专利名称：盘记录控制方法及盘记录控制设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种盘记录控制方法及盘记录控制设备，通过在盘介质的轨道中的扇区进行数据记录。
背景技术：
(1)在光盘记录时的缺陷管理处理在光盘介质记录处理中，用于执行在记录时的缺陷管理处理的标准变得更加普通，以便即使在发生由于缺陷，如在光盘介质本身上的刮痕或灰尘所引起的记录操作失败、记录质量的降低等时，保护来自上级设备(higher-leveldevice)所请求的记录数据。
在缺陷管理处理中，当在记录操作期间发生错误或者在记录之后的信息验证操作失败时，执行分配在同一盘上准备的用于替换记录的区域的部分区域(替换后区域)的处理(替换处理)，以将在其中发生失败的区域(替换前区域)中的记录数据记录到该部分区域中。
在替换处理中，当到替换后区域的记录失败或者当到替换后区域的记录之后的验证操作失败时，进一步分配另一替换后区域以再次执行替换记录。同时，执行处理以便与替换前区域和替换后区域之间的替换有关的信息被注册到缺陷管理表中。
也就是，即使发生记录失败，可通过对另一区域执行替换记录来防止记录处理的错误终止和记录数据消失。此外，当下次产生访问注册在缺陷管理表中的地址的请求时，该请求可按照缺陷管理表被用于访问相应的替换后地址的请求所替换。
(2)光盘介质上的区域的检验处理在记录与在上述(1)中所说明的缺陷管理相关的光盘介质中，对于数据记录请求或者随后的盘访问请求来说，由于发生替换处理，可能出现延时。
为了避免这种问题，在记录开始之前预先对光盘介质上的记录区域执行检验刮痕和灰尘的处理(区域健全性检验处理)(例如，参见日本公开号为2001-256649的未审查专利)。
可以通过预先从将要进行记录的区域中排除已经确认存在刮痕或者灰尘的区域，并且分配替换区域来防止发生由于记录处理中的失败所引起的替换处理。
(1)在传统方法中，关于为了避免在记录处理中的失败，而在记录开始之前预先对光盘介质上的记录区域执行检验刮痕和灰尘存在与否的处理，存在如下问题，即需要从上级设备侧发出检验命令以检验刮痕或灰尘，以及还需要改变上级设备的应用程序以装配健全性检验处理。
(2)通常通过利用再生级强度的激光束辐射光盘介质来执行将在记录处理之前执行的对光盘介质上的区域的健全性检验处理。在此情况下，由于检验处理通过与在将实际执行的记录处理时使用的激光强度不同的激光强度来执行，因此难以确定检验刮痕或者灰尘的阀值。相应地，可能出现过量的替换处理或者由于刮痕或者灰尘的检测失败而发生记录延时的问题，这取决于用于确定刮痕或者灰尘的检测阀值的方法。
发明内容
本发明是一种用于通过扇区在带有同心轨道或螺旋轨道的轨道中记录数据和从所述轨道再现数据的盘记录控制方法，包括识别其间对盘介质没有访问请求的时间段的空闲时间识别步骤；区域健全性检验处理步骤，当在空闲时间识别步骤所识别的时间段等于或者大于设定时间段时，在盘介质上识别能够正常记录的区域；和使得存储装置存储在区域健全性检验处理步骤中所识别信息的区域健全性存储步骤。对于这种结构，利用存储在存储装置中的、与在记录处理之前执行的健全性检验处理结果有关的信息来将无记录失败可能的扇区分配作为记录区域，以便能够记录数据而没有记录失败。
本发明进一步包括将信息记录到盘介质上的记录步骤；和当在记录步骤期间，盘介质上的记录位置被识别为不能正常记录的区域时，基于存储在存储装置中的识别信息，来分配替换区域作为记录位置的替换步骤。对于这种结构，当对盘介质没有访问请求时，可在分配的替换区域上有效地执行没有失败的数据记录。
在本发明中，当在区域健全性检验处理步骤期间对该盘介质没有访问请求时，为了响应访问请求，健全性检验处理步骤被中断。对于这种结构，能够降低与来自上级设备的盘访问相关的命令请求的延时。
在本发明中，当在区域健全性检验处理步骤期间，对该盘有访问请求时，根据在区域健全性检验处理步骤终止之前的剩余时间来切换(switch over)是中断区域健全性检验处理步骤，还是不中断区域健全性检验处理步骤。对于这种结构，当剩余时间等于或大于设定时间段时，可以指示中断区域健全性检验处理同时避开上级设备的盘访问请求被延时。
此外，本发明是一种用于通过扇区在带有同心轨道或螺旋轨道的轨道中记录数据的盘记录控制方法，包括识别其间对盘介质没有访问请求的时间段的空闲时间识别步骤；区域健全性检验处理步骤，当在空闲时间识别步骤所识别的时间段等于或者大于设定的时间段时，在盘介质上识别有可能记录失败的区域；和使得存储装置存储在区域健全性检验处理步骤中所识别信息的区域健全性存储步骤。对于这种结构，利用存储在存储装置中的、与在记录处理之前执行的健全性检验处理的结果有关的信息，来将无记录失败可能的扇区分配作为记录区域，以便能够记录数据而没有记录失败。
