专利名称：信息记录装置、信息记录方法以及程序的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于在一个包括用户区域和缺陷(defect)替代区域的信息记录介质上记录信息的信息记录装置和信息记录方法，以及用于使信息记录装置执行初始化信息记录介质的初始化处理的程序。
但是，由于使用所述盘的环境或时期，盘的材料由于灰尘粘附在盘上、盘上产生划痕、反复地记录等而损坏。在盘上材料损坏的区域中，可能出现超过纠错码提供的纠错能力的水平的错误。从盘的可靠性的角度上来看，这样一个区域不能用于数据的记录和再现。(此后，这样的一个区域将被称为“缺陷区域”。)常规的可重写盘一般地具有一个用于补偿缺陷区域的保留区域(此后，这样的一个保留区域将被称为“缺陷替代区域”)。当在记录数据的同时检测到一个缺陷区域时，记录装置把本来要记录在缺陷区域中的数据记录在缺陷替代区域的一个正常区域中。这样，数据的可靠性得到保证。这样的处理一般地被称为缺陷管理处理。缺陷管理处理允许一个可重写盘被看作无误差的。
此后，参照图4到7，将以4.7GB DVD-RAM(数字通用盘-随机存取存储器)为例来描述常规的缺陷管理方法。
图4显示了一个常规的可重写盘的数据结构。如图4的(a)部分中所示，盘包括一个引入区域、一个数据区域和一个导出区域。
引入区域包括一个控制数据区域、一个测试区域和两个缺陷管理区域。控制数据区域具有在其中形成的凹陷和凸起部分，并且是不可重写的。在控制数据区域中，记录由盘记录/再现装置参考的控制数据、例如盘的类型和物理参数。测试区域是可重写的并且用于记录当盘的制造者在发货之前确认质量时执行的处理或用于记录当记录装置调整控制参数时执行的处理。两个缺陷管理区域都是可重写的。在两个缺陷管理区域中，分别记录缺陷管理信息1和缺陷管理信息2。缺陷管理信息1和缺陷管理信息2具有相同的内容。缺陷管理信息1和缺陷管理信息2中的每一个都包括依赖于盘结构的内容、比如区段(zone)的数量等，以及关于盘上缺陷区域的信息。缺陷管理信息1和缺陷管理信息2的内容的细节将在下面参照图4的(b)部分描述。
数据区段被分成区段0到区段34的35个区段。如图4的(c)部分中所示，区段0包括一个包括可用来替代用户区域中的缺陷区域的替代区域的第一缺陷替代区域，和用于记录用户数据的用户区域。区段0到区段33中的每一个都包括一个用户区域。如图4的(d)部分中所示，区段34包括一个用户区域和一个可以被另外设置的第二缺陷替代区域。这里，“可以被另外设置”意思是第二缺陷替代区域的存在/不存在以及第二缺陷区域的大小可以被设置。
导出区域包括两个缺陷管理区域和一个测试区域。在两个缺陷管理区域中，分别记录缺陷管理信息3和缺陷管理信息4。缺陷管理信息3和缺陷管理信息4的内容与缺陷管理信息1和缺陷管理信息2的内容相同。导出区域的测试区域用于盘的制造者执行的质量确认和由记录/再现装置执行的控制参数的调整。
图4的(b)部分显示了缺陷管理信息的数据结构。缺陷管理信息包括一个介质定义结构(DDS；盘定义结构)、一个初级缺陷表(PDL；初级缺陷表)和一个次级缺陷表(SDL；次级缺陷表)。在DDS中，记录了比如盘的缺陷管理组数(用户区域和缺陷替代区域对(pair)的数目；在4.7GB DVD-RAM的情况中数目为1)和更新的次数的信息。在PDL中，记录了关于在盘的物理格式化时检测到的缺陷区域的位置的信息。在SDL中，记录了用于管理在盘的物理格式化后检测到的缺陷区域的信息。
图4的(e)部分显示了PDL的数据结构。一个PDL标识符是用于识别一个PDL的特定的识别码(即，0001h(h是一个十六进制数))。一个PDL登记数代表位于PDL登记数之后的登记的缺陷位置信息的条数。在图4的(e)部分显示的例子中，PDL登记数是m(m是一个正整数)。第一缺陷PSN是一个在物理格式化时检测为一个缺陷的扇区的PSN(物理扇区号)。这里，PSN是分配给每一个扇区的用于识别盘上的扇区的一个唯一的号。PDL的一个未使用的区域被写入FFh数据。缺陷区域和替代区域之间的关系将在下面参照图6描述。
图4的(f)部分显示了SDL的数据结构。SDL标识符是用于识别SDL的特定的识别码(即，0002h(h是十六进制数))。SDL更新数是SDL被更新的次数。第二缺陷替代区域的起始PSN可以被另外设置。总逻辑块数是可以用作用户区域的块的数目。
