专利名称：光储存读写装置与其所执行的射频信号质量检测方法
技术领域：
本发明为一种光储存读写装置与其所执行的射频信号质量检测方法，尤指盘片刻录机与其所执行的射频信号质量检测方法。
背景技术：
请参见图1，其为光盘刻录机中光学读写头1的构造示意图，半导体激光模块11发出激光，经过透镜14以及物镜15的折射后照射在光盘片2上，并经光盘片2反射回到光学读写头1由光侦测器12接收。当光盘刻录机对光盘片2进行写入时，是以半导体激光模块11发出特定功率范围的激光将在光盘片2的烧录材料上刻下记号，意即，进行烧录的激光功率有一限制区间，过高或者过低都容易造成写入质量不佳甚至写入动作失败。而为因应不同光盘片2的特性变化，现今的光盘刻录机皆需要进行一最佳功率控制(Optimum Power Control，简称OPC)的程序来进行烧录功率测试，由此获得最佳激光烧录功率所对应的输入电功率。
请参见图2，为现行一般的最佳功率控制步骤流程示意图。光盘刻录机于进行烧录动作前，便会对一待烧录的光盘片进行一测试烧录，该测试烧录以不同输入电功率使半导体激光模块11在光盘片上的一测试区域内进行试写，然后再对该测试区域进行读取，然后再将读取结果做一比较后，选取决定一对应于该待烧录的光盘片的最佳激光烧录功率所对应的输入电功率，作为光盘刻录机烧录该光盘片2时，提供给半导体激光模块11最佳烧录激光功率的输入电功率。
而目前光驱所使用最佳功率控制(OPC)的过程中，大多利用光学读写头1所产生的一射频信号(RF)来进行最佳烧录功率的决定。请参见图3，其为射频信号(RF)的一β参数的定义示意图，基本上射频信号(RF)为一交流电压信号，而β＝|(A1-A2)/(A1+A2)|，因此β参数便是代表该射频信号(RF)相对于一参考电压的对称性。而光盘片上便载有一最佳β参数来供光驱参考，当该测试烧录以不同的输入电功率使半导体激光模块11在光盘片上的测试区域内进行试烧，然后再对该测试区域进行读取后所得的射频信号(RF)，然后再将相对应激光烧录功率所产生的不同射频信号(RF)β参数与最佳β参数进行比较，便可选取到一最佳激光烧录功率所对应的输入电功率。
但是，如上所述，β参数仅是表达出射频信号(RF)的对称性，并不全然可代表射频信号(RF)的信号质量，因此如何找到一个可以确实反应射频信号(RF)信号质量的参数，用以提供给最佳功率控制进行参考，进而改善常用手段的缺陷，为本发明的主要目的。
发明内容
本发明的目的在于提供光储存读写装置与其所执行的射频信号质量检测方法。
本发明提供的一种射频信号质量检测方法，应用于一光储存读写装置与一光储存媒介之间，该光储存读写装置读取该光储存媒介上一第一区域与一第二区域所记录数据并转成一第一射频信号与一第二射频信号，该检测方法包含下列步骤接收该第一射频信号与该第二射频信号并分别进行一维特比译码程序；侦测并记录该维特比译码过程中相对应该第一射频信号与该第二射频信号所分别产生的一第一路径赋距累加速度与一第二路径赋距累加速度；以及根据该第一路径赋距累加速度与该第二路径赋距累加速度的较小者而选择出该第一射频信号与该第二射频信号的信号中质量较佳者。
所述的射频信号质量检测方法，其中该第一区域与该第二区域位于该光储存媒介的一测试区域，该测试区域用以供该光储存读写装置以不同写入功率在该第一区域与该第二区域进行测试写入。
所述的射频信号质量检测方法，其中侦测该第一路径赋距累加速度与该第二路径赋距累加速度的方法包含下列步骤侦测该第一射频信号的正确路径赋距累加值的增加速度；以及侦测该第二射频信号的正确路径赋距累加值的增加速度。
所述的射频信号质量检测方法，其中侦测该第一路径赋距累加速度与该第二路径赋距累加速度的方法包含下列步骤侦测该第一射频信号的最大路径赋距累加值的增加速度；以及侦测该第二射频信号的最大路径赋距累加值的增加速度。
所述的射频信号质量检测方法，其中侦测该第一路径赋距累加速度与该第二路径赋距累加速度的方法包含下列步骤观察该第一射频信号的路径赋距溢位旗标(Path Metric OverflowFlag)在一预设时间内举起的次数来代表该第一路径赋距累加速度；以及观察该第二射频信号的路径赋距溢位旗标在该预设时间内举起的次数来代表该第二路径赋距累加速度。
所述的射频信号质量检测方法，其中还包含下列步骤因应射频信号中质量较佳者而对应出一较佳写入功率。