本发明进一步包括将信息记录到盘介质上的记录步骤；和当在记录步骤期间，盘介质上的记录位置被识别为不能正常记录的区域时，基于存储在存储装置中的识别信息，按照记录失败可能性的升序顺序来分配替换区域作为记录位置的替换步骤。对于这种结构，可以按照优先顺序，执行到低记录失败可能性的区域的记录。
本发明进一步包括将信息记录到盘介质上的记录步骤；和当在记录步骤期间，盘介质上的记录位置被识别为不能正常记录的区域时，基于将要记录的信息的重要性和存储在存储装置中的识别信息，分配替换区域作为记录位置的替换步骤。对于这种结构，可按照基于信息重要性的优先顺序的定义来执行分配。
本发明进一步包括将信息记录到盘介质上的记录步骤；和当在记录步骤期间，盘介质上的记录位置被识别为不能正常记录的区域时，基于自开始搜索新替换区域起的流逝时间和存储在存储装置中的识别信息，来分配替换区域作为记录位置的替换步骤。对于这种结构，能够按照健全性特征和区域分配优先顺序之间关系的定义来执行分配。
本发明进一步包括将信息记录到盘介质上的记录步骤；和根据自接收到记录步骤的可执行指令到执行记录步骤的时间段，来分配替换区域作为记录位置的替换步骤。对于这种结构，能够进一步降低记录处理失败或验证处理失败的可能性。
本发明进一步包括将信息记录到盘介质上的记录步骤；和当在记录步骤期间，盘介质上的记录位置被识别为不能正常记录的区域时，基于将要记录的信息的实时特征的度以及存储在存储装置上的识别信息，来分配替换区域作为记录位置的替换步骤。对于这种结构，通过分配具有对应于实时特征的度的健全性特征的记录区域，盘介质的空间效率能够提高。
在本发明中，用于在区域健全性存储步骤中存储信息的存储装置是光盘介质。对于这种结构，在区域健全性检验处理步骤中所识别的数据能够被高速读写而无需外存储器。
本发明包括在非易失性存储装置中存储在区域健全性检验处理步骤中读取的信息和用于识别从其中读取健全性的盘介质的ID信息的存储步骤。对于这种结构，能够通过ID信息在非易失性存储装置上管理光盘介质信息。
此外，本发明是一种用于通过扇区在带有同心轨道或螺旋轨道的轨道中记录数据的盘记录控制设备，包括识别其间对盘介质没有访问请求的时间段的空闲时间识别装置；区域健全性检验处理装置，当由空闲时间识别装置识别的时间段等于或者大于设定时间段时，识别在盘介质上能够正常记录的区域；和用于存储由区域健全性检验处理装置所识别的信息的区域健全性存储装置。对于这种结构，当对盘介质没有访问请求的时间段等于或大于设定时间段时，识别可以正常记录的区域，并且利用识别信息来将没有记录失败可能的扇区分配为记录区域，以便实现没有记录失败的数据记录。
此外，本发明是一种用于通过扇区在带有同心轨道或螺旋轨道的轨道中记录数据的盘记录控制设备，包括识别其间对盘介质没有访问请求的时间段的空闲时间识别装置；区域健全性检验处理装置，当由空闲时间识别装置识别的时间段等于或者大于设定时间段时，识别在盘介质上具有记录失败可能的区域；和用于使得存储装置存储由区域健全性检验处理装置识别的信息的存储装置。对于这种结构，当没有访问请求的时间段等于或大于设定时间段时，利用在记录处理之前所存储的信息将没有记录失败可能的扇区分配为记录区域，通过识别盘介质上各个区域记录失败的可能性并将该识别信息存储在存储装置中，以便实现没有记录失败的数据记录。
此外，本发明是一种可在其上记录信息的光盘介质，包括关于其本身的各个区域的记录失败可能性的信息。对于这种结构，在健全性检验处理步骤识别的有关记录失败可能性的信息能被高速读写而无需外存储器。
根据本发明，即使当在光盘介质上的记录区域上存在刮痕或灰尘时，记录失败的可能性能够被降低，通过在记录前预先检验灰尘和在记录区域分配时访问检验结果，能够执行有效的缺陷管理记录。此外，能够执行针对记录区域中的刮痕或灰尘的检验处理而不会延迟来自上级设备的请求。而且，通过执行根据记录数据的类型，如需要实时特征的AV数据的记录或者需要低实时特征的数据记录来执行记录区域分配，用于提高光盘介质的空间效率的控制是可能的。
图1是根据本发明的实施例的光盘记录控制设备的方框图。
图2是根据本发明的实施例的光盘介质的结构示意图。
图3是根据本发明的实施例的缺陷管理记录处理过程的流程图。
图4是根据本发明的实施例的空闲时间识别处理过程的流程图。
图5是根据本发明的实施例1的命令处理过程流程图。
图6是根据本发明的实施例1的光盘记录控制设备的控制处理过程的流程图。
图7是根据本发明的实施例2的命令处理过程的流程图。
图8是根据本发明的实施例2的区域健全性检验处理过程的流程图。
图9是根据本发明的实施例的区域健全性检验结果信息的结构的示意图。
图10是根据本发明的实施例的区域健全性检验结果信息的另一结构的示意图。
图11是根据本发明的实施例的缺陷管理记录处理过程的流程图。