替代区域用尽标志包括显示在第一缺陷替代区域中是否存在空区域的1个二进制位和显示在第二缺陷替代区域中是否存在空区域的1个二进制位。每一个二进制位都被设置为值1或0。值1指示在各自的缺陷替代区域中不存在空区域。值0指示在各自的缺陷替代区域中存在空区域。
PDL更新数是PDL被更新的次数。DDS和PDL同时地被更新。这样，PDL更新数也是DDS被更新的次数。
SDL登记数代表位于SDL登记数后的登记的缺陷位置信息的条数。在图4的(f)部分显示的例子中，SDL登记数是n(n是一个正整数)。
第一缺陷PSN是一个在SDL中登记的缺陷区域的引入扇区的PSN(物理扇区号)。
第一替代PSN是一个在替代由第一缺陷PSN指定的缺陷区域的缺陷替代区域中的替代区域(正常区域)的引入扇区的PSN。
如上所述，在SDL中，缺陷区域的引入扇区的PSN(缺陷PSN)和为此的替代区域的引入扇区的PSN(替代PSN)被登记为一对。在图4的(f)部分显示的例子中，数目为n的缺陷PSN和替代PSN对在SDL中登记，并且按照缺陷区域的PSN的顺序以升序排列。SDL的一个未使用的区域被填入FFh数据。缺陷区域和替代区域之间的关系将在下面参照图7描述。
此后，参照图5，将描述在4.7GB DVD-RAM盘中使用的ECC(纠错码)块。4.7GB DVD-RAM盘的最小单位是扇区，但是数据记录单位是一个ECC块。一个ECC块包括16个扇区。
图5的(a)部分显示了记录在盘上的ECC块的数据结构。在一个扇区中，记录了12个用户数据行(一个用户数据行等于172个字节，一个字节等于8个二进制位)、12个内部代码行(一个内部代码行等于10个字节)、一个外部代码行(172个字节)和一个内部和外部代码行(10个字节)。
当从盘中读取上面提到的数据时，这些数据被转换成具有图5的(b)部分中所示的ECC块结构的数据。对于再现数据，首先，12个用户数据行和12个内部代码行被连接在一起。然后，分散排列的全部16个外部代码行和全部16个内部代码行，即一个外部代码行和一个内部代码行对一个扇区，被连接到ECC块结构的尾部。一个内部代码行m(m是0到11的整数)是附在用户数据行m的纠错码，并且用于执行图5的(b)部分中横向的校正。外部代码行用于执行在整个ECC块中纵向的校正。
内部和外部代码位于横向和纵向相交的部分，并且用于校正横向的外部代码行和校正纵向的内部代码行。对于记录数据，相反地，如图5的(b)部分所示，该装置首先产生对应于用户数据行的内部代码、外部代码以及内部和外部代码。然后，记录外部代码行以及内部和外部代码行，使得外部代码行以及内部和外部代码行被分布在扇区中。
如上所述，在4.7GB DVD-RAM盘的情况中，纠错码的产生和使用纠错码执行的纠错处理不能被逐个扇区地执行。因此，用于记录和再现数据的单位是一个包括16个扇区的ECC块。参照图4描述的缺陷区域到SDL的登记也以一个ECC块为单位来执行。
接着，参照图6，将描述在物理格式化时检测的缺陷区域的常规缺陷管理方法。
图6的(a)部分显示在物理格式化时，在区段0和区段n(n是0到34的整数)中检测到的例示缺陷区域。在物理格式化时，执行记录然后逐个区段执行再现，使得缺陷扇区被检测为缺陷区域。记录和再现数据的单位是一个包括16个扇区的ECC块，但是错误可以逐个扇区检测，因为纠错仅仅在数据再现的时候在横向执行。
假设，如图6的(a)部分所示，在区段0中检测到两个缺陷扇区(缺陷扇区#1和#2)，在区段n中检测到三个缺陷扇区(缺陷扇区#3、#4和#5)。在这个情况中，PSN被登记到PDL，作为代表这些缺陷扇区的位置的信息。
在区段0中的两个扇区中检测到缺陷的情况下，在区段0的尾部形成一个不用于记录用户数据的区域。这个区域称为小片段(fraction)。在图6的(a)部分中所示的例子中，小片段中的扇区的数目是14。调整小片段中的扇区的数目使得区段0中可使用扇区的数目是包括在一个ECC块中的扇区数目的倍数(即16)。
类似地，在区段n中的三个扇区中检测到缺陷的情况下，在区段n的尾部形成一个包括13个扇区的小片段。
