专利名称：球面像差校正方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于将信息位记录到光记录介质上的记录系统中的球面像差校正方法和装置。
背景技术：
通常，在作为光记录介质的光盘的记录表面形成透明层。该透明层具有预定的厚度，并被放置来覆盖光盘的记录表面，以便保护该记录表面。
光信息记录/再现系统用于将读、或记录光束通过透明层照射到光盘的记录表面上，以从光盘读取数据、或将数据记录到光盘。
然而，事实上，形成透明层的每一部分的厚度处于指定的厚度范围内的光盘是困难的。结果，普通光盘由于透明层的不规则而具有几十微米(μm)的厚度误差。这种在光盘厚度方面的误差，使得在照射到光盘上的光束中发生球面像差，因此减小了从光盘读取数据、或将数据记录到光盘的精度。
对于将信息位记录到光盘上的实际情况，包括记录开始时的周边温度等的记录条件将引起球面像差的波动。
将来记录速度越快，球面像差将会对记录特性带来的影响越大，于是需要尽量防止球面像差。尽管只是一个举例，上述问题被包括在本发明将要解决的困难中。
发明内容
考虑到上述传统技术的问题，本发明的一个目的在于，提供一种球面像差校正方法和装置，能够有效地校正球面像差。
根据本发明的一个方面，提供了一种球面像差校正装置，包括测试记录单元，用于在光记录介质上执行测试记录；特征获取单元，用于获得相应于通过测试记录的参数的特征，该参数与球面像差有关；校正量确定单元，用于根据所述参数的特征，确定球面像差的最佳校正量，以便最小化球面像差；以及球面像差校正单元，用于根据所述球面像差的最佳校正量，来校正球面像差。
根据本发明的另一方面，提供了一种球面像差校正方法，包括以下步骤在光记录介质上执行测试记录；获得相应于根据该测试记录的参数的特征，该参数与球面像差有关；根据所述参数的特征，确定球面像差的最佳校正量，以便最小化球面像差；以及根据所述球面像差的最佳校正量，来校正球面像差。
从下面参考附图对实施例的描述，本发明的其它目的和方面将会更加明显，其中图1示出了根据本发明第一实施例的球面像差校正装置的配置；图2示出了应用球面像差校正单元的信息记录系统的配置；图3示出了根据第二实施例、在使用DVD-R作为光盘的情况下，球面像差与抖动之间的相互关系，以及球面像差和β值之间的相互关系；图4A示出了根据第二实施例、在光盘上形成的记录标记(凹坑)的示例；图4B示出了从图4A中示出的记录标记反射的光的电平；图4C示出了每个由顶脉冲和随后的连续多脉冲组成的记录脉冲的波形，记录脉冲相应于图4A中示出的记录标记；图4D示出了相应于从图4A中示出的记录标记反射的光的检测信号；图4E示出了通过从图4D示出的检测信号中消除高频成分而获得的信号的波形；图5A示出了根据第二实施例的、用于获得凹坑电平的电路的结构的方框图；图5B示出了根据第二实施例、用于获得凹坑电平的峰值保持电路的另一电路结构的方框图；图5C示出了根据第二实施例、用于获得凹坑电平的抽样/保持电路的另一电路结构的方框图；图6A示出了根据第二实施例、在使用DVD-R作为光盘的情况下，球面像差与凹坑电平之间的相互关系；图6B示出了根据第二实施例、凹坑比率与球面像差之间的相互关系；
图7示出了根据第二实施例、球面像差与记录功率之间的相互关系；图8是示出根据第二实施例、确定球面像差的校正量的第一处理的流程图；图9是示出根据第二实施例、确定球面像差的校正量的第二处理的流程图；图10A是典型示出了根据第二实施例的、液晶类型的球面像差校正单元的结构的示意图；以及图10B是示出了根据第二实施例的、光学元件类型的球面像差校正单元的结构的示意图。
具体实施例方式
现在，将参考附图，描述本发明的球面像差校正方法和装置的优选实施例。
