专利名称：磁记录重放装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及在将信息记录在磁带上的螺旋形磁迹、并将控制信号(以下简称为CTL信号)记录在磁带上的直线形磁迹的磁带格式中、将信息及信号进行记录重放的磁记录重放装置。
背景技术：
现在有一种磁带格式是在磁带上构成多条倾斜磁迹，而在该磁迹上记录图象及声音等信息、及在重放时可检测跟踪状态用的跟踪主导信号。在该磁带格式中，有使用跟踪主导信号来实现磁带走带的相位锁定动作的方式。该方式被称作ATF方式。
图9是表示上述ATF方式的相位锁定动作结束后状态的帧基准信号与跟踪主导频率记录模式的关系。帧基准信号901是在形成帧基准的时刻904向高电平上升的信号。跟踪主导信号的频率记录模式902及903，表示在每条磁迹上所记录的跟踪主导频率的变化过程。频率记录模式902及903中的f0、f1、f2，表示在磁带的倾斜磁迹上所记录的跟踪主导信号的频率。在用f0所示的磁迹中未记录跟踪主导信号。在用f1所示的磁迹中记录着频率为f1的跟踪主导信号，在用f2所示的磁迹中记录着频率为f2的跟踪主导信号。
图9所示的情况是，跟踪主导信号频率循环1圈的周期为4磁迹周期，1帧由10条磁迹构成。构成1帧的磁迹数不能用跟踪主导信号频率循环1圈的周期的磁迹数完全除尽。因此，当将帧基准信号901作为基准时，存在2种跟踪主导信号的频率记录模式902及903。
磁头在跟踪主导信号频率f0的磁迹上进行扫描时，在通过磁头所获得的重放信号中，还混入有来自与重放信号相邻的2个磁迹的跟踪主导信号。即，频率为f1的磁迹的跟踪主导信号和频率为f2的磁迹的跟踪主导信号作为串扰信号混入。这样，混入的频率为f1的磁迹的跟踪主导信号和频率为f2的磁迹的跟踪主导信号的量，将随重放磁头位置与磁迹位置的相对关系而变化。也就是说，该两者的信号电平之差成为根据磁头与磁迹的相对位置关系的跟踪误差信号。根据该误差信号，构成磁带走带相位控制，并进行跟踪控制。该方式被称作ATF方式。
可是，在相邻磁迹间是用互相不同的方位角进行记录重放的。因此，在利用上述ATF方式的磁带走带相位控制中，就用不是原来方位角的方位角对相邻磁迹的跟踪主导信号进行重放(被称作反方位重放)。因此，磁头随着偏离磁迹而跟踪误差信号的检测灵敏度降低，或对磁迹偏离量和误差信号的线性度产生较大的影响。其结果，存在不能高速地实现磁带走带相位锁定的问题。
又，可一边取得记录在磁带的倾斜磁迹上的信息一边进行帧同步动作。但是，在一边进行帧同步动作一边进行相位锁定时，由于存在磁头在反方位的磁迹上进行扫描的状态，这时就不能检测出记录在磁迹上的信息。因此，还有在帧同步动作中需要花费时间的问题。
但是，为了对磁带进行重放出现画面，必须实现帧同步，若帧同步需要较长时间时，则一直到能够出现画面就需要较长时间，故会损害操作性。
又，在进行链接编辑时，必须在帧同步相对已记录的磁迹结束后的状态下开始记录。当在从相位锁定动作至帧同步结束的一系列的动作中需要时间时就可能成为不能开始记录的严重问题。尤其是，在高速地使磁带走带的同时进行读入或进行编辑动作时，更成为苛刻的条件。
发明的概要本发明的目的在于，提供不仅在通常走带时、而且在高速走带时也能实现高速地进行从磁带起动至帧同步结束的一系列动作的磁记录重放装置。又，本发明正是为了解决以往方式中存在的问题。
