第一主触控检测通道11和第二辅助触控检测通道14接收驱动芯片15提供的触控驱动信号并向驱动芯片15反馈第一触控检测信号；在第二检测阶段slot2，第二主触控检测通道13和第一辅助触控检测通道12接收驱动芯片15提供的触控驱动信号并向驱动芯片15反馈第二触控检测信号；驱动芯片15用于根据第一触控检测信号和第二触控检测信号确定主通道检测位置和辅助通道检测位置，并根据主通道检测位置和辅助通道检测位置确定触控检测位置。

示例性的，如图2所示，显示面板10包括第一主触控检测通道11、第一辅助触控检测通道12、第二主触控检测通道13和第二辅助触控检测通道14。第一主触控检测通道11沿第一方向(如图中所示的x方向)，第二辅助触控检测通道14沿第二方向(如图中所示的y方向)，在第一检测阶段slot1，驱动芯片15向第一主触控检测通道11和第二辅助触控检测通道14提供触控驱动信号并接收第一主触控检测通道11和第二辅助触控检测通道14反馈的第一触控检测信号，基于第一触控检测信号确定第一触控位置position1(x1，y1)；第二主触控检测通道13沿第二方向(如图中所示的y方向)，第一辅助触控检测通道12沿第一方向(如图中所示的x方向)，在第二检测阶段slot2，驱动芯片15向第二主触控检测通道13和第一辅助触控检测通道12提供触控驱动信号并接收第二主触控检测通道13和第一辅助触控检测通道12反馈的第二触控检测信号，基于第二触控检测信号确定第二触控位置position2(x2，y2)。进一步的，驱动芯片15还用于根据第一触控位置position1(x1，y1)和第二触控位置position2(x2，y2)确定主通道检测位置position3(x2，y1)和辅助通道检测位置position4(x1，y2)，并根据主通道检测位置position3(x2，y1)和辅助通道检测位置position4(x1，y2)确定触控检测位置position(x，y)。结合对比图2和图7可以知道，基于本发明实施例提供的显示面板确定的触控检测位置position(x，y)相比于现有技术确定的触控检测位置position1-2，其更接近触控主动笔的实际轨迹，提升触控主动笔的检测精度，确保触控主动笔的随迹性较强，提升触控主动笔使用体验。

接下来以一种具体的实施方式说明本发明实施例提供的技术方案得到的触控检测位置与现有的技术方案得到的触控检测位置的差异。

图8是本发明实施例提供的技术方案与现有技术方案对应的触控检测位置对比示意图，如图8所示，以触控主动笔在第四象限运动为例，路径oa、ob、oc、od和oe表示触控主动笔在第四象限的部分运动轨迹；点a、点b、点c、点d和点e分别为上述oa、ob、oc、od和oe运动轨迹下，采用现有触控主动笔扫描以及算法拟合出的触控检测位置，从结果看，不管主动笔在第四象限如何运动，报点位置均在x轴上。曲线a为主动笔在第四象限运动时，根据本发明实施例提供的扫描以及算法拟合出的触控检测位置曲线，点1、点2、点3、点4和点5分别为上述oa、ob、oc、od和oe运动轨迹下，根据本发明实施例提供的扫描与算法拟合出的触控检测位置。与现有技术相比，随着触控主动笔运动轨迹的变化，本发明实施例的技术方案拟合出的坐标位置在y方向上呈现出更贴近实际运动情况，触控位置检测精度更高。

可以理解的是，结合图6所示，本发明实施例中提及的第一检测阶段slot1和第二检测阶段slot2为触控主动笔触控时序对应的两个相邻设置的使能阶段。

需要说明的是，本发明实施例对第一主触控检测通道11和第二主触控检测通道13的具体形式不进行限定。可选的，第一主触控检测通道11和第二主触控检测通道13可以为触控电极，在没有触控主动笔进行触控时，触控电极可以作为常规触控电极，进行触控位置和/或触控压力的检测；当触控主动笔进行触控时，触控电极复用为第一主触控检测通道11和第二主触控检测通道13。进一步的，复用为主触控检测通道的触控电极可以为互容式的触控电极，例如沿第一方向延伸的触控驱动电极作为第一主触控检测通道，沿第二方向延伸的触控感应电极或者第二主触控检测通道，或者，沿第一方向延伸的触控感应电极作为第一主触控检测通道，沿第二方向延伸的触控驱动电极或者第二主触控检测通道。并且，触控驱动电极和触控感应电极可以同层设置，也可以异层设置，本发明实施例对此不进行限定。进一步的，复用为主触控检测通道的触控电极可以为自容式的触控电极，例如，沿第一方向排列的多个自容式触控电极块作为第一主触控检测通道，沿第二方向排列的多个自容式触控电极块作为第二主触控检测通道。进一步的，第一辅助触控检测通道12和第二辅助触控检测通道14可以为单独增设的触控检测通道，也可以为部分触控电极复用为辅助触控检测通道，也可以为显示面板中的其他结构复用为辅助触控检测通道，本发明实施例对此不进行限定，在后续的实施例中，会对主触控检测通道和辅助触控检测通道进行具体说明。

