专利名称：光盘和光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明的一个实施例涉及一种多层光盘和光盘装置，该多层光盘能够从光入射面侧到多个记录膜来记录和再现信息，该光盘装置能够执行该记录和再现。
背景技术：
用作信息记录介质的光盘遵照DVD标准而被广泛的利用，该光盘能够记录视频图像和音乐内容。这种光盘包括只再现型，一种能够仅仅将信息记录一次的一次写入型光盘；重写型等，其由计算机的外部存储器或记录视频等代表。遵照DVD标准的光盘具有这样一种结构，在该结构中，每个的厚度均是0.6mm(公称)的两个基片彼此结合，物镜的NA是0.6，另外用于记录/再现的激光束的波长是650nm。近年来，人们一直期望增加存储容量。有几种增加存储容量的技术的例子，这些例子为缩短光源的波长；增加物镜的孔径的数值；改进调制/解调技术；改进格式化效率；进行多层化等等。在HD DVD标准中，使用波长大约为405nm的蓝色激光来显著地提高记录密度从而增加容量，另外物镜的NA设置为0.65，从而实现与当前DVD的亲和性。然而，为了进一步增加容量，已经推广了多层信息记录介质。
在这种多层信息记录介质中，针对具体每层应该多大这个问题，专利文献1描述了在光透射层的厚度的误差(公差)和记录层之间的厚度和波长、数值孔径和折射率之间的由预定公式所表示的关系。
然而，在专利文献1(日本专利申请公开No.2004-71046)的传统技术中，存在一个问题，该问题是为了在多个记录设备中执行充分的信息分离而并不产生球面像差，针对具体透明基片和粘合层在数值上各应该多大，并没有给出具体例子。
发明内容
本发明的目的在于提供一种具有多个记录层的光盘，所述光盘能够避免球面像差并且能够在多个记录层中可靠地执行信息分离。
考虑到上述条件已经研究出了本发明，本发明提供了一种光盘，所述光盘包含基片层(11)，其折射率从1.50到1.70，并且厚度X(μm)等于或大于f(n)-13μm；第一信息层(12)，形成于所述基片层上；粘合层(13)，形成于所述第一信息层上并且厚度Y(um)等于或大于20μm；以及第二信息层(14)，形成于所述粘合层上，其中，满足X+Y≤f(n)+30μm并且f(n)＜X+Y/2，f(n)由下面公式给出f(n)＝(A1×n3)(n2+A2)/(n2-1)(n2+A3)×1000μm，其中，“n”是所述基片层的折射率，A1是0.26200，A2是-0.32400，A3是0.00595。
本发明提供了一种光盘，该光盘能够通过避免球面像差以及在多个记录层中可靠地执行信息分离来获得具有好的分辨率的再现信号。
图1是示出根据本发明实施例的双层盘的结构的例子的截面图；图2是曲线图，示出了对第一信息层的再现特性的影响的例子，该影响由根据本发明实施例的双层光盘球面像差所导致；图3是曲线图，示出了根据本发明实施例的具有不同基片厚度的盘中的再现波形的例子；图4是曲线图，示出了根据本发明实施例的双层光盘的层间串扰对第一信息层的再现特性的影响的例子；图5是曲线图，示出了X+Y/2(X＝587μm)对根据本发明实施例的双层光盘的第一信息层和第二信息层的记录/再现特性产生的影响的例子；图6是曲线图，示出了X+Y/2(Y＝20μm)对根据本发明实施例的双层光盘的第一信息层和第二信息层的记录/再现特性产生的影响的例子；图7是曲线图，示出了在根据本发明实施例的双层光盘的X+Y/2为600μm、601μm(X＝587μm)的情况下的径向倾斜余量的例子；图8是示出根据本发明实施例的双层光盘的其它结构的例子的截面图；图9是示出根据本发明实施例的双层光盘