一种用于校准扫描轨迹的方法及装置

文档序号:37932347发布日期:2024-05-11 00:11阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种用于校准扫描轨迹的方法,其特征在于:包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的用于校准扫描轨迹的方法,其特征在于:所述步骤a中构建扫描轨迹模型后生成原始扫描轨迹的具体步骤如下:

3.根据权利要求2所述的用于校准扫描轨迹的方法,其特征在于:所述步骤b中确定存在的干扰因素,并对确定好的干扰因素进行建模的具体步骤如下:

4.根据权利要求1至3任意一项所述的用于校准扫描轨迹的方法,其特征在于:所述步骤c中划分为测试集和训练集的具体步骤如下:

5.根据权利要求4所述的用于校准扫描轨迹的方法,其特征在于:所述步骤d中利用长短期记忆模型构建轨迹校准网络,并使用步骤c中划分的测试集进行训练的具体步骤如下:

6.根据权利要求5所述的用于校准扫描轨迹的方法,其特征在于:所述步骤e中将待校准的扫描轨迹放入到经过步骤d训练后的模型中进行推理的具体步骤如下:

7.一种应用权利要求1至6任意一项所述方法的装置,其特征在于:包括:数据接收模块:用于接收待校准轨迹数据,包括从扫描装置中实时获取,或者与外部设备连接来获取待校准轨迹数据;


技术总结
本发明公开了一种结合长短期记忆网络的扫描轨迹校准方法及相应装置,旨在实现精确的扫描轨迹校准,以提高成像质量。方法包括:首先定义多种扫描轨迹模型并生成对应的轨迹坐标;其次,对各种可能的干扰因素建模并应用于生成的原始轨迹中;然后,将干扰后的轨迹与原始轨迹分别组成训练集和测试集,用于网络训练;接着,采用长短期记忆模型构建轨迹校准网络,并进行训练,以优化轨迹校准效果;最后,将待校准的轨迹数据通过训练好的模型进行处理,得到校准后的轨迹坐标。本发明通过这种方法,实现了不依赖于实际采集数据的轨迹校准,能够有效处理多种干扰因素,并适用于多种扫描轨迹,从而提高了成像系统的精度和适应性。

技术研发人员:赵鹏鹏,李思诚
受保护的技术使用者:浙江大学滨江研究院
技术研发日:
技术公布日:2024/5/10
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