还需要说明的是，本发明实施例仅以第一方向为x方向，对应水平方向；第二方向为y方向，对应竖直方向为例进行说明。可以理解的是，第一方向可以为竖直方向，第二方向可以为水平方向；或者第一方向位于水平方向呈预设夹角的方向，第二方向位于竖直方向呈所述预设夹角的方向，本发明实施例对此不进行限定。

综上，本发明实施例提供的显示面板，通过在显示面板中增设多条第一辅助触控检测通道和多条第二辅助触控检测通道，并且第一辅助触控检测通道与第一主触控检测通道的延伸方向相同，第二辅助触控检测通道的延伸方向与第二主触控检测通道的延伸方向相同；在第一检测阶段，通过延伸方向不同的第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道确定第一触控检测信号，在第二检测阶段，根据延伸方向不同的第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道确定第二触控检测信号，并根据第一触控检测信号和第二触控检测信号确定主通道检测位置和辅助通道检测位置，进一步根据主通道检测位置和辅助通道检测位置确定触控检测位置，保证触控位置检测精度高，改善主动笔触控性能，提升用户体验。

继续参考图3所示，作为一种可行的实施方式，沿第二方向(如图中所示的y方向)，第一辅助触控检测通道12设置于相邻两个第一主触控检测通道11之间；沿第一方向(如图中所示的x方向)，第二辅助触控检测通道14设置于相邻两个第二主触控检测通道13之间，如此第一主触控检测通道11和第一辅助触控检测通道12之间设置比较紧凑，第二主触控检测通道13和第二辅助触控检测通道14之间设置比较紧凑，整个触控检测通道设置比较紧凑，保证触控检测精度较高，尤其对于触控主动笔的触控轨迹为连续轨迹时，设置紧凑的触控检测通道可以对应多个触控检测位置，保证触控检测精度，避免触控检测通道结构松散造成触控通道设置稀疏造成的触控检测精度低的问题。

在上述实施例的基础上，结合图3、图4和图5所示，沿第二方向(如图中所示的y方向)，第一主触控捡测通道11的延伸宽度大于第一辅助触控检测通道12的延伸宽度；和/或，沿第一方向(如图中所示的x方向)，第二主触控捡测通道13的延伸宽度大于第二辅助触控检测通道14的延伸宽度，本发明实施例以沿第二方向(如图中所示的y方向)，第一主触控捡测通道11的延伸宽度大于第一辅助触控检测通道12的延伸宽度，同时，沿第一方向(如图中所示的x方向)，第二主触控捡测通道13的延伸宽度大于第二辅助触控检测通道14的延伸宽度为例进行说明。

具体的，考虑到触控的精度要求，要求各相邻主触控检测通道之间的相互距离不能太大，即沿第二方向，相邻两个第一主触控检测通道11之间的距离不能太大，沿第一方向，相邻两个第二主触控检测通道13之间的距离不能太大，也即设置在相邻两个第一主触控检测通道11之间的第一辅助触控检测通道12的尺寸不能太大，设置在相邻两个第二主触控检测通道13之间的第二辅助触控检测通道14的尺寸不能太大。具体的，可以设置沿第二方向第一主触控捡测通道11的延伸宽度大于第一辅助触控检测通道12的延伸宽度；和/或，沿第一方向，第二主触控捡测通道13的延伸宽度大于第二辅助触控检测通道14的延伸宽度，保证触控检测精度较高。

以现有算法为例，一般设置沿第二方向第一主触控检测通道11的延伸宽度为4mm左右，相邻两个第一主触控检测通道11之间的距离也在4mm左右；沿第一方向第二主触控检测通道13的延伸宽度为4mm左右，相邻两个第二主触控检测通道13之间的距离也在4mm左右。因此穿插在第一主触控检测通道11之间的第一辅助触控检测通道12的延伸宽度小于4mm，例如沿第二方向，第一辅助触控检测通道12的延伸宽度与第一主触控检测通道11的延伸宽度之间的比值1/4～1/2；穿插在第二主触控检测通道12之间的第二辅助触控检测通道14的延伸宽度小于4mm，例如沿第一方向，第二辅助触控检测通道14的延伸宽度与第二主触控检测通道13的延伸宽度之间的比值1/4～1/2，保证触控检测精度较高。

在上述实施例的基础上，驱动芯片用于根据主通道检测位置和辅助通道检测位置确定触控检测位置时，主通道检测位置的权重占比小于辅助通道检测位置的权重占比。

示例性的，由于辅助触控检测通道的尺寸小于主触控检测通道的尺寸，因此辅助触控检测通道检测到的信号量小于主触控检测通道检测到的信号量，例如当辅助触控检测通道的尺寸与主触控检测通道的尺寸之间的比例关系为1/4～1/2时，辅助触控检测通道检测到的信号量也会是主触控检测通道检测到的信号量的1/4～1/2，因此，辅助触控检测通道的检测灵敏度较差。因此，驱动芯片用于根据主通道检测位置和辅助通道检测位置确定触控检测位置时，主通道检测位置的权重占比小于辅助通道检测位置的权重占比，此时根据主通道检测检测位置和辅助通道检测位置确定的触控检测位置更接近实际触控位置，提升触控位置检测精度。示例性的，图9是图3提供的显示面板对应的另一种触控检测位置示意图，图9对应的检测位置与图7对应的检测位置的区别在于，驱动芯片根据主通道检测位置和辅助通道检测位置确定触控检测位置时，主通道检测位置的权重占比小于辅助通道检测位置的权重占比，保证触控检测位置与实际触控位置跟贴近，提升触控位置检测精度。

