专利名称：：在多波束光扫描系统中测量前向多激光束的激光功率的方法
技术领域：
：本发明总的涉及用于测量由包括至少两个激光二极管的激光二极管阵列生成的前向多波束的激光功率的方法。本申请还涉及一种用于对由激光二极管阵列生成的前向多波束的激光功率进行自动功率控制的方法和一种记录方法，该激光二极管阵列包括至少两个激光二极管。本申请还涉及一种光拾取单元和一种多波束光扫描设备。
背景技术：
：光扫描设备藉助于扫描辐射波束一一通常是由激光二极管生成的激光束一一来扫描光盘，扫描辐射波束被聚焦到光盘上的一个小点。扫描光盘被理解为从光盘的信息层读出和/或写入到光盘的信息层。当前，数据被读出和/或写入的最大速率最终受光盘的伺服控制和机械稳定性限制。为了进一步提高数据速率，可以使用多个光辐射波束在多个轨道上同时读出和写入数据。光辐射波束的数目给出数据速率的额外的倍增。扫描辐射波束的数目的增加可以通过增加光扫描设备的头的数目而达到。然而，在使用多个头中引发了一些与复杂的控制、尺寸和制造成本的增加有关的严重问题。一个解决方案是使用包括多个可个体控制的激光二极管的半导体激光器，其能够生成多个扫描辐射波束，其中可获得对每个扫描辐射波束的分开的控制。可重写的光盘通常利用相变材料作为信息层，其中所述层具有非结晶或结晶状态，其取决于当记录时施加到光盘的热量。为了记录到这样的利用相变材料的光盘上，必要的是对于扫描辐射波束的功率具有良好的控制，以便能够精确地将数据记录到光盘上。众所周知，在激光二极管的情形下，在驱动电流与输出辐射功率之间的关系例如依赖于环境温度且随着自从光扫描设备激活以来的时间消逝而变化。因此，当必须有精确的功率调节时-正如在记录包括相变材料的光盘的情形下，使用单个扫描辐射波束的光扫描设备配备有自动功率控制环(APC)来保持输出辐射功率为恒定。然而，使用包括多个可个体地控制的激光二极管的半导体激光器具有的缺点在于在这些激光二极管之间存在(热)串扰，导致输出功率的偏移(offset)。例如，当多二极管半导体激光器的一个激光器以用于写入的高激光输出功率运行而多二极管半导体激光器的另一个激光器^皮接通时，则第一激光二极管的输出功率发生改变。在记录期间这个功率改变是不想要的，因为它例如经由通过影响标记的长度而增加抖动，来影响记录的质量。因此，希望具有可以与多波束光扫描系统的使用相兼容的自动功率控制。日本专利申请No.03-309105公开了一种用于执行对多波束激光器的自动功率控制的方法，其中每个激光器发射前向波束和后向波束，聚光透镜被提供在后向波束的路径中，用于把后向波束成像在相应的光检测器的阵列上。
发明内容本发明的目的是提供一种用于测量由包括至少两个激光二极管的激光二极管阵列生成的前向多波束的激光功率的方法。这个目的是通过其特征为权利要求l中陈述的按照本发明的方法达到的。当记录到利用相变材料的可(重)写的光盘上时，需要高的激光功率。因此，激光二极管的背面的反射率接近于l，而激光二极管的正面的反射率低得多，通常是在10-50%左右，这样，输出的激光功率大多数是在前向波束中。部分前向波束将被光学器件或光盘向后反射，且因为激光二极管本身对于光是透明的，所以它可以耦合到空腔，或从激光器背面出射。后向传播波束将包括后向波束和-故反射的部分前向波束，且因此不再能^^f吏用来精确地校准激光功率，因为它将取决于聚焦条件而波动。因此，在日本专利申请No.03-309105中所公开的方法不能被使用于测量前向多波束的激光功率。当测量前向多波束的激光功率时，由于多波束在传统的光路径上几乎总是重叠的事实引起一个问题，所以，独立地测量每个激光器的输出功率并不简单明了。按照本发明的、用于测量由包括至少两个激光二极管的激光二极管阵列生成的前向多波束的激光功率的方法包括以下步骤生成前向多波束；把至少部分的前向多波束分离成个体的波束，个体波束的数目等于激光二极管阵列中的激光二极管的数目，该安排是使得每个个体波束包括源自于单个激光二极管的光；以及测量每个个体波束的激光功率的步骤。