等于由缺陷扇区#1到#5(在图6的(a)部分中所示的例子中，2ECC块＝32个扇区)减小了的用户区域的大小的第一缺陷替代区域的尾部的一个区域被用作用户区域。这样，通过用第一缺陷替代区域的一部分替代用户区域，可以保证用户区域的可使用的大小。例如，通过把被分配了逻辑扇区号(LSN)0(即，LSN0)的扇区的位置从用户区域向第一缺陷替代区域移动相当于由缺陷扇区#1到#5减小的用户区域的大小来实现这样的替代。
数据的记录和再现以一个ECC块为单位(以16个扇区为单位)从用户区域的前端执行。那时，跳过PDL中登记的缺陷扇区。
接着，参照图7，将描述在用户数据的记录时检测到的缺陷区域的常规管理方法。
图7的(a)部分显示了在用户数据的记录时在区段0和区段n(n是0到34的整数)中检测的例示缺陷区域和用于替代缺陷区域的替代区域。
假设，如图7的(a)部分中所示，在区段0中检测到两个缺陷扇区(缺陷扇区#1和#2)，在区段n中检测到三个缺陷扇区(缺陷扇区#3、#4和#5)。在这个情况中，在第一缺陷替代区域中的替代块#1被分配给缺陷块#1，并且作为一对的缺陷块#1的PSN和替代块#1的PSN登记在SDL的SDL入口#1(见图7的(b)部分)。有缺陷的块#2到#5以类似的方式处理。
在这里，“缺陷块”指包括缺陷扇区的以一个ECC块为单位的缺陷区域。“替代块”指可用于替代缺陷块的以一个ECC块为单位的替代区域。
在图7的(a)部分中显示的例子中，区段0的缺陷块#1由相同区段的缺陷替代区域中的替代块#1替代。因此，当发出用于在缺陷块中记录数据的请求时，要记录在有缺陷的块#1中的数据被记录在替代块#1中。结果，数据记录被无误地完成。以这种方式，缺陷替代处理通过由替代块替代缺陷块来实现，使得即使当该用户区域包括缺陷区域时该介质也可以表现得好象没有缺陷。
如上所述，缺陷替代区域仅仅用于对在用户区域中产生的缺陷区域的替代处理。该缺陷替代区域在不存在缺陷区域时不用于数据存储。为了在SDL中登记一个替代区域时设置替代块地址，将一个没有替代的标志(图7的(c)部分)设置为0。
在用户区域中产生的缺陷块被顺序地从其端部分配到第一缺陷替代区域。这有助于选择下面可以使用的替代块。当在一个替代块中的数据记录失败时，尝试把数据记录到紧挨着第一个块的下一个块中。当在第一缺陷替代区域中没有更多可使用的区域时(即，当在第一缺陷替代区域中没有空区域时)，在SDL中，关于第一缺陷替代区域的替代区域用尽标志被设置。在第二缺陷替代区域被分配到缺陷替代区域的情况中，此后产生的缺陷由第二缺陷替代区域来替代。(本发明要解决的问题)从上面可以看到，当一张物理格式化的盘被用于记录用户数据时，在物理格式化时初始地确定登记在PDL中的缺陷扇区的数目，但是随着由于盘上的手印或灰尘产生的缺陷的数目增多，登记在SDL中的缺陷块的数目可以增加。例如，登记在SDL中的缺陷块的数目上的这种增加导致了记录和再现的执行速度的降低以及数据可靠性的减小。
可以通过擦去盘上的手印或灰尘然后再次物理格式化来减少在SDL中登记的缺陷块的数目。
但是，盘的物理格式化需要整个盘的记录和再现，并且盘的初始化太费时间。例如，使用4.7GB DVD-RAM驱动器物理格式化一张4.7GB的盘需要大约一个小时。
本发明的一个目标是提供一个信息记录装置、信息记录方法和用于以短的时间初始化一张盘的程序。
缺陷列表可以是一个次级缺陷列表，包括代表当在信息记录介质上记录信息时检测的缺陷区域的位置的缺陷地址和代表用于替代缺陷区域的替代区域的位置的替代地址。
当由缺陷地址指定的区域被判定是一个缺陷区域时，缺陷列表更新部分可以更新缺陷列表使得替代地址不会分配给缺陷地址。
缺陷列表进一步可以包括一个指示替代地址是否已经被分配给缺陷地址的标志，并且可以由该标志显示替代地址没有分配给缺陷地址的状态。
缺陷区域可以是包括一个缺陷扇区的ECC块，并且可以以一个ECC块为单位执行由替代区域替代缺陷区域的缺陷替代处理。
依据本发明，一种用于在信息记录介质上记录信息的信息记录方法，所述信息记录介质包括一个用于记录用户数据的用户区域和一个包括可用来替代用户区域中的缺陷区域的替代区域的缺陷替代区域，所述信息记录方法包括更新具有在其中登记的代表用户区域中缺陷区域的位置的缺陷地址的缺陷列表的步骤；以及，基于更新的缺陷列表在信息记录介质上记录信息的步骤。更新缺陷列表的步骤包括如下步骤，判定由登记在缺陷列表中的缺陷地址指定的区域是否是缺陷区域，并且，当由缺陷地址指定的区域被判定不是一个缺陷区域时，从缺陷列表删除登记在缺陷列表中的缺陷地址。这样，达到了上述目标。