图10是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，图11是图10提供的显示面板对应的触控检测位置示意图，结合图10和图11所示，沿第二方向(如图中所示的y方向)，第一主触控捡测通道11的延伸宽度等于第一辅助触控检测通道12的延伸宽度；沿第一方向(如图中所示的x方向)，第二主触控捡测通道13的延伸宽度等于第二辅助触控检测通道14的延伸宽度。

示例性的，当沿第二方向，第一主触控捡测通道11的延伸宽度等于第一辅助触控检测通道12的延伸宽度，且沿第一方向(如图中所示的x方向)，第二主触控捡测通道13的延伸宽度等于第二辅助触控检测通道14的延伸宽度时，主通道检测位置的权重占比与辅助通道检测位置的权重占比相同，触控检测位置计算方式简单，提升触控检测位置的响应速度。

进一步的，由于本发明实施例的技术方案，在一个检测阶段通过第一主触控检测通道11和第二辅助触控检测通道14，或者通过第二主触控检测通道13和第一辅助触控检测通道12，同时对第一方向和第二方向进行触控位置检测，且主通道检测位置的权重占比与辅助通道检测位置的权重占比，因此在一个触控检测阶段即可完成对触控位置的检测，提升触控检测效率；或者，在第一检测阶段和第二检测阶段，均可以对根据主通道检测位置和辅助通道检测位置确定触控检测位置，提升触控主动笔触控位置检测次数，提升触控位置检测精度。

接下来，对第一主触控检测通道、第一辅助触控检测通道、第二主触控检测通道和第二辅助触控检测通道的具体设置方式进行详细说明。

作为一种可行的设置方式，首先以互容式触控电极复用为第一主触控检测通道、第一辅助触控检测通道、第二主触控检测通道和第二辅助触控检测通道为例进行说明。

继续参考图10所示，显示面板10还包括触控电极20，触控电极20包括互容式触控电极；互容式触控电极包括沿第一方向(如图中所示的x方向)延伸的多条触控驱动电极21以及沿第二方向(如图中所示的y方向)延伸的多条触控感应电极22；触控驱动电极21至少包括第一部分触控驱动电极211和第二部分触控驱动电极212，触控感应电极22至少包括第一部分触控感应电极221和第二部分触控感应电极222；第一部分触控驱动电极211复用为第一主触控检测通道11，第二部分触控驱动电极212复用为第一辅助触控检测通道12；第二部分触控感应电极221复用为第二主触控检测通道13，第二部分触控感应电极222复用为第二辅助触控检测通道14。

示例性的，图10以触控驱动电极21包括第一部分触控驱动电极211和第二部分触控驱动电极212，触控感应电极22包括第一部分触控感应电极221和第二部分触控感应电极222为例进行说明。在没有触控主动笔触控阶段，驱动驱动电极21和触控感应电极22作为常规的触控电极，进行触控位置和/或触控压力检测。在触控主动笔触控阶段，第一部分触控驱动电极211复用为第一主触控检测通道11，第二部分触控感应电极222复用为第二辅助触控感应电极14，在第一检测阶段接收触控驱动信号并向驱动芯片15反馈第一触控检测信号；第二部分触控驱动电极212复用为第一辅助触控检测通道12，第一部分触控感应电极221复用为第二主触控感应电极13，在第二检测阶段接收触控驱动信号并向驱动芯片15反馈第二触控检测信号，驱动芯片15根据第一触控检测信号和第二触控检测信号确定主通道检测位置和辅助通道检测位置，并根据主通道检测位置和辅助通道检测位置确定触控检测位置。通过互容式触控电极复用为主触控检测通道和辅助触控检测通道，无需为了触控主动笔单独增设主触控检测通道和辅助触控检测通道，在保证可以实现触控主动笔触控位置检测同时保证显示面板结构简单。

需要说明的是，图10仅以触控驱动电极21沿第一方向延伸，触控感应电极22沿第二方向延伸为例进行说明，可以理解的是，也可以是触控驱动电极21沿第二方向延伸，触控感应电极22沿第一方向延伸，此时可以是第一部分触控驱动电极复用为第二主触控检测通道，第二部分触控驱动电极复用为第二辅助触控检测通道；第一部分触控感应电极复用为第一主触控检测通道，第二部分触控感应电极复用为第一辅助触控检测通道，本发明实施例对此不进行限定。进一步的，图10仅以触控驱动电极21和触控感应电极22异层设置为例进行说明，可以理解的是，触控驱动电极21和触控感应电极22还可以同层设置，例如触控驱动电极21包括多个触控驱动电极块，相邻两个触控驱动电极块通过与其同层设置的第一跨桥电连接，触控感应电极22包括多个触控感应电极块，相邻两个触控感应电极块通过与其异层设置的第二跨桥电连接，本发明实施例对此互容式触控电极的具体设置方式不进行限定。