本发明为一种磁记录重放装置，其特征在于，包括使所述磁带走带的磁带走带驱动手段；产生成为所述磁带的走带相位基准的帧基准信号的基准信号发生手段；检测出控制信号的CTL信号检测手段；在帧基准信号的1个周期内将控制信号的1个周期以内的取样期间至少设置1个期间、并检测出从帧基准信号的基准点至取样期间内所检测出的所述控制信号相关联的规定时刻的时间误差的时间误差检测手段；以及向磁带走带驱动手段和时间误差检测手段发出磁带走带速度指令的磁带走带速度指令手段，磁带驱动手段根据时间误差控制磁带走带的相位。
附图的简单说明
图1是本发明实施形态1的磁记录重放装置的方框图。
图2是本发明实施形态1的1倍速走带时的时间误差检测原理图。
图3是本发明实施形态1的2倍速走带时的时间误差检测原理图。
图4是表示本发明实施形态1的N倍速走带时的相位锁定动作一个例子的流程图。
图5是本发明实施形态2的磁记录重放装置的方框图。
图6是本发明实施形态2的以模式1的帧相位差检测方式说明图。
图7是本发明实施形态2的以模式2的帧相位差检测方式说明图。
图8是表示本发明实施形态2的N倍速走带时的相位锁定动作一个例子的流程图。
图9是表示用ATF方式的帧基准信号与跟踪主导信号的关系的时序图。
实施发明的最佳形态[实施形态1]以下对表示本发明实施形态1的磁记录重放装置进行说明。
图1是表示实施形态1的磁记录重放装置结构的方框图。
图1中，磁带走带速度指令手段106向时间误差检测手段107、旋转磁鼓103和磁带走带驱动手段102发出磁带101的走带速度的指令。基准信号发生手段105，将作为磁带101的走带基准的帧基准信号供给时间误差检测手段107。CTL信号检测手段104读取在由磁带走带驱动手段102所驱动的磁带101上记录的CTL信号，并将读取的CTL信号供给时间误差检测手段107。时间误差检测手段107检测出所供给的帧基准信号与CTL信号的时间误差。
在以与记录时磁带走带速度相同的速度使磁带101走带时称为1倍速，在以2倍的速度走带时称为2倍速，在以N倍的速度走带时称为N倍速。
在磁带走带速度指令手段106发出1倍速指令时，时间误差检测手段107在帧基准信号1个周期内设置CTL信号1个周期以内的取样期间，并在该取样期间内所检测出的CTL信号的上升沿对时间误差进行检测。
在磁带走带速度指令手段106发出2倍速指令时，时间误差检测手段107在帧基准信号1个周期内设置2倍速走带时的CTL信号1周期以内(帧基准信号的1/2周期以内)的取样期间，并在该取样期间内所检测出的CTL信号的上升沿对时间误差进行检测。
在磁带走带速度指令手段106发出N倍速指令时，时间误差检测手段107在帧基准信号1个周期内设置N倍速走带时的CTL信号1个周期以内(帧基准信号的1/N周期以内)的取样期间，并在该取样期间内所检测出的CTL信号的上升沿对时间误差进行检测。
时间误差检测手段107，根据检测出的时间误差，将磁带走带的相位锁定动作所必需的控制指令供给磁带走带驱动手段102。
这样，磁带走带驱动手段102按时间误差检测手段107的指令，进行磁带101的走带控制。
利用该结构，可实现N(N为1以上的实数)倍速走带时的磁带走带相位锁定动作。该方式被称作CTL方式。又，旋转磁鼓103，使磁头旋转并在磁带101上进行倾斜磁迹的记录重放。
图2表示利用上述CTL方式、以1倍速使磁带101走带的情况。
在1倍速走带时，由基准信号发生手段105生成的帧基准信号201的周期204与由CTL信号检测手段104生成的CTL信号202的周期205为相同的时间长度。
相对帧基准信号201的CTL信号202的时间误差206的测量是利用时间误差检测手段107按照下述的步骤。