的其它结构的例子的截面图；图10是示出根据本发明实施例的双层光盘的其它结构的例子的截面图；图11是示出根据本发明实施例的双层光盘的其它结构的例子的截面图；图12是示出处理根据本发明的双层光盘的光盘装置的例子的框图；图13是示出根据本发明实施例的双层光盘的通用参数设置例子的示意图；图14是示意图，示出了摆动形状和根据本发明实施例的双层光盘的地址位区域中的地址位之间的关系；图15是示意布局图，示出了与根据本发明实施例的双层光盘的主要布局位置和次要布局位置有关的摆动数据单元的内部；图16是示意图，示出了与根据本发明实施例的双层光盘的摆动地址信息中的数据结构有关的实施例；图17是示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘上的调制区域的布局位置；图18是示意图，示出了用于测量根据本发明实施例的双层光盘的Wppmax和Wppmin的方法；图19是具体示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘的摆动信号和轨道移位信号；图20是示意图，示出了用于测量根据本发明实施例的双层光盘的(I1-I2)pp的方法；图21是框图，示出了用于测量与根据本发明实施例的双层光盘的摆动信号的方波有关的NBSNR的电路；图22是示意图，示出了用于测量根据本发明实施例的双层光盘的NBSNR的方法；图23是曲线图，示出了根据本发明实施例的双层光盘的使用相位调制的摆动信号的频谱分析仪检测信号特性的例子；以及图24是曲线图，示出了根据本发明实施例的双层光盘的相位调制摆动信号的频谱分析仪波形的例子。
具体实施例方式
现在将参照附图来详细描述本发明的实施例。图1是截面图，示出了根据本发明实施例的双层光盘的结构的例子。
<根据本发明的光盘的第一实施例图1>
(结构)首先，将参照附图来描述根据本发明实施例的光盘D的结构。如图1所示，在根据本发明实施例的光盘中，从入射激光束侧开始，顺序设置了透明基片11、第一信息层12、粘合层(中间层)13、第二信息层14和基片15。透明基片11透射用于记录/再现信息的激光束的波长的光，并且使用了折射率从1.50到1.70的材料(诸如聚碳酸酯)。此外，对于粘合层，采用了紫外线固化树脂、胶带等，其中，该紫外线固化树脂、胶带等能够透射用于信息记录/再现的激光束的波长的光。在图1中，透明基片11的厚度定义为Xμm，粘合层(中间层)13的厚度定义为Yμm。在这种光盘中，聚焦在物镜上的激光束从透明基片11侧射入，由此，执行了第一信息层12和第二信息层14的记录/再现。第一信息层12和第二信息层14中的至少一个包括诸如Sb-Te系合金膜的相变记录材料或能够吸收在使用的激光束的范围内的光的有机颜料材料。以后将描述这些材料。
(问题和对策)在双层或更多层的多层光盘中，存在一个问题由于球面像差或由于来自非再现层的信号的泄漏导致再现信号质量恶化。为了限制当再现信息记录层时来自非再现层的信号泄漏(层间串扰)以及再现信号质量的恶化，必须设置足够厚度的中间层，希望第一信息层和第二信息层之间形成的粘合层的厚度Y是20μm或更大。然而，如果设置了足够厚度的中间层，则到信息记录层的距离显著地偏离了使球面像差变得最小的距离，由球面像差导致的影响变得严重。因此，希望粘合层的厚度Y是35μm或更小。