作为一种可行的实施方式，接下来以自容式触控电极块复用为第一主触控检测通道、第一辅助触控检测通道、第二主触控检测通道和第二辅助触控检测通道为例进行说明。

图12是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，图13是图12提供的显示面板中第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道的结构示意图，图14是图12提供的显示面板中第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道的结构示意图，结合图12、图13和图14所示，显示面板10还包括触控电极20，触控电极20包括多个自容式触控电极块23，多个自容式触控电极块23沿第一方向(沿图中所示的x方向)和第二方向(如图中所示的y方向)矩阵排列；在第一检测阶段，奇数行自容式触控电极块23复用为第一主触控检测通道11；沿第二方向排列的，多个偶数行的自容式触控电极块23复用为第二辅助触控检测通道14；或者，偶数行自容式触控电极块复用为第一主触控检测通道；沿第二方向排列的，多个奇数行的自容式触控电极块复用为第二辅助触控检测通道(图中未示出)；在第二检测阶段，奇数列自容式触控电极块23复用为第二主触控检测通道13；沿第一方向排列的，多个偶数列的自容式触控电极块23复用为第一辅助触控检测通道12；或者，偶数列自容式触控电极块复用为第二主触控检测通道；沿第一方向排列的，多个奇数列的自容式触控电极块复用为第一辅助触控检测通道(图中未示出)。

示例性的，结合图12、图13和图14所示，由于每个自容式触控电极块23均驱动芯片15单独电连接，且多个自容式触控电极块23沿第一方向，即行方向(如图中所述的x方向)以及沿第二方向，即行方向(如图中所述的y方向)矩阵排列，因此当自容式触控电极块23复用为主触控检测通道和辅助触控检测通道时，存在多种不同的设置方式。

以图13所示为例，在第一检测阶段，奇数行自容式触控电极块23复用为第一主触控检测通道11；沿第二方向排列的，多个偶数行的自容式触控电极块23复用为第二辅助触控检测通道14；或者，偶数行自容式触控电极块复用为第一主触控检测通道；沿第二方向排列的，多个奇数行的自容式触控电极块复用为第二辅助触控检测通道(图中未示出)，第一主触控检测通道11和第二辅助触控检测通道14接收驱动芯片15提供的触控驱动信号并向驱动芯片15反馈第一触控检测信号。以图13所示的6*6个自容式触控电极块为例，第一行6个自容式触控电极块23复用为一个第一主触控检测通道11；第三行6个自容式触控电极块23复用为一个第一主触控检测通道11；第五行6个自容式触控电极块23复用为一个第一主触控检测通道11；沿第二方向排列的，第二行第一个自容式触控电极块、第四行第一个自容式触控电极块以及第六行第一个自容式触控电极块复用为一个第二辅助触控检测通道14；沿第二方向排列的，第二行第二个自容式触控电极块、第四行第二个自容式触控电极块以及第六行第二个自容式触控电极块复用为一个第二辅助触控检测通道14；沿第二方向排列的，第二行第三个自容式触控电极块、第四行第三个自容式触控电极块以及第六行第三个自容式触控电极块复用为一个第二辅助触控检测通道14；沿第二方向排列的，第二行第四个自容式触控电极块、第四行第四个自容式触控电极块以及第六行第四个自容式触控电极块复用为一个第二辅助触控检测通道14；沿第二方向排列的，第二行第五个自容式触控电极块、第四行第五个自容式触控电极块以及第六行第五个自容式触控电极块复用为一个第二辅助触控检测通道14；沿第二方向排列的，第二行第六个自容式触控电极块、第四行第六个自容式触控电极块以及第六行第六个自容式触控电极块复用为一个第二辅助触控检测通道14。

以图14所示为例，在第二检测阶段，奇数列自容式触控电极块23复用为第二主触控检测通道13；沿第一方向排列的，多个偶数列的自容式触控电极块23复用为第一辅助触控检测通道12；或者偶数列自容式触控电极块复用为第二主触控检测通道；沿第一方向排列的，多个奇数列的自容式触控电极块复用为第一辅助触控检测通道(图中未示出)，第二主触控检测通道13和第一辅助触控检测通道12接收驱动芯片15提供的触控驱动信号并向驱动芯片15反馈第二触控检测信号。以图14所示的6*6个自容式触控电极块为例，第一列6个自容式触控电极块23复用为一个第二主触控检测通道13；第三列6个自容式触控电极块23复用为一个第二主触控检测通道13；第五列6个自容式触控电极块23复用为一个第二主触控检测通道13；沿第一方向排列的，第一行第二个自容式触控电极块、第一行第四个自容式触控电极块以及第一行第六个自容式触控电极块复用为一个第一辅助触控检测通道12；沿第一方向排列的，第二行第二个自容式触控电极块、第二行第四个自容式触控电极块以及第二行第六个自容式触控电极块复用为一个第一辅助触控检测通道12；沿第一方向排列的，第三行第二个自容式触控电极块、第三行第四个自容式触控电极块以及第三行第六个自容式触控电极块复用为一个第一辅助触控检测通道12；沿第一方向排列的，第四行第二个自容式触控电极块、第四行第四个自容式触控电极块以及第四行第六个自容式触控电极块复用为一个第一辅助触控检测通道12；沿第一方向排列的，第五行第二个自容式触控电极块、第五行第四个自容式触控电极块以及第五行第六个自容式触控电极块复用为一个第一辅助触控检测通道12；沿第一方向排列的，第六行第二个自容式触控电极块、第六行第四个自容式触控电极块以及第六行第六个自容式触控电极块复用为一个第一辅助触控检测通道12。