依据本发明的一个程序是用于使一个信息记录装置执行初始化一个信息记录介质的初始化处理的程序，其中信息记录介质包括一个用于记录用户数据的用户区域和一个包括用来替代用户区域中的缺陷区域的替代区域的缺陷替代区域。初始化处理包括更新一个具有在其中登记的代表用户区域中缺陷区域的位置的缺陷地址的缺陷列表的步骤。更新缺陷列表的步骤包括如下步骤，判定由登记在缺陷列表的缺陷地址指定的区域是否是缺陷区域，并且当由缺陷地址指定的区域被判定不是缺陷区域时，从缺陷列表删除登记在缺陷列表中的缺陷地址。
依据本发明，用于在信息记录介质上记录信息的另一个信息记录装置，其中信息记录介质包括一个用于记录用户数据的用户区域和一个包括可用来替代用户区域中的缺陷区域的替代区域的缺陷替代区域，缺陷替代区域的大小可以可变地设置，所述信息记录装置包括缺陷列表更新部分，用于更新具有在其中登记的表示用户区域中缺陷区域的位置的缺陷地址的缺陷列表；以及，记录部分，用于基于更新的缺陷列表在信息记录介质上记录信息。缺陷列表更新部分判定缺陷替代区域的至少一个部分是否将替代用户区域，当判定缺陷替代区域的至少一部分将替代用户区域时，缺陷列表更新部分检查将替代用户区域的缺陷替代区域的那部分是否包括一个缺陷区域，并且缺陷列表更新部分在缺陷列表中登记代表由检查检测到的缺陷区域的位置的缺陷地址。这样，达到了上述目标。
缺陷列表可以是一个次级缺陷列表，包括代表当在信息记录介质上记录信息时检测的缺陷区域的位置的缺陷地址和代表用于替代缺陷区域的替代区域的位置的替代地址。
缺陷列表更新部分可以登记缺陷地址以便提供替代地址没有分配给缺陷地址的状态。
缺陷列表进一步可以包括一个指示替代地址是否已经被分配给缺陷地址的标志，并且可以由该标志来显示替代地址没有分配给缺陷地址的状态。
缺陷区域可以是一个包括缺陷扇区的ECC块，并且可以以一个ECC块为单位执行用替代区域替代缺陷区域的缺陷替代处理。
依据本发明，用于在信息记录介质上记录信息的另一种信息记录方法，其中信息记录介质包括一个用于记录用户数据的用户区域和一个包括可用来替代用户区域中的缺陷区域的替代区域的缺陷替代区域，缺陷替代区域的大小可以可变地设置，所述信息记录方法包括更新一个具有在其中登记代表用户区域中缺陷区域的位置的缺陷地址的缺陷列表的步骤；以及，基于更新的缺陷列表在信息记录介质上记录信息的步骤。更新缺陷列表的步骤包括判定是否缺陷替代区域的至少一个部分将替代用户区域，当判定缺陷替代区域的至少一个部分将替代用户区域时，检查将替代用户区域的缺陷替代区域的那部分是否包括一个缺陷区域，并且在缺陷列表中登记代表由检查检测到的缺陷区域的位置的缺陷地址。这样，达到上述目标。
依据本发明的一个程序是用于使一个信息记录装置执行初始化一个信息记录介质的初始化处理的程序，其中信息记录介质包括一个用于记录用户数据的用户区域和一个包括用来替代用户区域中的缺陷区域的替代区域的缺陷替代区域，缺陷替代区域的大小可以可变地设置。初始化处理包括更新一个具有在其中登记的代表用户区域中缺陷区域的位置的缺陷地址的缺陷列表的步骤。更新缺陷列表的步骤包括判定缺陷替代区域的至少一个部分是否将替代用户区域，当判定缺陷替代区域的至少一个部分将替代用户区域时，检查将替代用户区域的缺陷替代区域的那部分是否包括一个缺陷区域，并且在缺陷列表中登记代表由检查检测到的缺陷区域的位置的缺陷地址。这时，达到上述目标。
附图简要说明
图1是显示依据本发明的一个例子的盘记录驱动器(信息记录装置)110的结构的框图。
图2是显示用于初始化盘130的初始化处理的流程的流程图。
图3是显示根据图2中显示的初始化处理更新的缺陷列表的具体的例子。
图4显示了常规可重写盘的数据结构。
图5显示了一个ECC块。
图6显示了在物理格式化时检测的缺陷区域的常规缺陷管理方法。
图7显示了在用户数据的记录时检测的缺陷区域的常规缺陷管理方法。
图1显示了依据本发明的一个例子的盘记录驱动器(信息记录装置)110的结构。
盘记录驱动器110通过一个驱动器I/F总线102被连接到一个高级控制部分101。例如，该高级控制部分101是一台个人计算机。例如，驱动器I/F总线102是一个SCSI(小型计算机系统接口)，它是个人计算机的外围设备的总线。