针对球面像差的影响，在HD DVD中，将记录/再现光学系统优选地设计为在厚度是0.6mm的基片上记录和再现信息记录层。因此，如果到信息记录层的距离偏离了这个最优值，则由于球面像差的影响导致射束点变形和放大，于是记录/再现信号恶化。基于使用具有不透光的膜的单层光盘的模拟结果，获得与最优距离的允许偏离为±30μm。此外，当要进入布置在关于激光束入射面的深度上的信息记录层时，该激光束必须透过在前信息记录层。然而，为了防止光被非必要地削弱，必须确保充分的透射率。因此，必须降低在前记录层中的记录膜或反射膜的厚度，因此再现信号质量恶化。
因此，希望基片层的厚度X是f(n)-13μm或更多，并且希望第一信息层和第二信息层之间形成的粘合层的厚度关于Y是X+Y≤f(n)+30μm以及f(n)＜X+Y/2。这样，降低了由于球面像差和来自非再现信号的信号泄漏导致的再现信号质量恶化，从而可以改进两个信息层中的记录/再现信号。
这里，下面公式表达为f(n)＝(A1×n3)(n2+A2)/(n2-1)(n2+A3)×1000(μm)，其中，“n”是基片层的折射率，A1是0.26200，A2是-0.32400，A3是0.00595。
—反射率此外，希望的是，针对用于执行记录/再现的激光束的波长而言，第一信息层或第二信息层的反射率是3％到10％。如果反射光量小，则在记录/再现设备侧SN比率变得小，从而需要等于或大于3％的反射率。然而，在高反射率情况下，由记录膜吸收的光量相应地减少，并且记录灵敏度降低。为了在两个记录层实现以相同光量进行记录，在第一信息层的透射率为50％到55％的光盘中反射率需要是10％或更小。此外，如果再现层和非再现层之间的反射率差增加，则高反射率层到低反射率层的信号泄漏变得严重。因此，希望两个信息层之间的反射率差为±20％或更小(此外，例如，优选的是，第二信息层的反射率与第一信息层的反射率之比在0.8到1.2之间)。此外，由于双层光盘与单层光盘相比反射率较低，从而在双层光盘中寻道变得不稳定。在导槽深度为浅或为深的情况下，推挽信号变小。因此，在第一信息层和第二信息层中需要25nm到80nm(或25nm到100nm)的导槽深度，从而实现稳定的寻道。为了实现高密度记录，导槽宽度需要为0.4μm或更小。
—信息层能够使用光将第一信息层12和第二信息层14中的至少一个进行可逆地记录/擦除，并且该第一信息层12和第二信息层14中的至少一个具有基片、能够可逆地改变原子序列的记录膜、保护膜和反射膜。
作为能够可逆地改变原子序列的记录层，优选地使用相变记录膜，诸如Ge-Sb-Te系合金、Ge-Sb-Bi-Te系合金、Ge-Bi-Te系合金、Ge-Sb-In-Te系合金、Ge-Bi-In-Te系合金、Ge-Sb-Bi-In-Te系合金、Ge-Sn-Sb-Te系合金、Ag-In-Sb-Te系合金、In-Ge-Sb-Te系合金、或Ag-In-Ge-Sb-Te系合金。在使用这些材料的情况下，优选地在相变记录膜的一面或两面上设置具有结晶促进功能的膜。此外，考虑到耐环境性或重复记录属性，将诸如ZnS-SiO2的介电材料和诸如Ag合金或Al合金的反射层材料一起使用。
此外，第一信息层12和第二信息层14中的至少一个能够使用光来仅仅执行可逆记录。在这种情况下，希望该信息层包含有机颜料材料，该有机颜料材料能够吸收使用的激光束的范围内的光。举出了几种有机颜料材料，诸如菁颜料、酞菁颜料等(将插入两层R颜料材料的说明)。这些材料与诸如Ag合金、Al合金或Au合金的反射层材料一起使用。
借助针对光盘的机械特性估计装置可测量基片厚度和粘合层厚度。这些估计装置能够通过利用多个不同波长或使用单一波长下的多个入射角度根据光传播路径的差来执行测量。此外，基片厚度X(μm)和粘合层厚度Y(μm)是光盘内平面平均值。