进一步的，驱动芯片15根据第一触控检测信号和第二触控检测信号确定主通道检测位置和辅助通道检测位置，并根据主通道检测位置和辅助通道检测位置确定触控检测位置。通过自容式触控电极块复用为主触控检测通道和辅助触控检测通道，无需为了触控主动笔单独增设主触控检测通道和辅助触控检测通道，在保证可以实现触控主动笔触控位置检测同时保证显示面板结构简单。

在上述实施例的基础上，由于每个触控检测通道设置部分自容式触控电极块23便可以实现对该方向上的触控检测，因此针对第一主触控检测通道11和第二主触控检测通道13可以进一步划分为两个或者更多个子触控检测通道，便于进一步提升触控检测精度。具体的，图15是图12提供的显示面板中另一种第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道的结构示意图，图16是图12提供的显示面板中另一种第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道的结构示意图，图15以第一主触控检测通道11进一步包括第一子主触控检测通道111和第二子主触控检测通道112为例进行说明，图16以第二主触控检测通道13进一步包括第三子主触控检测通道131和第四子主触控检测通道132为例进行说明。

如图15和图16所示，第一主触控检测通道11包括第一子主触控检测通道111和第二子主触控检测通道112，第一检测阶段包括第一子阶段和第二子阶段；第二主触控检测通道13包括第三子主触控检测通道131和第四子主触控检测通道132，第二检测阶段包括第三子阶段和第四子阶段；在第一子阶段，奇数行自容式触控电极块中，奇数列自容式触控电极块或者偶数列自容式触控电极块复用为第一子主触控检测通道111；在第二子阶段，奇数行自容式触控电极块中，偶数列自容式触控电极块或者奇数列自容式触控电极块复用为第二子主触控检测通道112；或者，在第一子阶段，偶数行自容式触控电极块中，奇数列自容式触控电极块或者偶数列自容式触控电极块复用为第一子主触控检测通道；在第二子阶段，偶数行自容式触控电极块中，偶数列自容式触控电极块或者奇数列自容式触控电极块复用为第二子主触控检测通道；在第三子阶段，奇数列自容式触控电极块中，奇数行自容式触控电极块或者偶数行自容式触控电极块复用为第三子主触控检测通道131；在第四子阶段，奇数列自容式触控电极块中，偶数行自容式触控电极块或者奇数行自容式触控电极块复用为第二子主触控检测通道132；或者，在第三子阶段，偶数列自容式触控电极块中，奇数行自容式触控电极块或者偶数行自容式触控电极块复用为第三子主触控检测通道；在第二子阶段，偶数列自容式触控电极块中，偶数行自容式触控电极块或者奇数行自容式触控电极块复用为第二子主触控检测通道。

示例性的，如图15所示，在第一子阶段，奇数行自容式触控电极块中，奇数列自容式触控电极块或者偶数列自容式触控电极块复用为第一子主触控检测通道111；在第二子阶段，奇数行自容式触控电极块中，偶数列自容式触控电极块或者奇数列自容式触控电极块复用为第二子主触控检测通道112，如此不仅确定沿第一方向延伸的第一主触控检测通道，还可以在第二方向上对第一主触控检测通道进行划分，进一步提升触控位置检测精确度。举例来说，当自容式触控电极块的尺寸为4mm*4mm时，在第一子阶段，例如可以确定触控主动笔在第二方向上的检测位置为1.5mm位置，在第二子阶段，例如可以确定触控主动笔在第二方向上的检测位置为2.5mm位置处，如此进一步对触控位置检测精细化，提升触控位置检测精确度。以图15所示的6*6个自容式触控电极块为例，第一行6个自容式触控电极块23复用为一个第一主触控检测通道11；进一步，可以为第一行6个自容式触控电极块23中的第一个、第三个和第五个作为第一子主触控检测通道111，第二个、第四个和第六个作为第二子主触控检测通道112；或者，可以为第一行6个自容式触控电极块23中的第一个、第三个和第五个作为第二子主触控检测通道112，第二个、第四个和第六个作为第一子主触控检测通道111。其他行的情况与第一行的情况类似，这里不再赘述。