本发明提供的一种光储存读写装置，其读取一光储存媒介上所记录数据，该读写装置包含一光学读写头，其读取该光储存媒介上一第一区域与一第二区域所记录数据并进行光电转换；一射频放大器，电连接于该光学读写头，其接收该光学读写头所输出的信号来产生相对应该第一区域与该第二区域的一第一射频信号与一第二射频信号；以及一译码器，电连接于该射频放大器，接收该第一射频信号与该第二射频信号并分别进行一维特比译码程序，并侦测与记录该维特比译码过程中相对应该第一射频信号与该第二射频信号所分别产生的一第一路径赋距累加速度与一第二路径赋距累加速度，然后根据该第一路径赋距累加速度与该第二路径赋距累加速度的较小者而选择出该第一射频信号与该第二射频信号的信号中质量较佳者。
所述的光储存读写装置，其中该第一区域与该第二区域位于该光储存媒介的一测试区域，该测试区域用以供该光储存读写装置以不同写入功率在该第一区域与该第二区域进行测试写入。
所述的光储存读写装置，其中该译码器中还包含有一路径赋距溢位旗标，其观察该第一射频信号的路径赋距溢位旗标在一预设时间内举起的次数来代表该第一路径赋距累加速度以及观察该第二射频信号的路径赋距溢位旗标在该预设时间内举起的次数来代表该第二路径赋距累加速度，最后因应射频信号中质量较佳者而对应出一较佳写入功率。
本发明提供的一种射频信号质量检测方法，应用于一光储存读写装置与一光储存媒介之间，该光储存读写装置读取该光储存媒介上一复数个区域所记录数据并转成相对该些区域的复数个射频信号，该检测方法包含下列步骤接收该些射频信号并分别进行一维特比译码程序；侦测并记录该维特比译码该些射频信号过程中所产生的复数个路径赋距累加速度度；以及根据该些路径赋距累加速度的较小者而选择出该些射频信号的信号中质量较佳者。
图1为光盘刻录机中光学读写头的构造示意图。
图2为现行一般的最佳功率控制步骤流程示意图。
图3为一射频信号(RF)的一β参数的定义示意图。
图4为本发明在光盘刻录机中所发展出来关于检测射频信号质量的较佳实施例功能方块示意图。
图5为本发明在光盘刻录机中所发展出来关于检测射频信号质量的较佳实施例方法流程示意图。
具体实施例方式
请参见图4，其为本发明在光盘刻录机中所发展出来关于检测射频信号质量的较佳实施例功能方块示意图，光盘刻录机中的光学读写头40对待烧录盘片中已完成试烧的测试区域(本图未示出)进行光电转换，再透过一射频放大器41作用后产生一射频信号(RF)，然后再将射频信号送入后续的译码器进行译码，而本发明的译码器42为一利用部分响应最大似然(Partial Response Maximum Likelihood)技术来进行译码的维特比译码器(Viterbi decoder)，其中射频信号(RF)送入分支赋距计算电路(Branch MetricCalculating Circuit)420进行分支赋距(Branch Metric)的计算，然后将计算出的复数个分支赋距值输出至累加-比较-选择单元421(Adder-Comparator-Selector Unit)来分别进行累加运算而得路径赋距(PathMetric)累加值，并将路径赋距(Path Metric)累加值储存至一路径赋距记忆单元(Path Metric Memory Unit)422。至于路径记忆单元(Path Memory)423储存有当时与前几个时间点的读取信号x的可能状态变化的路径，最后经由累加-比较-选择单元421(Adder-Comparator-Selector Unit)根据路径赋距记忆单元422中所储存的最小分支赋距累加值，进而输出路径选择信号来使路径记忆单元(Path Memory)423决定出正确的状态变化的路径而还原出正确的双准位数字数据。
由于路径赋距记忆单元(Path Metric Memory Unit)422的储存值也回传至该累加-比较-选择单元421以进行下一次的累加运算，而为了避免累加值不断增加而使路径赋距记忆单元(Path Metric Memory Unit)422产生溢位(overflow)的现象，因此在累加-比较-选择单元421中会进行归一化动作(Normalize)，用以当最大路径赋距累加值(Maximum Path Metric Value)超过一门坎值时，对所有累加值同时进行一向下平移的归一化动作，即同时减去一个固定值而避免累加值过大。
