专利名称：媒体处理装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及具有防止磁卡被非法读取的功能的媒体处理装置。
背景技术：
通常，例如在银行的ATM机等上安装能对磁卡读出及写入磁数据的读卡机。而在读卡机上配置着插入、吐出磁卡用的卡槽；检测从卡槽插入磁卡用的检测器；将从卡槽插入的磁卡导入读卡机内部的磁卡导入路径；以及关闭磁卡导入路径的闸门。
使用者首先将磁卡前端插入卡槽。然后，由检测器检测磁卡的插入，当关闭着磁卡导入路径的闸门开启时同时利用磁卡导入路径上设置的辊子，将磁卡导入读卡机内部。在读卡机中就这样实现磁卡的取入动作。
然而，近些年里，存在非法地读取磁卡中记录的信息的装置，这种装置的存在已日益成为社会问题。这种非法读取装置在设置在读卡机卡槽前方(外侧)，同时还具有非法读取磁卡中记录的信息用的磁头。当磁卡插入被装有非法读取装置的读卡机(的模拟磁卡插卡口)时，由该磁头在使用者毫不知晓之时，读取磁卡中所记录的信息。
例如，如专利文献1所公开的磁卡处理装置那样，正在研发具有能防止非法读取磁卡的功能的媒体处理装置。专利文献1公开的磁卡处理装置，具有能检测卡槽附近是否有异物安装着的反射型光传感器，该反射型光传感器形成围着卡槽的开口，设置在将装置外部与内部分隔开的前前面板的内侧。而且，在前面板上，异物检测用的透光孔形成于反射型光传感器的前方部分。
采用具有这种构成的磁卡处理装置，假定，在卡槽附近被安装上异物时，由于从发光体射出通过透光孔进入反射型光传感器的光的光量出现变化，所以能检测出被安装上异物的情况。因此，在这种情况下，向上位装置发送警告信号，关下开闭磁卡导入路径的闸门，能采取防止磁卡被非法读取的对策。
专利文献1特開2001-67525号公报(段落号‘0023’、图1)但是，在上述专利文献1公开的磁卡处理装置上，考虑应到想要安装异物的人若注意到透光孔，就会想破坏该透光孔里面的反射型光传感器、或将不需要的光射入该透光孔使防止非法读取的功能停止。因而为了保持防止非法读取的功能、提高读卡机的可靠性，迫切需要开发这样一种技术，即从外部难以发现反射型光传感器之存在。
另外，如上所述用观察通过透光孔进入反射型光传感器的光量变化的现有方法，因读卡机设置环境，由于太阳光或室内荧光灯等外部光的影响会发生误检。
本发明为解决上述问题而提出，其目的在于提供一种媒体处理装置，从外部难以发现该装置的检测异物用的传感器的存在，提高防止非法读取的功能，同时还能减少因外部光引起的误检提高可靠性。
发明内容
为解决上述问题，本发明提供以下方法。
(1)一种媒体处理装置，包括形成磁记录媒体被插入或排出开口，同时还将装置分隔成外部和内部的正面面板；设置在装置内部，对所述磁记录媒体写入或读取信息用的磁头；设置在所述正面面板的至少一部分上，同时遮住可见光的遮光滤光器；以及设置在较所述遮光滤光器更靠近装置内部一侧，能检测装置外部被装上异物的异物检测单元。
根据本发明，由于在媒体处理装置上通过安装形成磁记录媒体用的开口，并将装置分隔成外部和内部的正面面板；设置在装置内部的磁头；设置在正面面板的至少一部分上的(可见光)遮光滤光器；以及设置在较所述遮光滤光器更靠近装置内部一侧，能检测装置外部被装上异物的异物检测单元，因此即使想从外部发现异物检测单元，由于遮光滤光器的存在而难以发现。
因此，减少从外部发现异物检测单元存在的可能性，使防止非法读取的功能(保密性)提高。另外利用遮光滤光器的切断可见光的功能，能减少在异物检测单元上由于可见光造成的误检，提高可靠性。
这里所谓的‘遮住可见光’不仅是完全遮住可见光，而且也包括将可见光部分地遮住的意思。即本说明书中所谓的‘遮光’自然是指遮光效率100％的情况，但也包括遮光效率小于100％的情况。另外，‘异物检测单元’只要是能检测出安装在装置外部的异物，则可以是任何单元。例如、可列举出光反射器、微波传感器、金属探测器等。
(2)如(1)所述的媒体处理装置，其中，所述异物检测单元具有发出不可见光的发光体；以及接受不可见光的光敏传感器，所述遮光滤光器使不可见光透过。
根据本发明，由于上述异物检测单元具有发出不可见光(例如红外光)的发光体(发光元件)；以及接受不可见光的光敏传感器(光敏元件)，上述遮光滤光器使不可见光透过，因此在使发光体发光之际通过读取进入光敏传感器的光量变化，从而一方面能检测出被装上异物的情况，另一方面通过遮光滤光器难以从外部发现发光体或光敏传感器。因此，能提高防止非法读取的功能(保密性)。