同理，如图16所示，在第三子阶段，奇数列自容式触控电极块中，奇数行自容式触控电极块或者偶数行自容式触控电极块复用为第三子主触控检测通道131；在第四子阶段，奇数列自容式触控电极块中，偶数行自容式触控电极块或者奇数行自容式触控电极块复用为第二子主触控检测通道132，如此不仅确定沿第二方向延伸的第二主触控检测通道，还可以在第一方向上对第二主触控检测通道进行划分，进一步提升触控位置检测精确度。举例来说，当自容式触控电极块的尺寸为4mm*4mm时，在第三子阶段，例如可以确定触控主动笔在第一方向上的检测位置为1.5mm位置，在第四子阶段，例如可以确定触控主动笔在第一方向上的检测位置为2.5mm位置处，如此进一步对触控位置检测精细化，提升触控位置检测精确度。以图16所示的6*6个自容式触控电极块为例，第一列6个自容式触控电极块23复用为一个第二主触控检测通道13；进一步，可以为第一列6个自容式触控电极块23中的第一个、第三个和第五个作为第三子主触控检测通道131，第二个、第四个和第六个作为第四子主触控检测通道132；或者，可以为第一行6个自容式触控电极块23中的第一个、第三个和第五个作为第四子主触控检测通道132，第二个、第四个和第六个作为第三子主触控检测通道131。其他列的情况与第一列的情况类似，这里不再赘述。

作为一种可行的实施方式，接下来继续以自容式触控电极块复用为第一主触控检测通道、第一辅助触控检测通道、第二主触控检测通道和第二辅助触控检测通道为例进行说明。

图17是图12提供的显示面板中又一种第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道的结构示意图，图18是图12提供的显示面板中又一种第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道的结构示意图，结合图12、图17和图18所示，显示面板10还包括触控电极20，触控电极20包括多个自容式触控电极块23，多个自容式触控电极块沿第一方向(沿图中所示的x方向)和第二方向(如图中所示的y方向)矩阵排列；在第一检测阶段，沿第一方向排列的，多个奇数列自容式触控电极块复用为第一主触控检测通道；偶数列自容式触控电极块复用为第二辅助触控检测通道；或者，沿第一方向排列的，多个偶数列自容式触控电极块复用为第一主触控检测通道；奇数列自容式触控电极块复用为第二辅助触控检测通道；在第二检测阶段，奇数列自容式触控电极块复用为第二主触控检测通道；沿第一方向排列的，多个偶数列自容式触控电极块复用为第一辅助触控检测通道；或者，偶数列自容式触控电极块复用为第二主触控检测通道；沿第一方向排列的，多个奇数列自容式触控电极块复用为第一辅助触控检测通道。

示例性的，结合图12、图17和图18所示，由于每个自容式触控电极块23均驱动芯片15单独电连接，且多个自容式触控电极块23沿第一方向，即行方向(如图中所述的x方向)以及沿第二方向，即行方向(如图中所述的y方向)矩阵排列，因此当自容式触控电极块23复用为主触控检测通道和辅助触控检测通道时，存在多种不同的设置方式。

以图17所示为例，在第一检测阶段，沿第一方向排列的，多个奇数列自容式触控电极块复用为第一主触控检测通道11；偶数列自容式触控电极块复用为第二辅助触控检测通道14；或者，沿第一方向排列的，多个偶数列自容式触控电极块复用为第一主触控检测通道；奇数列自容式触控电极块复用为第二辅助触控检测通道(图中未示出)，第一主触控检测通道11和第二辅助触控检测通道14接收驱动芯片15提供的触控驱动信号并向驱动芯片15反馈第一触控检测信号。以图17所示的6*6个自容式触控电极块为例，沿第一方向排列的，第一行第一个自容式触控电极块、第一行第三个自容式触控电极块以及第一行第五个自容式触控电极块复用为一个第一主触控检测通道11；沿第一方向排列的，第二行第一个自容式触控电极块、第二行第三个自容式触控电极块以及第二行第五个自容式触控电极块复用为一个第一主触控检测通道11；沿第一方向排列的，第三行第一个自容式触控电极块、第三行第三个自容式触控电极块以及第三行第五个自容式触控电极块复用为一个第一主触控检测通道11；沿第一方向排列的，第四行第一个自容式触控电极块、第四行第三个自容式触控电极块以及第四行第五个自容式触控电极块复用为一个第一主触控检测通道11；沿第一方向排列的，第五行第一个自容式触控电极块、第五行第三个自容式触控电极块以及第五行第五个自容式触控电极块复用为一个第一主触控检测通道11；沿第一方向排列的，第六行第一个自容式触控电极块、第；六行第三个自容式触控电极块以及第六行第五个自容式触控电极块复用为一个第一主触控检测通道11；第二列6个自容式触控电极块复用为一个第二辅助触控检测通道14；第四列6个自容式触控电极块复用为一个第二辅助触控检测通道14；第六列6个自容式触控电极块复用为一个第二辅助触控检测通道14。