关于用来针对根据本发明的双层光盘来执行记录/再现的记录/再现设备，除了当前的记录/再现设备以外，还需要以下机制识别插入的光盘包括多少层的机制；在每层上执行聚焦的机制；和针对每个聚焦的信息记录层执行记录/再现的机制。此外，根据情况，光学系统还需要球面像差校正机制。
在通过使用上述的盘结构和盘制造方法、材料以及记录/再现设备实现记录的双层盘中，能够从两个信息层获得好的再现信号质量，从而可以提高记录容量。
(第一测试数据图2和图3)第一测试数据用于当固定粘合层厚度Y时验证基片厚度X的适当值。即，在双层光盘中，第一信息层需要形成一种在记录/再现波长下光透射率等于或大于50％的膜。因此，使用满足这个条件的膜，验证了对再现信号质量的影响和对由球面像差产生的影响。在这个测试中，由于折射率“n”为1.60的基片用作基片层，所以建立f(n)＝600μm。此外，为了消除由来自非再现层的信号的泄漏所导致的影响，使用仅仅具有第一信息层的光盘。
针对以上双层的光盘，使用波长为405nm以及NA为0.65的光头来执行记录。该盘以6.6m/s的线速度旋转；时钟频率设置为64.8MHz；通过随机地记录2T到11T的信号来测量该2T到11T的信号。
图2示出了对于仅具有在记录/再现波长下的光透射率等于或大于50％的第一信息层的光盘，在对厚度为X的透明基片11进行多轨道记录之后的再现特性的影响。作为再现特性的指示器，使用了SbER(模拟位误差率，参考Y，NagaiJpn.J.Appl.phys.42(2003)971.)和最稀疏标记的CNR(载噪比)。在CNR已被定义为指示器的情况下，由于基片厚度，球面像差不会产生显著影响。然而，在SbER定义为指示器的情况下，球面像差显著地影响了小于587μm的基片厚度，因此，使得可以验证这样一个事实基片厚度X需要等于或大于587μm。
图3示出了当基片厚度X是583μm或587μm时记录后的轨道上的一圈的再现波形。在587μm处，再现波形没有出现基片厚度改变的影响，而在583μm处，再现波形出现了基片厚度改变的影响。由于SbER受记录波形改变的影响，所以在厚度小于583μm的情况下，观察到了再现特性的显著降低。
因此，只要基片厚度X等于或大于587μm，则能够避免以上影响，并且成功地验证了本实施例中描述的系统的可靠性。
(第二测试数据图4)第二测试数据用于通过检验由来自非再现层的信号泄漏导致的影响来验证为了避免由球面像差导致的影响，粘合层的厚度Y需要为20μm或更大。
这里，图4示出了粘合层的厚度Y对针对双层光盘的第一信息层的记录/再现特性的影响，以检验由来自非再现层的信号的泄漏所导致的影响，对于该双层光盘，光透射率等于或大于50％的膜应用到第一信息层，不能够透射光的膜应用到第二信息层。然而，为了完全地消除由第一信息层中的球面像差导致的影响，透明基片11的厚度X定义为600μm。最稀疏标记的CNR基本恒定，然而在厚度X小于20μm的情况下，SbER极端地恶化。尽管2T和3T的短标记的信号质量显著地影响SbER，但是在短标记中由于来自非再现层的泄漏导致的再现信号质量恶化的影响大于在长标记中的影响，因此，在SbER发生了再现信号质量的下降。
即，从图4我们发现粘合层的厚度Y需要是20μm或更大，以便完全地消除由球面像差导致的影响。
—比较例子1在第三实施例中，假定球面像差影响第一信息层的情况，通过将透明基片11的厚度X定义为583μm，在与以上测试数据相同的条件下在CNR和SbER测量到粘合层的厚度Y对第一信息层的记录/再现特性的影响。与没有球面像差的影响的情况的方式相同，不管粘合层的厚度Y是多少，CNR等于或大于53dB。与无球面像差的影响的情况不同，在任何粘合层的厚度Y中，显示没有受到粘合层的厚度Y的影响的SbER大约在1E-4。