图12是根据本发明的实施例1和2的区域分配优先顺序定义的示意图。
图13是根据本发明的实施例3的区域分配优先顺序定义的示意图。
图14是根据本发明的实施例4的区域分配优先顺序定义的示意图。
图15是根据本发明的实施例1和2的区域健全性检验结果的示意图。
图16是根据本发明的实施例1和2的区域分配处理操作示意图。。
图17是根据本发明的实施例1到4的区域健全性检验结果的初始化处理过程的流程图。
图18是根据本发明的实施例5的区域健全性检验结果信息的记录处理过程的流程图。
图19是根据本发明的实施例5的区域健全性检验结果信息的初始化处理过程的流程图。
图20是根据本发明的实施例6的区域健全性检验结果信息的记录处理过程的流程图。
图21是根据本发明的实施例6的区域健全性检验结果信息的初始化处理过程的流程图。
具体实施例方式
(实施例1)图1是一方框图，示出一种由盘记录再现设备和上级设备构成的光盘记录控制设备的实施例。图1中的光盘记录控制设备由上级设备(主设备)200和用于记录和再现光盘介质1的光盘记录再现设备100构成。
图2是光盘介质1的结构示意图。盘状光盘介质1具有同心或者螺旋轨道2，且各个轨道2具有再分扇区3。所有扇区都具有被称作物理扇区地址的绝对地址。
光盘介质1还具有控制信息区域4和数据记录区域5，其中对数据记录区域5执行数据的记录和再现。
缺陷管理信息6被记录在控制信息区域4的一部分中。在缺陷管理信息6中，缺陷扇区的地址替换信息和替换扇区被记录为列表中的数据结构。
上级设备200与光盘记录再现设备100通过I/O总线201连接。I/O总线201是通用总线，包括SCSI(小型计算机系统接口)、ATA(AT连接)、USB(通用串行总线架构)和IEEE 1394。
光盘记录再现设备100由电机101、光头102、区域健全性检验装置103、空闲时间识别装置104、伺服控制装置105、外部I/F106、编码/解码装置107、定时器中断装置108、存储器109、驱动器控制装置110、模拟信号处理装置111和总线112构成。
在光盘记录再现设备100中，电机101被设计为旋转和停止光盘介质1，以及在访问光盘介质1时运行。
光头102被设计为在光盘介质1中记录信息和从光盘介质1再现信息，且由激光设备和透镜构成。
模拟信号处理装置111将从编码/解码装置107输入的数字数据调制为模拟信号并把该模拟信号输出到光头102。模拟信号处理装置111还将从光头102输入的模拟信号调制为数字位串，并将数字数据输出到编码/解码装置107。
伺服控制装置105相对于光盘介质1控制电机101和光头102，以便当从光头102发射激光束时，基于作为反射光而获得的信号访问光盘介质1的目标位置。
编码/解码装置107对从模拟信号处理装置103或存储器109输入的数据行执行相反的处理，如编码、解码、加扰和解扰，并分别向存储器109或模拟信号处理装置111输出作为结果而获得的数据行。
基于由编码/解码装置107执行的操作结果或从光头102输入到模拟信号处理装置111的模拟信号，区域健全性检验装置103检验光盘介质1表面上的刮痕或灰尘的程度，并将检验结果存储在存储器109中。
存储器109具有在记录和再现数据时用作中间缓冲区的区域、用于编码/解码装置107执行的操作处理的区域、用于临时存储从区域健全性检验装置103等获得的检验结果的区域，并用于在光盘记录再现装置100中的全部数据处理。虽然图1将存储器109作为单个单元示出，但是存储器109可客观地分开或合并入每一控制装置中。存储器109还可以是非易失性存储器或易失性存储器。
当空闲时间识别装置104在超过某一时间段内没有从上级设备200向光盘记录再现设备100发出的命令中检测到关于访问光盘介质1的请求时，空闲识别装置104向驱动器控制装置110发出报告。
经由总线112，驱动器控制装置110被分别连接到区域健全性检验装置103、空闲时间识别装置104、伺服控制装置105、外部I/F106、编码/解码装置107、定时器中断装置108和存储器109，并通过向各个单元103至109发出指令，控制整个光盘记录再现设备100。其操作软件被存储在存储器109中。
与总线112相连的外部接口106，通过I/O总线201接收从外部到光盘记录再现设备100的命令，输出状态，并输入和输出数据。
定时器中断装置108检测由驱动器控制装置110指定的预定时间段已流逝，并向驱动器控制装置110报告。
关于如上述构造的信息处理系统，根据本发明的缺陷记录处理流程在图3中示出。应该注意，为了方便，在图3中还省略了除记录请求之外的命令处理。
在光盘介质1被装配(步骤S1001)之后，光盘记录再现设备100初始化关于由区域健全性检验装置103执行的对光盘介质1表面刮痕或灰尘的检验结果的信息(步骤S1002)。响应于接收到从上级设备发出的记录命令(步骤S1004)，光盘记录再现设备100执行缺陷管理记录处理(步骤S1006)。
