安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质与流程

文档序号:36821322发布日期:2024-01-26 16:29阅读:11来源:国知局
安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质与流程

本申请涉及安检机,特别是涉及一种安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质。


背景技术:

1、安检机作为一种物品检查仪器现如今已经普遍应用于车站、机场等地点,大大提升安检效率。

2、目前,部分安检机虽然支持物品尺寸测量,但是本申请发明人研究发现,这些安检机并未考虑到物品距离安检机内光源远近对于成像的影响,特别是容器类物品,从而导致尺寸测算不够精确。有鉴于此,如何标定安检机的缩放参数,以在尺寸测量过程中修正成像影响,提升尺寸测算精度,成为亟待解决的问题。


技术实现思路

1、本申请主要解决的技术问题是提供一种安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质,能够标定安检机的缩放参数,以在尺寸测量过程中修正成像影响,提升尺寸测算精度。

2、为了解决上述技术问题,本申请第一方面提供了一种安检机标定方法,包括:获取标准件放置于安检机的安检通道内至传送带的目标边缘不同垂直距离时由安检机所扫描的目标图像组,并获取安检机主视视角下在不同像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数;其中,目标图像组包含目标主视图和目标侧视图;对于各个目标图像组:基于目标侧视图,选择映射标定参数作为参考映射参数,并基于参考映射参数对目标主视图中标准件上像素坐标进行映射,得到物理坐标,基于目标主视图中标准件在预设方向的像素坐标,得到标准件至目标边缘的像素距离,及基于物理坐标与标准件的真实尺寸,得到对应像素距离下的缩放因子;其中,预设方向垂直目标边缘;基于不同像素距离下的缩放因子进行拟合,得到表征像素距离与缩放因子之间映射关系的标定缩放参数。

3、为了解决上述技术问题,本申请第二方面提供了一种物品尺寸测量方法,包括:获取待检物品经过安检机的安检通道时由安检机所扫描的待测图像组,并获取安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数,以及获取安检机的标定缩放参数;其中,待测图像组至少包括待测主视图,标定缩放参数基于上述第一方面中安检机标定方法得到;基于待测主视图进行检测,得到待检物品的第一目标区域,并选择像素高度下的映射标定参数,作为目标映射参数;基于标定缩放参数和第一目标区域上轮廓点的像素坐标,得到待检物品的缩放因子,并基于目标映射参数对轮廓点的像素坐标进行映射,得到轮廓点在物理坐标系中的物理坐标;基于待检物品的缩放因子对由轮廓点的物理坐标所得到的物理尺寸进行缩放,得到待检物品的校正尺寸。

4、为了解决上述技术问题,本申请第三方面提供了一种安检机标定装置,包括:图像获取模块、参数获取模块、缩放标定模块和关系拟合模块,图像获取模块,用于获取标准件放置于安检机的安检通道内至传送带的目标边缘不同垂直距离时由安检机所扫描的目标图像组;其中,目标图像组包含目标主视图和目标侧视图;参数获取模块,用于获取安检机主视视角下在不同像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数;缩放标定模块,用于对于各个目标图像组:基于目标侧视图,选择映射标定参数作为参考映射参数,并基于参考映射参数对目标主视图中标准件上像素坐标进行映射,得到物理坐标,基于目标主视图中标准件在预设方向的像素坐标,得到标准件至目标边缘的像素距离,及基于物理坐标与标准件的真实尺寸,得到对应像素距离下的缩放因子;其中,预设方向垂直目标边缘;关系拟合模块,用于基于不同像素距离下的缩放因子进行拟合,得到表征像素距离与缩放因子之间映射关系的标定缩放参数。

5、为了解决上述技术问题,本申请第四方面提供了一种物品尺寸测量装置,包括:图像获取模块、参数获取模块、主视检测模块、参数选择模块、因子确定模块、坐标映射模块和尺寸校正模块,图像获取模块,用于获取待检物品经过安检机的安检通道时由安检机所扫描的待测图像组;其中,待测图像组至少包括待测主视图;参数获取模块,用于获取安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数,以及获取安检机的标定缩放参数;其中,标定缩放参数基于上述第三方面中的安检机标定装置得到;主视检测模块,用于基于待测主视图进行检测,得到待检物品的第一目标区域;参数选择模块,用于选择像素高度下的映射标定参数,作为目标映射参数;因子确定模块,用于基于标定缩放参数和第一目标区域上轮廓点的像素坐标,得到待检物品的缩放因子;坐标映射模块,用于基于目标映射参数对轮廓点的像素坐标进行映射,得到轮廓点在物理坐标系中的物理坐标;尺寸校正模块,用于基于待检物品的缩放因子对由轮廓点的物理坐标所得到的物理尺寸进行缩放,得到待检物品的校正尺寸。

