专利名称：调整光盘读取装置的机构误差的方法
技术领域：
本发明涉及一种调整(adjust)机构误差(mechanical error)的方法，特别是涉及一种检验与调整光盘机的机构误差的方法。
背景技术：
一般而言，光盘装置(optical disc device)具有循轨伺服控制(trackingservo control)。当光盘装置记录(record)、播放(play)、及消除(erase)一光盘片(optical disc)上的数据时，会发射一光束(a beam of emission light)，指向光盘片一轨(track)的一特定位置上。侦测光盘片上的光点(spot)的一反射光束(reflected beam)，可得到循轨误差(tracking error)。通过循轨伺服控制将循轨误差修正为零，如此光点才能落于(fall on)光盘轨(track of optical disc)的精确位置上。有关循轨误差的技术，在美国专利号码5,828,634中有详细的介绍。
图1A与图1B用以说明获得传统跨轨信号(track crossing signal)的示意图。在图1A中，光盘片110表面上具有凹轨(pit track)112与岸轨(landtrack)114交替(altemate)形成的轨(track)，数据(data)一般记录在凹轨112中。光盘片110的径向方向(radial direction)，即跨轨的方向(track-crossingdirection)，以箭号”X”表示。光盘片110的切线方向(tangential direction)，即盘片(disc)旋转方向(rotating direction)以箭号″Y″表示。
传统获得跨轨信号的三光束(three-bem)方法中，一般以激光(laser)照在(impinge)光盘片110的表面，在光盘片110的表面形成三个光点，一主要光点(main spot)117及位于主要光点117两侧的两个次要光点(sub-spot)116与118，其中主要光点117和次要光点116与次要光点118大致(substantially)位于一直线上。当主要光点117落于一凹轨112上时，次要光点116与次要光点118所反射的反射光亮度差(difference in brightness)为接近零。
如图1B，当主要光点117落于跨轨的位置时，即主要光点117的一半落于凹轨112、另一半落于岸轨114上时，次要光点116与118所反射的反射光亮度差的绝对值有一极大值(maximum value)。利用次要光点116与次要光点118的亮度差，可以获得跨轨信号。
图1C为示波器上观察的一传统跨轨信号的示意图。光盘片110的旋转过程中，读取(read)次要光点116与次要光点118的反射光，将反射光的亮度转换(transform)并运算(operate)后，形成一跨轨信号120。在一般示波器(oscilloscope)上观察跨轨信号120，包括一连续的正弦波(sine wave)或余弦波(cosine wave)，波数(wave number)及振幅(amplitude)与示波器的参数设定有关。将跨轨信号120的数个波峰(wave peak)连接，可得一波峰波包(wavepacket ofwave peaks)122。相同的，将跨轨信号120的数个波谷(wave trough)连接，可得一波谷波包(wave packet of wave troughs)124。
再者，在波峰波包122上任取一点”A”，与在波谷波包124上的对应点”B”，两点的振幅值差，为一极大值”Am1”，此极大值”Am1”即对应至图1B中，次要光点116与118的反射光亮度差的绝对值的极大值。再者，对应至跨轨信号120，此极大值”Am1”等于峰对峰的极大值(maximum value ofpeak-to-peak)。
然而，光盘片110的次品，例如偏心(eccentric)情形所造成的质量问题，往往使得跨轨信号120无法如图1C中所示，如此即造成光盘装置无法正确读取光盘片110。除此之外，光盘装置本身的机构与元件的质量，也会造成跨轨信号120无法如图1C中所示。因此，如何提高光盘装置对光盘片110的读片能力(disc-reading capability)，是很重要的一个课题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种调整光盘读取装置的方法，通过此方法，可以调整光盘读取装置的机构误差，从而提高光盘读取装置的读片能力。