准备1个利用帧基准信号201的每个下降沿212进行复位并利用规定的时钟(例如控制微机的时钟)进行减法计数的计数器。该计数器，将复位时的值207设为Cs，将刚复位前时的值210设为Ce。该计数器的值是时间测量计数器的值203。在CTL信号202的上升沿的时刻213取得时间测量计数器的值203，其值208被锁存。将值208设为C1。在帧基准信号201的上升沿的时刻214取得的时间测量计数器的值203的值209是(Cs-Ce)/2。检测出值208与值209之差211、即(C1-(Cs+Ce)/2)作为时间误差。
图3表示用CTL方式进行的2倍速重放时的时间误差检测方法。
2倍速重放时，CTL信号检测手段104所生成的CTL信号302的周期305，成为由基准信号发生手段105所生成的帧基准信号301的周期的1/2。在帧基准信号301的1个周期的期间内，对CTL信号302的上升沿检测2次。即，存在时间测量计数器的值303在时刻317取得的值310和在时刻320取得的值312。若将值310设为C1，将值312设为C2，则检测出的时间误差成为(C1-(Cs+Ce)/2)和(C2-(Cs+Ce)/2)，存在2个值。由于对该两者交替进行检测，故不能直接用于相位锁定动作。
因此，在本实施形态中，设定具有CTL信号302的1个周期大小(磁带走带速度在2倍速时与帧基准信号的1/2周期大小相等)期间的取样期间306。CTL信号302的上升时刻317在取样期间306的期间外，CTL信号302的上升时刻320在取样期间306的期间内。因此，仅在上升时刻320取得的值有效，检测出(C2-(Cs+Ce)/2)作为时间误差314。不正确的时间误差315就可忽略。忽略CTL信号302相对帧基准信号301的相对时间差308，可将相对时间差307用于磁带走带的控制。
以上的N倍速相位锁定动作的一系列处理，可用处理器的软件来实现。
图4表示该情况的处理例子。
在步骤401处理开始，在步骤402对磁带的走带指令为N倍速走带的情况进行识别。进入步骤403，将CTL信号的表示由边沿确定取样的期间即取样期间在帧基准信号的1个周期内设定为相当于帧基准信号的1N周期。进入步骤404，根据该取样期间内存在的CTL信号的边沿，对时间误差进行检测。若所检测出的时间误差为所需的值，则进入步骤406，相位锁定动作结束。若检测出的时间误差不是所需的值，则进入步骤405，对磁带走带速度进行增减，再次用步骤404对时间误差进行检测。以后，重复上述的处理，最终在步骤406相位锁定动作结束。
又，以上的发明，若设N＝1，则也包括1倍速时的内容。
又，取样期间204及306的开始时刻不限于上述的说明，也能具有相对于帧基准信号201及301可设定任意的时刻的功能。
又，在上述实施形态1中，时间误差检测手段107是将取样期间在帧基准信号1个周期内设定为CTL信号1个周期大小，但只要将取样期间设为最大CTL信号1个周期即可。
以下对表示本发明实施形态2的磁记录重放装置进行说明。
图5是表示本发明实施形态2的磁记录重放装置结构的方框图。
图5中，磁带走带速度指令手段506向帧编号生成手段508、时间误差检测手段507、旋转磁鼓503和磁带走带驱动手段502发出磁带501走带速度的指令。在此，假定磁带走带速度指令手段506发出N倍速的指令，即、通常记录速度的N倍的磁带走带速度指令。
基准信号发生手段505，将成为帧的基准的帧基准信号供给时间误差检测手段507和帧编号生成手段508。帧编号生成手段508，根据从基准信号发生手段505所供给的帧基准信号和由磁带走带速度指令手段506所指定的磁带走带速度，生成N倍帧编号并供给帧相位差检测手段510。磁带走带驱动手段502对磁带501进行走带驱动。CTL信号检测手段504读取记录在磁带501上的CTL信号，并将读取后的CTL信号供给时间误差检测手段507和CTL编号生成手段509。CTL编号生成手段509，根据所供给的CTL信号生成CTL编号，并将该CTL编号供给帧相位差检测手段510。