(3)如(2)所述的媒体处理装置，其中，所述不可见光为红外光。
根据本发明由于上述不可见光为红外光，所以利用相当普及的红外线LED，从而能廉价而简易地提高防止非法读取的功能。
(4)如(2)或(3)所述的媒体处理装置，其中，所述异物检测单元还具有控制所述发光体发光的发光控制部；以及对所述发光体的发光和所述光敏传感器所接受的光进行比较的比较部。
根据本发明，由于在上述异物检测单元还设置控制发光体发光的发光控制部；以及对发光体发出的光和光敏传感器接受的光进行比较的比较部，因此在发光控制部使发光体发光时，能由比较部检测发光体发出的光和光敏传感器所接受的光之间的特征差(例如发光量之差、发光时间之差、发光时刻之差等)。因此，能更正确地判定异物的安装。
(5)如(2)至(4)中任一项所述的媒体处理装置，其中，所述异物检测单元一方面以随机或模拟随机的时间间隔，使所述发光体闪烁发光，另一方面所述光敏传感器以与所述发光体的闪烁发光一致的时间间隔，感受不可见光，在这种情况下，能判定为所述正面面板外侧安装有异物。
根据本发明，由于一方面由于利用上述异物检测单元以随机或模拟随机的时间间隔使所述发光体闪烁发光，而另一方面光敏传感器以与发光体的闪烁发光一致的时间间隔感受不可见光，在这种情况下，能判定所述正面面板外侧安装有异物，因此能更正确地判定异物的安装。即，在根据以随机或模拟随机的时间间隔使所述发光体闪烁发光的人为的发光时刻使光敏传感器感受不可见光时，由于感受的光是太阳光等自然光的可能性极小，所以最终能正确地判定被装上异物。
(6)如(2)至(5)中任一项所述的媒体处理装置，其中，所述异物检测单元在装置电源投入时，使所述发光体发光，在所述光敏传感器的感光输出小于等于规定值时，判定装置自身发生异常。
根据本发明，由于利用上述异物检测单元在装置电源投入时，使所述发光体发光，该光例如在配置在异物检测单元之前的罩壳反射，在光敏传感器的感光输出小于等于规定值时，判定为装置自身发生异常，因此在投入装置电源之际，能自行对传感器作故障诊断。即本发明的媒体处理装置具有故障自诊断功能。
(7)如(1)所述的媒体处理装置，其中，所述遮光滤光器在使不可见光透过，同时还由感受不可见光的光敏传感器构成所述异物检测单元，不可见光发光体设置在装置的外部。
根据本发明，由于异物检测单元由感受不可见光的光敏传感器构成，发出不可见光的发光体设在装置外部，因此发光体调换方便，能提高通用性。另外，能有效利用装置外部的发光体，仅光敏传感器安装在装置内部，故可降低成本。
(8)如(1)至(7)中任一项所述的媒体处理装置，其中，所述异物检测单元在等待插入所述磁记录媒体的磁记录媒体插入待机状态，或探测到插入磁记录媒体时，进行异物检测。
根据本发明，由于上述异物检测单元在等待插入所述磁记录媒体的磁记录媒体插入待机状态，或探测到插入磁记录媒体时，进行异物检测，因此每当使用媒体处理装置时就进行一次异物检测，能提高防止非法读取的功能(保密性)。
(9)如(1)至(8)中任一项所述的媒体处理装置，其中，所述磁记录媒体为具有磁条的磁卡，所述异物检测单元的检测区域为面对所述磁条的通过路径的区域。
根据本发明，由于所述异物检测单元的检测区域为设置在所述磁记录媒体(磁卡)表面的面对所述磁条的通过路径的区域，因此能提高防止非法读取功能的正确性。即一般的磁卡上，由于磁条的位置因其规格而定，当然异物也大多安装在磁条通过路径附近。因而通过将面对磁条的通过路径的区域作为异物检测单元的检测区域，从而能更正确地检测出被安装上异物。
(10)如(1)至(9)中任一项所述的媒体处理装置，其中，在所述异物检测单元检测出异物时，向使用者或上位装置发出警告、或中止对所述磁记录媒体的处理。
根据本发明，由于在上述异物检测单元检测出异物时，向使用者或上位装置发出警告或中止对磁记录媒体的处理，因此能事先防止被异物读取磁记录媒体所记录的信息，进而能提高防止非法读取的功能。
根据本发明的媒体处理装置，难以从外部发现该装置的检测异物用的传感器之存在，能提高防止非法读取的功能。另外，减少因外部光引起的误检，提高对异物检测的可靠性。
图1为表示本发明的实施方式涉及的读卡机机械构成的立体图。
图2为从正面看图1示出的读卡机时的正视图及从上向下看该读卡机时的俯视图。
图3为将图1示出的读卡机纵向剖开时使其包括遮光滤光器及分离器在内的纵剖视图。
