芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质与流程

本公开涉及集成电路，尤其涉及一种芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、在芯片的开发过程中，仿真与验证是非常重要的一个环节，其中核心的验证部分是在芯片投片前，将激励信号输入待测芯片，根据待测芯片的实际输出和所预期的输出是否一致来判断芯片是否满足需求，这一步骤是仿真与验证过程中的重中之重。由于所验证的对象也即芯片可能存在多种输出格式，因此对于芯片仿真与验证的机制要求也越来越高。现有的芯片仿真与验证的机制较为单一，不能很好地适应不同输出格式下的验证需求，甚至可能导致仿真错误的误判，存在灵活性差和降低仿真错误的识别准确度的缺点。

2、因此，如何提高芯片功能的验证的灵活性，提高仿真错误的识别准确度，成为本领域亟需解决的问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本公开提出了一种芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质，本公开实施例的芯片功能的验证方法为不同类型的预期输出结果设置不同的验证方式，使得在验证时可根据检测出的预期输出结果的类型对应的验证方式进行验证，实现了根据具体激励自动对验证方式进行调整，可以提高芯片功能的验证的灵活性，且使用对应的验证方式也可以提高仿真错误的识别准确度。

2、根据本公开的一方面，提供了一种芯片功能的验证方法，所述方法应用于芯片功能的验证平台，所述方法包括：将激励信号输入待测芯片，所述待测芯片在所述验证平台中为代码形式；接收所述待测芯片的实际输出结果；检测所述激励信号对应的预期输出结果的类型，不同类型的预期输出结果对应的验证方式不同；根据所述预期输出结果对应的验证方式对所述预期输出结果与所述实际输出结果进行验证，确定所述待测芯片功能是否正常。

3、在一种可能的实现方式中，所述预期输出结果的类型包括第一类型和第二类型，所述第一类型的预期输出结果包括预期原始数据文件和预期图像，所述第二类型的预期输出结果包括预期原始数据文件。

4、在一种可能的实现方式中，在检测所述预期输出结果的类型为所述第一类型且不存在所述预期图像时，所述方法还包括：根据所述预期原始数据文件生成所述预期图像。

5、在一种可能的实现方式中，在所述预期输出结果的类型为所述第一类型或所述第二类型时，所述根据所述预期输出结果对应的验证方式对所述预期输出结果与所述实际输出结果进行验证，确定所述待测芯片功能是否正常，包括：检测所述实际输出结果是否包括实际原始数据文件；在所述实际输出结果包括所述实际原始数据文件时，对所述实际原始数据文件和所述预期原始数据文件进行比对；在比对成功时，确定所述待测芯片功能正常。

6、在一种可能的实现方式中，在所述预期输出结果的类型为所述第一类型或所述第二类型时，所述根据所述预期输出结果对应的验证方式对所述预期输出结果与所述实际输出结果进行验证，确定所述待测芯片功能是否正常，还包括：在所述实际输出结果不包括所述实际原始数据文件时，确定所述待测芯片功能异常，输出指示仿真错误的信号。

7、在一种可能的实现方式中，所述根据所述预期输出结果对应的验证方式对所述预期输出结果与所述实际输出结果进行验证，确定所述待测芯片功能是否正常，还包括：在所述实际原始数据文件和所述预期原始数据文件比对失败且所述预期输出结果的类型为所述第二类型时，确定所述待测芯片功能异常；生成第一比对文本文件并输出，所述第一比对文本文件用于记录比对所述实际原始数据文件和所述预期原始数据文件时出现错误的位置、数值、次数中的一种或多种。

8、在一种可能的实现方式中，所述根据所述预期输出结果对应的验证方式对所述预期输出结果与所述实际输出结果进行验证，确定所述待测芯片功能是否正常，还包括：在所述实际原始数据文件和所述预期原始数据文件比对失败且所述预期输出结果的类型为所述第一类型时，对实际图像和所述预期图像进行比对；在所述实际图像和所述预期图像比对成功时，确定所述待测芯片功能正常。

9、在一种可能的实现方式中，所述根据所述预期输出结果对应的验证方式对所述预期输出结果与所述实际输出结果进行验证，确定所述待测芯片功能是否正常，还包括：在所述实际图像和所述预期图像比对失败时，确定所述待测芯片功能异常；生成第一比对文本文件和第二比对文本文件并输出，所述第一比对文本文件用于记录比对所述实际原始数据文件和所述预期原始数据文件时出现错误的位置、数值、次数中的一种或多种，所述第二比对文本文件用于记录比对所述实际图像和所述预期图像时出现错误的位置、数值、次数中的一种或多种。