从比较例子1的这些结果可以看出，透明基片11的厚度X需要为587μm得到了验证。
(第三测试数据图5)第三测试数据用于验证满足了600μm＜X+Y/2。在与实际双层光盘相同条件下获得的球面像差和来自非再现层的信号泄漏产生影响的情况下，验证了透明基片的厚度X和粘合层的厚度Y的影响。
即，图5示出了针对一种光盘的到第一信息层和第二信息层的中间位置的距离X+Y/2与多轨道记录后再现特性之间的关系，其中，在该种光盘中，在记录/再现波长下的光透射率等于或大于50％的膜贴附到第一信息层，不能够透射光的膜贴附到第二信息层。此时，使用X＝587μm的透明基片。
参照图5，在600＜X+Y/2的范围内，在第一信息层和第二信息层中获得好的记录/再现特性。因此，可以验证事实在f(n)＜X+Y/2的范围内能够避免信号泄漏的影响。
(第四测试数据图6)第四测试数据用于指明Y＝20时X+Y/2与多轨道记录后再现特性之间的关系。即，图6示出了Y＝20时X+Y/2与多轨道记录后再现特性之间的关系。
这样，我们发现在600μm＜X+Y/2的范围内，在第一信息层和第二信息层中获得了好的记录/再现特性。如上所述，在记录型双层光盘中，通过将透明基片11的厚度和粘合层的厚度进行最优化，能够在可透光的第一信息层中将由球面像差或来自非再现层的信号泄漏所导致的再现信号质量的下降降低到最小，从而实现高密度记录。
结果，当值X+Y/2大于600时，能够获得好的再现特性，使得可以确认在f(n)＝X+Y/2中能够避免信号恶化。
(第五测试数据图7)第五测试数据指明了关于当X＝587μm以及X+Y/2＝601μm时的双层光盘的第一信息层的再现特性径向倾斜余量。即，图7示出了当X＝587μm以及X+Y/2＝601μm时的双层光盘的第一信息层的再现特性径向倾斜余量。在1.4度的范围内获得系统端需要的1.5E-4或更小的SbER，使得即使在高密度记录下也可以获得宽倾斜余量。因此，验证了当X+Y/2的值大于600时，即当满足f(n)＜X+Y/2时，能够获得好的再现特性。
(比较例子2)在上述的第六实施例中，图7示出了关于当X＝587μm以及X+Y/2＝600μm时的双层光盘的第一信息层的再现特性径向倾斜余量。作为系统端的需要，当SbER是1.5E-4或更小时不能够获得如0.6度宽的倾斜余量。因此，验证了当值X+Y/2不大于600时，即当f(n)＜X+Y/2不成立时，不能够获得好的再现特性。
<第二实施例图8>
第二实施例指明第一信息层22的导槽设置在透明基片21上，第二信息层24的导槽设置在透明基片25上。这里，在粘合层23上没有设置导槽。
即，如图8所示，图1中设置在第一信息层12和第二信息层14中的导槽分别形成在透明基片21和基片25上。以这种方式，获得了上述的第一到第五测试数据以及比较例子1和2的记录/再现特性。
此外，形成在这些第一和第二信息层中的导槽能够仅仅在靠近激光束入射侧的导槽中执行记录。此外，形成在这些第一和第二信息层中的导槽能够仅仅在远离激光束入射侧的导槽中执行记录。相似地，优选地执行在形成在第一和第二信息层中的导槽都进行记录。
<第三实施例图9>
第三实施例指明第一信息层32的导槽设置在粘合层33上，第二信息层34的导槽也设置在粘合层33上。这里，导槽没有设置在透明基片31和基片35中。
即，如图9所示，图1中设置在第一信息层12和第二信息层14中的导槽形成在粘合层33上。有时候，粘合层33可以由包括多种材料的多层形成。在这种模式下，可以获得上述的第一到第五测试数据以及比较例子1和2的记录/再现特性。