当在由空闲时间识别装置104执行的空闲时间识别处理中检测到空闲时间(步骤S1003)同时等待接收记录命令时，区域健全性检验处理装置103对光盘介质1的数据记录区域5执行健全性检验处理(步骤S1005)。该检验处理的检验结果作为区域健全性检验信息被存储在存储器(存储装置)109中(步骤S1007)并在缺陷管理记录处理时被参照(步骤S1006)。该区域健全性检验信息在装入盘之后被初始化(步骤S1002)。
以下描述将对在图3中执行的空闲时间识别处理(步骤S1003)、区域健全性检验处理(步骤S1005)和缺陷管理记录处理(步骤S1006)进行详细说明。
(1)空闲时间识别处理以下描述将说明空闲时间识别装置104在超过特定的时间段内没有从上级设备200向光盘记录再现设备100发出的命令中检测到关于访问光盘介质1的请求，并指示开始区域健全性检验处理的过程。
图5是一当接收到来自上级设备命令时执行的处理(步骤S1200)的流程图。
在接收到命令之后，该命令被分析(步骤S1201)，且当没有对光盘介质1的访问请求时(步骤S1202)，执行相应于各个命令的处理(步骤S1206)。当区域健全性处理在运行时，一旦收到与盘访问有关的命令，则在区域健全性处理终止之后执行命令处理(步骤S1206)。在命令处理终止后，将结果送回上级设备(步骤S1207)。
图4是一流程图，示出了用于检测空闲时间的处理以及指示区域健全性检验处理的开始的流程。
在图4中示出的处理使用定时器中断在固定的时间间隔执行。定时计数器为各个处理计时(步骤S1101)，判断定时计数器值是否超过固定值(步骤S1102)，并在计数器值大于或等于固定值时，指示开始健全性检验处理(步骤S1103)和停止定时器操作(步骤S1104)。
定时计数器值的初始化和定时器操作的开始处理在装入光盘介质之后立即被执行。每次收到来自上级设备的盘访问请求命令时，启动计数器并停止计时操作(步骤S1203、S1204)。在对盘访问请求命令的响应完成后，停止的计数器操作被重新开始(步骤S1208、S1209)。
在上述控制中检测其间不产生与来自上层设备的命令中的盘访问相关的请求超过某一时间段的空闲时间，并且当检测到这种空闲时间时，指示区域健全性检验处理的开始。将被用做检测空闲时间的标准的时间段被预先设置为给定值。
(2)区域健全性检验处理图6是一流程图，示出区域健全性检验处理的流程(步骤S1300)。
在图6中示出的处理中，位于检验区域的最上部的地址首先被设定(步骤S1301)，并进一步设定要检验的扇区尺寸(步骤S1302)。
向伺服控制装置105发出指示，并且控制电机101和光头102去访问在要被检验的光盘介质上的区域位置。
当光头102提供该访问时，执行区域健全性检验(步骤S1303)。应当假定作为检验测量结果而获得的健全性检验结果信息的值是与将被检验的区域的记录处理失败可能性相关联的值，并且能被表示成分级的值。
以下是建议的用于获得健全性检验结果的健全性检验方法。
(a)从反射光的反射计算健全性检验结果的值，其中所述反射光是在光头102用激光束辐射要检验的区域时获得的。
例如，分配一个值，通过该值，从该区域的健全性检验结果判断出当反射较低时，记录失败的可能性较高。
(b)从伺服信号的幅度计算健全性检验结果的值，其中该伺服信号是在光头102用激光束辐射要检验的区域时获得的。
例如，分配一个值，通过该值，从该区域的健全性检验结果判断出当伺服信号的幅度的平均值或最大值较大时，记录失败的可能性较高。
(c)从错误检测/校正结果信息计算健全性检验结果的值，其中该结果信息在当为要检验的区域执行再现操作时由编码/解码装置执行。
例如，分配是一个值，通过该值，从该区域的健全性检验结果判断出当错误检测/校正次数较多时，记录失败的可能性较高。
通过上述方法获得的健全性检验结果的值作为健全性检验结果信息(在图3中，1007)被存储在存储器109中(步骤S1304)。健全性检验结果信息的格式的实例在图9和10中示出。
在图9和10示出的实例中，健全性检验结果信息被存储为从0到7的八级之一的值，其中值0表示健全性仍然未知，而值1-7表示数值越大记录失败的可能性越大。虽然在此实例中，使用八级值来代表健全性检验结果信息，但是可使用不同于八级的多级值。
图10是一实例，其中为将要检验的区域存储由两种类型的检验方法执行的区域健全性检验处理的结果。与此相似，可由两种或两种以上的方法执行检验，而且可为相同区域存储多个健全性检验结果信息。
图17是示出区域健全性检验结果信息的初始化处理(步骤S2300)的流程图。利用预定的初始值(步骤S2301)，在装配盘之后立即初始化区域健全性检验结果信息。