帧编号生成手段508，首先，对所供给的帧基准信号的每1个周期1个个地进行相加，而生成从0至m(m为整数)依次变化的帧编号。在此，m假定为4。又，用M表示帧编号。这样，帧编号生成手段508将用该M的N倍除以(m+1)后的余数重新作为N倍速帧编号向帧相位差检测手段510输出。因此，N倍速帧编号的值为(M×N mod(m+1))。
时间误差检测手段507，大致进行与图1的时间误差检测手段107同样的功能。即，时间误差检测手段507在CTL信号的上升时刻取得在帧基准信号的下降时刻所复位的减法计数器的计数值。这样，检测出取得的值与成为基准的值之差并供给帧相位差检测手段510。
帧相位差检测手段510进行以下的处理。首先，根据由时间误差检测手段507的取得值，判断在哪个时刻对N倍帧编号与CTL编号进行比较。具体来说，判断决定是应在CTL信号的上升沿的时刻进行比较还是应在下降沿的时刻进行比较。也就是说，判断是后述模式1和模式2中的哪个模式。接着，在判断决定的时刻对N倍速帧编号与CTL编号的编号差即帧相位差进行检测。再将从时间误差检测手段507所供给的时间误差与检测出的帧相位差相加而生成综合帧相位差。这样，将生成的综合帧相位差供给磁带走带驱动手段502，给出控制指令，以使得消除磁带501的走带误差。
又，分别将判断为应在CTL信号的上升沿的时刻进行比较的情况称作模式1、将判断为应在下降沿的时刻进行比较的情况称作模式2。包括模式1、模式2、和这些模式的判断方法等用图6和图7进行更详细的说明。
图6表示2倍速时、即N为2时的相位锁定过程中的状况，是模式1的情况。
图6中，帧基准信号601和帧编号602是基准信号发生手段505的输出，N倍速帧编号603是帧编号生成手段508的输出，CTL信号605是CTL信号检测手段504的输出，CTL编号606是CTL编号生成手段509的输出。CTL编号606每隔1个更新为0、1、2、3、4、0、1、…，而N倍速帧编号603则不同，它以与CTL编号606的编号循环一周的周期相同的循环一周周期，每隔1个更新为0、2、4、1、…。比较许可标志604在帧基准信号601的下降沿的时刻608变成高电平，在N倍速帧编号603与CTL编号606的编号比较刚结束后返回低电平。比较许可标志604，是在N倍速帧编号603的确定期间内允许至少进行1次CTL编号606与N倍速帧编号603的编号比较用的标志。时间测量计数器的值607是在帧基准信号601的每个下降沿的时刻608进行复位、并利用规定的时钟(例如控制微机的时钟)进行减法计数的计数器的值。
取样期间612，是以帧基准信号601的上升沿的时刻为中心、帧基准信号601的1/N的期间。在图6中由于N假设为2，因此取样期间612是以帧基准信号601的上升沿的时刻为中心、帧基准信号601的1/2的期间。
与图1同样，时间误差检测手段507，在CTL信号605的上升时刻610取得时间测量计数器的值607。由于时刻610是在取样期间612的期间内，故能将取得值611用作为对磁带501进行走带控制用的时间误差信号。
如上所述，可检测出时间误差。如将取得值611设为C1，则检测出的时间误差的值成为(C1-(Cs+Ce)/2)。
接着，N倍速帧编号603与CTL编号606的比较按照下述的步骤进行。
