触控感测电路与方法_3

文档序号:9261125阅读:来源:国知局
生干扰信号检测结果。请参阅图9,其是本发明感测值解析电路820的充电阶段及检测阶段对应干扰信号与干扰信号检测结果的关系图。当控制信号CTRL控制开关元件522导通,感测值解析电路820进入检测阶段,同时干扰信号检测电路550开始检测干扰信号。在此实施例中,同样以高电平的干扰信号检测结果反应干扰信号有较大的变化。由图可见,由于第一个检测阶段S的结束时间点并未落于干扰信号检测结果第一次呈现高电平的期间,所以维持预设的时间长度;然而第二个检测阶段S结束时,干扰信号检测结果正好为高电平,所以控制信号CTRL延后切换时间,直到T3时间后干扰信号的变化较不剧烈时才控制第二个检测阶段S结束。
[0045]请参阅图10,其是本发明感测值解析电路及干扰信号检测电路的另一实施例的详细电路图。图5的感测值解析电路520可以感测值解析电路1020实作。感测值解析电路1020的充电及放电路径上分别包含电阻527及电阻528,干扰信号检测电路550分别将电阻527与电阻528的跨压与预设值比较,以得到干扰信号检测结果。更详细地说,在充电阶段P内,比较器555将电阻527的跨压与预设值比较,在检测阶段S内,比较器555将电阻528的跨压与预设值比较。本实施例的充电阶段P及检测阶段S对应干扰信号与干扰信号检测结果的关系图显示于图11,本技术领域具有通常知识者可由前揭的实施例了解各信号的变化及对应关系,故不再赘述。
[0046]请注意,在其他较佳的实施例中,图6的干扰信号检测电路550包含电阻527,而感测值解析电路620不包含电阻527。同理,图8的干扰信号检测电路550包含电阻527,而感测值解析电路820不包含电阻527,以及图10的干扰信号检测电路550包含电阻527及电阻528,而感测值解析电路1020不包含电阻527及电阻528。
[0047]请参阅图12,其是本发明的触控感测方法的一实施例的流程图。除前述的触控感测电路外,本发明亦相对应地揭示了一种触控感测方法,应用于电容式的触控面板,能够防止噪声的干扰。本方法由前揭触控感测电路500或其等效装置来执行。如图12所示,本发明触控感测方法的一实施例包含下列步骤:
[0048]步骤S1210:依据控制信号CTRL的控制,在充电阶段内对多个感测单元充电。对电容式的触控面板而言,感测单元等效上可以视为电容元件,其电容值因应触控事件会产生变化。为了检测电容值的变化情形,本步骤依据控制信号CTRL的控制,以一充电路径在预设时间内对感测元件充电,使其累积电荷;
[0049]步骤S1220:依据控制信号CTRL的控制,在检测阶段内对多个感测单元放电。在充电阶段结束后,控制信号CTRL使本感测方法进入检测阶段。在此步骤的检测阶段中,感测单元以一放电路径在预设时间内放电,使其部分电荷透过放电路径转移到另一电容;
[0050]步骤S1230:在充电阶段及/或检测阶段内,监控干扰信号的变化情形,以得到干扰信号检测结果。干扰信号检测结果可以利用电平的高低变化反应干扰信号的大小,例如利用高电平表示干扰信号的变动大小超过容忍范围。监控干扰信号的方式可以在步骤1210的充电路径及/或步骤1220的放电路径上设置电阻,干扰信号会在此电阻上产生电压变化,因此可以藉由将电阻的跨压与预设值比较来得知干扰信号是否过大。上述的电阻可以只设置在充电路径与放电路径的其中之一,或是同时设置于两者;
[0051]步骤S1240:控制信号CTRL依据干扰信号检测结果,适时调整充电阶段及/或检测阶段的时间。控制信号CTRL原本以预设的时间控制充电阶段与检测阶段交互切换,当预设时间到达后,即控制触控感测方法由一阶段切换至另一阶段。然而,若在切换的瞬间干扰信号变化过大,则触控感测方法很容易受干扰信号的影响而降低确准度,因此本发明的控制信号CTRL会依据干扰信号检测结果做调整。当充电阶段及/或检测阶段到达原本预设的时间,且此时干扰信号检测结果为高电平,控制信号CTRL便延长该阶段的时间,以降低干扰信号的影响,请对应参阅图7、图9及图11以了解各信号的变化及对应关系。延长的时间不限于待干扰信号的变化小于可接受的范围后才结束,其他延长控制信号的方式已揭示于前述的装置发明,故不再赘述;
[0052]步骤S1250:依据放电后感测单元的电荷分布产生感测信号。如步骤S1220所述,放电后感测单元上的电荷会重新分布于感测单元及另一电容上,该电容的端电压的变化即可代表感测单元的感测值(即电容值)的变化情形,也就是说电容的端电压可以作为解析感测单元的感测值所生成的感测信号;以及
[0053]步骤S1260:判断感测信号以得到触控感测结果。感测信号可以先经由模拟数字转换器转换为数字格式,再以预设的演算法判断出触控事件的位置、次数及时间长度等触控资讯。
[0054]由于本技术领域具有通常知识者可藉由图5至图11的装置发明的揭示内容来了解图12的方法发明的实施细节与变化,因此,为避免赘文,在不影响该方法发明的揭露要求及可实施性的前提下,重复的说明在此予以节略。请注意,前揭图示中,元件的形状、尺寸、比例以及步骤的顺序等仅为示意,仅供本技术领域具有通常知识者了解本发明之用,非用以限制本发明。另外,本技术领域人士可依本发明的揭露内容及自身的需求选择性地实施任一实施例的部分或全部技术特征,或者选择性地实施多个实施例的部分或全部技术特征的组合,藉此增加本发明实施时的弹性。本发明的触控感测电路与方法适用于自电容型(self capacitance)与互电容型(mutual capacitance)的触控面板。
[0055]虽然本发明的实施例如上所述,然而该些实施例并非用来限定本发明,本技术领域具有通常知识者可依据本发明的明示或隐含的内容对本发明的技术特征施以变化,凡此种种变化均可能属于本发明所寻求的专利保护范畴,换言之,本发明的专利保护范围须视本说明书的申请专利范围所界定者为准。
【主权项】
1.一种触控感测电路,应用于一触控面板以产生一触控感测结果,其中该触控面板包含多个电容,该触控感测电路包含: 一感测值解析电路,于一第一时间区间对该些电容充电,以及于一第二时间区间将该些电容放电,并依据该些电容的一电容量资讯产生一感测信号;以及一判断单元,依据该感测信号以产生该触控感测结果; 其中,该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度是依据一控制信号而改变。2.如权利要求1所述的触控感测电路,其特征在于,还包含: 一干扰信号检测电路,耦接该感测值解析电路,用来检测该触控面板的一干扰信号,以产生一干扰信号检测结果;以及 一控制信号产生单元,依据该干扰信号检测结果产生该控制信号。3.如权利要求2所述的触控感测电路,其特征在于,该感测值解析电路包含: 一充电单元,透过一充电路径对该些电容充电;以及 一电阻,位于该充电路径上; 并且该干扰信号检测电路包含: 一比较单元,耦接该电阻,将该电阻的跨压与一预设值做比较以产生该干扰信号检测结果。4.
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