一种数据管理方法及存储装置的制造方法_3

文档序号:9751011阅读:来源:国知局
0112]如果不一致,判断出错次数是否超出预设阈值,如果超出,直接丢掉所述读出的数据;如果未超出,根据所述第二校验码与所述第一校验码计算出错率;根据等级参数查找与所述等级参数对应的容错率阈值;将出错率与容错率阈值进行比较,如果出错率大于等于容错率阈值,直接丢掉所述读出的数据;如果出错率小于容错率阈值,向主机发送所述读出的数据。
[0113]也就是说,基于数据的重要性对存储的数据进行分级,对于重要性级别低的数据允许数据的容错率高,对于重要性级别高的数据则给予较低的容错率。
[0114]上述方案中,优选地,所述如果出错率小于容错率阈值,向主机发送所述读出的数据时,还可以包括:
[0115]更新与所述第一存储单元对应的计数器的计数值,使所述计数器的计数值加一;
[0116]将第一校验码更新为第二校验码,以使所述第二校验码作为所述第一存储单元所存储数据的校验码。
[0117]本实施例所述数据管理方法,将数据与校验码、等级参数及出错次数分开存储,能够更好地保证在从第一存储单元读取数据时,从第二存储单元读取的与该数据所对应的第一校验码、等级参数以及计数器的计数值(即出错次数)正确,根据数据的等级参数对数据进行可靠性判断,提升用户的使用体验。
[0118]实施例三
[0119]图3为本发明实施例存储装置的结构示意图一,如图3所示,所述存储装置包括:
[0120]闪存介质31,用于存储数据;
[0121]处理器32,用于在将数据写入存储器的存储单元时,获取所述数据的等级参数,并将所述等级参数与所述数据的第一校验码写入所述存储器的存储单元;从所述存储单元读取数据时,计算所读出的数据的第二校验码;读取所述存储单元所对应的等级参数;基于所述等级参数判断所述第二校验码与所述第一校验码之间的关系,并根据所述关系进行数据读取操作。
[0122]优选地,所述处理器32,还用于:
[0123]读取计数器的计数值,其中,为每个存储单元设置一计数器,所述计数器用于记录从所述存储单元读取数据时的出错次数;
[0124]基于所述计数值确定从所述存储单元读取数据时的出错次数。
[0125]优选地,所述处理器32,还用于:
[0126]判断所述数据的数据类型;
[0127]基于所述数据类型获取该数据的等级参数。
[0128]优选地,所述处理器32,还用于:
[0129]比较所述第二校验码是否与所述第一校验码一致;
[0130]如果一致,直接向主机发送所述读出的数据;
[0131]如果不一致,判断出错次数是否超出预设阈值,如果超出,直接丢掉所述读出的数据;如果未超出,根据所述第二校验码与所述第一校验码计算出错率;根据等级参数查找与所述等级参数对应的容错率阈值;将出错率与容错率阈值进行比较,如果出错率大于等于容错率阈值,直接丢掉所述读出的数据;如果出错率小于容错率阈值,向主机发送所述读出的数据。
[0132]优选地,所述处理器32,还用于:
[0133]更新与所述存储单元对应的计数器的计数值,使所述计数器的计数值加一;
[0134]将第一校验码更新为第二校验码,以使所述第二校验码作为所述存储单元所存储数据的校验码。
[0135]优选地,所述处理器32,还用于:
[0136]将所述数据写入第一存储单元;
[0137]将所述第一校验码、所述等级参数以及计数器的计数值写入第二存储单元;其中,所述第二存储单元存储数据的稳定性大于预设稳定阈值。
[0138]本实施例所述存储装置可应用于SSD中。
[0139]本领域技术人员应当理解,本发明实施例的存储装置中各器件的功能,可参照前述数据管理方法的相关描述而理解,本发明实施例的存储装置中各器件,可通过实现本发明实施例所述的功能的模拟电路而实现,也可以通过执行本发明实施例所述的功能的软件在智能终端上的运行而实现。
[0140]本实施例所述存储装置,能根据数据的重要性等级参数对数据进行可靠性判断,提高用户的使用体验。
[0141]实施例四
[0142]图4为本发明实施例存储装置的结构示意图二,如图4所示,所述存储装置包括:
[0143]获取单元41,在将数据写入存储器的存储单元时,获取所述数据的等级参数;
[0144]写入单元42,用于将所述等级参数与所述数据的第一校验码写入所述存储器的存储单元;
[0145]第一读取单元43,用于从所述存储单元读取数据时,计算所读出的数据的第二校验码;
[0146]第二读取单元44,用于读取所述存储单元所对应的等级参数;
[0147]处理单元45,用于基于所述等级参数判断所述第二校验码与所述第一校验码之间的关系,并根据所述关系进行数据读取操作。
[0148]优选地,所述第二读取单元44,还用于:
[0149]读取计数器的计数值,其中,为每个存储单元设置一计数器,所述计数器用于记录从所述存储单元读取数据时的出错次数;
[0150]基于所述计数值确定从所述存储单元读取数据时的出错次数。
[0151]优选地,所述获取单元41,还用于:
[0152]判断所述数据的数据类型;
[0153]基于所述数据类型获取该数据的等级参数。
[0154]例如,所述获取单元41可以通过查表、数据库匹配等方式获取该数据的等级参数。
[0155]优选地,所述处理单元45,还用于:
[0156]比较所述第二校验码是否与所述第一校验码一致;
[0157]如果一致,直接向主机发送所述读出的数据;
[0158]如果不一致,判断出错次数是否超出预设阈值,如果超出,直接丢掉所述读出的数据;如果未超出,根据所述第二校验码与所述第一校验码计算出错率;根据等级参数查找与所述等级参数对应的容错率阈值;将出错率与容错率阈值进行比较,如果出错率大于等于容错率阈值,直接丢掉所述读出的数据;如果出错率小于容错率阈值,向主机发送所述读出的数据。
[0159]优选地,所述处理单元45,还用于:
[0160]更新与所述存储单元对应的计数器的计数值,使所述计数器的计数值加一;
[0161]将第一校验码更新为第二校验码,以使所述第二校验码作为所述存储单元所存储数据的校验码。
[0162]优选地,所述写入单元42,还用于:
[0163]将所述数据写入第一存储单元;
[0164]将所述第一校验码、所述等级参数以及计数器的计数值写入第二存储单元;其中,所述第二存储单元存储数据的稳定性大于预设稳定阈值。
[0165]本实施例所述存储装置可应用于SSD中。
[0166]本领域技术人员应当理解,本发明实施例的存储装置中各单元的功能,可参照前述数据管理方法的相关描述而理解,本发明实施例的存储装置中各单元,可通过实现本发明实施例所述的功能的模拟电路而实现,也可以通过执行本发明实施例所述的功能的软件在智能终端上的运行而实现。
[0167]所述存储装置中的获取单元41、写入单元42、第一读取单元43、第二读取单元44以及处理单元45;在实际应用中均可由所述存储装置或所述存储装置所属设备中的中央处理器(CPU,Central Processing Unit)、数字信号处理器(DSP,Digital Signal Processor)或可编程门阵列(FPGA,Field Programmable Gate Array)等实现。
[0168]本实施例所述存储装置,能根据数据的重要性等级参数对数据进行可靠性判断,提高用户的使用体验。
[0169]在本发明所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的方法、装置和电子设备,可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意
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