时间测量计数器的值607，被分割成区域A、区域B、区域C这3个区域进行定义。区域B是时间测量计数器的值607的中间部分、区域A是它的值大于区域B的部分、区域C是它的值小于区域B的部分。在时刻610取得的值611位于区域B内。取得值位于区域B内的情况被定义为模式1。这样，若判明为模式1的情况，则N倍速帧编号603与CTL编号606的比较，可在比较许可标志604为高电平期间的CTL信号605的下降沿的时刻609进行。在时刻609的N倍速帧编号603为0，CTL编号606为4。因此，作为帧相位差，判明CTL编号为仅延迟1的状态。
将该帧相位差与上述的时间误差相加，生成综合帧相位差。帧相位差检测手段510将生成的综合帧相位差供给磁带走带驱动手段502，对磁带走带驱动手段502进行控制。
帧相位差(N倍速帧编号603与CTL编号606的编号差)的分辨率是CTL编号606的1个周期单位，仅用帧相位差不能检测出正确的应修正的时间偏移量。因此，帧相位差检测手段510将帧相位差加入时间误差后的综合帧相位差输出。通过生成帧相位差加入时间误差后的综合帧相位差，就能根据高精度的偏移量，正确地实现磁带501的走带控制。
接着，图7表示模式2的情况。在图6中表示的是CTL编号606相对N倍速帧编号603延迟CTL编号606的大致1个部分的情况，而图7是表示CTL编号706相对N倍速帧编号703延迟CTL编号706的大致1.5个部分的情况。
图7中的帧基准信号701、帧编号702、N倍速帧编号703、比较许可标志704、CTL信号705、CTL编号706、时间测量计数器的值707、取样期间713，分别与图6中的帧基准信号601、帧编号602、N倍速帧编号603、比较许可标志604、CTL信号605、CTL编号606、时间测量计数器的值607、取样期间612相当。因此，它们的各个详细说明省略。
图7相对图6的较大不同点在于，CTL编号706相对N倍速帧编号703而言，是处于CTL编号706延迟大致1.5个部分的状态。因此，图7中取得时间测量计数器的值707的时刻也与图6不同。CTL信号705的上升沿是时刻709和时刻710，在这些时刻取得有值711和值712。可是，时刻710位于取样期间713的期间内，而时刻709位于取样期间713的期间外。因此，仅将值712用作为时间误差。若将取得值712设为C2，可利用的时间误差的值成为(C2-(Cs+Ce)/2)。如上所述，能检测出时间误差。
另一方面，N倍速帧编号703与CTL编号706的比较按照下述的步骤进行。
时间测量计数器的值707，与图6同样，定义有区域A、区域B、区域C。在时刻709和时刻710取得的值711和值712不在区域B内，而在区域A内或区域C内。取得的值在区域A内或区域C内的情况被定义为模式2。
若判明为模式2时，则N倍速帧编号703与CTL编号706的比较，是在比较许可标志704为高电平期间的CTL信号705的上升沿的时刻709进行。在时刻709的N倍速帧编号703为0，CTL编号706为4。因此，作为帧相位差，判明CTL编号为仅延迟1的状态。
将该帧相位差与上述的时间误差相加，生成综合帧相位差。帧相位差检测手段510将生成的综合帧相位差供给磁带走带驱动手段502，控制磁带走带驱动手段502。
帧相位差(N倍速帧编号703与CTL编号706的编号差)的分辨率是CTL编号706的1个周期单位，仅用帧相位差不能检测出正确的应修正的偏移量。因此，帧相位差检测手段510将帧相位差加入时间误差后的综合帧相位差输出。通过生成帧相位差加入时间误差后的综合帧相位差，就能根据高精度的偏移量，正确地实现磁带501的走带控制。
以上说明的N倍速帧同步动作的一系列动作可用处理器的软件来实现。