返回图6，当在区域健全性处理的第一步骤(步骤S1302)中对检验扇区尺寸设定的健全性检验处理终止时，则判断是否存在要检验的区域(步骤S1305)，并且当不需要进一步的检验时，用于空闲时间检测判断的定时计数器值被初始化(步骤S1307)。从那时起，控制不执行对当前装配(步骤S1308)的光盘介质1的区域健全性检验处理。在还需要任何检验的情况下，当判断空闲时间的计数器值小于设定值(设定时间段)(步骤S1306)时，执行步骤S1301后的处理，而当判断空闲时间的计数器值等于或大于设定值时，则健全性检验处理终止。
应该注意，虽然在接收到来自上级设备的与盘访问相关联的请求时区域健全性检验处理处于运行中的情况下，在利用图5说明的、一旦接收到来自上级设备的命令就执行处理的实例中，直到区域健全性检验处理终止才执行命令处理(步骤S1205)，但是可以通过在区域健全性处理的第一步骤S1302将检验扇区尺寸设定设置得较小而降低与盘访问请求有关的命令处理延时。
(3)缺陷管理记录处理图11是一流程图，示出与缺陷管理有关的记录处理流程。
图12是用于定义健全性结果和区域分配优先顺序之间关系的视图，该图变为用于判断在缺陷管理处理中是否需要重新分配记录区域的标准，用于选择将被重新分配的区域等，用于在如利用图9说明的具有八级值的健全性结果信息实例的情形。
做出在图12中示出的优先顺序的定义以便较高优先顺序被附到具有较低记录失败可能性的区域上。
根据图12中定义的优先顺序，关于0到7的八级健全性结果信息的值，用于分配区域的优先顺序具有“值1”＝“值2”＞“值3”＞“值0”＞“值4”＞“值5”的优选高度关系。在图12中，用于定义优先顺序“值6”和“值7”的符号“x”表示排除在将要分配的区域的选择之外。
图15是一示意图，示出在记录时光盘介质1的从扇区号001到020范围的区域的健全性检验结果的状态。图15中的健全性检验结果的值是在图9中说明的0到7八级值中的任一个。也就是，关于图15中示出的健全性检验结果值1到7，具有较大健全性检验结果值的区域是记录失败可能性较大的区域。
图16是一示意图，用于示出为图15中示出的在光盘介质1上的记录区域执行响应来自上级设备记录的、用于记录5个扇区的数据的请求的初始记录区域分配和以图12中的优先顺序的记录区域的重新分配。
下面的描述将说明沿着图11中示出的缺陷管理记录处理处理(1700)的流程图的、图16中示出的区域分配处理。
首先，作为记录区域初始化处理(步骤S1701)，分配将要记录和来自上级设备的记录请求一起接收的记录数据的光盘介质1的地址位置(步骤S1701)。如图16所示出的，作为初始分配，记录请求所请求的五个扇区的数据被分配到扇区号001到005上。
此后，参照关于所分配记录区域的区域健全性检验结果信息来判断是否需要重新分配记录区域(步骤S1702)。当相对于此时分配的区域的健全性检验结果信息，存在具有较高优先顺序的健全性结果信息的另一区域时，执行重新分配(步骤S1703)并且区域的替换信息被注册为缺陷管理表(步骤S1704)。
在图15示出的记录区域的状态下，扇区号003、004和005的健全性检验结果分别是4、5和6，并且假定在该区域中的记录处理失败的可能性高。参照图12中的优先顺序，扇区号003、004和005的优先顺序分别是4、5和x(参见图16)。由于较高优先顺序的扇区被包括在扇区号006之后的扇区中，在判断处理中(步骤S1702)能够判断需要重新分配区域。
在图16示出的实例中，由于在步骤S1703中的重新分配，扇区号003被重新分配到扇区号006；扇区号004被重新分配到扇区号007；和扇区号005被重新分配到扇区号009。
此后，对所分配区域执行记录操作(步骤S1705)。根据需要，该记录处理可包括验证操作。
如果在步骤S1705的处理中发生记录失败或者验证失败，则处理返回到步骤S1706或者S1702以重新分配记录区域，并在另一区域再次记录相同的数据(替换处理)。
在替换处理中的记录区域的重新分配中，基于根据图12中定义的优先顺序的判断来选择分配目标。
与替换操作相关的记录操作被重复进行，直到所有的记录请求数据的记录都完成。
如上所述，通过参照在记录区域分配中的空闲时间期间执行的由健全性检验处理获得的健全性检验结果信息，并且优先分配具有低记录失败可能性的区域，能够降低数据记录中的记录处理失败和验证处理失败的可能性。
(实施例2)根据实施例2的光盘记录控制设备在构造是与实施例的相同，并且其操作也与实施例1的相同。
实施例2中的缺陷管理记录处理的流程与实施例1中利用图3说明的流程相同，且(1)空闲时间识别处理(步骤S1003)和(3)缺陷管理记录处理(步骤S1006)的处理分别与实施例1中的说明的处理相同。
(2)区域健全性检验处理实施例2中的区域健全性检验处理(步骤S1005)将利用图7和8来说明。