图4为表示在图1示出的读卡机上嵌入遮光滤光器的形态用的图。
图5为表示遮光滤光器其它配置形态用的图。
图6为表示光反射器周围电气线路的方框图。
图7为说明异物检测流程用的流程图。
图8为表示异物检测之际，CPU检测出的光反射器的传感器输出的波形图。
图9为表示更新限幅电平的形态的波形图。
图10为表示更新限幅电平时信息处理流程的流程图。
图11为说明光反射器故障诊断之概要用的概要图。
图12为表示对光反射器进行故障诊断时信息处理流程的流程图。
图13为表示将光反射器安装在DIP型式的读卡机上的形态用的图。
图14为表示将光反射器安装在划卡(スヮィプ)型式的读卡机上的形态用的图。
标号说明1读卡机10正面面板10a开口11输送辊子12闸门线圈13遮光滤光器14闸门开闭开关15宽度检测开关16取入辊子17前置磁头18闸门50光反射器50a发光体50b光敏传感器具体实施方式
以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。
(机械构成)图1(a)为表示本发明的实施方式涉及的读卡机1机械构成的立体图。图2为从正面看图1(a)示出的读卡机时的正视图及从上向下看该读卡机时的俯视图。还有，本实施方式中，采用读卡机作为媒体处理装置，但本发明不限于此。另外，在图1(a)及图2中，着重于读卡机1的正面部分。
在图1(a)中，读卡机1具有形成插入或吐出磁卡的开口10a，并将装置分隔为内部和外部的正面面板10。还有，在图1(a)的立体图中，虽然因卸去装置外壳能看到装置内部，但在通常装着装置外壳时，就变成无法看清较正面面板10更靠近装置内部的一侧。另外，开口10a作为插入、吐出磁卡用的卡槽起作用。
还有，正面面板10分隔装置的内部和外部，只要能从开口10a允许插入、吐出磁卡，其范围、形状、大小等均可不论。例如，包括开口10a在内的开口部(卡槽)如图1(b)所示，可以为图1(a)所示的形状，也可以为图1(c)所示开口部为平面形状。另外，关于后述的光敏传感器50(参照图3)的位置，最好在开口附近(参照图1(d)中，正中的光反射器50的位置)，但，其它也可如图1(d)所示，离开开口(参照图1(d)中上下光反射器50的位置)。
在装置的内部设置对磁卡写入或读取信息用的磁头。磁头在图1(a)或图2上看不到，但通过输送路径配置在输送辊11的下方。而通过与磁卡上的磁条接触、滑动，能写入或读取信息。还有，作为磁头的构成，例如具有隔开磁隙面对面配置的磁心、卷绕在磁心上的写入用线圈、卷绕在磁心上的读出用线圈、以及存放上述构件的外壳。
当磁卡插入开口10a时，检测磁卡宽度方向的长度的宽度检测开关15(参照图2(b))ON。于是，利用闸门线圈12(参照图2(a))的动作，正关闭输送路径的闸门18(参照后述的图3)开启，同时闸门开闭开关14(参照图2(a))ON，设在输送路径上的取入辊16(参照图2(b))开始旋转动作，磁卡就被取入读卡机1内部。在读卡机1中，就这样完成取卡动作。
这里，如图1(a)所示，考虑到在读卡机1正面面板10的前方，安装非法读取磁卡中所记录的信息的装置(分离器)20时，在本实施方式的读卡机1上作为检测被装上该分离器20用的异物检测单元的一个例子，设置后述的光反射器(参照图3)。而且，为了做成从外部难以发现该光反射器50，如图1(a)及图2(a)所示，在部分正面面板10上设置可遮住可见光的遮光滤光器13。关于光反射器50及遮光滤光器13的位置关系，将利用图3详细叙述。
图3为将图1(a)示出的读卡机1纵向剖开时使其包括遮光滤光器13及分离器20在内的纵剖视图。还有，在图1(a)及图2中，作为开闭闸门18的触发器，采用宽度检测开关15，但在图3中，作为该触发器，更有采用预先检查磁卡中是否有信息(磁数据)存在的前置磁头17(例如在写入磁数据前新卡插入时，前置磁头17识别为是无磁数据的卡，有时会无法处理，所以将宽度检测开关15和前置磁头17一并使用)。
如图3所示，有非法读取磁卡中记录的信息用的磁头21的分离器20正安安装在读卡机1正面面板10前方(图3中左侧)。通常，磁卡表面上的磁条的位置根据ISO标准而规定，另外，如对其将输送路径的高度也一并考虑进去，则能推定设置分离器20的位置。