图8表示用软件的处理例子。在步骤801中处理开始，在步骤802中(在N倍速走带时)根据帧编号M生成N倍速帧编号。进入步骤803，根据取得的值，判断相位锁定状态是模式1还是模式2。如判断为模式1时，进入步骤804。在步骤804中，对比较许可标志的状态进行确认，若为低电平则等待至成为高电平。比较许可标志若为高电平期间，在步骤805在CTL信号的下降沿检测出帧相位差。在步骤808中检测出帧相位差加入时间误差后的综合帧相位差。
另外，在步骤803中如判断为模式2时，进入步骤806。在步骤806中，对比较许可标志进行确认，若为低电平则等待至成为高电平。比较许可标志若为高电平期间，在步骤807在CTL信号的上升沿检测出帧相位差。在步骤808中检测出帧相位差加入时间误差后的综合帧相位差。
在步骤808后进入步骤809，若综合帧相位差为0，则进入步骤810，帧同步动作结束。若综合帧相位差不为0，则进入步骤811，对磁带速度进行增减后再次返回步骤809。这样，在综合帧相位差成为0时进入步骤810，且帧同步动作结束。
采用以上的结构可实现N倍速的帧同步动作。又，以上的发明若设成N＝1，则也包括1倍速的情况。
在上述说明中，是用取得的时间测量计数器的值611、711、712判定是模式1还是模式2，并决定检测出N倍速帧编号603、703与CTL编号606、706之相对差的时刻。但是，本发明不限于上述方式，只要是根据帧编号与CTL信号的时间关系、决定检测出N倍速帧编号与CTL编号之相对差的时刻的方式即可。
又，取样期间612及713的开始时刻不限于上述说明的情况，也可以具有相对于帧基准信号601及701可设定成任意时刻的功能。
又，在上述的实施形态2中，时间误差检测手段507是将取样期间在帧基准信号1个周期内设定为CTL信号的1个周期大小，但只要取样期间设定为最大CTL信号1个周期即可。
又，在图2、图3、图6、图7及图8中，所述的是在帧基准信号及CTL信号的上升沿及下降沿完成各种动作。但是，本发明不限于这些边沿的时刻，也能构成为在从各边沿起的规定时间关系的时刻完成各种动作。
如以上那样，采用本发明，在N倍速走带时，从取样开始点设置帧基准信号的1/N周期期间部分以内的取样期间，并能通过求出至少在帧基准信号每1个周期中1次帧基准信号的上升沿与CTL信号的上升沿的时间误差，来高速地达到N倍速走带时的相位锁定动作。
又，在N倍速走带时，检测出根据帧编号所求出的N倍速帧编号与CTL编号的编号差即帧相位差与时间误差之和的综合帧相位差，将检测综合帧相位差的时刻根据在相位锁定过程中检测出的模式，对是用CTL信号的上升沿还是用下降沿进行切换，通过这样可高速地达到N倍速走带时的帧同步动作。
又，能解决作为以往方式所示的ATF方式中的各种问题。
工业上的实用性采用本发明的磁记录重放装置，在磁带长度方向上记录控制信号并相对磁带长度方向在倾斜方向的磁迹上记录信息的磁带格式中，能高速地达到以N倍速使磁带走带时的磁带走带相位锁定动作。又，能高速地达到以N倍速使磁带走带时的帧同步动作。
权利要求
1.一种磁记录重放装置，其特征在于，包括使1帧部分的数据记录在相对磁带的长度方向倾斜地分割成多条磁迹上、并记录有能识别在所述长度方向上磁迹位置的控制信号的所述磁带走带的磁带走带驱动手段；产生成为所述磁带的走带相位基准的帧基准信号的基准信号发生手段；检测出所述控制信号的CTL信号检测手段；在所述帧基准信号的1个周期内将所述控制信号的1个周期内的取样期间至少设置1个周期、并检测出从所述帧基准信号的基准点至所述取样期间内所检测出的所述控制信号相关联的规定时刻的时间误差的时间误差检测手段；以及对所述磁带走带驱动手段和所述时间误差检测手段发出所述磁带的走带速度指令的磁带走带速度指令手段，所述磁带驱动手段根据所述时间误差控制所述磁带走带的相位。