图1示出了根据本发明第一实施例的球面像差校正装置的配置。图1中，光盘D由可旋转、并允许在其上记录信息的一种光记录介质形成。
光盘D具有记录层和在该记录层上形成的透明层。该透明层具有预定的厚度并覆盖光盘的整个记录表面，用于保护记录层。
根据第一实施例的球面像差校正装置包括测试记录部件50、特征获取部件51、校正量确定部件52、以及球面像差校正部件53。
测试记录部件50用于在光盘上执行测试记录，所述的光盘是用作记录信息位的物体。使用预先在光盘上形成的测试记录区，来进行校准等，以允许执行测试记录。当执行测试记录时，测试记录部件50用于将光束照射到光盘的记录表面的测试记录区，以在其上形成凹坑作为测试记录信号(测试记录数据)。
特征获取部件51使用通过测试记录而记录的信息，以获得与球面像差有关的参数有关的特征。详细地，特征获取部件51可以按两种不同的方法，获得相应于每个参数的每个特征。
一种方法是，完成测试记录之后，再现相应于通过测试记录而记录的信息的测试记录信号(测试记录数据)，以便基于再现的测试信号获得每个参数的每个特征。
在这种情况下，与球面像差有关的参数例如包括表示再现的测试信号的变化的抖动、β值、再现的测试信号的调制、以及再现的测试信号的不对称性。将RF信号中凸台电平与凹坑电平之间的、相对于它们的RF振幅的差值进行正常化(normalizing)，以获得β值，以及通过AC耦合相应于通过测试记录而记录的信息的、来自光盘D的反射光，来获得RF信号。
也就是说，特征获取部件51用于再现通过测试记录而记录的测试信号，以便测量相应于至少一个参数的至少一个特征。
另一种方法是在执行测试记录时，获得相应于至少一个预定参数的至少一个特征，其中，预定的参数可被设置为凹坑的凹坑电平或凹坑的凹坑比率。
校正量确定单元52用于确定球面像差的最佳校正量，使球面像差最小。
假定使用抖动作为至少一个参数，则抖动与球面像差具有下面的关系，即，当抖动变为最小值时，球面像差变为最小值。基于抖动与球面像差之间的相互关系，特征获取部件51再现通过测试记录而记录的测试信号，以便测量抖动的特征，以及校正量确定部件52确定测量的抖动最小的球面像差的校正量作为球面像差的最佳校正量。
当确定最佳球面像差校正量时，校正量确定部件52向球面像差校正部件53提供最佳校正量。球面像差校正部件53用于根据提供的最佳校正量，执行关于球面像差的校正。
可以使用例如液晶部件、光学元件或其它相似部件的各种校正部件作为已知的球面像差校正部件53。
现在将参考附图，描述将球面像差校正单元应用到信息记录系统的第二 图2示出了应用球面像差校正单元的信息记录系统的配置。
在图2中，信息记录系统1被配置，使得信息可被记录到光盘D上，以及记录在光盘D上的信息可被读出，以被再现。
该信息记录系统1包括读取器2，具有例如作为光源的激光二极管和带有物镜等的光学系统、放大器3、伺服控制单元4、记录特征分析单元5、系统控制器6、球面像差校正单元7和转轴马达8。附带地，在图2中，上述与本发明的球面像差校正有关的元件2到8被主要地示出。
可以使用诸如CD-R(可记录光盘)、DVD-R(可记录数字多功能光盘)、DVD-RW(可重写数字多功能光盘)、DVD+R(可记录DVD)和DVD+RW(可重写DVD)之类的能够仅记录信息一次、或能够记录信息多次的各种光盘作为光盘D。
转轴马达8用于按预定的旋转速率旋转光盘D，并控制其旋转。
读取器2用于将光束9照射到光盘D上，并接收从光盘D的记录层反射的光，以将反射光作为电信号的检测的信号S1提供给放大器3。
放大器3用于将检测的信号S1放大预定的增益，以便把从检测的信号S1放大的检测的信号S2分别提供给伺服控制单元4和记录特征分析单元5。
伺服控制单元4用于通过公知的产生伺服误差信号的各种方法，根据提供的检测的信号S2，产生诸如跟踪误差信号、聚焦误差信号之类的伺服误差信号。