因此，将检测被安装上分离器20用的光反射器50配置在图3示出的位置。也就是，光反射器50的检测区域为面对磁条的通过路径的区域。还有，最好其配置位置为前置磁头17的前方。另外，作为异物检测单元的其它例子，例如，也可以为光敏二极管(光敏晶体管)和LED的组合，但如本实施方式那样，通过采用光反射器50作为异物检测单元，能缩小安装空间。还有，光反射器50的LED光源为红外线LED。通过使用红外线LED，犯罪人员无法发现光反射器50发光。另外，也可以对光反射器50的光敏传感器50b(参照后述的图6)涂布切断红外光以外波长的光的涂料。通过这样，能切断从外部射入的光敏传感器50b的红外光以外的光。
在光反射器50的前方配置切断可见光，使红外光通过的遮光滤光器13。具体如图4所示，从后面嵌入作为正面面板10的一部分(参照图中的箭头X)。图4为表示在图1(a)示出的读卡机1上嵌入遮光滤光器13的形态用的图。
还有，本实施方式中，遮光滤光器50设置在部分正面面板10上(或者作为其一部分)，例如如图5所示，也可以设在正面面板10中形成开口10a的一部分的整个下部(扩展部或狭道部)上。图5为表示遮光滤光器13其它配置形态的图。如图5(a)所示，在将整个下部作为遮光滤光器13时，在将其安安装在正面面板10上时(参照图中的箭头Y)，犯罪人员无法识别哪个部分是遮光滤光器(参照图5(a)→图5(b))。通过这样，能提高保密性。
如上所述，根据图1(a)～图5示出的读卡机1的机械构成，利用遮光滤光器13的存在，难以从外部发现光反射器50。因此，降低从外部发现存在光反射器50的可能性，能提高防止非法读取的功能(保密性)。以下详细叙述读卡机1中，使光反射器50动作的电气构成。
(电气构成)图6为表示光反射器50周围电气线路的方框图。LED开/关控制电路51、A/D转换电路53及CPU54、配置在读卡机1的控制板(图中未示出)，这些以外的电气要素配置在图3示出的传感器基板60。还有，例如图6中的运算放大器OP配置在上述控制板等，关于这些要素的配置可以择情进行。
在图6中，光反射器50具有发红外光的发光体50a、和接收红外光的光敏传感器50b。发光体50a的阴极连接晶体管TR1的集电极端，通过基极电阻R1，晶体管TR1的基极端输入来自LED开/关控制电路51的控制信号。在晶体管TR1的基极端子和发射极端子之间，连接防止向晶体管TR1的输入成开路状态用的下拉电阻R2，晶体管TR1的发射极端接地。还有，发光体50a的阳极通过负载电阻R3与电源52连接。
另一方面，光敏传感器50b的阳极在接地，同时光敏传感器50b的阴极连接运算放大器OP的反相输入端。还有，运算放大器OP的反相输入端接地。另外，运算放大器OP的反相输入端和输出端之间连接反馈电阻R4和电容器C的并联电路。而且，运算放大器OP的传感器输出通过A/D转换电路53成数字信号，输入CPU54。
还有，LED开/关控制电路51作为控制发光体50a的发光的发光控制部的一个例子起作用。另外，CPU54作为发光体50a发出的光和光敏传感器50b接收的光进行比较的比较部的一个例子起作用。
根据以上说明的电气构成，利用图7及图8详细说明光反射器50的异物检测流程。图7为说明异物检测流程用的流程图。图8为表示异物检测之际，CPU54上检测出的光反射器的传感器输出的波形图。还有，图8(a)为有分离器20时的波形图、图8(b)为无分离器20时的波形图、图8(c)为因外部光造成误检时的波形图、图8(d)为虽然有外部光但未造成误检时的波形图、以下，首先对被安装上分离器20的情况进行说明。
在图7中，首先表示检测次数的变数计数完毕(步骤S1)，更具体地说，LED开/关控制电路51在自己内部的存储器(RAM之类)的存区中将变数Nd仅增加1就计数完毕(增加)。通过这样，将1代入初始值为0的变数Nd。
然后，LED开/关控制电路51在只待机不确定(不定期)的间隔后(步骤S2)，进行LED发光处理。更具体地说，LED开/关控制电路51例如利用自己内部的随机数发生器等，决定多个随机的时间间隔(T1秒钟、T2秒钟、T3秒钟、T4秒钟、…)(预先存于存储器)，一直待机直到所决定的时间间隔中最初的时间间隔(T1秒钟)经过。此后，在判定最初的时间间隔已经过时，向晶体管TR1发送控制信号(ON信号)，使晶体管TR1导通，集电极电流流向发光体50a。通过这样，发光体50a就点亮发光(步骤S3)。
接着，表示LED发光次数的变数Non计数完毕(步骤S4)、更具体地说，和步骤S1一样，在自己内部的存储器的存区中，变数Non计数完毕。通过这样，将1代入初始值为0的变数Non。