图7是一流程图，示出一旦接收到来自上级设备的命令，就执行命令中断处理(1400)。
图8是一流程图，示出实施例2中的区域健全性检验处理(1500)过程。
关于图7，一旦接收到命令，就分析该命令(步骤S1201)，并当没有盘访问请求时(步骤S1202)，则执行相应与每一命令的处理(步骤S1206)。
当发出盘访问请求并收到命令时，一旦收到与盘访问请求有关的命令，就初始化定时计数器(步骤S1203)，使用与在实施例1中用图5所说明的相同方式来执行定时器操作停止处理(步骤S1204)以及判断(步骤S1205)区域健全性处理是否处在运行中。
相似地，在图7中，用于各个命令的处理(步骤S1206)、用于在命令处理终止之后响应于上级设备的处理(步骤S1207)和空闲时间计算重启处理(步骤S1208，S1209)与在实施例1中利用图5所做的说明相同。
另一方面，当在步骤S1205的判断中判断健全性检验处理处在运行中时，导出并获得在运行中的区域健全性检验处理终止之前的剩余时间(步骤S1401)。
判断该剩余时间是否大于给定值(步骤S1402)，并且当剩余时间等于或大于给定值时，做出立即中断区域健全性检验处理的指示以便不延迟上级设备的盘访问请求(步骤S1403)。
应该注意，步骤S1402的判断可以省略，且可执行中断处理(步骤S1403)而没有限制。
在区域健全性检验处理中(图8中的步骤S1501)，当识别出已经作出中断指示时(图7中的步骤S1403)，则区域健全性检验处理立即终止，无论区域健全性检验处理之前的处理中的扇区尺寸设定检验处理是否完成。
关于图8，除了区域健全性检验处理(步骤S1501)之外，其它的与实施例1中利用图6所作的说明相同。
在区域健全性检验处理(步骤S1501)中，与图6中的区域健全性检验处理(步骤S1303)相比，加入了在处理过程中识别中断指示(图7中的1403)和立即终止处理的控制。
通过上述的控制，能够减少来自上级设备的与盘访问有关的命令请求的延迟。
(实施例3)根据实施例3的光盘记录控制设备在构造上与实施例1相同，并且其操作也与实施例1相同。
实施例3中的缺陷管理记录处理的流程与实施例1中利用图3中的缺陷管理记录处理所说明的流程相同，且(1)空闲时间识别处理和(2)区域健全性检测处理与在实施例1或2中所说明的处理(步骤S1003、S1005)相同。
(3)缺陷管理记录处理实施例4中的健全性管理记录处理的流程(步骤S1006)与实施例1中利用图11所做的说明相同。
在实施例4中，当参照来自步骤S1702和S1703的处理的区域健全性检验结构信息(步骤S1007)判断记录区域分配时，采用如图14中示出(代替实施例1中的图12)的区域健全性检验结果和区域分配优先顺序之间的关系的定义。
在图13中示出的优先顺序定义中，在优先顺序判断时，优先顺序被设计为能够根据来自上级设备的记录请求的延时时间而改变。
当延时时间比固定值短时，把较高的优先顺序附着于具有较高记录失败可能性的区域，而当延时时间等于或大于固定时间时，把较高的优先顺序附着于具有较低记录失败可能性的区域。
根据图13中定义的优先顺序，执行控制以便把具有相对低健全性的区域作为记录区域分配，并尝试在延时时间短时记录，以便提高盘的空间效率。
由于当在重复执行替换处理之后延时时间变长时，具有较低记录失败可能性的区域被分配，所以还提供了防止超时引起的记录错误的效果。
虽然在图13中，定义在两个区之间，即根据延时时间是否小于固定值来切换，但是定义也可以在三个或者更多个区之间切换。需要预置将用作分区标准的时间段。
(实施例4)根据实施例4的光盘记录控制设备在构造上与实施例1相同，并且其操作也与实施例1的相同。
实施例4中的缺陷管理记录处理的流程与实施例1中利用图3中的缺陷管理记录处理(步骤S1006)所说明的流程相同，且(1)空闲时间识别处理和(2)区域健全性检测处理与在实施例1或2中所说明的相应处理(步骤S1003、S1005)相同。
(3)区域健全性检验处理实施例4中的健全性管理记录处理的流程(步骤S1006)与实施例1中利用图11所做的说明相同。
在实施例4中，为了参照来自步骤S1702和S1703的处理的区域健全性检验结构信息(1007)来做出记录区域分配的判断，采用如图14中示出(代替实施例1中的图12)的健全性结果和区域分配优先顺序之间的关系的定义。
在图14中示出的优先顺序定义中，优先顺序被设计为能够根据将要记录的数据的重要性和用于记录区域分配的记录处理所需的实时特征而改变。以下描述将说明图14中示出的定义。
(优先顺序A)在记录需要实时特征时，启动该优先顺序定义。仅具有最低记录失败可能性的区域(检验结果为“值1”或者“值2”的区域)被优先分配。