通过把前向多波束分离成单独的波束，有可能测量个体波束的激光功率。在本方法的一个实施例中，分离步骤包括在空间上分离个体的波束。在有利的实施例中，本方法还包括使前向多波束传送通过准直器透镜，准直器透镜被放置成使得激光二极管阵列基本上处在准直器透镜的焦点；以及藉助于光检测器来测量每个个体波束的激光功率，其中所述光检测器被放置在准直器透镜后的渐晕(vignetting)区域的前向多波束的边缘处，这里所述个体的波束不重叠，从而每个光检测器接收来自单个激光二极管的光。所述实施例带来的优点在于比起已知的设计，在按照本发明的光拾取单元中不需要另外的光学元件，因此保持低的生产成本。在本方法的一个实施例中，分离步骤之前是波束分割步骤，包括把前向多波束分割成主前向多波束和次前向多波束，测量步骤包括藉助于^U欠置在渐晕区域的次前向多波束的边缘处的光检测器来测量每个个体波束的激光功率。在本方法的替换实施例中，分离步骤包括把成像透镜放置在准直器透镜和光检测器阵列之后的前向多波束中，以使得相应的光检测器被放置在来自激光二极管阵列的每个激光二极管的像点，测量步骤包括藉助于相应的光检测器来测量每个个体波束的激光功率。所述替换实施例非常适合于操控包括两个以上的个体波束的多波束。在本方法的一个实施例中，分离步骤包括在时间上分离个体的波束。在有利的实施例中，测量步骤包括藉助于祐J改置在前向多波束的路径上的检测系统来测量个体波束的激光功率，该检测系统包括光检测器，用于测量激光功率；和开关装置，被安排成使得光检测器只在当来自二极管激光器阵列的单个二极管激光器正发射的时间段内才测量。对来自激光器阵列的激光二极管的测量激光功率可以有利地相应于在一时间段上的平均。这样的实施例带来的优点在于光学上的光路径未修改；所以生产成本是低的，因为不需要附加的光学元件。在本方法的一个实施例中，测量步骤还包括以预定的时间间隔采样平均激光功率和关于来自激光二极管阵列的、发射光的激光二极管的信息，以及从采样的激光功率和采样的信息中提取由每个激光二极管生成的个体波束的平均激光功率。本发明还涉及一种用于对由激光二极管阵列生成的前向多波束的激光功率进行自动功率控制的方法，其中根据按照本发明的用于测量激光功率的方法执行对来自激光二极管阵列的每个激光二极管的个体激光功率的测量。本发明还涉及一种用于记录光盘的方法，其中在记录期间的自动功率控制是根据按照本发明的方法来执行的。本发明还涉及一种光拾取单元，和一种引入了按照本发明的光拾取单元的、用于扫描光盘的光扫描设备。从下文描述的实施例中将明白本发明的这些和其它方面，并将参照这些实施例来进行说明。通过参照以下附图将明白本发明的特征和优点，其中图1示意地图解在其中可以实践本发明的光扫描设备；图2示意地图解在光扫描设备的光拾取单元中的光路径；图3示意地图解按照本发明第一实施例的光拾取单元的元件；图4示意地图解按照本发明第二实施例的光拾取单元的元件；图5a和5b示意地图解按照本发明的两个实施例的、光检测器相对于个体的激光束的安置；图6示意地图解按照本发明第三实施例的自动功率控制环(APC);图7示意地图解按照本发明的实施例的、测量每个波束的激光功率的方法；图8图解按照本发明的、执行自动功率校准的方法。优选实施例的详细说明图1显示了在其中可以实践本发明的光扫描设备的框图。被放置在转台(9)上的光盘(1)由转台电动机(9a)旋转。转台电动机(9a)的旋转速度由控制器(8)控制。编码的信息藉助于光拾取单元(OPU)(2)从光盘(1)读出或被记录到光盘(1)上。光拾取单元(2)生成电磁波束(3)和把电磁波束(3)聚焦到光盘上，并且它接收由光盘(l)上的数据结构所调制的反射的电磁波束。光拾取单元(OPU)(2)除了其它部件外尤其包括用于生成电磁波束(3)的装置(4);用于把波束聚焦到盘上的透镜系统(5);和主检测系统(6)，包括几个光电二极管，用于把接收的反射电磁波束变换成电信号。