然后，计测光敏传感器50b的输出(步骤S5)。更具体地说，利用LED开/关控制电路51使LED发光时，CPU54检测通过运算放大器OP及A/D转换电路53得到的光反射器50的传感器输出(数字数据)。
然后，判断步骤S5计测出的传感器输出(输出电平)是否大于等于规定的限幅电平(规定电压)(步骤S6)。更具体地说，CPU54判定是否大于等于规定的限幅电平。
这里，如上所述，因考虑如今被安装上分离器20的情况，在步骤S6的处理中得到YES的结果。即，如图8(a)所示，LED最初点亮发光后不久，CPU54检测光反射器50的传感器输出(参照图中箭头A)，因有来自分离器20的反射光，所以判定大于等于限幅电平，在步骤S6的处中理得到YES的结果。
然后，LED开/关控制电路51在仅待机不确定的间隔后(步骤S10)，进行LED熄灭处理(步骤S11)。更具体地说，LED开/关控制电路51待机直到经过上述时间间隔T2，此后，在判定经过时间间隔T2时，停止向晶体管TR1发送控制信号(即发送OFF信号)。这样晶体管TR1截止，就不向发光体50a供给集电极电流，发光体50a熄灭(步骤S11)。
然后，和步骤S4及步骤S5一样，表示LED熄灭次数的变数Noff计数完毕(步骤S12)，计测光敏传感器50b的输出(步骤S13)。然后，判定在步骤S13所计测的传感器输出(输出电平)是否小于等于规定限幅电平(规定电压)(步骤S14)，更具体地说，CPU54判定是否小于等于规定限幅电平。
这里，如上所述，因考虑如今被安装上分离器20的情况，所以在步骤S14的处理中能得到YES的结果。也就是，如图8(a)所示，在LED点亮发光(ON)再熄灭(OFF)后不久，CPU54检测光反射器50的传感器输出(参照图中的箭头B)，来自分离器20的反射光消失，另外，图8(a)中由于没有假想为外部光造成的电平偏移(由于外部光，传感器输出整体上升一定值)，所以判定为小于等于规定限幅电平，步骤S14的处理中能得到YES的结果。还有，在有因外部光造成电平偏移时，其对应措施将利用图9在以后阐述。
然后，判断表示检测次数的变数Nd是否大于等于规定值(步骤S18)，更具体地说，LED开/关控制电路51判断变数Nd(当前的值为1)是否大于等于规定的规定值。还有，图7中，采用4作为规定值，所以在最初的步骤S18的处理中为NO，转移到步骤S1。此后总计3次反复执行步骤S1～步骤S6、步骤S10～步骤S14、步骤S18的处理。如着重于步骤S5及步骤S13的传感器输出的计测，则如图8(a)所示，箭头A及箭头B为第1次计测，箭头C及箭头D为第2次计测，箭头E及箭头F为第3次计测，箭头G及箭头H为第4次计测。
第4次计测结束，在步骤S18的处理中为YES时(表示检测次数的变数Nd为4时)，CPU54判定分离器20被安安装在读卡机1上(步骤S19)。这样，检测出被安装上分离器20。
还有，在检测出被安装上分离器20时，本实施方式中，将警告通知上位装置(ATM等)。另外，CPU54和LED开/关控制电路51能收发相应的信息，能交接异物检测所需的数据。另外，图7示出的流程图中，虽1次1次判定光反射器50的传感器输出是否大于等于规定限幅电平(参照步骤S6及步骤S14)，但也可以例如存储器(RAM之类)与CPU54连接，在数据暂存于存储器中后，最后一并进行判断。
以下，利用图7及图8说明未被装上分离器20的情况。还有，关于步骤S1～步骤S6、步骤S10～步骤S14的处理的详细内容因与上述相同所以省略。
在图7中，首先进行步骤S1～步骤S5的处理。而后，在步骤S6的处理中，因考虑未被装上分离器20的情况得到NO的结果。即如图8(b)所示，LED最初发光(ON)后不久，CPU54检测光反射器50的传感器输出(参照图中箭头A)，因为没有来自分离器20的反射光，所以判定为小于等于规定限幅电平，在步骤S6的处理中就得到NO的结果。
然后，判断表示LED点亮发光次数的变数Non是否大于等于规定的规定值(步骤S7)。更具体地说，LED开/关控制电路51判断变数Non(当前的值为1)是否大于等于规定的规定值。还有，图7中作为规定的规定值采用4，所以在最初的步骤S7的处理中为NO，发光体50a熄灭后(步骤S9)，处理转移到步骤S2。
此后，步骤S2～步骤S6的处理就合计反复3次。若着重于步骤S5的传感器输出的计测，则如图8(b)所示，箭头A为第1次、箭头B为第2次、箭头C为第3次、箭头D为第4次。