以图18所示为例，在第二检测阶段，奇数列自容式触控电极块复用为第二主触控检测通道13；沿第一方向排列的，多个偶数列自容式触控电极块复用为第二辅助触控检测通道12；或者，偶数列自容式触控电极块复用为第二主触控检测通道；沿第一方向排列的，多个奇数列自容式触控电极块复用为第二辅助触控检测通道(图中未示出)，第二主触控检测通道13和第一辅助触控检测通道12接收驱动芯片15提供的触控驱动信号并向驱动芯片15反馈第二触控检测信号。以图18所示的6*6个自容式触控电极块为例，第一列6个自容式触控电极块23复用为一个第二主触控检测通道13；第三列6个自容式触控电极块23复用为一个第二主触控检测通道13；第五列6个自容式触控电极块23复用为一个第二主触控检测通道13；沿第一方向排列的，第一行第二个自容式触控电极块、第一行第四个自容式触控电极块以及第一行第六个自容式触控电极块复用为一个第一辅助触控检测通道12；沿第一方向排列的，第二行第二个自容式触控电极块、第二行第四个自容式触控电极块以及第二行第六个自容式触控电极块复用为一个第一辅助触控检测通道12；沿第一方向排列的，第三行第二个自容式触控电极块、第三行第四个自容式触控电极块以及第三行第六个自容式触控电极块复用为一个第一辅助触控检测通道12；沿第一方向排列的，第四行第二个自容式触控电极块、第四行第四个自容式触控电极块以及第四行第六个自容式触控电极块复用为一个第一辅助触控检测通道12；沿第一方向排列的，第五行第二个自容式触控电极块、第五行第四个自容式触控电极块以及第五行第六个自容式触控电极块复用为一个第一辅助触控检测通道12；沿第一方向排列的，第六行第二个自容式触控电极块、第六行第四个自容式触控电极块以及第六行第六个自容式触控电极块复用为一个第一辅助触控检测通道12。

进一步的，驱动芯片15根据第一触控检测信号和第二触控检测信号确定主通道检测位置和辅助通道检测位置，并根据主通道检测位置和辅助通道检测位置确定触控检测位置。通过自容式触控电极块复用为主触控检测通道和辅助触控检测通道，无需为了触控主动笔单独增设主触控检测通道和辅助触控检测通道，在保证可以实现触控主动笔触控位置检测同时保证显示面板结构简单。

在上述实施例的基础上，由于每个触控检测通道设置部分自容式触控电极块23便可以实现对该方向上的触控检测，因此针对第二辅助触控检测通道14和第二主触控检测通道13可以进一步划分为两个或者更多个子触控检测通道，便于进一步提升触控检测精度。具体的，图19是图12提供的显示面板中再一种第一主触控检测通道和第二辅助触控检测通道的结构示意图，图20是图12提供的显示面板中再一种第二主触控检测通道和第一辅助触控检测通道的结构示意图，图19以第二辅助触控检测通道14进一步包括第一子辅助触控检测通道141和第二子辅助触控检测通道142为例进行说明，图20以第二主触控检测通道13进一步包括第三子主触控检测通道131和第四子主触控检测通道132为例进行说明。

如图19和图20所示，第二辅助触控检测通道14至少包括第一子辅助触控检测通道141和第二子辅助触控检测通道142，第一检测阶段至少包括第五子阶段和第六子阶段；第二主触控检测通道13至少包括第三子主触控检测通道131和第四子主触控检测通道132，第二检测阶段至少包括第七子阶段和第八子阶段；在第五子阶段，偶数列自容式触控电极块中，奇数行自容式触控电极块或者偶数行自容式触控电极块复用为第一子辅助触控检测通道141；在第六子阶段，偶数列自容式触控电极块中，偶数行自容式触控电极块或者奇数行自容式触控电极块复用为第二子辅助触控检测通道142；或者，在第五子阶段，奇数列自容式触控电极块中，奇数行自容式触控电极块或者偶数行自容式触控电极块复用为第一子辅助触控检测通道；在第六子阶段，奇数列自容式触控电极块中，偶数行自容式触控电极块或者奇数行自容式触控电极块复用为第二子辅助触控检测通道；在第七子阶段，奇数列自容式触控电极块中，奇数行自容式触控电极块或者偶数行自容式触控电极块复用为第三子主触控检测通道131；在第八子阶段，奇数列自容式触控电极块中，偶数行自容式触控电极块或者奇数行自容式触控电极块复用为第四子主触控检测通道132；或者，在第七子阶段，偶数列自容式触控电极块中，奇数行自容式触控电极块或者偶数行自容式触控电极块复用为第三子主触控检测通道；在第八子阶段，偶数列自容式触控电极块中，偶数行自容式触控电极块或者奇数行自容式触控电极块复用为第四子主触控检测通道。

示例性的，如图19所示，在第五子阶段，偶数列自容式触控电极块中，奇数行自容式触控电极块或者偶数行自容式触控电极块复用为第一子辅助触控检测通道141；在第六子阶段，偶数列自容式触控电极块中，偶数行自容式触控电极块或者奇数行自容式触控电极块复用为第二子辅助触控检测通道142，如此不仅确定沿第二方向延伸的第二辅助触控检测通道，还可以在第一方向上对第二辅助触控检测通道进行划分，进一步提升触控位置检测精确度。举例来说，当自容式触控电极块的尺寸为4mm*4mm时，在第五子阶段，例如可以确定触控主动笔在第一方向上的检测位置为1.5mm位置，在第六子阶段，例如可以确定触控主动笔在第一方向上的检测位置为2.5mm位置处，如此进一步对触控位置检测精细化，提升触控位置检测精确度。以图19所示的6*6个自容式触控电极块为例，第二列6个自容式触控电极块23复用为一个第二辅助触控检测通道14；进一步，可以为第二列6个自容式触控电极块23中的第一个、第三个和第五个作为第一子辅助触控检测通道141，第二个、第四个和第六个作为第二子辅助触控检测通道142；或者，可以为第二列6个自容式触控电极块23中的第一个、第三个和第五个作为第二子辅助触控检测通道142，第二个、第四个和第六个作为第一子辅助触控检测通道141。其他列的情况与第二列的情况类似，这里不再赘述。