此外，形成在这些第一和第二信息层中的导槽能够仅仅在靠近激光束入射侧的导槽中执行记录。此外，形成在这些第一和第二信息层中的导槽能够仅仅在远离激光入射侧的导槽中执行记录。相似地，优选地执行在形成在第一和第二信息层中的导槽中都执行记录。
<第四实施例图10>
第四实施例指明第一信息层42的导槽设置在透明基片41上，第二信息层44的导槽设置在粘合层43上。这里，导槽没有设置在基片45中。
即，如图10所示，图1中的设置在第一信息层12中的导槽形成在透明基片41上，设置在第二信息层14中的导槽形成在粘合层43中。有时候，粘合层43可以由包括多种材料的多层形成。在这种模式下，可以获得上述的第一到第五测试数据以及比较例子1和2的记录/再现特性。
此外，形成在这些第一和第二信息层中的导槽能够仅仅在靠近激光束入射侧的导槽中执行记录。此外，形成在这些第一和第二信息层中的导槽能够仅仅在远离激光入射侧的导槽中执行记录。相似地，优选地执行在形成在第一和第二信息层中的导槽中都执行记录。
<第五实施例图11>
第五实施例指明第一信息层52的导槽设置在粘合层53上，第二信息层54的导槽设置在基片55上。这里，导槽没有设置在透明基片51中。
即，图1中的设置在第一信息层52中的导槽形成在粘合层53中，设置在第二信息层54中的导槽形成于基片55上。有时候，粘合层53可以由包括多种材料的多层形成。在这种模式下，可以获得上述的第一到第五测试数据以及比较例子1和2的记录/再现特性。
此外，形成在这些第一和第二信息层中的导槽能够仅仅在靠近激光束入射侧的导槽中执行记录。此外，形成在这些第一和第二信息层中的导槽能够仅仅在远离激光入射侧的导槽中执行记录。相似地，优选地执行在形成在第一和第二信息层中的导槽中都执行记录。
<第六实施例图12>
第六实施例指明用于执行上述的双层光盘的记录/再现处理操作的光盘装置的例子。图12是示出了处理根据本发明实施例的双层光盘的光盘装置的例子的框图。
在光盘装置110中，示出了具有记录功能的数字电视，同时将调谐器等定义为源。此外，优选地，该光盘装置110是具有调谐器、记录功能等的硬盘记录器。
因此，在下面参照图12对实施例的描述中，虽然将针对具有记录功能的数字电视进行详细描述，但通过从图12分离显示器126可以理解为对具有实际相同功能的硬盘记录器的描述。
在图12中，作为数字电视的光盘装置110具有两种类型的盘驱动器。该光盘装置具有硬盘驱动单元118，用于驱动作为第一介质的硬盘H；和光盘驱动单元119，用于旋转地驱动作为第二介质的光盘D并且执行信息的读/写操作，该光盘D是一种能够构建视频文件的信息记录介质。此外，控制单元130经由数据总线B连接到每个单元以控制整个操作。然而，在执行本发明的情况下，光盘驱动单元119不总是必需的构成部件。
此外，图12的光盘装置110基本上包括编码器单元121，用于对图像记录侧进行配置；MPEG解码器单元123，用于对再现侧进行配置；和控制单元130，用于控制设备主体的操作。光盘装置110具有输入侧选择器116和输出侧选择器117。输入侧选择器116连接到诸如LAN的通信单元111、所谓的卫星广播(BS/CS)数字调谐器单元112、所谓的地面数字/模拟调谐器单元113，并且将信号输出到编码器单元121。此外，卫星天线连接到BS/CS数字调谐器单元112，地面天线连接到地面数字/模拟调谐器单元113。此外，光盘装置110具有编码器单元121；信号编辑单元120，用于接收编码器单元121的输出，并且执行诸如数据编辑的期望数据处理；和连接到信号编辑单元120的硬盘驱动单元118和光盘驱动单元119。此外，光盘装置110具有MPEG解码器单元123，用于从硬盘驱动单元118和光盘驱动单元119接收信号，然后将接收的信号解码；编码器单元121；缓冲器单元122；MPEG解码器单元123；多路复用器单元128；多路分离器单元129；控制单元130；保留设置单元/保留图像记录单元142；和节目表产生单元143。这些单元中的每个经由数字总线B连接到控制单元30。此外，选择器单元117的输出提供到显示器126，或者经由接口单元127提供到外部装置，该接口单元127与该外部装置进行通信。