6、为了解决上述技术问题,本申请第五方面提供了一种电子设备,包括相互耦接的存储器和处理器,存储器中存储有程序指令,处理器用于执行程序指令以实现上述第一方面中的安检机标定方法,或实现上述第二方面中的物品尺寸测量方法。

7、为了解决上述技术问题,本申请第六方面提供了一种计算机可读存储介质,存储有能够被处理器运行的程序指令,程序指令用于实现上述第一方面的安检机标定方法,或实现上述第二方面中的物品尺寸测量方法。

8、上述方案,获取标准件放置于安检机的安检通道内至传送带的目标边缘不同垂直距离时由安检机所扫描的目标图像组,并获取安检机主视视角下在不同像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数,且目标图像组包含目标主视图和目标侧视图。在此基础上,对于各个目标图像组:基于目标侧视图,选择映射标定参数作为参考映射参数,并基于参考映射参数对目标主视图中标准件上像素坐标进行映射,得到物理坐标,基于目标主视图中标准件在预设方向的像素坐标,得到标准件至目标边缘的像素距离,以及基于物理坐标与标准件的真实尺寸,得到对应像素距离下的缩放因子,且预设方向垂直于目标边缘,从而基于不同像素距离下的缩放因子进行拟合,得到表征像素距离与缩放因子之间映射关系的标定缩放参数,一方面在标定缩放参数过程中仅需在距目标边缘不同垂直距离摆放标准件并获取扫描图像即可,而需要人工手动执行其他参数,有助于尽可能地减少人为干扰,提升缩放标定的精度,另一方面通过对不同像素距离下缩放因子进行数据拟合得到标定缩放参数,能够尽可能地降低标定复杂度,有助于提升缩放标定的效率。故此,能够准确且高效地标定安检机的缩放参数,以在尺寸测量过程中修正成像影响,提升尺寸测算精度。



技术特征:

1.一种安检机标定方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述目标侧视图,选择所述映射标定参数作为参考映射参数,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述参考映射参数对所述目标主视图中所述标准件上像素坐标进行映射,得到物理坐标,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述物理坐标与所述标准件的真实尺寸,得到对应所述像素距离下的缩放因子,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述标准件为容器类,所述基于所述物理坐标,度量得到所述标准件的测算尺寸,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述目标主视图中所述标准件在预设方向的像素坐标,得到所述标准件至所述目标边缘的像素距离,包括:

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述安检机主视视角下在不同像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数,包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述标定图案为以不同于所述基板材质的矩形片在所述基板上排列形成的棋盘格,所述基于所述参考主视图和所述标定图案的物理尺寸,得到所述安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标系的映射关系,包括:

9.一种物品尺寸测量方法,其特征在于,包括:

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述待测图像组还包括待测侧视图,所述选择所述像素高度下的映射标定参数,作为目标映射参数,包括:

11.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述基于所述标定缩放参数和所述第一目标区域上轮廓点的像素坐标,得到所述待检物品的缩放因子,包括:

12.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述待检物品的物品类型为容器类,所述基于所述目标映射参数对所述轮廓点的像素坐标进行映射,得到所述轮廓点在物理坐标系中的物理坐标,包括:

13.一种安检机标定装置,其特征在于,包括:

14.一种物品尺寸测量装置,其特征在于,包括:

15.一种电子设备,其特征在于,包括相互耦接的存储器和处理器,所述存储器中存储有程序指令,所述处理器用于执行所述程序指令以实现权利要求1至8任一项所述的安检机标定方法,或实现权利要求9至12任一项所述的物品尺寸测量方法。

16.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储有能够被处理器运行的程序指令,所述程序指令用于实现权利要求1至8任一项所述的安检机标定方法,或实现权利要求9至12任一项所述的物品尺寸测量方法。


技术总结
本申请公开了一种安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质,其中,安检机标定方法包括:获取标准件放置于至传送带的目标边缘不同垂直距离时所扫描的目标图像组,并获取主视视角下不同像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数;对于各个目标图像组:基于目标侧视图,选择映射标定参数作为参考映射参数,并基于参考映射参数对标准件上像素坐标进行映射,得到物理坐标,基于标准件在预设方向的像素坐标,得到标准件至目标边缘的像素距离,及基于物理坐标与标准件的真实尺寸,得到对应像素距离下的缩放因子;基于不同像素距离下的缩放因子进行拟合,得到标定缩放参数。上述方案,能够标定安检机的缩放参数,有助于修正成像影响。

技术研发人员:支洪平,郑伟伟,李小兵
受保护的技术使用者:科大讯飞(苏州)科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/25
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