电磁波束的输出功率由激光控制器(7)控制，激光控制器(7)按序又由通常也包括数字信号处理器(DSP)的一般控制器(8)控制。由主检测系统(6)生成的电信号由信号预处理单元(9)进一步处理。预处理的信号被传送到编码器-译码器单元，通过利用已知的调制方案和纠错算法，把信号编码/译码成数字数据信号。透镜系统(5)的沿轴向和径向的精细位移以及整个光拾取单元(0PU)(2)相对于光盘(1)的粗略位移，由伺服单元(10)控制。祠服单元(IO)接收来自信号预处理单元(9)的经预处理的伺服信号，并由控制器(8)控制。将参照图2讨论光拾取单元(OPU)(2)的进一步的细节。在所有的图上，当同一个功能单元出现在几个图上时，使用相同的参考标号，以便简化理解。此后描述的透镜系统(5)的实施例类似于被使用于蓝光(BD)光盘驱动的透镜系统。例如相应于比如CD和DVD光盘驱动的其它替换实施例在本领域是已知的。用于生成电磁波束(3)的装置(4)例如相应于包括激光二极管阵列的半导体激光器，每个激光器是可独立地控制的，并且生成个体的激光束。为了简明起见，图2上仅仅图解一个波束。由激光二极管阵列(4)生成的发散的多波束(3)被准直器透镜(51)准直。该波束也可以传送通过波束成形器或预准直器(图上未示出)，此二者的任一项或准直器透镜也充当第一场阑(fieldstop)。该波束接着传送通过极化波束分割器(52)。而且，该多波束传送通过用于去除球面像差的光学元件(5"、用于改变极化状态的四分之一波长OwM)元件(54)、和用于把多波束聚焦到光盘(1)的信息层的多个点上的物镜(55)。反射的多波束传送通过物镜(55)、四分之一波长(入/4)元件(54)、和用于去除球面像差(53)的光学元件(53)。反射的多波束(3a)被极化波束分割器(52)向主检测系统(6)反射。透镜(56)把多波束聚焦到主检测系统(6)。在已知的光扫描设备中，存在有单个前向传感二极管(12)，用于收集部分的被反射的多波束(3a)和测量平均激光功率。由前向传感二极管(12)测量的激光功率被激光控制器(7)用作为反馈信号，以生成自动功率控制环(APC),用来控制用于生成电磁波束(3)的装置(4)。然而，当使用包括多个可个体地控制的激光二极管的半导体激光器时，由于在激光二极管之间存在热串扰，导致激光二极管的输出功率中的偏移，所以这个解决方案并不合适。例如，当多二极管半导体激光器的一个激光器以用于写入的高激光输出功率运行而多二极管半导体激光器的另一个激光器被接通时，则第一个激光二极管的输出功率改变。在记录期间这个功率改变是不想要的，因为它例如经由通过影响标记的长度而增加抖动，来影响记录的质量，。图3示意地图解按照本发明第一实施例的光拾取单元的元件。这个实施例是基于如下思想，即分开检测来自多激光束的每个波束的激光功率可以通过空间滤波而完成。生成个体波束的激光二极管41和42在半导体激光器管芯(die)上互相间隔开一个lOOiiim数量级或更小的距离，意味着个体的波束在光路径上将显著地重叠。而且，热串扰的量与在个体激光二极管之间的间隔成反比地缩;故。在本发明的一个实施例中，成像透镜(13)#:放置在波束分割器(52)之后，这样，每个激光二极管(41，42)被成像在相应的前向传感二极管(121，122)上。在一个实施例中，成像透镜(13)可被集成到折叠式反射镜或波束分割器中。前向传感二极管(121，122)被放置在成像透镜(13)的焦平面中。个体激光束的聚焦点被很好地分开，并可以由前向传感二极管(121，122)独立地检测。为了简明起见，在图3上示意地图解只包括两个激光束的光路径，但藉助于光学元件的恰当缩放和合适地放置相应的前向传感二极管(121,122)，本思想也可应用于包括两个以上的激光二极管的系统。图4示意地图解按照本发明第二实施例的光拾取单元的元件。这个实施例也是基于空间滤波的思想，因为它将个体波束的渐晕用于空间分离。