本发明的另一目的在于提供一种检验与调整光盘读取装置的机构误差的方法，通过分析跨轨信号的情形，可以检验出光盘读取装置的机构误差。
本发明的又一目的在于提供一种可调整读取头的机构误差的光盘读取装置，通过观察跨轨信号的变动情形(fluctuation)，以螺丝调整光盘读取装置的光学读取头，使机构误差减低至最低，从而提高光盘读取装置的读片能力。
本发明的目的是这样实现的，即提供一种调整一光盘读取装置的机构误差的方法。光盘读取装置包括一驱动装置与一光学读取头，其中驱动装置的一基座用以承载并旋转一光盘片。本方法包括相对移动光学读取头至光盘片的表面上。其次，光学读取头发射二循轨光点至表面，并使光学读取头与表面相对产生一相对移动。接着，读取二循轨光点的反射光以产生一跨轨信号。利用此跨轨信号，检验光盘读取装置的机构误差，并根据此跨轨信号调整光学读取头与基座的一相对位置。
本发明还提供一种检验一光盘读取装置的机构误差的方法，该光盘读取装置包括一驱动装置与一光学读取头，该驱动装置的一基座用以承载并旋转一光盘片，该光盘片具有一表面，该方法包括该光学读取头发射一二循轨光束；使该光学读取头与该表面相对产生一相对移动，并且利用该表面反射该二循轨光束；读取二循轨光束的一反射光；运算该反射光以产生一跨轨信号；及根据该跨轨信号检验该光盘读取装置的机构误差。
本发明提供一种可调整一光学读取头的机构误差的一光学读取装置，光学读取装置至少包括光学读取头，一基座与一导引轨。基座具有一中心，且基座用以承载一光盘片。导引轨具有一末端，并可限定一移动轨迹，且导引轨用以导引光学读取头与光盘片，在移动轨迹上相对产生一相对移动。此光学读取装置的特征在于至少一螺丝位于末端，此螺丝用以调整导引轨，使得移动轨迹通过中心。
图1A与图2B为说明获得传统跨轨信号的示意图；图1C为一传统跨轨信号的示意图；图2为本发明方法的流程示意图；图3A为一光盘读取装置正面示意图，用以说明本发明方法应用于一无偏心情形的光盘片检验光盘装置的机构误差；图3B为图3A情形中的跨轨信号的示意图；图3C为一光盘读取装置侧面示意图，用以说明本发明方法的用于无偏心情形的光盘片检验后，调整光盘装置的机构误差的装置。
图4A至图4B为根据本发明，应用于一偏心情形的光盘片检验光盘装置的机构误差时，跨轨信号的示意图。
具体实施例方式
当本发明以二维图示详细说明本发明的实施例时，熟悉此技术的人士应可以了解，光盘装置或光盘片的实际形状包括一三维的立体结构，此各二维图示并非用以局限本发明的范围。再者，为详细说明本发明，光盘装置与跨轨信号的示意图并不依实际尺寸放大，各部分的放大比率并不相同，此各放大尺寸也并非用来局限本发明。再者，为说明本发明要解决的问题，因此本发明的图示并不包括光盘装置其他的元件或结构，但实际操作中，是包括其他元件与结构。
如图2所示，其为本发明方法的流程示意图。当一光盘片固定于光盘装置如光盘读取机的驱动元件的基座上后，旋转此光盘片(步骤30)。接着，将光盘装置的光学读取头相对移动至光盘片上(步骤32)，用以准备利用光盘片产生反射光。光学读取头一方面发射二循轨光束至光盘片上(步骤34)，接着使光学读取头与光盘片相对产生一平行光盘片径向方向的相对移动(步骤36)。在本发明中，光学头的发射二循轨光束(步骤34)与产生相对移动(步骤36)，两个步骤也可以作顺序相反的安排。接着，读取二循轨光束从光盘片表面反射的反射光(步骤38)。如现有技术，此反射光的亮度转换并经运算后，成为跨轨信号，可通过一般的示波器读出与显示此跨轨信号。本发明即是利用此跨轨信号，判断光盘片或光盘装置的机构误差，从而通过同时观察跨轨信号变动的情形，调整光盘装置的机构与元件(步骤39)，例如改变光学读取头与基座的相对位置，使跨轨信号具有一极大值或相等的相对波谷值。