伺服控制单元4将产生的伺服误差信号分别提供给读取器2和转轴马达8。从伺服控制单元4提供的伺服误差信号被用于控制转轴马达8的转数，从而执行转轴伺服控制。
从伺服控制单元4提供的伺服误差信号被用于控制读取器2的物镜的位置等，从而执行诸如聚焦伺服和跟踪伺服的各种类型的伺服控制。
记录特征分析单元5用于根据通过测试记录获得的检测的信号S2，来测量每个参数的每个特征，并分析每个特征，以将每个特征的分析结果提供给系统控制单元6。
如下面详述的，记录特征分析单元5可以按两种方法测量相应于每个参数的每个特征。
一种方法是执行测试记录、并再现通过该测试记录而记录在记录表面上的测试记录数据，以便基于再现的测试记录数据，测量每个参数的每个记录特性。
在这种情况下，记录参数包括例如抖动、β值、再现的测试记录的数据的调制和不对称性。
另一种方法是当执行测试记录时，获得相应于至少一个预定参数的至少一个特征，其中，至少一个特征相应于诸如凹坑的凹坑电平、凹坑的凹坑比率之类的预定参数。
下面将详细描述这些参数。
系统控制单元6包括微型计算机等，用于根据每个特征的分析结果来确定球面像差的最佳校正量，以把相应于该球面像差的最佳校正量的控制信号S3提供给球面像差校正单元7。
球面像差校正单元7用于校正由于光盘D的透明层的不规则部分而在光束9中引起的球面像差。也就是说，球面像差校正单元7用于校正在光束9中引起的球面像差的校正量，相应于控制信号S3的最佳校正量。
可以使用公知的各种校正单元，来作为球面像差校正单元7。
例如，一种校正单元包括多个环型排列、并置于光束路径上的液晶区。也就是说，在这种校正单元中，提供给液晶区的控制电压引起通过该液晶区发送的光束9的相位改变，从而来校正光束9的球面像差。使用多个液晶区的校正单元在下文中被称作“液晶类型”。
另一种校正单元包括置于光束路径上的诸如准直透镜之类的光学元件。也就是说，在这种单元中，控制光学元件，引起与已在光束9中引起的球面像差的特征相反的球面像差，从而彼此抵消球面像差。使用这种光学元件的校正单元在下文中被称作“光学元件类型”。
也就是说，能够校正光束9中引起的球面像差的各种校正单元可被应用于本发明。
在这点上，从系统控制单元6提供给球面像差校正单元7的控制信号S3依赖于球面像差校正单元7的类型。例如，当采用液晶类型的球面像差校正单元时，控制信号S3由表示提供给每个液晶区的电压的信号形成。同时，当采用光学元件类型的球面像差校正单元时，控制信号S3由表示光学元件等的距离的信号形成。
下面，将描述由记录特征分析单元5分析的每个参数与球面像差之间的相互关系。
记录特征分析单元5用于根据再现的测试记录数据，在测量的参数与球面像差发生关联(correlate)之前，测量包括抖动、β值、凹坑电平、凹坑比率等的参数，以便分析它们。
图3示出了在使用DVD-R作为光盘的情况下，球面像差与抖动之间的相互关系，以及球面像差和β值之间的相互关系。在图3中，水平轴表示球面像差的量，垂直轴表示抖动[％]和β值[dB]，以及水平轴的中心表示球面像差为0。
如图3所示的，抖动最小和球面像差最小即接近为0的位置彼此实际相符。也就是说，抖动与球面像差之间的相互关系显示出抖动增加伴随球面像差的增加。
这样测量抖动作为记录特性，并控制球面像差校正单元7，以便使球面像差的量最小化，使抖动最小。
另外，如图3所示的，β值最大的位置和球面像差接近最小的位置彼此实际相符。
这样测量β值，作为记录特性，并控制球面像差校正单元7，以便最小化β值，使球面像差的量最小。