10、根据本公开的另一方面，提供了一种芯片功能的验证平台，包括：输入模块，用于将激励信号输入待测芯片，所述待测芯片在所述验证平台中为代码形式；接收模块，用于接收所述待测芯片的实际输出结果；检测模块，用于检测所述激励信号对应的预期输出结果的类型，不同类型的预期输出结果对应的验证方式不同；验证模块，用于根据所述预期输出结果对应的验证方式对所述预期输出结果与所述实际输出结果进行验证，确定所述待测芯片功能是否正常。

11、在一种可能的实现方式中，所述预期输出结果的类型包括第一类型和第二类型，所述第一类型的预期输出结果包括预期原始数据文件和预期图像，所述第二类型的预期输出结果包括预期原始数据文件。

12、在一种可能的实现方式中，所述验证平台还包括：生成模块，用于根据所述预期原始数据文件生成所述预期图像。

13、在一种可能的实现方式中，在所述预期输出结果的类型为所述第一类型或所述第二类型时，所述验证模块具体用于：检测所述实际输出结果是否包括实际原始数据文件；在所述实际输出结果包括所述实际原始数据文件时，对所述实际原始数据文件和所述预期原始数据文件进行比对；在比对成功时，确定所述待测芯片功能正常。

14、在一种可能的实现方式中，在所述预期输出结果的类型为所述第一类型或所述第二类型时，所述验证模块具体用于：在所述实际输出结果不包括所述实际原始数据文件时，确定所述待测芯片功能异常，输出指示仿真错误的信号。

15、在一种可能的实现方式中，所述验证模块具体用于：在所述实际原始数据文件和所述预期原始数据文件比对失败且所述预期输出结果的类型为所述第二类型时，确定所述待测芯片功能异常；生成第一比对文本文件并输出，所述第一比对文本文件用于记录比对所述实际原始数据文件和所述预期原始数据文件时出现错误的位置、数值、次数中的一种或多种。

16、在一种可能的实现方式中，所述验证模块具体用于：在所述实际原始数据文件和所述预期原始数据文件比对失败且所述预期输出结果的类型为所述第一类型时，对实际图像和所述预期图像进行比对；在所述实际图像和所述预期图像比对成功时，确定所述待测芯片功能正常。

17、在一种可能的实现方式中，所述验证模块具体用于：在所述实际图像和所述预期图像比对失败时，确定所述待测芯片功能异常；生成第一比对文本文件和第二比对文本文件并输出，所述第一比对文本文件用于记录比对所述实际原始数据文件和所述预期原始数据文件时出现错误的位置、数值、次数中的一种或多种，所述第二比对文本文件用于记录比对所述实际图像和所述预期图像时出现错误的位置、数值、次数中的一种或多种。

18、根据本公开的另一方面，提供了一种电子设备，包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为在执行所述存储器存储的指令时，实现上述方法。

19、根据本公开的另一方面，提供了一种非易失性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，其中，所述计算机程序指令被处理器执行时实现上述方法。

20、根据本公开的另一方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机可读代码，或者承载有计算机可读代码的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机可读代码在电子设备的处理器中运行时，所述电子设备中的处理器执行上述方法。

21、根据本公开实施例的芯片功能的验证方法，通过将激励信号输入待测芯片，待测芯片在验证平台中为代码形式，接收待测芯片的实际输出结果，从而获取到被验证的对象；通过检测激励信号对应的预期输出结果的类型，不同类型的预期输出结果对应的验证方式不同，从而获取到预期输出结果对应的验证方式，作为对芯片功能验证采用的验证方式；根据预期输出结果对应的验证方式对预期输出结果与实际输出结果进行验证，确定待测芯片功能是否正常，从而以选择出的与预期输出结果对应的验证方式完成了芯片功能的验证。由于不同类型的预期输出结果设置不同的验证方式，使得在验证时可根据检测出的预期输出结果的类型对应的验证方式进行验证，实现了根据具体激励自动对验证方式进行调整，可以提高芯片功能的验证的灵活性，且使用对应的验证方式也可以提高仿真错误的识别准确度。

22、根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明，本公开的其它特征及方面将变得清楚。