1.一种芯片引线键合质量检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的芯片引线键合质量检测方法，其特征在于，所述步骤s01中通过芯片引线键合视觉系统获取芯片引线图像，所述芯片引线键合视觉系统包括照明系统、ccd显微摄像系统、图像采集卡及存储系统，所述照明系统将led光源作为芯片成像光源，并从正面和侧面两个方向进行照明，其中正面照明使用面阵led形成同轴光的照明结构，同时通过菲涅尔透镜汇聚光线，侧面光照采用可调节的结构，根据具体场景进行微调，对芯片视场进行光照补偿，在菲涅尔透镜与工作台之间青协设置有一个半透半反射镜，使ccd相机离轴成像。
3.根据权利要求1所述的芯片引线键合质量检测方法，其特征在于，所述步骤s02中分别对芯片引线图像的r、g、b三个通道进行图像预处理的方法包括：
4.根据权利要求3所述的芯片引线键合质量检测方法，其特征在于，所述自适应中值滤波算法去除椒盐噪声的方法包括：
5.根据权利要求3所述的芯片引线键合质量检测方法，其特征在于，所述高斯滤波器去除高斯噪声的方法包括：
6.根据权利要求1所述的芯片引线键合质量检测方法，其特征在于，所述步骤s02中将三个通道的处理结果进行融合的计算方法为：
7.根据权利要求1所述的芯片引线键合质量检测方法，其特征在于，所述步骤s03中对压点质量进行检测的方法包括：
8.根据权利要求1所述的芯片引线键合质量检测方法，其特征在于，所述步骤s03中对引线质量进行检测的方法包括：
9.一种芯片引线键合质量检测系统，其特征在于，包括：
10.一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被执行时实现权利要求1-8任一项所述的芯片引线键合质量检测方法。