图3A为一光盘读取装置的部分正视图，用以说明本发明方法的一个应用例。一光盘读取装置10，包括一驱动装置11与一光学读取头12。驱动装置11包括一基座13，用以承载并旋转一光盘片(图上未示)。驱动装置11可驱动光盘片，使光盘片以通过基座13的中心14、垂直光盘片表面的一转轴旋转。驱动装置11尚包括使光学读取头12相对于基座13产生一相对移动的元件，例如齿轮(图上未示)。在基座13的两侧具有导引轨15，可限定一移动轨迹，且导引轨用以导引光学读取头12在移动轨迹上进行相对移动。而导引轨1 5的末端则有支座16可固定导引轨15。
在本应用例中，利用无偏心光盘片，因此当光盘片固定在基座13上时，光盘片表面上的环状中心与基座13的中心14重迭，故驱动装置11旋转光盘片时，光盘片表面上的凹轨与岸轨也以上述的转轴旋转。接着，驱动装置11驱动光学读取头12，产生平行于导引轨15的相对移动。也就是光学读取头12与基座13在移动轨迹上相对产生一相对移动。当光学读取头12相对移动至光盘片的表面上时，由光学读取头12所发射的二循轨光束(twotracking beam)，会在光盘片的表面形成二循轨光点(two tracking spots)，并且通过光盘片的表面的反射，从二循轨光点形成反射光，由光学读取头12读取此反射光。光盘读取装置10将此反射光的亮度转变(transform)并经运算后，以产生一跨轨信号，可在一般示波器上观察此跨轨信号。
然而，在本应用例中，由于光盘读取装置10的机构误差，使移动轨迹并未通过基座13的中心14。因此，二循轨光点所反射的反射光亮度差的绝对值经过转换与运算后，小于图1C所述的极大值”Am1”。
因此，本应用例中的跨轨信号的示意图如图3B所示。其中，跨轨信号20上的多个波峰形成波峰波包22，多个波谷形成波谷波包24。在波峰波包22上任取一点”C”，与在波谷波包24上的对应点”D”，两点的振幅值差”Am2”，会小于图1C中的极大值”Am1”。此种跨轨信号20，在光学读取头12接近中心14，也就是光学读取头12接近光盘片的表面内轨时，更容易观察到。
本发明即运用此种跨轨信号20的情形，检验出光盘读取装置10的机构误差。此机构误差使得移动轨迹未通过基座13的中心14。而本发明还通过观察此种跨轨信号20，在光盘读取装置10中增加调整的机构，以减少光盘读取装置10的机构误差。如图3C所示，为一光盘读取装置的部分示意图，用以说明本发明的调整机构。在支座(support)16处增加调整用的螺丝(screw)17，使调整导引轨15的位置，从而使得移动轨迹可调整至通过基座13的中心14。
再者，在调整的过程中，可通过观察跨轨信号20得知调整的变化。当移动轨迹调整至接近或通过基座13的中心14时，可以观察到振幅值差”Am2”逐渐增大至接近或等于极大值”Am1”。如果当调整移动轨迹，使移动轨迹偏离中心14时，可以观察到振幅值差”Am2”逐渐减小。因此，在调整的过程中，振幅值差”Am2”出现一最大值即表示光盘装置的机构误差减少至最小。也就是说，本应用例子调整机构误差，使得在示波器上所观察到振幅值差”Am2”具有一极大值”Am1”或峰对峰的极大值，则可达到减少机构误差的目的。
图4A至图4B为根据本发明，利用一偏心情形的光盘片检验光盘装置的机构误差时，跨轨信号的示意图。如图4A所示，即本实施例的跨轨信号的部分示意图。在波峰波包22上取相邻的两波谷点”E”与”F”，各自对应至波谷波包24，其振幅值差”Am3”与”Am4”有明显的差异。也就是说，本应用例子的光盘片的偏心误差与光盘装置的机构误差，两种误差使得相邻的两振幅值差”Am3”与”Am4”有明显的差异。此种跨轨信号20，在光学读取头12接近中心14，也就是光学读取头12接近光盘片的表面内轨时，更容易观察。
因此，利用如图3C所示的螺丝17，使调整导引轨15的位置，从而使得移动轨迹可调整至通过基座13的中心14。此时，以偏心光盘片检验光盘读取装置10时，其跨轨信号20如图4B所示，振幅值差”Am3”与”Am4”几乎相等，在本应用例中，即波峰波包22上的各个相对波谷值”Am5”(relativevalue of wave trough)大致相等，并且波谷波包24上的各个相对波峰值”Am6”(relative value of wave peak)大致相等，此表示光盘读取装置10的机构误差非常微小。
根据上述，本发明提供一种可调整一光学读取头的机构误差的一光学读取装置，光学读取装置至少包括光学读取头，一基座与一导引轨。基座具有一中心，且基座用以承载一光盘片。导引轨具有一末端，并可限定一移动轨迹，且导引轨用以导引光学读取头与光盘片，在移动轨迹上相对产生一相对移动。此光学读取装置的特征在于至少一螺丝位于末端，此螺丝用以调整导引轨，使得移动轨迹通过中心。