第4次的计测结束后，在步骤S7的处理中成为YES时(表示LED发光次数的变数Non为4时)，CPU51判定读卡机1未被装上分离器20(步骤S8)。就这样，检测出被装上分离器20。
以下，利用图7及图8(c)，说明因外部光造成误检的情况。这一误检是在时间间隔不是不确定的间隔，而是定期的间隔时产生的。即，在LED开/关控制电路51中所决定的定期的时间(T1秒钟、T1秒钟、T1秒钟、…)。
如图8(c)的上面部分所示，设从外部(或从遮光滤光器13的间隙)脉冲状的光射入光敏传感器50b。在这种状态下，若进行图7示出的处理，则产生误检。
具体地说，如图8(c)的下面部分所示，光反射器50的传感器输出因图8(c)的上面部分所示的外部光而呈脉冲状变化。因此在图8(c)的中间部分，LED最初点亮发光(ON)后不久(图7的第1次的步骤S3)，CPU54检测光反射器50的传感器输出(参照图中的箭头A)，由于有脉冲状的外部光存在，所以判定为大于等于规定限幅电平，在步骤S6的处理中得到YES的结果。此后，在图8(c)，在LED点亮发光(ON)再熄灭(OFF)后不久，CPU54检测光反射器50的传感器输出(参照图中的箭头B)，这时，脉冲状的外部光也关闭(参照图8(c)上面部分)，另外，在图8(c)因为没有设想外部光造成的电平偏移，所以判定为小于等于规定限幅电平，在步骤S14的处理中，得到YES的结果。还有，以后和利用图8(a)说明过的情况一样，在步骤S5及步骤S13的传感器输出的计测中，箭头A和箭头B为第1次、箭头C和箭头D为第2次、箭头E和箭头F为第3次、箭头G和箭头H为第4次。
这样，图8(c)中，尽管假想读卡机1上未被装上分离器20的情况，但和图8(a)一样，误检出被装上分离器20。因而，如图8(d)所示，利用多个随机的时间间隔(T1秒钟、T2秒钟、T3秒钟、T4秒钟…)。通过这样，可避免产生图8(c)那样的误检。
更具体地说，首先如图8(d)的上面部分所示，设从外部(或从遮光滤光器13的间隙)向光敏传感器50b射入脉冲状的光。传感器输出的第1次计测时，也就是图7的第1次的步骤S5及步骤S13的处理之际(参照图8(d)示出的箭头A及箭头B)，分别为大于等于规定限幅电平及小于等于规定限幅电平，所以处理转移到步骤S1。
然而，在传感器输出的第2次计测时，也就是图7的第2次的步骤S5及步骤S13的处理之际(参照图8(d)示出的箭头C及箭头D)，所计测的传感器输出不再成为小于等于规定限幅电平(参照图8(d)示出的箭头D)。通过这样，因在第2次的步骤S14的处理中得到NO的结果，所以第2次的步骤S14的处理后，不是转移到步骤S18而是转移到步骤S15的处理。
因此，例如，若将与表示LED发光次数的变数Noff有关的规定值预先作为，在这一阶段转移到步骤S16的处理，能进行未被装上分离器20的正确的检测。还有，这里设上述规定值为1，也可以为大于等于2。
如上所述，利用图7及图8，能正确地判定分离器20是否被安装在读卡机1上。尤其如利用图8(d)说明过的那样，一方面以随机(或模拟随机)的时间间隔使发光体50a闪烁发光，另一方面光敏传感器50b以与发光体50a闪烁发光一致的时间间隔接受不可见光，在这种情况下，因判定正面面板外侧被装上异物，所以即使脉冲状的外部光射入光敏传感器50b，仍能可靠地进行异物检测。
以下，考虑从外部射入太阳光等相等连续电平(正常状态)的光(例如从遮光滤光器13的间隙)，而且被装上分离器20的情况。在这种情况下，光反射器50的传感器输出整体上电平偏移外部光的部分(由于外部光传感器输出整体上升一定值)。因此，有时在熄灭LED时光敏传感器50b的输出计测(图7的步骤S13)不能正确地进行。因而，考虑在图7的步骤S6及步骤S14进行改变作为判断基准的规定限幅电平的更新处理。
图9为表示使限幅电平更新的形态用的波形图。尤其是图9(a)为表示发光体50a的点亮发光定时的波形图，图9(b)为限幅电平更新前的波形图，图9(c)为限幅电平更新后的波形图。另外图10为表示更新限幅电平时信息处理流程的流程图。
在图7及图9(b)中，图7的第1次步骤S5及步骤S13的处理(输出计测)之际(参照图9(b)示出的箭头A及箭头B)，前者为大于等于规定限幅电平(限幅电平P)，而后者因外部光造成的电平偏移的原因不再为小于等于规定限幅电平(限幅电平Q)(参照图9(b))。因此，前者在步骤S6的判断处理中，处理转移到步骤S10(步骤S6YES)，后者在步骤S14的判断处理中，处理不是转移到步骤S18而是转移到步骤S15。(步骤S14NO)。然后，当从步骤S14转向步骤S15反复规定次数时，最终在步骤S15的判断处理中为YES，虽然判定分离器20未被安装在读卡机1上(步骤S16)，但这是误检。