在第一场阑(57)前面，由激光二极管(41,42)生成的个体波束完全重叠。在光拾取单元(OPU)中，第一场阑的尺寸可以取决于实际的设计来由波束成形器或预准直器(图上未示出)、而不是准直透镜确定。在传播期间在这个场阑之后，个体波束将由于传播角度的差别而偏离中心。然后可以在其中波束不再重叠的渐晕区域中，通过收集来自单独波束的边缘的光而检测激光功率。前向传感二极管可以放置在波束分割器(52)的后面，如在图4上由前向传感二极管121和122所表示的，或替换地，放置在前向光路径中，如在图4上由前向传感二极管123和124所表示的。图5a和5b示意地图解按照本发明的两个实施例的、光检测器相对于个体的激光束的安置。图5a示意地示出包括两个个体波束(31，32)的多波束的截面。被使用于检测的前向传感二极管(121,122)被放置在两个个体波束(31，32)的边缘。实际被使用于扫描的波束的直径是较小的，即，在物镜处的场阑小于第一场阑。因此，在第一场阑后的渐晕区域中前向传感二极管121和122的安置不影响其余部分的光路径，所以不影响光盘的读出和/或记录。通过改变检测器配置以便分开地检测所有的激光束，有可能扩展到多个波束。作为例子，图5b图解了诸如扩展到四个独立波束(300,301,302，303)和四个前向传感二极管(125,126,127，128)。图5b的安排可容易地扩展到任意数目的个体波束。图6示意地图解按照本发明第三实施例的自动功率控制环(APC)。第三实施例l基于如下思想，即通过在时域中的滤波，可以达到把多波束分离成个体的波束以使得可以独立地测量每个波束的激光功率。为了把信息记录到光盘上，使用由编码器/译码器电子装置(12)生成的一系列比特流。个体波束的生成经由一般控制器(8)和激光控制器(71，72)被控制，其中激光控制器(71,72)用于来自多激光器阵列(4)的每个个体的激光二极管。因此，有关哪个激光二极管是否是现用的信息在每个时刻都可得到。按照本发明，单个检测器12，例如前向传感二极管，在其中个体波束重叠的区域中被放置在光学系统(5)的光路径中。来自单个检测器12的数据信号以预定的时间间隔:帔采样，该时间间隔优选地相应于单个比特的时间长度。逻辑电路(15)仅仅在其中一个激光二极管工作时才允许采样数据。表1给出对于二激光二极管系统的可能的激光二极管接通/关断组合的概观。<table>tableseeoriginaldocumentpage12</column></row><table>表l:"O，，代表激光器关断，"l"代表激光器接通。仅仅当其中一个激光器被接通时，功率检观'J器的测量才被使用于校准激光功率。将参照图7给出逻辑电路(15)的功能的进一步的细节。这里把两个比特流描绘成时间的函数，当这两个比特流被编码器译码器单元生成时用来控制两个激光器Ll和L2。散列的(hashed)区域18和19分别表示当仅仅其中一个激光器(对于区域19的Ll，或对于区域l8的L2)在工作时的时间段。回到图6,在这些时间段18和19的每一个中，检测器12的输出分别被发送到相应的功率监视电路16和17。功率监视电路可以对于预定的时间段来平均所测量的激光功率。在多激光器系统中，在某个时刻仅仅一个激光器被接通的机会取决于激光器的数目N，如N/2"。对于较大数目的激光器，这个机会变得更小，减小了每个激光器在给定的时间间隔内的测量次数。然而，需要被校正的、由于在个体激光二极管之间的热串扰造成的功率波动是较慢的(特征时间是毫秒量级)，而相应于要被记录的最短标记的"单个激光器接通，，发生的频率则高得多(特征时间是纳秒量级)。因此，本发明的这个实施例也可应用于包括大量的个体波束的系统。逻辑电路也可以要么以硬件方式被实施，例如藉助于针对输入数据的逻辑X0R(异或)门来生成仅仅一个激光器接通的逻辑信号。在替换实施例中，逻辑电路可以藉助于适当的固件被集成到通常包括数字信号处理器的控制器8中。