以上较佳具体实施例的详述，用以更加清楚地描述本发明的特征与精神，而非用以限制本发明。本发明的权利要求应该根据上述的说明作最宽广的解释，涵盖所有可能均等的改变以及具有均等性的安排。
权利要求
1.一种调整一光盘读取装置的机构误差的方法，该光盘读取装置包括一驱动装置与一光学读取头，该驱动装置的一基座用以承载并旋转一光盘片，该光盘片具有一表面，该方法包括相对移动该光学读取头至该表面上；该光学读取头发射二循轨光点至该表面；使该光学读取头与该表面相对产生一相对移动；读取二循轨光点的反射光以产生一跨轨信号；及根据该跨轨信号调整该光学读取头与该基座的一相对位置。
2.如权利要求1所述的方法，其中上述确良跨轨信号包括多个正弦波(sine wave)。
3.如权利要求2所述的方法，其中该调整步骤使得该多个正弦波具有一峰对峰的极大值(maximum value of peak-to-peak)。
4.如权利要求2所述的方法，其中该多个正弦波具有多个波峰，且该调整步骤使得该多个波峰的一波峰波包具有大致相等的多个相对波谷值(relative value of wave trough)。
5.如权利要求2所述的方法，其中该多个正弦波具有多个波谷，且该调整步骤使该多个波谷的一波谷波包(wave packet)具有大致相等的多个相对波峰值(relative value of wave peak)。
6.如权利要求1所述的方法，其中上述跨轨信号包括多个余弦波。
7.如权利要求6所述的方法，其中该调整步骤使得该多个余弦波具有一峰对峰的极大值(maximum value of peak-to-peak)。
8.如权利要求6所述的方法，其中该多个余弦波具有多个波峰，且该调整步骤使该多个波峰的一波峰波包具有大致相等的多个相对波谷值。
9.如权利要求6所述的方法，其中该多个余弦波具有多个波谷，且该调整步骤使该多个波谷的一波谷波包具有大致相等的多个相对波峰值。
10.一种检验一光盘读取装置的机构误差的方法，该光盘读取装置包括一驱动装置与一光学读取头，该驱动装置的一基座用以承载并旋转一光盘片，该光盘片具有一表面，该方法包括该光学读取头发射一二循轨光束；使该光学读取头与该表面相对产生一相对移动，并且利用该表面反射该二循轨光束；读取二循轨光束的一反射光；运算该反射光以产生一跨轨信号；及根据该跨轨信号检验该光盘读取装置的机构误差。
11.如权利要求10所述的方法，其中该二循轨光束于该表面上形成二个循轨光点。
12.如权利要求10所述的方法，其中该跨轨信号包括多个正弦波。
13.如权利要求12所述的方法，其中该检验步骤根据该多个正弦波的一峰对峰的极大值，检验该光盘读取装置的机构误差。
14.如权利要求12所述的方法，其中该检验步骤根据该多个正弦波的一波谷波包具有的多个相对波峰值，检验该光盘读取装置之机构误差。
15.如权利要求12所述的方法，其中该检验步骤根据该多个正弦波的一波峰波包具有的多个相对波谷值，检验该光盘读取装置的机构误差。
16.如权利要求10所述的方法，其中该跨轨信号包括多个余弦波。
17.如权利要求16所述的方法，其中该检验步骤根据该多个余弦波的一峰对峰的极大值，检验该光盘读取装置的机构误差。
18.如权利要求16所述的方法，其中该检验步骤根据该多个余弦波的一波谷波包具有的多个相对波峰值，检验该光盘读取装置的机构误差。
19.如权利要求16所述的方法，其中该检验步骤根据该多个正弦波的一波峰波包具有的多个相对波谷值，检验该光盘读取装置的机构误差。
全文摘要
本发明提供一种调整一光盘读取装置的机构误差的方法。光盘读取装置包括一驱动装置与一光学读取头，其中驱动装置的一基座用以承载并旋转一光盘片。本方法包括相对移动光学读取头至光盘片的表面上。其次，光学读取头发射二循轨光点至表面，并使光学读取头与表面相对产生一相对移动。接着，读取二循轨光点的反射光以产生一跨轨信号。根据此跨轨信号调整光学读取头与基座的一相对位置。
文档编号G11B21/24GK1466131SQ0212268
公开日2004年1月7日 申请日期2002年6月20日 优先权日2002年6月20日
发明者郑荣宗, 庄政洁 申请人:明基电通股份有限公司