而在上述技术手段中，本发明观察出累加-比较-选择单元525中会进行归一化动作(Normalize)，用以避免路径赋距累加值过大。因为在无噪声的理想状态下，正确路径赋距累加值(Correct Path Metric Value)将会是0，而最大路径赋距累加值(Maximum Path Metric Value)将会维持固定。另外在有噪声的一般状态下，正确路径赋距累加值(Correct Path Metric Value)是会持续增加，而最大路径赋距累加值(Maximum Path Metric Value)也是会持续增加，两者都是随着噪声的强度增大而增快其累加速度。如此一来，本发明便发展出利用侦测正确路径赋距累加值(Correct Path Metric Value)或最大路径赋距累加值(Maximum Path Metric Value)的累加速度来判断射频信号质量的方法。
本发明的主要精神在于对待烧录盘片中每个不同烧录功率所烧录而成的测试区域(本图未示出)所读出的射频信号进行译码，并观察正确路径赋距累加值(Correct Path Metric Value)或最大路径赋距累加值(MaximumPath Metric Value)的累加速度，进而利用路径赋距累加速度来区分那一个射频信号的信号质量最佳，进而决定出一最佳烧录功率。
请参见图5，其为本发明在光盘刻录机中所发展出来关于检测射频信号质量的较佳实施例方法流程示意图，其可应用于DVD光盘刻录机等各类型光储存读写装置与DVD光盘等各各类型光储存媒介之间，该光储存读写装置在对该光储存媒介进行数据写入前皆会进行最佳功率控制(Optimum Power Control，简称OPC)的程序，因此测试区域内便会用不同写入功率不同区域上记录数据，然后再对不同区域进行数据读取而产生出相对应不同写入功率的多个射频信号，为方便说明，以下就以两个写入功率为例来进行说明。
本例的光储存媒介的测试区域包含有一第一区域与一第二区域，该第一区域与该第二区域上分别以第一写入功率与第二写入功率在其上写入数据，然后光储存读写装置再读取第一区域与第二区域上所记录的数据并转成一第一射频信号与一第二射频信号送出，而后续的维特比译码器42在接收该第一射频信号与该第二射频信号便分别进行维特比译码程序，然后再侦测并记录该维特比译码过程中相对应该第一射频信号与该第二射频信号所分别产生的一第一路径赋距累加速度与一第二路径赋距累加速度，然后根据该第一路径赋距累加速度与该第二路径赋距累加速度的较小者来选择出该第一射频信号与该第二射频信号的信号中质量较佳者。举例来说，第一路径赋距累加速度小于该第二路径赋距累加速度，表示第一射频信号质量较第二射频信号质量为佳，进而代表以第一写入功率来对该光储存媒介进行写入可得到较佳效果。
而由于正确路径赋距累加值(Correct Path Metric Value)与最大路径赋距累加值(Maximum Path Metric Value)都是随着噪声的强度增大而增快其累加速度，因此本发明便可利用侦测正确路径赋距累加值(Correct PathMetric Value)或最大路径赋距累加值(Maximum Path Metric Value)的累加速度来判断射频信号质量的方法，而在本例中是以不增加硬件复杂度的方式来完成。
由于路径赋距记忆单元(Path Metric Memory Unit)422将产生溢位(overflow)时会进行归一化动作(Normalize)，于是本发明便增设一路径赋距溢位旗标(Path Metric Overflow Flag)，然后观察该第一射频信号的译码过程中路径赋距溢位旗标(Path Metric Overflow Flag)在一预设时间内举起的次数来代表该第一路径赋距累加速度，并观察该第二射频信号的译码过程中路径赋距溢位旗标在该预设时间内举起的次数来代表该第二路径赋距累加速度，进而找出射频信号中质量较佳者而对应出一较佳写入功率。
综上所述，本发明技术手段在不增加硬件复杂度的情况下，发展出一个可以确实反应射频信号(RF)信号质量的侦测方法，用以提供给最佳功率控制进行参考，进而改善常用手段的缺陷，彻底达成发展本发明的主要目的。但以上所述仅为本创作的较佳实施例而已，并非用以限定本发明的申请专利范围，而本发明技术思想可广泛地被应用于数字激光视盘刻录机、具有录像功能的数字激光视盘录放机等数字影像系统上，因此凡其它未脱离本发明所揭示的精神下所完成的等效改变或修饰，均应包含在本发明的申请专利范围内。
权利要求