在图7示出的流程图中‘检查开始’前，进行图10示出的信息处理(规定限幅电平的更新处理)。具体地说，首先熄灭LED后(步骤S21)计测光敏传感器的输出(步骤S22)。
这里，判断传感器输出是否为可改写的电平(步骤S23)。具体地说，根据限幅电平的更新判断能与外部光造成的电平偏移对应的程度为如何。在传感器输出不是可改写的电平时，也就是，外部光的入射太大时，判定为未被装上分离器20，检测例行程序结束(步骤S24)，另一方面，在输出是可改写的电平时，更新限幅值(限幅电平)(步骤S25)。
具体地如图9(c)所示，在进行光敏传感器50b输出计测前的时刻0，更新限幅电平。通过这样，判定为ON的限幅电平P(参照图9(b))变成限幅电平R(参照图9(c))，判定为OFF的限幅电平Q(参照图9(b))变成限幅电平S(参照图9(c))。其结果，在限幅电平更新前的波形图中，按照箭头B、箭头D、箭头F、箭头H的输出计测为误检(‘判定NG’)(参照图9(b))，但在限幅电平更新后的波形图中，按照箭头B、箭头D、箭头F、箭头H的输出计测为正常检测(‘判定OK’)(参照图9(c))。
这样，在将限幅电平更新为适当的值后(图10的步骤S25)，若使其预先进行输出计测(图10中的步骤S26)，尽管分离器20被安装在读卡机1上，但能防止由于外部光的不良影响而判定为未被装上。
图11为说明光反射器故障诊断之概要用的概要图。
在图11中，在发光体(LED)50a及光敏传感器50b的前方，配置罩盖30(图1中的遮光滤光器)13。该罩盖30(图1中的遮光滤光器13)用红外线能透过的材料制成，但罩盖30(图1中的遮光滤光器13)上稍些有反射光存在。因此，通过利用光敏传感器50b检测该反射光能进行故障诊断。
图12为表示对光反射器进行故障诊断时信息处理流程的流程图。
在图12中，例如装置电源投入时或不定期时，首先，发光体(LED)50a点亮发光(步骤S31)。此后便计测光敏传感器50b的传感器输出(步骤S32)。将此时的计测值作为S1。然后，使发光体50a熄灭(步骤S33)。紧接着，计测光敏传感器50b的传感器输出(步骤S34)。设此时的计测值为S0。还有关于步骤S31及步骤S33的发光体控制和上述同样地由LED开/关控制电路51进行，关于步骤32及步骤S34的输出计测和上述一样由CPU54进行。
这里，由CPU54判断计测值(S1-S0)是否大于等于规定值。进行S1-S0的减法运算是用于消除外部光的不良影响(电平偏移)。在判定为大于等于规定值时，根据发光体50a的亮(ON)、暗(OFF)能正常计测光敏传感器50b的传感器输出，所以判断为正常自诊断结束(步骤S37)。另一方面，在判定为未达到规定值时(在使发光体50a发光或熄灭，光敏传感器50b的传感器输出都几乎不变时)，判定为传感器发生故障向上位装置发送警告。
这样，使发光体50a发光，在光敏传感器50b的光敏输出(传感器输出)为小于等于规定值时，(步骤S35NO)，作为自己判定发生异常，所以能在读卡机1上附加光敏传感器50b故障自诊断功能。
(实施形态的效果)以上，如利用图1(a)～图12说明的那样，在读卡机1上作为检测分离器20的传感器，将光反射器50配置在比设在正面面板10的至少一部分上的遮光滤光器13更靠近装置内部一侧，所以从外部难以发现光反射器50，进而能提高防止非法读取的功能(保密性)。另外由于与分离器20内的磁头21(参照图3)的位置一致配置光反射器50，所以能提高检测出分离器20的精度。另外，由于光反射器50为红外线发光，所以犯罪人员用肉眼无法识别传感器用的光，能不让其注意到传感器的存在。另外，通过将开口10a的整个下部作为遮光滤光器13，能更加可靠地不让其注意到传感器的存在。。再有，如利用图7～图10说明过的那样，也能防止外部光(脉冲状的外部光或相等连续电平的外部光)的不良影响，也如利用图11及图12说明过的那样，能发挥故障自诊断功能。
变形例上述读卡机1中，发光体50a设置在装置(遮光滤光器13)内部，但例如也可设置在装置外部。也就是，遮光滤光器13使不可见光透过，同时光反射器50还具有接受不可见光的光敏传感器50b，不可见光发光体50a可设置在装置外部。通过这样，和上述一样，能提高防止非法读取的功能，发光体50a的调换也容易。
