在本发明实施例中，通过判断第一存储区中的sro信息是否为缺省值来确定系统是否为首次开机；当第一存储区中的sro信息不为缺省值时，表示系统为非首次开机，读取内存sro芯片的sro信息，并判断所述内存sro芯片的sro信息与第一存储区中的sro信息是否相同；在判断结果为不相同时，表示更换了不同的内存条，根据所述内存sro芯片上的sro信息，初始化Mcu;初始化结束后，系统正常开机。从而完成了内存自适配，简化了飞腾平台中设备更换不同的内存后首次开机启动的操作，省去了用户手动读取内存sro信息的步骤，提升了用户体验。
[0048]图2示出了本发明实施例提供的内存自适配装置的结构。该装置主要应用于飞腾平台，适用于平板电脑、笔记本电脑和台式计算机，用于运行本发明图1实施例所述的内存自适配方法。为了便于说明，仅示出了与本实施例相关的部分。
[0049]参照图2，该装置包括:
[0050]第一读取单元21，读取第一存储区中的串行检测sro信息；
[0051]作为本发明的一个实施示例，固件预留了 16byte的EEPROM空间作为第一存储区，用于存放系统前一次开机时所使用的内存条的内存SF1D芯片上的SF1D信息。
[0052]缺省值判断单元22，判断读取的所述SH)信息是否为缺省值；
[0053]所述缺省值预先配置。缺省值是指系统第一次开机前，第一存储区里存储的初始值，通常设置为全零。
[0054]第二读取单元23，用于在所述缺省值判断单元判断结果为否时，读取内存SH)芯片上的sro信息。
[0055]第二判断单元24，用于判断第一存储区中读取的sro信息和内存sro芯片上读取的sro信息是否相同。
[0056]对第一存储区中读取的sro信息和内存sro芯片上的sro信息是否相同进行判断，是为了判断是否更换了不同的内存。判断结果为相同时，表示没有更换内存条或者更换了完全相同的内存条，sro信息不变；若判断结果为不相同时，表示更换了不相同的内存条。
[0057]初始化单元25，用于在所述第二判断单元判断结果为否时，根据所述内存SH)芯片上读取的sro信息，初始化微控制单元MCU ；
[0058]作为本发明的一个实施示例，所述根据所述内存sro芯片上读取的sro信息，初始化MCU是指在飞腾平台中，固件执行memory leveling操作。B1S利用STO信息中的模块大小、数据宽度、速度以及电压等信息来合适配置内存以达到最好的性能和可靠性。
[0059]进一步地,所述初始化单元25还用于:
[0060]在所述第一存储区中的sro信息为缺省值时，根据所述内存sro芯片上读取的spd信息，初始化MCU。
[0061]进一步地，所述初始化单元25还用于:
[0062]将所述内存sro芯片上的sro信息更新到所述第一存储区中。
[0063]MCU初始化结束后，系统正常开机。
[0064]加载单元26，在所述内存sro芯片上的sro信息和第一存储区中的sro信息相同时，加载第一存储区中的sro信息。
[0065]SPD信息加载结束后，系统正常开机。
[0066]在本发明实施例中，通过判断第一存储区中的sro信息是否为缺省值来确定系统是否为首次开机；在判断第一存储区中的sro信息不为缺省值时，系统为非首次开机，则读取内存sro芯片的sro信息，并判断所述内存sro芯片的sro信息和第一存储区中的sro信息是否相同；在判断结果为不相同时，表示更换了不同的内存条，则根据所述内存sro芯片的sro信息初始化mcu，mcu初始化结束后，系统正常开机。从而完成了内存自适配，简化了飞腾平台中设备更换不同的内存后首次开机启动的操作，省去了用户手动读取内存sro信息的步骤，提升了用户体验。
[0067]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种内存自适配方法，其特征在于，所述方法包括: 在检测到系统开机时，读取第一存储区中的串行检测Sro信息； 判断读取的所述sro信息是否为缺省值； 若否，读取内存sro芯片的sro信息； 判断第一存储区中读取的sro信息和内存sro芯片上读取的sro信息是否相同； 若否，根据所述内存sro芯片上读取的sro信息，初始化微控制单元Mcu ； 所述第一存储区为预先配置的电可擦可编程只读存储器中的存储空间。
2.如权利要求1所述的内存自适配方法，其特征在于，所述缺省值为系统第一次开机以前，第一存储区存储的初始值。
3.如权利要求1所述的内存自适配方法，其特征在于，所述方法进一步包括: 在所述第一存储区中的sro信息为缺省值时，读取内存sro芯片的sro信息，初始化微控制单元MCU。
4.如权利要求1所述的内存自适配方法，其特征在于，所述方法进一步包括: 在所述内存sro芯片的sro信息和第一存储区中的SPD信息相同时，加载第一存储区中的sro信息。
5.如权利要求1所述的内存自适配方法，其特征在于，所述根据所述内存sro芯片上读取的sro信息，初始化微控制单元Mcu的步骤之后还包括: 将所述内存sro芯片上读取的sro信息更新到所述第一存储区中。
6.一种内存自适配装置，其特征在于，所述装置包括: 第一读取单元，用于在检测到系统开机时，读取第一存储区中的串行检测sro信息； 缺省值判断单元，用于判断读取的所述sro信息是否为缺省值； 第二读取单元，用于在所述缺省值判断单元判断结果为否时，读取内存sro芯片的SPD信息； 第二判断单元，用于判断第一存储区中读取的sro信息和内存sro芯片上读取的SPD信息是否相同； 初始化单元，用于在所述第二判断单元判断结果为否时，根据所述内存sro芯片上读取的sro信息，初始化微控制单元Mcu ； 所述第一存储区为预先配置的电可擦可编程只读存储器中的存储空间。
7.如权利要求6所述的内存自适配装置，其特征在于，所述缺省值为系统第一次开机以前，第一存储区存储的初始值。
8.如权利要求6所述的内存自适配装置，其特征在于，所述初始化单元还用于: 在所述第一存储区中的sro信息为缺省值时，根据所述内存sro芯片上读取的sro信息，初始化微控制单兀MCU。
9.如权利要求6所述的内存自适配装置，其特征在于，所述装置还包括: 加载单元，用于在所述内存sro芯片上的sro信息和第一存储区中的sro信息相同时，加载第一存储区中的sro信息。
10.如权利要求6所述的内存自适配装置，其特征在于，所述初始化单元还用于: 将所述内存sro芯片上读取的sro信息更新到所述第一存储区中。
【专利摘要】本发明适用于计算机领域，提供了一种内存自适配方法及装置，所述方法包括下述步骤：在检测到系统开机时，读取第一存储区中的串行检测SPD信息；判断读取的所述SPD信息是否为缺省值；若否，读取内存SPD芯片的SPD信息；判断第一存储区中读取的SPD信息和内存SPD芯片上读取的SPD信息是否相同；若否，根据所述内存SPD芯片上读取的SPD信息，初始化微控制单元MCU；所述第一存储区为预先配置的电可擦可编程只读存储器中的存储空间。本发明通过利用SPD信息来进行内存自适配，从而简化了飞腾平台中设备更换不同的内存后首次开机启动时的操作。
【IPC分类】G06F11-22
【公开号】CN104572365
【申请号】CN201310493224
【发明人】张伟进, 刘俊山, 周庚申, 贾兵, 石明, 傅子奇, 吴燕琴
【申请人】中国长城计算机深圳股份有限公司
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2013年10月18日