此外，光盘装置110具有操作单元132，该操作单元132经由数据总线B连接到控制单元130，并且接收用户的操作或遥控器R的操作。这里，遥控器R实现与设置在光盘装置110的主体上的操作单元132的操作基本相同的操作，并且实现诸如来自硬盘驱动单元118和光盘驱动单元119或调谐器操作的记录/再现指令和编辑指令的多种设置以及保留图像记录的设置等等。
(基本操作)—记录处理操作现在，将详细描述包括其它实施例的记录操作。作为光盘驱动器110的输入侧，通信单元111(如LAN)连接到外部装置，从而例如通过诸如互联网的通信信道经由调制解调器等来与节目信息提供服务器进行通信，或者下载广播内容等等。此外，BS/CS数字调谐器单元112和地面数字/模拟调谐器单元113经由天线选择广播信号作为信道，将选择的信号进行解调，输入视频图像信号和语音信号，以及对各种类型的广播信号产生响应。例如，以上信号覆盖了地面模拟广播、地面数字广播、BS模拟广播、BS数字广播、CS数字广播等等，并且不限于这些信号。此外，以上情况不仅仅包括只提供一个部件，例如还包括这样一种情况设置两个或三个或更多地面调谐器单元和BS/CS调谐器单元，从而这些调谐器单元并行操作以响应于保留图像记录的请求。
此外，先前描述的通信单元111可以是IEEE1394接口并且能够通过网络从外部装置接收数字内容。此外，尽管没有示出，但是还可以从输入终端接收的亮度信号、色差信号、视频图像信号(如复合信号)和语音信号。这些信号选择性地提供到编码器单元121，同时借助在控制单元130等控制下的选择器116来控制输入。
编码器单元121具有视频和音频模拟/数字转换器、视频编码器和音频编码器，该转换器将由选择器116输入的模拟视频信号或模拟音频信号进行数字化。此外，这个编码器单元还包括辅助视频图像编码器。编码器单元121的输出转换成预定的MPEG压缩格式等，然后该转换的输出提供给上述的控制单元130。
此外，没有必要总是包括BS/CS数字调谐器112等，另外优选的是，经由数据输入终端从外部提供调谐器来经由选择器单元16将接收的数字信号提供到编码器单元121或控制单元130。
这里，图12的设备能够将由编码器单元121编码的信息(视频、音频、辅助视频图像数据的包等等)和所产生的管理信息经由控制单元130提供给硬盘驱动单元118或光盘驱动单元119，并且能够将提供的信息项记录在硬盘驱动单元118或光盘D上。此外，记录在硬盘驱动单元118或光盘D中的信息能够经由控制单元130和光盘驱动单元119而记录在光盘D或硬盘驱动单元118中。
信号编辑单元120能够执行编辑处理操作，诸如部分地删除记录在硬盘驱动单元118或光盘D中的多个节目的视频对象或者将不同节目的对象进行连接。
—再现处理操作等等现在将详细描述包括其它实施例的再现主要记录的信息的处理操作。
MPEG解码器单元123具备视频处理器，该视频处理器用于在解码的主视频图像上正确地组合解码的辅助视频图像，然后在主视频图像上叠加并输出菜单、高亮按钮、字幕或其它辅助视频图像。