另外，上述读卡机1中，在等待插入磁卡的磁卡插入待机状态进行异物检测，但是，当然可以在每次检测出磁卡的插入时，进行异物检测。通过这样，异物检测变得更加频繁，进而能提高保密性。
另外，上述读卡机1中，在CPU54检测出异物(分离器20)时，将警告通知上位装置，例如也可在吐出取入的磁卡之前，使用图中未示出的显示器，将内容为磁卡信息被非法读取的警告通知使用者，另外中止对磁卡的处理。例如，也可以使闸门18关闭不动。通过这样，因为磁卡没有完全插入读卡机1内，所以能防止记录于磁卡的信息被全部读取。
另外，上述的读卡机1是电动机式的读卡机，但例如DIP型式的读卡机也适用。图13为表示将光反射器50安装在DIP型式的读卡机上的形态用的图。在这种情况下，和读卡机1一样，光反射器50的检测区域为面对磁条通过路径的区域。还有，其配置的位置最好在前置磁头的前方(参照图13)。
还有不光是图13示出的DIP型式的读卡机，例如也可以安安装在划卡(スヮィブ)型式的读卡机。图14为表示将光反射器50安装在划卡(スヮィブ)型式的读卡机上的形态用的图。在这种情况下，光反射器50是磁卡划卡方向的插入侧，而且配置在装磁头的一侧(参照图14)。
工业上的实用性本发明的媒体处理装置，能提高防止非法读取的功能，同时能减少因外部光引起的误检，提高可靠性，作为这样的装置是相当有用的。
权利要求
1.一种媒体处理装置，其特征在于，包括形成磁记录媒体被插入或排出开口，同时还将装置分割成外部和内部的正面面板；设置在装置内部，对所述磁记录媒体写入或读取信息用的磁头；设置在所述正面面板的至少一部分上，同时遮住可见光的遮光滤光器；以及设置在较所述遮光滤光器更靠近装置内部一侧，检测异物被安装在装置外部的异物检测单元。
2.如权利要求1所述的媒体处理装置，其特征在于，所述异物检测单元具有发出不可见光的发光体；以及接受不可见光的光敏传感器，所述遮光滤光器使不可见光透过。
3.如权利要求2所述的媒体处理装置，其特征在于，所述不可见光为红外光。
4.如权利要求2或3所述的媒体处理装置，其特征在于，所述异物检测单元还具有控制所述发光体发光的发光控制部；以及对所述发光体的发光和所述光敏传感器所接受的光进行比较的比较部。
5.如权利要求2至4中任一项所述的媒体处理装置，其特征在于，所述异物检测单元在一方面以随机或模拟随机的时间间隔，使所述发光体闪烁发光，另一方面所述光敏传感器以与所述发光体的闪烁发光一致的时间间隔，感受不可见光时，判定为所述正面面板外侧安装有异物。
6.如权利要求2至5中任一项所述的媒体处理装置，其特征在于，所述异物检测单元在装置电源投入时，使所述发光体发光，在所述光敏传感器的感光输出小于等于规定值时，判定为装置自身发生异常。
7.如权利要求1所述的媒体处理装置，其特征在于，所述遮光滤光器使不可见光透过，同时还利用感受不可见光的光敏传感器构成所述异物检测单元，并将不可见光发光体设置在装置的外部。
8.如权利要求1至7中任一项所述的媒体处理装置，其特征在于，所述异物检测单元在等待插入所述磁记录媒体的磁记录媒体插入待机状态，或探测出插入磁记录媒体时，进行异物检测。
9.如权利要求1至8中任一项所述的媒体处理装置，其特征在于，所述磁记录媒体为具有磁条的磁卡，所述异物检测单元的检测区域为与所述磁条的通过路径相对的区域。
10.如权利要求1至9中任一项所述的媒体处理装置，其特征在于，在所述异物检测单元检测出异物时，向使用者或上位装置发出警告、或中止对所述磁记录媒体的处理。
全文摘要
本发明揭示一种媒体处理装置，从外部难以发现该装置的检测异物用的传感器的存在，提高防止不正读取的功能，同时还能减少因外部光引起的误检提高可靠性。该媒体处理装置，具有；形成磁记录媒体被插入或排出开口10a，同时还将装置分隔成外部和内部的正面面板10；设置在装置内部，对所述磁记录媒体写入或读取信息用的磁头；设置在所述正面面板10的至少一部分上，同时遮住可见光的遮光滤光器13；以及设置在较所述遮光滤光器13更靠近装置内部一侧，检测异物被安装在装置外部的异物检测单元(光反射器50)。
文档编号G07F19/00GK101046898SQ20061010861
公开日2007年10月3日 申请日期2006年7月28日 优先权日2006年3月29日
发明者石川和寿, 平泽贤司, 北泽康博 申请人:日本电产三协株式会社