高级控制部分101通过驱动器I/F总线102与盘记录驱动器110通信，并且命令该盘记录驱动器110在可重写盘130上记录数据或再现记录在可重写盘130上的数据。假设，可重写盘130基本上具有与图4中所示的盘相同的数据结构。例如，可重写盘130是一个DVD-RAM。尽管在下面的描述中可重写盘将被显示为信息记录介质的一个例子，本发明可用于任何信息记录装置和任何用于在任何类型的可重写盘上记录信息的信息记录方法。
盘记录驱动器110包括I/F控制部分111，用于根据规定的协议(例如，SCSI协议)发送和接收指令和数据；数据缓冲器112，它是用于临时存储将要记录的数据和将要被再现的数据的存储器；数据记录和再现部分113，用于执行到盘130的记录处理和从盘130的再现处理；以及，缺陷列表管理部分120，用于管理缺陷列表。I/F控制部分111、数据缓冲器112、数据记录和再现部分113和缺陷列表管理部分120通过控制总线114彼此连接。
包括在盘记录驱动器110中的每一部分可以由软件、硬件或软件和硬件的组合来实现。
缺陷列表管理部分120包括检查位置设置部分121，用于设置被检查的区域的位置；缺陷列表更新部分122，用于根据检查结果来更新缺陷列表；缺陷列表存储部分123，用于存储具有在其中登记的代表存在于用户区域中的缺陷区域的位置的缺陷地址的缺陷列表；和第二缺陷替代区域信息存储部分124，用于存储代表第二缺陷替代区域的大小的信息。
数据记录和再现部分113用作用于根据由缺陷列表更新部分122更新的缺陷列表在盘130上记录信息的记录部分。
图2显示了用于初始化盘130的初始化处理的流程。可以提供使盘记录驱动器110执行初始化处理的程序。例如，这样一个程序可以存储在盘记录驱动器110中的存储器(未显示)中。这样一个程序例如可以由盘记录驱动器110中的处理器(未显示)响应于来自高级控制部分101的初始化请求来执行。
步骤S201I/F控制部分111接收来自高级控制部分101的“初始化盘130”的初始化请求和第二缺陷替代区域的指定大小，并且命令检查位置设置部分121初始化盘130。
步骤S202检查位置设置部分121参考存储在缺陷列表存储部分123中的缺陷列表来判定是否有登记在缺陷列表中的缺陷地址(代表缺陷区域的位置的地址)。
步骤S203当存在登记在缺陷列表中的缺陷地址时，数据记录和再现部分113被命令来检查由缺陷地址指定的区域(例如，从缺陷地址指定的扇区开始的1个ECC块的区域)。数据记录和再现部分113提供的检查结果被传送到缺陷列表更新部分122。
在步骤S203中的检查例如通过把规定的数据记录在要检查的区域中、然后再现数据、并且判定所记录的数据是否与再现的数据匹配来实现。
步骤S204缺陷列表更新部分122判定步骤S203中检查的结果。当检查的结果被判定为“OK”(即当由缺陷地址指定的区域被判定不是缺陷地址时)，处理前进到步骤S205。当检查的结果被判定为“NG”时(即当由缺陷地址指定的区域被判定是缺陷地址时)，处理前进到步骤S206。
步骤S205缺陷列表更新部分122从缺陷列表中删除登记在缺陷列表中的缺陷地址。
步骤S206缺陷列表更新部分122把登记在缺陷列表中的登记的缺陷地址保留在缺陷列表中。
重复执行步骤S203到步骤S206，直到对登记在缺陷列表中的全部缺陷地址的检查完成(步骤S202)。
以这种方式，缺陷列表被更新。基于“检查由登记在缺陷列表中的缺陷地址指定的区域；并且当作为检查目标的区域被确认不是缺陷区域时，从缺陷列表删除缺陷地址”的技术思想执行缺陷列表的更新处理。这样，当盘的区域通过擦去盘上的手印或灰尘从缺陷的状态恢复时，这样的恢复可以反映在缺陷列表上。
如上所述，盘130通过更新缺陷列表来初始化。与通过物理格式化来初始化盘130的情况不一样，初始化处理消除了在整个盘130上执行数据记录和再现的需求。结果，与通过物理格式化来初始化盘130相比，可以在短得多的时间内初始化盘130。
缺陷列表典型地是包括代表当数据被记录在盘130上时检测的缺陷区域的位置的缺陷地址和代表用于替代缺陷区域的替代区域的位置的替代地址的次级缺陷列表(SDL)。但是，缺陷列表不只局限于SDL。只要代表缺陷区域的位置的缺陷地址可以登记在缺陷列表中，缺陷列表可以具有任何数据结构。