2.如权利要求1所述的磁记录重放装置，其特征在于，所述时间误差检测手段在所述磁带以N倍速走带时，将所述取样期间设置成所述帧基准信号的1/N周期部分，并根据该取样期间内所检测出的所述控制信号相关联的规定时刻检测出所述时间误差。
3.如权利要求1或权利要求2所述的磁记录重放装置，其特征在于，具有可任意地设定所述取样期间的开始点的功能。
4.一种磁记录重放装置，其特征在于，包括使1帧部分的数据记录在相对磁带的长度方向倾斜地分割成多条磁迹上、并记录有能识别在所述长度方向上磁迹位置的控制信号的所述磁带走带的磁带走带驱动手段；产生成为所述磁带的走带相位基准的帧基准信号的基准信号发生手段；检测出所述控制信号的CTL信号检测手段；生成对所述帧基准信号每1周期进行加法计数的帧编号的帧编号生成手段；生成对所述控制信号每1周期进行加法计数的控制编号的CTL编号生成手段；检测出从所述帧基准信号的基准点至所述帧基准信号1个周期部分的时间内所检测出的所述控制信号相关联的规定时刻的时间误差的时间误差检测手段；向所述磁带走带驱动手段和所述时间误差检测手段发出所述磁带走带速度指令的磁带走带速度指令手段，在所述帧编号确定的范围内在所述控制信号相关联的规定时刻至少进行1次所述帧编号与所述控制编号的比较而获得帧相位差信息、并根据所述时间误差和所述帧相位差信息输出综合帧误差信息的帧相位差检测手段，所述磁带走带驱动手段根据所述综合帧相位差信息控制所述磁带走带的相位。
5.如权利要求4所述的磁记录重放装置，其特征在于，所述帧编号生成手段，在所述磁带走带速度指令手段发出所述磁带的N倍速走带的指令时，对所述帧基准信号每1个周期1个个地相加从0变化至m(m为整数)的帧编号M(M为从0至m的整数)乘以N，再将其除以(m+1)后的余数(M×N mod(m+1))作为N倍速帧编号进行输出，所述帧相位差检测手段，在所述帧编号或所述N倍速帧编号确定的范围内在所述控制信号相关联的规定时刻至少进行1次所述N倍速帧编号与所述控制编号的比较，而获得帧相位差信息，并根据所述时间误差和所述帧相位差信息，生成并输出综合帧误差信息。
6.如权利要求4所述的磁记录重放装置，其特征在于，所述时间误差检测手段，在所述帧基准信号的1个周期内将所述控制信号的1个周期以内的取样期间至少设置1个期间，并检测出从所述帧基准信号的基准点至所述取样期间内所检测出的所述控制信号相关联的规定时刻之差，而获得所述时间差。
7.如权利要求5所述的磁记录重放装置，其特征在于，还包括根据所述帧基准信号与所述CTL信号的时刻关系对两者关系的模式进行检测的模式检测手段，与所述控制信号相关联的所述规定时刻，根据所述检测出的模式，从基于所述控制信号的上升时刻的时刻和基于所述控制信号的下降时刻的时刻进行选择决定。
全文摘要
本发明的磁记录重放装置，包括产生成为磁带走带相位基准的帧基准信号的基准信号发生手段、根据帧基准信号生成帧编号的帧编号生成手段、根据CTL信号生成CTL编号的CTL编号生成手段、检测出从帧基准信号的基准点至CTL信号的时间误差的时间误差检测手段、和根据帧编号和CTL编号检测出帧相位差的帧相位差检测手段。
文档编号G11B15/28GK1476604SQ02803025
公开日2004年2月18日 申请日期2002年9月26日 优先权日2001年9月27日
发明者内藤安毅, 榊原祥雄, 本庄谦一, 一, 雄 申请人:松下电器产业株式会社