光盘设备、其控制方法、程序和信息存储介质的制作方法
【技术领域】
[0001]本公开涉及读取记录在诸如⑶、DVD和蓝光盘(注册商标)之类的光盘介质中的信息的光盘设备、其控制方法、程序和信息存储介质。
【背景技术】
[0002]近年来，各种类型光盘介质用作信息记录介质。为了读取记录在这种光盘介质中的信息，使用光盘设备。光盘设备包括将光聚焦在光盘介质上的物镜(objective lens)。光盘设备接收通过光盘介质由物镜聚焦的光的反射获得的反射光，以由此读取记录在光盘介质中的信息。
[0003]当光盘设备读取来自光盘介质的信息时，需要实施物镜的球面像差校正。例如，在光拾取器中，提供准直器透镜以校正将光聚焦在光盘介质上的物镜的球面像差。通过适当调整该准直器透镜的位置，可以校正物镜的球面像差，并且可以以高精确度将来自物镜的光聚焦在光盘介质上。
[0004]光盘设备内部地将准直器透镜的位置管理为称为SA参数的参数值。该SA参数的最优值依赖于作为读取目标的光盘介质的类型、个体差异等改变。因此，当在光盘设备中重新设置光盘介质时，该设备在开始信息的读取之前执行SA参数的调整处理(例如参考日本专利特开第2003-16660号)。该调整处理是以下控制。具体地，首先，光盘设备在可设置范围中改变SA参数的设置值。另外，光盘设备试图在其中设置不同设置值的三种或者更多种状态中的每个状态下从介质读取信息，并且在那时评估信息读取的精确度。然后，光盘设备计算这种SA参数的设置值，以通过使用与多个设置值的每个对应获得的读取精确度的评估值，允许增强信息读取的精确度，并且将该计算出的值设置为SA参数的值。
【发明内容】
[0005]SA参数的最优值不仅仅由光盘介质的个体差异确定。例如，即使利用相同的光盘介质，SA参数的最优值在光盘介质具有多个数据记录层的情况下，对于每个数据记录层不同。另外，由于物镜的温度依赖特性，SA参数的最优值在使用期间也依赖于光盘设备的温度改变而改变。因此，光盘设备应当在不同类型的定时(诸如当改变作为读取目标的数据记录层时)重新计算SA参数的最优值。然而，采用一定量的时间来执行类似上面描述那样的SA参数的调整处理。因此，迫使用户在每次改变作为读取目标的数据记录层时和在其它场合下等待是否执行调整处理。
[0006]已经鉴于以上问题作出本公开。需要本公开提供可以以比较短的时间执行物镜的球面像差校正的光盘设备、其控制方法、程序和信息存储介质。
[0007]根据本公开的实施例，提供一种读取光盘介质中记录的信息的光盘设备。该光盘设备包括:物镜，配置为将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，配置为根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；以及评估值测量部分，配置为测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。该光盘设备还包括控制部分，配置为执行这样的调整处理，在该调整处理中，控制部分与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量，并且基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。
[0008]根据本公开的另一实施例，提供光盘设备的控制方法，该光盘设备包括:物镜，将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。该控制方法包括:与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量；以及执行这样的调整处理，在该调整处理中，基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。
[0009]根据本公开的另一实施例，提供控制光盘设备的程序，该光盘设备包括:物镜，将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。用于计算机的该程序包括:与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量；以及执行这样的调整处理，在该调整处理中，基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。
[0010]根据本公开的另一实施例，提供用于程序的计算机可读信息存储介质，包括控制光盘设备的程序，该光盘设备包括物镜，将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。用于计算机的该程序包括:与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量；以及执行这样的调整处理，在该调整处理中，基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。
【附图说明】
[0011]图1是示出根据本公开实施例的光盘设备的配置示例的框图；
[0012]图2是示出根据本公开实施例的光盘设备的光拾取器的内部配置示例的概述图；
[0013]图3是示出SA参数的设置值和评估值之间的关系的一个示例的图；
[0014]图4示出现有技术的数据记录层改变控制的一个示例的图；
[0015]图5是示出根据本实施例的由光盘设备实施的数据记录层改变控制的一个示例的图；
[0016]图6是示出准直器透镜位置的时间改变的图；
[0017]图7是示出评估值的测量结果的一个示例的图；
[0018]图8是示出准直器透镜位置和评估值之间的关系的一个示例的图；以及
[0019]图9是示出根据实施例的由光盘设备执行的SA参数调整处理的流程的一个示例的流程图。
【具体实施方式】
[0020]下面将基于附图详细描述本公开的实施例。
[0021]根据本公开的一个实施例的光盘设备I是读取光盘介质中记录的信息的设备。如图1所示，其包括介质支撑器11、主轴马达12、光拾取器13、馈送马达15、驱动电路16、信号输出电路17、伺服信号处理器18、记录信号处理器19和控制部分20。
[0022]作为由光盘设备I信息读取的目标的光盘介质M通过堆叠其中记录信息的数据记录层和从其两侧保护数据记录层的保护层形成。在下文中，在其上记录数据的数据记录层的表面将被称为单表面。光盘设备I可以这样被配置，以能够不仅读取光盘介质M中记录的信息，而且能够向光盘介质M写入信息。另外，光盘设备I可以这样被配置，以能够读取诸如CD、DVD和蓝光盘之类的多个类型的光盘介质M中记录的信息。
[0023]介质支撑器11可旋转地支撑光盘介质M。该介质支撑器11通过从主轴马达12传送的力旋转光盘介质M。
[0024]光拾取器13向光盘介质M福射激光，并且检测通过光盘介质M由被福射光的反射而获得的反射光。另外，光拾取器13根据检测到的反射光输出输出信号。图2是示出光拾取器13的内部配置的一个示例的图。在该图的示例中，光拾取器13包括光发射元件31、偏振分束器32、球面像差校正机构33、升高镜(rising mirror) 35、物镜36、光电检测器37和物镜驱动器38。球面像差校正机构33包括准直器透镜33a和准直器透镜驱动器33b。
[0025]光发射元件31是输出具有预定波长的激光的半导体激光器元件。从光发射元件31发射的输出光经过偏振分束器32和准直器透镜33a，然后由升高镜35反射。由升高镜35反射的输出光聚焦在离开物镜36物镜36的焦距F的位置上，并且由光盘介质M反射。
[0026]从由光盘介质M反射产生的反射光通过物镜36，然后由升高镜35反射，以通过偏振分束器32朝光电检测器37引导。光电检测器37由多个光接收元件形成。当来自光盘介质M的反射光到达这些光接收元件时，光电检测器37根据由多个光接收元件中的每个接收到的光的强度输出信号作为输出信号。
[0027]球面像差校正机构33是校正物镜36的球面像差的机构。准直器透镜驱动器33b由致动器等形成，并且沿着激光的光轴方向前后地驱动准直器透镜33a。通过准直器透镜驱动器33b的准直器透镜33a沿着光轴方向的移动改变物镜36的球面像差量。通过适当调整准直器透镜33a的位置，可以校正物镜36的球面像差。
[0028]物镜驱动器38由致动器等形成，并且在两个方向(光盘介质M的径向方向(在下文中称为寻迹方向