将RF信号中凸台电平与凹坑电平之间的、相对于它们的RF振幅的差值进行正常化，以获得β值，以及通过AC耦合来自光盘的反射光来获得RF信号。β值与再现的测试记录数据的不对称性极大地相关。因此，在使用DVD作为光盘的情况下、使用不对称性作为记录特性时，校正球面像差，以最大化不对称性，使球面像差的量最小。在使用CD作为光盘的情况下、使用不对称性作为记录特性时，校正球面像差，以最小化不对称性，使球面像差的量最小。
下面描述球面像差与凹坑电平和凹坑比率的每一个之间的相互关系。
首先描述凹坑电平的概念。如图4A中所示，假定记录标记(凹坑)RM1和RM2被写在光盘的记录区上。在这种情况下，当再现光盘时，从记录标记RM1和RM2反射的光的电平被表示在图4B中。
也就是说，在其上形成记录标记的记录区的每个部分RM1、RM2的反射率低于在其上没有形成记录标记的记录区部分的反射率，于是，来自记录区RM1和RM2的反射光束的电平低于来自在其上没有形成记录标记的记录区部分的反射光束的电平。
另一方面，假定用于形成图4A中所示的每个记录标记RM1和RM2的记录脉冲RP由顶脉冲Tp和随后的连续多脉冲Mp组成，以及每个记录脉冲RP的波形如图4C中所示。附带地，特征标识B表示每个脉冲Tp和Mp的偏置电平。
当每个具有图4C中所示的波形的记录脉冲来驱动读取器的激光二极管时，由读取器2和放大器3基于从每个记录标记RM1和RM2反射的光而检测的信号S4可如在图4D中所示。
信号S4中的高频成分通过低通滤波器(LPF)被消除，于是获得图4E中所示波形的信号S5。
在每个信号S5中，相应于图4C中所示的记录脉冲RP的顶脉冲Tp的电平成为写电平Lw，相应于图4C中所示的记录脉冲RP的偏置电平B的电平成为读电平Lr。
用于获得凹坑电平Lp、写电平Lw和读电平Lr的电路结构被示出于图5A中。这样的电路20被安装在记录特征分析单元5上。
当使用由图4C中所示的顶脉冲Tp和多脉冲Mp组成的记录脉冲RP时，检测的信号S4包括脉冲序列，这样就不可能从检测的信号S4检测诸如凹坑电平等的电平。
然后，如图5A所示，从放大器3发送的信号S4被输入至电路20的LPF21，这样，从信号S4中仅提取低频成分，从而获得图4E中所示的信号S5。
信号S5被输入至电路20的取样/保持(S/H)单元22。该S/H单元22在由输入至S/H单元22的每个定时信号T所确定的每个预定的定时，取样并保持凹坑电平Lp、写电平Lw和读电平Lr的每一个。每个定时信号T的每个定时依赖于每个电平Lp、Lw和Lr。
例如，当取样并保持写电平Lw时，定时信号T被设置为表示相应于顶脉冲Tp的定时。当取样并保持凹坑电平Lp时，定时信号T被设置为表示相应于多脉冲周期的中心部分的定时，该多脉冲周期表示开始多脉冲Mp与结束多脉冲Mp之间的周期。
凹坑电平Lp表示当由记录脉冲RP形成凹坑(记录标记)时获得的反射光的电平，于是它提供表示多么精确地形成凹坑(记录标记)的指示。
也就是说，当根据记录脉冲精确形成凹坑时，使形成部分的反射率低，使得凹坑电平Lp足够低。另一方面，当没有精确形成凹坑时，假定在其上形成凹坑的记录区部分的反射率保持为高，使得凹坑电平Lp为高。
下面描述凹坑比率的概念。
凹坑比率表示写电平Lw、记录功率Pr或读电平Lr与凹坑电平Lp的比率。
也就是说，凹坑电平由下面的表达式(1)至(3)表示。
凹坑比率＝(Lw-Lp)/Lw …(1)凹坑比率＝(Pr)/Lp …(2)
凹坑比率＝Lr/Lp …(3)这些表达式示出，当记录凹坑时精确形成凹坑时，使凹坑电平Lp低，使得凹坑比率将被增加。
图6A示出了在使用DVD-R作为光盘的情况下、球面像差与凹坑电平Lp之间的相互关系。图6A中，水平轴表示球面像差的量，而垂直轴表示凹坑电平Lp。
如图6A中所示，当凹坑被精确形成时，凹坑电平越低，球面像差被减小得越多。凹坑电平Lp被最小化的位置与球面像差被接近最小化的位置彼此相符。