本发明的第三实施例的优点在于，只需要一个检测器，你也可以使用传统的、简单的光学器件，如集成塑料透镜等等。在本发明的第四实施例中，由检测器12生成的信号对于预定的时间段被平均，该时间段相应于在个体的比特流LSI和LS2中的几个数据比特。在每个个体流中的比特例如藉助于加法器电路被相加。平均的信号输出和对于每个比特流(LS1，LS2)的计数值作为一个项被存储在緩冲器内。该处理过程对多个预定的时间段重复进行，在每个时间段内一个新的项被存储在緩沖器内。对于在緩沖器中的项N，由检测器12生成的平均信号(Ave-Signal)按照以下方程式与激光器1的输出功率(Power-LSl)、比特流LSI中的计数值(Count—LSI)、激光器2的输出功率(Power—LS2)、和比特流LS2中的计数值(Count—LS2)相联系Ave—Signal[entry—N]=Power—LSI*Count—LSI[entry-N]+Power—LS2*Count—LS2[entry-N]通过使用适当的算法，例如最小平方算法，每个激光器的功率输出(Power-LSI,Power-LS2)可以^皮计算出来。优选地，^皮使用来进行平均的比特数目小于DC控制奇偶校验比特的距离，否则该方程式将不能很好地定义。另外，平均的时间应当充分小于热起伏的时间，以便^底设Power—LSI和Power—LS2是恒定的。在替换实施例中，在预定的时间段上求平均可以用采样来替代。关于实现，本发明可以藉助于已知的电子装置(计数器、加法器、存储緩冲器、逻辑电路)或运行在数字信号处理器中的适当的固件而被实施。虽然已经对于二波束系统描述，但本发明的第四实施例可应用于包括任意数目的个体波束的多波束系统。与第三实施例中相同的优点是适用的，也就是只需要一个前向传感二极管，以及可以使用简单的光学器件。而且，这个实施例的优点在于，由于检测器不需要测量相应于分开的比特的功率，所以对于电子装置的速度要求被减小。按照本发明的替换实施例，可以创建功率校准阵列，其中该阵列的每个元素把测量输出功率作为个体比特流中的每个比特的个体值的函数列出。在个体二极管激光器之间的串扰被合并到这个功率校准阵列中。因此，它可被使用于独立地校准每个激光二极管的输出功率，这样，由于另一个激光器的输出功率的改变引起的一个激光器的输出功率的改变可被补偿。图8图解了按照本发明的、执行自动功率校准的方法。来自包括激光器阵列4的半导体激光器的每个个体激光二极管41被提供以独立的激光控制器(73),它例如可以控制通过激光二极管的激励电流。按照本发明，藉助于包括用于分离个体波束的分离装置的光学系统5和用于测量个体激光二极管41的输出功率的功率检测系统14来检测个体激光二极管的输出功率。由功率检测系统14生成的信号可以由前端电子装置进一步处理，例如通过放大该信号。该信号然后被用作为反馈信号，经由控制器和独立的激光控制器(73)来调节输出功率。输出功率的调节藉助于反馈环被连续地执行。单独的反馈环被提供用于来自包括激光二极管阵列的半导体激光器的个体激光二极管。在按照本发明的、用于记录光盘的方法中，对于生成的多波束的自动功率控制包括保持用于每个个体激光器的自动功率控制反馈环。应当指出，上述的实施例是打算举例说明而不是限制本发明。以及本领域技术人员将能够设计出许多替换实施例，而不背离所附权利要求的范围。在权利要求中，被放置在括号之间的任何参考标号不应看作为限制权利要求。动词"包括，，和"包含"及其变形的使用不排除除了权利要求中阐述的那些单元或步骤以外的单元或步骤的存在。在单元前面的冠词"一"或"一个，，不排除多个这样的单元的存在。本发明可以藉助于包括几个不同单元的硬件和/或藉助于适当的固件而被实施。在枚举几个装置的系统/器件/设备权利要求中，这些装置中的几个可以由同一项硬件或软件来体现。某些措施在互相不同的从属权利要求中被陈述的这一纯粹的事实，不表示这些措施的组合不能被使用来获益。权利要求1.