缺陷区域可能是包括缺陷扇区的ECC块。在这种情况中，用替代区域替代缺陷区域的缺陷替代处理以ECC块为单位执行。
假设缺陷列表是SDL。在这种情况中，当由缺陷地址指定的区域被判定为缺陷区域时，缺陷列表更新部分122最好更新SDL使得替代地址不分配给缺陷地址。SDL以这种方式被更新，使得当实际在盘130上记录数据时新的替代地址可以分配给缺陷地址。结果，缺陷替代区域可以没有浪费地有效地使用。
在SDL包括指示替代地址是否已经被分配给缺陷地址的标志的情况中，标志可以被设置为一个具体的值(例如，1)以便显示“替代地址没有分配给缺陷地址的状态”。在“替代地址没有分配给缺陷地址的状态”的情况下，替代地址的值可以被设置为任意的值。在这种情况中，原因是替代地址的值没有被参考。否则，替代地址的值可以被设置为0。或者，“替代地址没有分配给缺陷地址的状态”可以通过把替代地址的值设置为一个具体值(例如，0)而不使用上面提到的标志来显示。在这种情况下，消除了在SDL中为存储标志提供一个区域的需要。
步骤S207缺陷列表更新部分122判定其大小可以可变地设置的缺陷替代区域(在图4中所示的例子中，是第二缺陷替代区域)的至少一部分是否将替代用户区域，如同盘130的初始化处理所进行的。
例如，这样的判定可以通过比较由高级控制部分101发出的初始化请求指定的第二缺陷替代区域的大小(大小1)和当前第二缺陷替代区域的大小(大小2)来实现。当前第二缺陷替代区域的大小可以通过参考存储在第二缺陷替代区域信息存储部分124中的信息来获得。或者，当前第二缺陷替代区域的大小可以基于记录在SDL中的“第二缺陷替代区域的起始PSN”上的信息来计算(图4)。
当大小1＜大小2时，缺陷列表更新部分122判定缺陷替代区域的至少一部分将替代用户区域。结果，处理前进到步骤S208。
当大小1≥大小2时，缺陷列表更新部分122判定缺陷替代区域的没有任何部分将替代用户区域。结果，处理前进到步骤S211，初始化处理完成。
步骤S208缺陷列表更新部分122命令数据记录和再现部分113检查可以用用户区域替代的缺陷替代区域的一部分是否包括一个缺陷区域。数据记录和再现部分113提供的检查结果被传送到缺陷列表更新部分122。
例如，步骤S208中的检查可以通过在一个要被检查的区域中记录规定的数据、然后再现该数据、并判定所记录的数据是否与再现的数据匹配来达到。
步骤S209缺陷列表更新部分122对步骤S208中检查的结果作出判定。当判定可被用户区域替代的缺陷替代区域的所述部分包括一个缺陷区域时，处理前进到步骤S210。当判定所述部分不包括一个缺陷区域时，处理前进到步骤S211，初始化处理完成。
步骤S210缺陷列表更新部分122在缺陷列表中登记一个缺陷地址，它代表在步骤S208中由检查检测出的缺陷区域的位置。
缺陷列表如在步骤S207到S210中一样更新，这样代表存在于缺陷替代区域中但是没有登记在缺陷列表中的缺陷区域位置的缺陷地址现在可以登记在缺陷列表中。
在缺陷列表是SDL并且可被用户区域替代的缺陷替代区域的所述部分包括一个缺陷区域的情况中，缺陷列表更新区域122最好更新SDL，使得替代地址不分配给代表缺陷区域的位置的缺陷地址。SDL以这种方式更新，使得当在盘130上实际记录数据时可以将一个新的替代地址分配给缺陷地址。其结果是，缺陷替代区域可以没有浪费地有效地使用。
在SDL包括一个指示替代地址是否已经分配给缺陷地址的标志的情况中，标志可以被设定为一个具体的值(例如，1)以便显示“替代地址没有分配给缺陷地址的状态”。替代地址的值可以设置为0。
接着，参照图3，描述了如何依据图2中显示的初始化处理来更新缺陷列表。在这个例子中，缺陷列表是一个SDL。
图3的(a)部分显示了在SDL被更新前盘130和SDL的一个状态。图3的(b)部分显示了在SDL被更新后盘130和SDL的一个状态。假设SDL的初始化处理将盘130从图3的(a)部分中显示的包括第二缺陷替代区域的状态初始化为图3的(b)部分中显示的不包括第二缺陷替代区域的状态。
在SDL被更新前的状态中(图3的(a)部分)，假设如下缺陷块1由替代块1替代，缺陷块2由替代块2替代，以及用于将缺陷块3替代为替代块3的缺陷替代处理失败；结果，缺陷块3由替代块4替代。还假设盘130的缺陷状态已经由于盘130的表面被清洁等原因改变，这样缺陷块2变成一个正常块。