这样，当记录凹坑时，测量凹坑电平Lp作为记录特性，并确定球面像差，以便最小化凹坑电平，使球面像差的量被最小化。
图6B示出了凹坑比率与球面像差之间的相互关系。
如图6B中所示，凹坑电平Lp越低、以及凹坑比率越高，球面像差越小。凹坑比率最大的位置和球面像差接近最小的位置彼此相符。
这样，来检测凹坑电平Lp、写电平Lw或读电平Lr，以获得凹坑比率，并确定球面像差，以便最大化凹坑比率，使球面像差的量被最小化。
附带地，图5A中示出了用于获得凹坑电平Lp、写电平Lw和读电平Lr的示例的电路20。代替电路20，如图5B所示的峰值保持电路(或底值保持电路)25可被安装在记录特征分析单元5中。当使用峰值保持电路(或底值保持电路)25时，使得LPF 21变得多余，应当被省略。
如图4E中所示，当检测的信号S5具有正极性时，可使用峰值保持电路，而当检测的信号S5具有负极性时，可以使用底值保持电路。也就是说，峰值保持电路(底值保持电路)25可以在由输入至峰值保持电路(底值保持电路)25的每个定时信号T确定的每个预定的定时，保持每个凹坑电平Lp、写电平Lw和读电平Lr。
当使用非多个类型的记录脉冲代替图4C中所示的记录脉冲RP时，如图5C中所示，仅使用取样/保持电路22，使得LPF 21变得多余。非多个类型的记录脉冲的波形没有多脉冲Mp，于是图4D中所示的高频成分在检测的信号中是低的，从而取样并保持检测信号的电平，以获得每个电平Lp、Lw和Lr。
下面，将描述球面像差与记录功率Pr之间的相互关系。
图7示出了球面像差与用于形成凹坑所需的记录功率之间的相互关系，从该凹坑获得恒定β值、恒定调制或恒定不对称性，也就是说，一个凹坑实现一个恒定标准。
如图7中所示的，当球面像差最小时，记录功率最小。也就是说，最小化球面像差，使得记录功率的使用最大化，从而使得即使当使用微弱的记录功率，也可以形成良好的凹坑。
如上所述，分析与每个参数有关的每个记录特性，使获得能够最小化球面像差的条件。具体地说，再现通过测试记录形成的凹坑，获得包括抖动、β值、不对称性、调制等的参数，以及当抖动被最小化，β值、不对称性、调制被最大化时，球面像差被最小化。
另外，作为参数中记录凹坑时获得的凹坑电平与凹坑比率，当凹坑电平被最小化、且凹坑比率被最大化时，球面像差被最小化。
然后，根据参数确定球面像差的最佳校正量，以便最小化球面像差，并基于确定的球面像差的量来控制球面像差校正单元7，使球面像差被最小化。
下面，将描述球面像差的校正量的确定处理。附带地，记录特征分析单元5和系统控制单元6主要执行所述的确定处理。作为球面像差量的确定处理，下面顺序描述两种可被应用的处理。
(第一处理)现在将参考图8描述确定球面像差的校正量的第一处理。
首先，系统控制单元6确定是否记录准备被完成(步骤S1)。例如，当系统控制单元6检测到操纵信息记录系统1的用户将光盘D作为将被记录的对象装到信息记录系统1和/或发布记录命令时，系统控制单元6确定记录准备被完成(步骤S1中的“是”)。
系统控制单元6然后控制读取器2，以使读取器2在光盘D的记录表面上预先形成的测试记录区上方移动(步骤S2)。作为测试记录区，例如可以使用预先在光盘D的记录区上形成的PCA(功率校准区)，该PCA用于校准光束9的功率。
系统控制单元6首先设置球面像差的校正量为初始量(步骤S3)。该球面像差的初始量是根据实验结果等预先设置的，例如存储在系统控制单元6中的ROM中的值。系统控制单元6根据球面像差的初始量产生控制信号S3，以便把产生的控制信号S3提供给球面像差校正单元7。然后，当开始测试记录时，球面像差校正单元7根据球面像差的初始量执行球面像差的校正。
系统控制单元6然后在光盘D的测试记录区上执行测试记录(步骤S4)。也就是说，系统控制单元6根据预先准备的测试记录信号控制读取器2，从而将光束9照射到光盘的记录表面的测试记录区上，从而测试记录数据包括在其上形成的凹坑。