1.一种射频信号质量检测方法，应用于一光储存读写装置与一光储存媒介之间，该光储存读写装置读取该光储存媒介上一第一区域与一第二区域所记录数据并转成一第一射频信号与一第二射频信号，该检测方法包含下列步骤接收该第一射频信号与该第二射频信号并分别进行一维特比译码程序；侦测并记录该维特比译码过程中相对应该第一射频信号与该第二射频信号所分别产生的一第一路径赋距累加速度与一第二路径赋距累加速度；以及根据该第一路径赋距累加速度与该第二路径赋距累加速度的较小者而选择出该第一射频信号与该第二射频信号的信号中质量较佳者。
2.如权利要求1所述的射频信号质量检测方法，其特征在于，其中该第一区域与该第二区域位于该光储存媒介的一测试区域，该测试区域用以供该光储存读写装置以不同写入功率在该第一区域与该第二区域进行测试写入。
3.如权利要求1所述的射频信号质量检测方法，其特征在于，其中侦测该第一路径赋距累加速度与该第二路径赋距累加速度的方法包含下列步骤侦测该第一射频信号的正确路径赋距累加值的增加速度；以及侦测该第二射频信号的正确路径赋距累加值的增加速度。
4.如权利要求1所述的射频信号质量检测方法，其特征在于，其中侦测该第一路径赋距累加速度与该第二路径赋距累加速度的方法包含下列步骤侦测该第一射频信号的最大路径赋距累加值的增加速度；以及侦测该第二射频信号的最大路径赋距累加值的增加速度。
5.如权利要求1所述的射频信号质量检测方法，其特征在于，其中侦测该第一路径赋距累加速度与该第二路径赋距累加速度的方法包含下列步骤观察该第一射频信号的路径赋距溢位旗标在一预设时间内举起的次数来代表该第一路径赋距累加速度；以及观察该第二射频信号的路径赋距溢位旗标在该预设时间内举起的次数来代表该第二路径赋距累加速度。
6.如权利要求1所述的射频信号质量检测方法，其特征在于，其中还包含下列步骤因应射频信号中质量较佳者而对应出一较佳写入功率。
7.一种光储存读写装置，其读取一光储存媒介上所记录数据，该读写装置包含一光学读写头，其读取该光储存媒介上一第一区域与一第二区域所记录数据并进行光电转换；一射频放大器，电连接于该光学读写头，其接收该光学读写头所输出的信号来产生相对应该第一区域与该第二区域的一第一射频信号与一第二射频信号；以及一译码器，电连接于该射频放大器，接收该第一射频信号与该第二射频信号并分别进行一维特比译码程序，并侦测与记录该维特比译码过程中相对应该第一射频信号与该第二射频信号所分别产生的一第一路径赋距累加速度与一第二路径赋距累加速度，然后根据该第一路径赋距累加速度与该第二路径赋距累加速度的较小者而选择出该第一射频信号与该第二射频信号的信号中质量较佳者。
8.如权利要求7所述的光储存读写装置，其特征在于，其中该第一区域与该第二区域位于该光储存媒介的一测试区域，该测试区域用以供该光储存读写装置以不同写入功率在该第一区域与该第二区域进行测试写入。
9.如权利要求7所述的光储存读写装置，其特征在于，其中该译码器中还包含有一路径赋距溢位旗标，其观察该第一射频信号的路径赋距溢位旗标在一预设时间内举起的次数来代表该第一路径赋距累加速度以及观察该第二射频信号的路径赋距溢位旗标在该预设时间内举起的次数来代表该第二路径赋距累加速度，最后因应射频信号中质量较佳者而对应出一较佳写入功率。
10.一种射频信号质量检测方法，应用于一光储存读写装置与一光储存媒介之间，该光储存读写装置读取该光储存媒介上一复数个区域所记录数据并转成相对该些区域的复数个射频信号，该检测方法包含下列步骤接收该些射频信号并分别进行一维特比译码程序；侦测并记录该维特比译码该些射频信号过程中所产生的复数个路径赋距累加速度度；以及根据该些路径赋距累加速度的较小者而选择出该些射频信号的信号中质量较佳者。
全文摘要
本发明为一种光储存读写装置与其所执行的射频信号质量检测方法，该读写装置包含一光学读写头；一射频放大器以及一译码器，其方法应用于一光储存读写装置与一光储存媒介之间，该光储存读写装置读取该光储存媒介上一第一区域与一第二区域所记录数据并转成一第一射频信号与一第二射频信号，该检测方法包含下列步骤接收该第一射频信号与该第二射频信号并分别进行一维特比译码程序；侦测并记录该维特比译码过程中相对应该第一射频信号与该第二射频信号所分别产生的一第一路径赋距累加速度与一第二路径赋距累加速度；以及根据该第一路径赋距累加速度与该第二路径赋距累加速度的较小者而选择出该第一射频信号与该第二射频信号的信号中质量较佳者。
文档编号G11B20/10GK1815575SQ20051000597
公开日2006年8月9日 申请日期2005年2月1日 优先权日2005年2月1日
发明者张佳彦 申请人:建兴电子科技股份有限公司