在这样的条件下，执行图2中显示的初始化处理。然后，由在SDL中登记的缺陷块地址指定的缺陷块被顺序地检查。结果，缺陷块1的地址和缺陷块3的地址保留在SDL中，而缺陷块2的地址从SDL删除。原因是缺陷块1和3仍然是缺陷块，但是缺陷块2已经变成一个正常块。
然后，检查可以由用户区域替代的第二缺陷替代区域的一部分(在图3中显示的例子中，第二缺陷替代区域的全部)是否包括一个缺陷区域。结果，在图3的(a)部分中所示的替代块3被检测为缺陷块。这样，替代块3在SDL中被登记为缺陷块4(图3的(b)部分)。
在图3的(b)部分中所示的例子中，对应于缺陷块1、3和4的无替代标志的值被设置为1，并且替代块地址的值被设置为0。这里，“无替代标志”指一个指示一个替代块地址是否已经分配给缺陷块地址的标志。无替代标志的值0指示一个替代块地址已经分配给缺陷块地址，无替代标志的值1指示该替代块地址被分配给缺陷块地址。
在图3中显示的例子中，数据区域包括具有固定大小的第一缺陷替代区域和大小可以变化地设置的第二缺陷替代区域。包括在数据区域中的缺陷替代区域的数目和缺陷替代区域的排列不局限于图3中显示的那些情况。只要一个数据区域包括至少一个缺陷替代区域，其大小可以变化地设置，则本发明可应用于用于在包括这样的数据区域的任何信息记录介质上记录数据的任何信息记录装置和任何信息记录方法。
在本发明的上述例子中，通过使用记录和再现的数据比较来检查块。可以通过仅仅从所述块再现数据来执行检查。工业实用性依据本发明的信息记录装置，信息记录介质可以通过仅仅更新缺陷列表来初始化。这个初始化处理消除了在整个信息记录介质上执行数据记录和再现的需要，与通过物理格式化来初始化信息记录介质的情况不同。结果，与通过物理格式化来初始化信息记录介质相比，信息记录介质可以以显著缩短的时间被初始化。
依据本发明的信息记录介质，第二缺陷列表可以被更新使得替代地址不分配给次级缺陷列表中的缺陷地址。次级缺陷列表以这种方式更新，使得当在信息记录介质上实际记录数据时，新的替代地址可以被分配给缺陷地址。结果，可以不浪费地高效率地使用缺陷替代区域。
依据本发明的信息记录装置，在可以被用户区域替代的缺陷替代区域的一部分包括一个缺陷区域的情况中，代表缺陷区域的部分的缺陷地址被登记在缺陷列表中。结果，代表存在于缺陷替代区域中但是没有在缺陷列表中登记的缺陷区域位置的缺陷地址现在可以登记在缺陷列表中。
依据本发明的信息记录方法和程序实质上提供了与上述描述相同的效果。
权利要求
1.一种用于在信息记录介质上记录信息的信息记录装置，其中信息记录介质包括用于记录用户数据的用户区域和包括可用于替代用户区域中的缺陷区域的替代区域的缺陷替代区域，所述信息记录装置包括一个缺陷列表更新部分，用于更新具有在其中登记的代表在用户区域中的缺陷区域的位置的缺陷地址的缺陷列表；以及一个记录部分，用于基于更新的缺陷列表在信息记录介质上记录信息，其中缺陷列表更新部分判定由登记在缺陷列表中的缺陷地址指定的一个区域是否是缺陷区域，以及当由缺陷地址指定的区域被判定不是缺陷区域时，缺陷列表更新部分从缺陷列表删除登记在缺陷列表中的缺陷地址。
2.依据权利要求1的信息记录装置，其中，缺陷列表是包括代表当在信息记录介质上记录信息时检测到的缺陷区域的位置的缺陷地址和代表用于替代缺陷区域的替代区域的位置的替代地址的次级缺陷列表。
3.依据权利要求2的信息记录装置，其中，当由缺陷地址指定的区域被判定为一个缺陷区域时，缺陷列表更新部分更新缺陷列表，使得替代地址不分配给缺陷地址。
4.依据权利要求3的信息记录装置，其中，缺陷列表进一步包括一个指示替代地址是否已经被分配给缺陷地址的标志，并且替代地址没有被分配给缺陷地址的状态由该标志显示。
5.依据权利要求1的信息处理装置，其中，缺陷区域是一个包括一个缺陷扇区的ECC块，用替代区域替代缺陷区域的缺陷替代处理以一个ECC块为单位执行。
6.一种用于在信息记录介质上记录信息的信息记录方法，其中信息记录介质包括用于记录用户数据的用户区域和包括可用于替代用户区域中的缺陷区域的替代区域的缺陷替代区域，所述信息记录方法包括如下步骤更新具有在其中登记的代表用户区域中的缺陷区域的位置的缺陷地址的缺陷列表；以及基于更新的缺陷列表在信息记录介质上记录信息，其中，更新缺陷列表的步骤包括如下步骤判定由登记在缺陷列表中的缺陷地址指定的区域是否是缺陷区域，以及当由缺陷地址指定的区域被判定不是缺陷区域时，从缺陷列表删除登记在缺陷列表中的缺陷地址。