同理，如图20所示，在第七子阶段，奇数列自容式触控电极块中，奇数行自容式触控电极块或者偶数行自容式触控电极块复用为第三子主触控检测通道131；在第八子阶段，奇数列自容式触控电极块中，偶数行自容式触控电极块或者奇数行自容式触控电极块复用为第二子主触控检测通道132，如此不仅确定沿第二方向延伸的第二主触控检测通道，还可以在第一方向上对第二主触控检测通道进行划分，进一步提升触控位置检测精确度。举例来说，当自容式触控电极块的尺寸为4mm*4mm时，在第七子阶段，例如可以确定触控主动笔在第一方向上的检测位置为1.5mm位置，在第八子阶段，例如可以确定触控主动笔在第一方向上的检测位置为2.5mm位置处，如此进一步对触控位置检测精细化，提升触控位置检测精确度。以图20所示的6*6个自容式触控电极块为例，第一列6个自容式触控电极块23复用为一个第二主触控检测通道13；进一步，可以为第一列6个自容式触控电极块23中的第一个、第三个和第五个作为第三子主触控检测通道131，第二个、第四个和第六个作为第四子主触控检测通道132；或者，可以为第一行6个自容式触控电极块23中的第一个、第三个和第五个作为第四子主触控检测通道132，第二个、第四个和第六个作为第三子主触控检测通道131。其他列的情况与第一列的情况类似，这里不再赘述。

作为一种可行的实施方式，接下来以自容式触控电极块复用为第一主触控检测通道和第二主触控检测通道，扫描信号线复用为第一辅助触控检测通道，数据信号线复用为第二辅助触控检测通道为例进行详细说明。

图21是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，如图21所示，显示面板10还包括沿第一方向(如图中所示的x方向)延伸的扫描信号线16以及沿第二方向(如图中所示的y方向)延伸的数据信号线17；至少部分扫描信号线16复用为第一辅助触控检测通道12，至少部分数据信号线17复用为第二辅助触控检测通道14。

如图21所示，显示面板10还包括触控电极20，触控电极20可以为自容式触控电极块或者互容式触控电极，自容式触控电极块复用为主触控检测通道或者互容式触控电极复用为主触控检测通道的方案详见上述实施例，这里不在赘述，图21仅以自容式触控电极块23复用为主触控检测通道为例进行说明。本实施例与上述实施例的区别在于至少部分扫描信号线16复用为第一辅助触控检测通道12，至少部分数据信号线17复用为第二辅助触控检测通道14，无需为了触控主动笔单独增设辅助触控检测通道，在保证可以实现触控主动笔触控位置检测同时保证显示面板结构简单。

需要说明的是，一般来说，显示像素的分部密度大于自容式触控电极块的分部密度，因此沿第一方向延伸的第一主触控检测通道的数量少于扫描信号线16的数量，沿第二方向延伸的第二主触控检测通道的数量少于数据信号线17的数量，因此，可以设置部分扫描信号线16复用为第一辅助触控检测通道12，部分数据信号线17复用为第二辅助触控检测通道14

需要说明的是，由于数据信号线17与触控信号线的延伸方向可以相同，在图21中没有示出触控信号线。

图22是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，如图22所示，显示面板10还包括公共电极21和触控电极20，公共电极21复用为触控电极20；触控电极20包括镂空部201，在显示面板的出光方向上，镂空部201与扫描信号线16和数据信号线17至少部分交叠。

示例性的，由于至少部分扫描信号线16复用为第一辅助触控检测通道12，至少部分数据信号线17复用为第二辅助触控检测通道14，位于便于扫描信号线16和数据信号线17接收触控主动笔的触控信号，因此设置触控电极20包括镂空部201，通过镂空部201暴露出至少部分的扫描信号线16和数据信号线17，保证扫描信号线16和数据信号线17接收的触控主动笔的触控信号较多，有利于提升触控位置检测精准度。

基于同样的发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，该显示装置包括上述实施方式提供的任一种显示面板。示例性的，参照图23，该显示装置100包括显示面板10。因此，该显示装置也具有上述实施方式中的显示面板所具有的有益效果，相同之处可参照上文对显示面板的解释说明进行理解，下文不再赘述。

本发明实施例提供的显示装置100可以为图23所示的手机，也可以为任何具有显示功能的电子产品，包括但不限于以下类别：电视机、笔记本电脑、桌上型显示器、平板电脑、数码相机、智能手环、智能眼镜、车载显示器、工控设备、医用显示屏、触摸交互终端等，本发明实施例对此不作特殊限定。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。