附带地，在可以任意设置测试记录信号、但存在适于测量每个参数的预定测试记录信号的情况下，最好使用预定的测试记录信号。也就是说，当分别存在适于测量抖动的预定测试记录信号和适于测量β值的预定测试记录信号时，最好使用这些测试记录信号，来执行测试记录。
系统控制单元6确定是否在需要的球面像差量的范围内完成测试记录(步骤S5)。然后，所需要的球面像差量的范围示出获得目标参数的特征所需要的量。
例如，当使用抖动作为目标参数时，如图3中所示，当抖动最小时，球面像差最小。那么，系统控制单元6在包括抖动的最小值的范围内，改变在步骤S3中设置的球面像差的量，从而执行测试记录。
同样地，当使用β值作为目标参数时，如图3中所示，系统控制单元6在包括最大β值的范围内，改变在步骤S3中设置的球面像差的量，而执行测试记录。附带地，图3中所示的每个参数与球面像差之间的相互关系可以在一定精度范围内通过实验预先获得，以便确定改变球面像差的校正量的限度，使系统控制单元6进行在确定的限度内改变球面像差的校正量的处理。
然后，当系统控制单元6在所需的球面像差校正量内结束测试记录时(步骤S5的“是”)，系统控制单元6控制记录特征分析单元5再现测试记录的数据，并分析相应于作为目标参数的至少一个参数的至少一个特征(步骤S6)。具体地说，系统控制单元6控制记录特征分析单元5再现测试记录的数据，以测量相应于与球面像差有关的至少一个参数的至少一个特征，该参数包括抖动、β值、调制和不对称性等。
对于使用抖动和/或β值作为目标参数的情况，测量结果如图3中所示。
系统控制单元6根据测量结果确定最佳球面像差校正量(步骤S7)。例如，当使用抖动作为目标参数时，系统控制单元6确定在步骤S6中获得的抖动特征中抖动最小的球面像差的校正量作为球面像差的最佳校正量。当使用β值作为目标参数时，系统控制单元6确定在步骤S6中获得的β值特征中β值最大的球面像差的校正量作为球面像差的最佳校正量。然后，完成球面像差的最佳校正量的处理。确定的球面像差的最佳校正量被存储在系统控制单元6的存储器中。
确定球面像差的最佳校正量之后，当系统控制单元6从用户收到记录命令时，该系统控制单元6把相应于存储的球面像差的最佳校正量的控制信号S3提供给球面像差校正单元7，从而将信息位记录到光盘D的记录表面上，同时校正光束9中的球面像差。
因为在光盘D被实际装到信息记录系统1、以将信息位记录到光盘D时，确定球面像差的最佳校正量，光束9中的球面像差被优化校正，这样，可以按良好条件将信息记录到光盘D上。
(第二处理)现在，将参考图9描述确定球面像差的校正量的第二处理。
完成测试记录之后，第一处理再现测试记录数据，以根据再现的测试记录数据测量目标参数的特征，从而基于测量的目标参数的特征，来确定球面像差的最佳校正量。
相反，在该第二处理中，系统控制单元6测量执行测试记录时诸如凹坑电平和/或凹坑比率之类的目标参数的特征，以基于测量的目标参数的特征，来确定球面像差的最佳校正量。
如图9中所示，步骤S11至步骤S14的处理与图8中所示的步骤S1至步骤S4的处理相同，因此省略这些处理的描述。
在第二处理中，如图9所示，当在步骤S14执行测试记录时，系统控制单元6根据从通过测试记录形成的凹坑反射的光，测量凹坑电平Lp、以及读电平Lr与写电平Lw中的至少一个(步骤15)。系统控制单元6确定是否在所需的球面像差的量的范围内完成测试记录(步骤S16)。然后，与第一处理相似，所需的球面像差的量的范围显示出用于获得目标参数的特征所需的量。
例如，当使用凹坑电平作为目标参数时，如图6A中所示，球面像差的量被设置在包括最小凹坑电平的范围内，而当使用凹坑比率作为目标参数时，如图6B中所示，球面像差的量被设置在包括最大凹坑比率的范围内。