(优先顺序B)当记录不需要实时特征但是数据重要时，启动该优先顺序定义。虽然具有低记录失败可能性的区域被分配，但是具有最低失败可能性的区域(检验结果为“值1”的区域)被设定为低分配优先顺序以便为出现(优先顺序A)的记录区域分配的情形做准备。
(优先顺序C)当记录不需要实时特征且数据相对不重要时，启动该优先顺序定义。具有相对高的记录失败可能性的区域被优先分配。
注意具有低记录失败可能性的区域(检验结果为“值1”的区域)被控制不被分配，以为出现(优先顺序A)或(优先顺序B)的记录区域分配的情形做准备。
根据图14中定义的优先顺序，执行控制以便把具有对应于记录数据的重要性和记录处理所需要的实时特征的健全性的区域分配作为记录区域，以便提高盘的空间效率。
虽然在图14中示出的例子中根据记录类型，定义在三个区之间转变，但是定义也可以在除三个区之外的多个区之间切换。
(实施例5)根据实施例5的光盘记录控制设备在构造上与实施例1相同，并且其操作也与实施例1的相同。
实施例5中的缺陷管理记录处理的流程与实施例1中利用图3说明的流程相同，且(1)空闲时间识别处理和(3)缺陷管理记录处理分别与实施例1中分别说明的相应处理(步骤S1003、S1006)相同。
(2)区域健全性检验处理实施例5中的区域健全性处理的流程(步骤S1005)与实施例1中利用图5和6说明的方法或者实施例2中利用图7和8所说明的方法相同。
图18是一流程图，示出区域健全性检验结果信息的存储处理(2400)过程，该过程在实施例5中的光盘介质弹出之前将被执行。
图19是一流程图，示出区域健全性检验结果信息的初始化处理(2410)过程。
在实施例5中，一旦接收到来自上级设备的光盘介质弹出请求，则执行处理，以便将在接收到弹出请求之前获得的区域健全性检验结果信息记录在图18中所示的光盘介质1的管理信息区域4中(步骤S2401)，并且在此记录之后，光盘介质1被弹出。
当下次装配同一光盘介质1时，如图在19中所示，读取在光盘介质1弹出之前所记录的健全性检验结果信息(步骤S2411)，并且当读取操作完成(步骤S2412)时，使用所获得的值初始化健全性检验结果信息(步骤S2413)。当读取操作失败或者当获得值中存在问题时，如实施例1中利用图17说明的那样执行利用初始化值的初始化(步骤S2301)。
对于上述处理，通过利用当光盘介质1与上次装配的光盘介质相同时获得的区域健全性检验结果信息，可以省略区域健全性检验处理或者可以减少区域健全性检验结构信息不确定的区域，以便执行有效的记录区域分配。
应该注意，可以执行使用图18所说明的用于把健全性检验结果信息记录在光盘介质1中的处理以及使用图19所说明的用于读取储存在光盘介质1中的健全性信息的处理中的仅仅一个。
(实施例6)根据实施例6的光盘记录控制设备在构造上与实施例1相同，并且其操作也与实施例1相同。
实施例6中的缺陷管理记录处理的流程与实施例1中利用图3说明的流程相同，且(1)空闲时间识别处理和(3)缺陷管理记录处理分别与实施例1中分别说明的相应处理(步骤S1003、S1006)相同。
(2)区域健全性检验处理实施例6中的区域健全性检测处理的流程(步骤S1005)与实施例1中利用图5和6说明的方法或者实施例2中利用图7和8说明的方法相同。
图20是一流程图，示出了区域健全性检验结果的存储处理过程，该过程在实施例6中的光盘介质1弹出之前将被执行。
图21是一流程图，示出了区域健全性检验结果信息的初始化处理过程。
在实施例6中，一旦接收到来自上级设备的光盘介质弹出请求，则将在接收到弹出请求之前获得的区域健全性检验结果信息和所装配光盘介质1的ID序号(ID信息)以图20中所示的列表形式的结构存储在存储器109中，其中该存储器是非易失性存储装置。在信息存储操作之后，光盘介质1被弹出。
当下次装配同一光盘介质1时，相应于所装配光盘介质的ID序号的区域健全性检验结果信息从存储在非易失性存储器109中的区域健全性检验结果信息列表中检索，如图21所示(步骤S2511)。当通过检索找到相应的区域健全性检验结果信息时，利用获得值来初始化健全性检验结果信息(步骤S2513)。当读取操作失败时或者当在获得值中存在问题时，如实施例1中利用图17说明的那样执行利用初始化值的初始化(步骤S2301)。
用上述处理，通过利用当光盘介质1与上次装配的光盘介质相同时获得的区域健全性检验结果信息，可以省略区域健全性检验处理或者减少区域健全性检验结构信息不确定的区域，以便使用ID序号来执行有效的记录区域分配。
利用本发明，通过在记录之前预先检验灰尘和通过在记录区域分配时参照检验结果，能够降低记录失败的可能性，且即使在光盘介质上的记录区域中存在刮痕或灰尘时也能够执行有效的缺陷管理记录。本发明还具有执行对记录区域中的刮痕或灰尘的检验处理而不延迟来自上级设备的请求的效果，其对用于执行缺陷管理记录的光盘记录控制等非常有效，所述操作用于遵循CD-RW的Mr.Rainier标准的记录驱动器、DVD-RAM可记录驱动器、DVD+MRW可记录驱动器等。