一种用于测量由包括至少两个激光二极管的激光二极管阵列生成的前向多波束的激光功率的方法，该方法包括-生成步骤，包括生成前向多波束，该方法的特征在于，-分离步骤，包括把至少部分的前向多波束分离成个体波束，个体波束的数目等于在激光二极管阵列中的激光二极管的数目，该安排是使得每个个体波束包括源自于单个激光二极管的光；-测量步骤，包括测量每个个体波束的激光功率。2.按照权利要求1的方法，其特征在于，所述分离步骤包括在空间上分离个体波束。3.按照权利要求2的方法，其特征在于还包括-在生成步骤之后的波束成形步骤，包括使前向多波束传送通过产生第一场阑的光学元件；该测量步骤包括藉助于光检测器来测量每个个体波束的激光功率，所述光检测器被放置在第一场阑后的渐晕区域的前向多波束的边缘，这里所述个体波束不重叠，从而每个光检测器接收来自单个激光二极管的光。4.按照权利要求3的方法，其特征在于还包括-在波束成形步骤之后的波束分割步骤，包括把前向多波束分割成主前向多波束和次前向多波束，该测量步骤包括藉助于光检测器来测量每个个体波束的激光功率，所述光检测器^皮放置在波束分割器后的渐晕区域的次前向多波束的边缘，这里所述个体波束不重叠，从而每个光检测器接收来自单个激光二极管的光。5.按照权利要求2的方法，其特征在于还包括-在生成步骤之后的准直步骤，包括使前向多波束传送通过准直器透镜，准直器透镜被放置成使得激光二极管阵列基本上处在准直器透镜的焦点；-成像步骤，包括把成像透镜放置在准直器透镜和光检测器阵列之后的前向多波束中，以使得相应的光检测器^皮放置在来自激光二极管阵列的每个激光二极管的像点，该测量步骤包括藉助于相应的光检测器来测量每个个体波束的激光功率。6.按照权利要求5的方法，其特征在于还包括-跟随在准直步骤之后且在成像步骤之前的波束分割步骤，包括把前向多波束分割成主多前向波束和次多前向波束，所述成像透镜被放置在次多前向波束的路径中。7.按照权利要求1的方法，其特征在于，所述分离步骤包括在时间上分离个体的波束。8.按照权利要求7的方法，其特征在于，测量步骤包括藉助于纟支放置在前向多波束的路径上的检测系统来测量个体波束的激光功率，所述检测系统包括光检测器，用于测量激光功率；和开关装置，被安排成使得光检测器只在来自二极管激光器阵列的单个二极管激光器进行发射时的时间段内才测量。9.按照权利要求7的方法，其特征还在于，在预定的时间段上对所测量的来自激光器阵列的激光二极管的激光功率求平均。10.按照权利要求7的方法，其特征在于，测量步骤还包括的、发射光的激光二极管的信息；-从釆样的激光功率和采样的信息中提取由每个激光二极管生成的个体波束的平均激光功率。11.按照权利要求7的方法，其特征在于，-跟随在生成步骤之后的准直步骤，包括使前向多波束传送通过准直器透镜，该准直器透镜被放置成使得激光二极管阵列处在准直器透镜的焦点；-跟随在准直步骤之后的波束分割步骤，包括把前向多波束分割成主多前向波束和次多前向波束，所述检测系统^皮放置在次多前向波束的路径中。12.—种用于由激光二极管阵列生成的前向多波束的激光功率的自动功率控制的方法，该激光二极管阵列包括至少两个激光二极管，该方法包括-为来自激光二极管阵列的预先选择的激光二极管设置想要的输出的激光功率；-测量预先选择的激光二极管的激光功率；-根据想要的输出的激光功率和所测量的个体的激光功率，藉助于反馈控制环来控制预先选择的激光二极管的个体的激光功率；该方法的特征在于，根据按照前述权利要求的任一项的、用于测量激光功率的方法来测量个体的激光功率。13.—种用于记录光盘的方法，包括对于由激光二极管阵列生成的前向多波束的激光功率执行自动功率控制，该激光二极管阵列包括至少两个激光二极管，该方法的特征在于，按照权利要求12的方法来执行自动功率控制。14.