然后，当系统控制单元6在所需的球面像差校正量内结束测试记录时(步骤S16的“是”)，在测试记录结束时已获得测试记录过程中测量的凹坑电平Lp与读电平Lr和写电平Lw中的至少一个的特征。系统控制单元6根据这些获得的特征，确定球面像差的最佳校正量，以便最小化凹坑电平Lp(参考图6A)，或最大化凹坑比率(参考图6B)。结果，可以基于测试记录过程中获得的参数的特征，来确定球面像差的最佳校正量。
测试记录完成之后，第一处理再现测试记录数据，以根据再现的测试记录数据来测量目标参数的特征。相反，第二处理在测试记录过程中测量目标参数的特征，这样，在测试记录结束时已经获得目标参数的特征，使得可以在测试结束之后立刻确定球面像差的最佳校正量。
如上所述，在第二实施例中，可以使用具有任何系统和结构的任何球面像差校正单元7。下面解释球面像差校正单元的示例。
图10A典型地说明了上述液晶类型的球面像差校正单元7a。该球面像差校正单元7a被安插在作为光源的激光二极管之间，并被置于光束路径上。
也就是说，球面像差校正单元7a包括多个环型排列地置于光束路径中的液晶区A、B和C；提供给液晶区A、B和C的可变电压Va、Vb和Vc；以及连接至可变电压Va、Vb和Vc、以及系统控制单元7的控制单元55。
也就是说，球面像差校正单元7a的该控制单元55用于根据来自系统控制单元7的控制信号S3，分别控制提供给液晶区A、B和C的可变电压Va、Vb和Vc，以便使通过液晶区A、B和C传送的光束9的相位改变，从而校正光束9的球面像差。例如，这种类型的球面像差校正单元被公开在日本专利公开(KOKAI)第HEI10-269611和第2002-15454中。
图10B概略地说明了上述光学元件类型的球面像差校正单元7b。
该球面像差校正单元7b具有置于激光二极管60与反光镜61之间的光束路径中的准直透镜63，以及用于沿光束路径方向移动地支持准直透镜63的致动器64。
也就是说，从光源60照射的光束被输入至准直透镜63，以被转换为准直光束，于是准直光束9被反光镜反射到光盘D(物镜62)。反射的光束9被输入至物镜62，以聚焦到光盘D上。
如厚度误差等在来自光盘D的反射光中引起第一球面像差的情况下，致动器64控制准直透镜63沿图10B中箭头所示的光束路径移动，从而产生具有与已在光束9中引起的第一球面像差的特征相反的第二球面像差。也就是说，致动器64使准直透镜63在光束9中发生第二球面像差的位置移动，从而基本上抵消反射光中的第一球面像差和光束9中的第二球面像差。
例如，该种类型的球面像差校正单元被公开在日本专利公开(KOKAI)第2001-236674中。
如上所述，根据第二实施例的球面像差校正单元7执行关于光盘的测试记录，以根据测试记录获得相应于与球面像差有关的至少一个参数的至少一个特征。球面像差校正单元7确定球面像差的最佳校正量，以便最小化球面像差，从而根据最佳校正量，来校正球面像差，在实际记录信息之前执行测试记录，使得在执行实际信息记录的环境中合适地校正球面像差，使得可以高精度地将信息记录到光盘上。
另外，如图7中所示的，在最佳球面像差量记录信息位，也就是说，最小球面像差量允许有效使用记录功率，即使在较微弱的记录功率量的情况下，也可以形成精确的凹坑。
将来速率越快，精确形成凹坑所需的记录功率越大。然而，在第二实施例中，以最佳球面像差执行信息的记录使得记录功率减小，这样，就增加了相对于控制光束的产生的激光二极管的最大功率的余量。另外，可以防止在记录过程中、激光二极管或整个信息记录系统的温度增加。
虽然已经说明了本发明的优选实施例，本领域的技术人员会明白，本发明不限与所述的优选实施例，在不脱离所附的权利要求所限定的本发明的实质和范围的前提下，可以进行各种变化和修改。
权利要求