7.一个用于使信息记录装置执行初始化一个信息记录介质的初始化处理的程序，其中信息记录介质包括用于记录用户数据的用户区域和包括可用于替代用户区域中的缺陷区域的替代区域的缺陷替代区域，其中初始化处理包括如下步骤更新具有在其中登记的代表用户区域中的缺陷区域的位置的缺陷地址的缺陷列表；以及更新缺陷列表的步骤包括如下步骤判定由登记在缺陷列表中的缺陷地址指定的区域是否是缺陷区域，以及当由缺陷地址指定的区域被判定不是缺陷区域时，从缺陷列表删除登记在缺陷列表中的缺陷地址。
8.一种用于在信息记录介质上记录信息的信息记录装置，其中信息记录介质包括用于记录用户数据的用户区域和包括可用于替代用户区域中的缺陷区域的缺陷替代区域，缺陷替代区域的大小可以变化地设置，所述信息记录装置包括一个缺陷列表更新部分，用于更新具有在其中登记的代表在用户区域中的缺陷区域的位置的缺陷地址的缺陷列表；以及一个记录部分，用于基于更新的缺陷列表在信息记录介质上记录信息，其中缺陷列表更新部分判定是否缺陷替代区域的至少一部分将替代用户区域，当判定缺陷替代区域的至少一部分将替代用户区域时，缺陷列表更新部分检查将替代用户区域的缺陷替代区域的所述部分是否包括一个缺陷区域，以及缺陷列表更新部分在缺陷列表中登记代表由检查检测出的缺陷区域的位置的缺陷地址。
9.依据权利要求8的信息记录装置，其中，缺陷列表是包括代表当在信息记录介质上记录信息时检测的缺陷区域的位置的缺陷地址和代表用于替代缺陷区域的替代区域的位置的替代地址的次级缺陷列表。
10.依据权利要求9的信息记录装置，其中，缺陷列表更新部分登记缺陷地址以便提供替代地址不分配给缺陷地址的状态。
11.依据权利要求10的信息记录装置，其中，缺陷列表进一步包括指示替代地址是否已经被分配给缺陷地址的标志，并且替代地址没有被分配给缺陷地址的状态由所述标志显示。
12.依据权利要求8的信息处理装置，其中缺陷区域是一个包括一个缺陷扇区的ECC块，用替代区域替代缺陷区域的缺陷替代处理以一个ECC块为单位执行。
13.一种用于在信息记录介质上记录信息的信息记录方法，其中信息记录介质包括用于记录用户数据的用户区域和包括可用于替代用户区域中的缺陷区域的替代区域的缺陷替代区域，缺陷替代区域的大小可以变化地设置，所述信息记录方法包括如下步骤更新具有在其中登记的代表用户区域中的缺陷区域的位置的缺陷地址的缺陷列表；以及基于更新的缺陷列表在信息记录介质上记录信息，其中更新缺陷列表的步骤包括如下步骤判定是否缺陷替代区域的至少一部分将替代用户区域，当判定缺陷替代区域的至少一部分将替代用户区域时，检查将替代用户区域的缺陷替代区域的所述部分是否包括一个缺陷区域，以及在缺陷列表中登记代表由检查检测到的缺陷区域的位置的缺陷地址。
14.一个用于使信息记录装置执行初始化一个信息记录介质的初始化处理的程序，其中信息记录介质包括用于记录用户数据的用户区域和包括可用于替代用户区域中的缺陷区域的替代区域的缺陷替代区域，缺陷替代区域的大小可以变化地设置，其中初始化处理包括如下步骤更新具有在其中登记的代表用户区域中的缺陷区域的位置的缺陷地址的缺陷列表；以及更新缺陷列表的步骤包括如下步骤判定是否缺陷替代区域的至少一部分将替代用户区域，以及当判定缺陷替代区域的至少一部分将替代用户区域时，检查将替代用户区域的缺陷替代区域的所述部分是否包括一个缺陷区域，以及在缺陷列表中登记代表由检查检测出的缺陷区域的位置的缺陷地址。
全文摘要
信息记录装置110包括用于更新具有在其中登记的代表存在于用户区域中的缺陷区域位置的缺陷地址的缺陷列表的缺陷列表更新部分122，和用于基于更新的缺陷列表在信息记录介质130上记录信息的记录部分113。缺陷列表更新部分122判定由登记在缺陷列表中的缺陷地址指定的一个区域是否是缺陷区域；并且当由缺陷地址指定的区域被判定不是缺陷区域时，缺陷列表更新部分122从缺陷列表删除登记在缺陷列表中的缺陷地址。
文档编号G11B20/18GK1425179SQ01807705
公开日2003年6月18日 申请日期2001年4月4日 优先权日2000年4月5日
发明者植田宏, 高内健次, 三井义隆, 伊藤基志 申请人:松下电器产业株式会社