一种光拾取单元(OPU)，包括-激光二极管阵列，包括至少两个激光二极管，用于生成多激光束；-功率检测系统，用于测量激光功率；该光拾取单元(OPU)的特征在于，它还包括-分离装置，用于把至少部分的前向多波束分离成个体的波束，个体波束的数目等于在激光二极管阵列中的激光二极管的数目，该分离装置被适配成使得每个个体波束包括源自于单个激光二极管的光；所述功率检测系统适合于测量每个个体波束的激光功率。15.按照权利要求14的光拾取单元(OPU)，其特征在于，所述分离装置适合于在空间上分离个体的波束。16.按照权利要求15的光拾取单元(OPU),其特征在于，它还包括用于创建第一场阑的装置，该第一场阑在光学光路径上位于分离装置之前；功率检测系统，包括至少两个光检测器，被放置在第一场阑后的渐晕区域的前向多波束的边缘，这里所述个体的波束不重叠，从而每个光检测器接收来自单个激光二极管的光。17.按照权利要求16的光拾取单元(OPU),其特征在于，它还包括-波束分割器，用于把前向多波束分割成主前向多波束和次前向多波束，光检测器，被放置在波束分割器后的渐晕区域的次前向多波束的边缘，这里所述个体的波束不重叠，从而每个光检测器接收来自单个激光二极管的光。18.按照权利要求15的光拾取单元(OPU)，其特征在于，它还包括-准直器透镜，被放置成使得激光二极管阵列基本上处在准直器透镜的焦点；-成像透镜，被放置在准直器透镜之后的前向多波束的路径中；-功率检测系统，包括光检测器阵列，以使得用于激光功率的相应的光检测器被放置在来自激光二极管阵列的每个激光二极管的像点。19.按照权利要求15的光拾取单元(OPU)，其特征在于，它还包括-波束分割器，用于把前向多波束分割成主前向多波束和次前向多波束，该成像透镜被放置在次多前向波束的路径中。20.按照权利要求13的光拾取单元(OPU),其特征在于，所述分离装置适合于在时间上分离个体的波束。21.按照权利要求20的光拾取单元(OPU),其特征在于所述功率检测系统包括光检测器，用于测量激光功率；和开关装置，被安排成使得光检测器只在来自二极管激光器阵列的单个二极管激光器进行发射时的时间段内才被使能以进行测量。22.按照权利要求21的光拾取单元(OPU)，其特征在于，所述功率检测系统被使能在预定的时间段上对所测量的来自激光器阵列的激光二极管的激光功率求平均。23.按照权利要求22的光拾取单元(OPU),其特征在于，所述功率检测系统还被使能以预定的时间间隔测量平均的激光功率，以及该光拾取单元(OPU)还包括-用于当检测系统进行测量时，生成有关对于预定的时间间隔生成光的、来自激光二极管阵列的激光二极管的相应信息的装置；-用于从采样的激光功率和所生成的信息中提取由每个激光二极管生成的个体波束的平均激光功率的装置。24.按照权利要求21的光拾取单元(OPU)，其特征在于，它还包括-准直器透镜，被放置成使得激光二极管阵列处在准直器透镜的焦点；-波束分割器，用于把前向多波束分割成主多前向波束和次多前向波束，所述功率检测系统净皮放置在次多前向波束的路径中。25.—种包括按照权利要求13到24的任一项的光拾取单元的光扫描设备。全文摘要一种用于测量由包括至少两个激光二极管的激光二极管阵列生成的前向多波束的激光功率的方法，该方法包括生成步骤，包括生成前向多波束；分离步骤，包括把至少部分的前向多波束分离成个体的波束(31，32，300，301，302，303)，个体波束的数目等于在激光二极管阵列中的激光二极管的数目，该安排使得每个个体波束包括源自于单个激光二极管的光；以及测量步骤，包括藉助于光检测器(121，122，125，126，127，128)来测量每个个体波束的激光功率。所述分离可以在空间上藉助于成像透镜或者利用准直器透镜的渐晕被执行，或者在时间上被执行。文档编号G11B7/135GK101341382SQ200680048362公开日2009年1月7日申请日期2006年12月12日优先权日2005年12月21日发明者A·M·范德李,F·M·H·克罗姆普沃茨申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司