1.一种球面像差校正装置，其特征在于，该球面像差校正装置包括测试记录单元(50(2，4，8))，用于在光记录介质上执行测试记录；特征获取单元(51(5，6))，用于获得相应于通过测试记录的参数的特征，该参数与球面像差有关；校正量确定单元(52(6))，用于根据所述参数的特征，确定球面像差的最佳校正量，以便最小化球面像差；以及球面像差校正单元(53(7))，用于根据所述球面像差的最佳校正量，来校正球面像差。
2.如权利要求1所述的球面像差校正装置，其特征在于，所述特征获取单元包括再现部件(6)，用于再现通过测试记录而记录的信号，以产生再现的信号；以及获得部件(5)，用于根据所述再现的信号而获得所述特征。
3.如权利要求1所述的球面像差校正装置，其特征在于，所述参数包括抖动、β值、调制、不对称性和记录功率中的至少一个。
4.如权利要求1所述的球面像差校正装置，其特征在于，所述特征获取单元用于获得相应于在所述测试记录单元执行测试记录时的参数的特征。
5.如权利要求4所述的球面像差校正装置，其特征在于，所述特征获取单元用于根据在所述测试记录单元执行测试记录时从光记录介质反射的光，来检测凹坑电平，作为所述参数，并获得凹坑电平的特征。
6.如权利要求4所述的球面像差校正装置，其特征在于，所述特征获取单元用于根据在所述测试记录单元执行测试记录时从光记录介质反射的光，来检测凹坑电平、以及读电平、写电平和记录功率中的至少一个，并获得凹坑比率的特征，所述参数包括凹坑电平、读电平、写电平和记录功率，凹坑比率表示读电平或写电平中的一个与凹坑电平的比率。
7.如权利要求1所述的球面像差校正装置，其特征在于，所述测试记录单元在执行测试记录时，在包括所述参数的预定值的范围内，改变球面像差的量，所述参数的预定值被设置为与最小球面像差相对应。
8.如权利要求7所述的球面像差校正装置，其特征在于，所述参数包括抖动，以及所述抖动的预定值为最小值。
9.如权利要求7所述的球面像差校正装置，其特征在于，所述参数包括β值，以及所述β值的预定值为最大值。
10.如权利要求1所述的球面像差校正装置，其特征在于，所述测试记录单元用于在光记录介质上记录信息之前，立即执行测试记录。
11.一种信息记录系统，其特征在于，该信息记录系统包括球面像差校正装置，包括测试记录单元，用于在光记录介质上执行测试记录，特征获取单元，用于根据测试记录，获得相应于参数的特征，该参数与球面像差有关，校正量确定单元，用于根据所述参数的特征，确定球面像差的最佳校正量，以便最小化球面像差，以及球面像差校正单元，用于根据所述球面像差的最佳校正量，来校正球面像差；以及控制单元(6)，用于在检测到光记录介质被装到信息记录系统时，控制球面像差校正装置来校正球面像差。
12.一种球面像差校正方法，其特征在于，所述球面像差校正方法包括以下步骤在光记录介质上执行测试记录；获得相应于通过该测试记录的参数的特征，该参数与球面像差有关；根据所述参数的特征，确定球面像差的最佳校正量，以便最小化球面像差；以及根据所述球面像差的最佳校正量，来校正球面像差。
全文摘要
在一种球面像差校正装置中，测试记录单元(50(2，4，8))，用于在光记录介质上执行测试记录。特征获取单元(51(5，6))，用于获得相应于通过测试记录的参数的特征。该参数与球面像差有关。校正量确定单元(52(6))，用于根据所述参数的特征，确定球面像差的最佳校正量，以便最小化球面像差。球面像差校正单元(53(7))，用于根据所述球面像差的最佳校正量，来校正球面像差。
文档编号G11B7/125GK1480931SQ0317869
公开日2004年3月10日 申请日期2003年7月22日 优先权日2002年7月25日
发明者佐佐木仪央, 田中久生, 中川秀纪, 生, 纪 申请人:日本先锋公司