权利要求
1.一种用于通过扇区在带有同心轨道或螺旋轨道的轨道中记录数据的盘记录控制方法，包括空闲时间识别步骤，用于识别其间对盘介质没有访问请求的时间段；区域健全性检验处理步骤，当在空闲时间识别步骤中所识别的时间段等于或者大于设定时间段时，在光盘介质上识别其中可以正常记录的区域；和区域健全性存储步骤，使得存储装置存储在区域健全性检验处理步骤中所识别的信息。
2.如权利要求1所述的盘记录控制方法，包括记录步骤，将信息记录到盘介质中；和替换步骤，当在记录步骤期间，盘介质上的记录位置被识别为不能正常记录的区域时，基于存储在存储装置中的识别信息来分配替换区域作为记录位置。
3.如权利要求1所述的盘记录控制方法，其中在区域健全性检验处理步骤中，当对该盘介质发出访问请求时，为了响应访问请求，健全性检验处理步骤被中断。
4.如权利要求1所述的盘记录控制方法，其中在区域健全性检验处理步骤中，当对该盘介质发出访问请求时，根据在区域健全性检测处理步骤终止之前的剩余时间来切换是中断区域健全性检测处理步骤，还是不中断区域健全性检测处理步骤。
5.一种用于通过扇区在带有同心轨道或螺旋轨道的轨道中记录数据的盘记录控制方法，包括空闲时间识别步骤，识别其间对盘介质没有访问请求的时间段；区域健全性检验处理步骤，当在空闲时间识别步骤所识别的时间段等于或者大于设定时间段时，在盘介质上识别有可能记录失败的区域；和区域健全性存储步骤，使得存储装置存储在区域健全性检验处理步骤中所识别的信息。
6.如权利要求5所述的盘记录控制方法，包括记录步骤，将信息记录到盘介质中；和替换步骤，当在记录步骤期间，盘记录介质上的记录位置被识别为不能正常记录的区域时，基于存储在存储装置中的识别信息，按照记录失败可能性的升序顺序来分配替换区域作为记录位置。
7.如权利要求5所述的盘记录控制方法，包括记录步骤，将信息记录到盘介质中；和替换步骤，当在记录步骤期间，盘介质上的记录位置被识别为不能正常记录的区域时，基于将要记录的信息的重要性和存储在存储装置中的识别信息，来分配替换区域作为记录位置。
8.如权利要求5所述的盘记录控制方法，包括记录步骤，将信息记录到盘介质中；和替换步骤，当在记录步骤期间，盘介质上的记录位置被识别为不能正常记录的区域时，基于自开始搜索新替换区域起的流逝时间和存储在存储装置中的识别信息，来分配替换区域作为记录位置。
9.如权利要求5所述的盘记录控制方法，包括记录步骤，将信息记录到盘介质中；和替换步骤，基于自接收到记录步骤的可执行指令到执行记录步骤的时间段，来分配替换区域作为记录位置。
10.如权利要求5所述的盘记录控制方法，包括记录步骤，将信息记录到盘介质中；和替换步骤，当在记录步骤期间，盘介质上的记录位置被识别为不能正常记录的区域时，基于将要记录的信息的实时特征的度以及存储在存储装置上的识别信息，来分配替换区域作为记录位置。
11.如权利要求5至10中的任一项所述的盘记录控制方法，其中在区域健全性存储步骤中用于存储信息的存储器是光盘介质。
12.如权利要求1至11中的任一项所述的盘记录控制方法，包括存储步骤，在非易失性存储装置中存储在区域健全性检验处理步骤中读取的健全性信息和用于识别从其中读取健全性特征的盘介质的ID信息。
13.一种用于通过扇区在带有同心轨道或螺旋轨道的轨道中记录数据的盘记录控制设备，包括空闲时间识别装置，识别其间对盘介质没有访问请求的时间段；区域健全性检验处理装置，当由空闲时间识别装置识别的时间段等于或者大于设定时间段时，识别在盘介质上可以正常记录的区域；和存储器，用于存储由区域健全性检验处理装置所识别的信息。
14.一种用于通过扇区在带有同心轨道或螺旋轨道的轨道中记录数据的盘记录控制设备，包括空闲时间识别装置，识别其间对盘介质没有访问请求的时间段；区域健全性检验处理装置，当由空闲时间识别装置识别的时间段等于或者大于设定时间段时，识别在盘介质上的具有记录失败可能性的区域；和存储装置，用于存储由区域健全性检验处理装置所识别的信息。
15.一种盘介质，其中可以记录信息，包括关于其本身各个记录区域的记录失败可能性的信息。
全文摘要
空闲时间识别装置(104)识别其间没有对光盘介质(1)访问请求的时间段，和当由空闲时间识别装置(104)识别的时间段等于或者大于设定时间段时，区域健全性检验处理装置(103)识别在光盘介质(1)上可正常记录的区域，和存储装置(109)存储由区域健全性检验处理装置(103)所识别的信息。
文档编号G11B7/00GK1700338SQ20051006854
公开日2005年11月23日 申请日期2005年2月25日 优先权日2004年2月25日
发明者番正聪志 申请人:松下电器产业株式会社