尽管没有示出，但是MPEG解码器单元123的输出音频信号由数字/模拟转换器进行模拟转换，然后经由选择器单元117提供给扬声器，或者另一种选择是经由接口单元(I/F)127而提供给外部装置。选择器单元117由来自控制单元130的选择信号所控制。这样，当来自调谐器单元12和13的每个的数字信号被直接监视时，选择器单元117能够直接地选择已经通过编码器单元121的信号。
根据本实施例的光盘装置110因此具有广泛的功能，并且针对多个源使用光盘D或硬盘驱动单元118执行记录/再现处理操作。
<第七实施例图13到图24>
第七实施例详细指明作为上述HD DVD的双层光盘标准的例子。图13是示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘的通用参数设置例子。
(双层盘的参数)参照图13，下面将描述根据本发明的双层光盘的参数。如图13所示，针对根据本发明的双层光盘，单层结构中的用户可用记录容量的值是15GB，双层结构中的用户可用记录容量的值是30GB。
相似地，针对单层结构和双层结构示出了使用波长和物镜的NA值。此外，针对单层结构和双层结构，示出了数据位长度、信道位长度、最小标记/凹坑长度(2T)、最大标记/凹坑长度(13T)、轨道间距以及物理地址设置方法的值，来作为(A)在系统导入区域和系统导出区域中的数值，和(B)在数据导入区域、数据区域、中间区域和数据导出区域中的数值。
此外，针对单层结构和双层结构，还示出信息存储介质的外直径、信息存储介质的总厚度、中心孔的直径、数据区域DTA的内半径、数据区域DTA的外半径、扇区大小、ECC、ECC块大小、调制系统、可纠错误码长度以及线速度。
此外，针对单层结构和双层结构，信道位传送率和用户数据传送率还示出为(A)在系统导入区域和系统导出区域中的数值以及(B)在数据导入区域、数据区域、中间区域和数据导出区域中的数值。
(双层光盘的摆动结构)现在，将参照附图于此详细描述作为根据本发明的双层光盘的HDDVD。具体地讲，首先描述其摆动结构和特性。
图14示出了在根据本发明的双层光盘中分配位的方法。如图14的左侧所示，首先从一个摆动的开始位置摆动到外圆周侧的摆动图案称作NPW(正相位摆动)，然后分配数据“0”。如右侧所示，首先从一个摆动的开始位置摆动到内圆周侧的摆动图案称作IPW(逆相位摆动)，然后分配数据“1”。
接下来，如图15所示，摆动数据单元#0560到#11571的内部由16个摆动的调制区域598和68个摆动的非调制区域592和593组成。本实施例的主要特征在于非调制区域592和593与调制区域的占空比显著增大。由于沟槽区域和槽岸区域总是以预定频率摆动，所以非调制区域592和593应用了利用非调制区域592和593的PLL(锁相环)，从而使得能够稳定地取样(产生)当再现记录在信息存储介质中的记录标记时要被使用的基准时钟和当新记录记录标记时要被使用的记录基准时钟。
当控制从非调制区域592和593移动到调制区域598时，通过使用四个摆动或六个摆动来设置用作调制开始标记的IPW区域。然后，分配如图15上的(c)和(d)所示的摆动数据区域，使得出现摆动地址区域(地址位#2到#0)，对于该摆动地址区域(地址位#2到#0)来讲，在检测到作为这次调制开始标记的IPW区域以后该摆动地址区域被紧接着摆动调制。图15上的(a)和(b)示出了对应于以后描述的图16上的(c)中所示的摆动汇点区域580的摆动数据单元0560的内部的内容。图15上的(c)和(d)示出了对应于从图16上的(c)的段信息727到CRC码726的摆动数据部分的摆动数据单元的内容。图15上的(a)和(c)示出了对应于以后描述的调制区域的主要位置701的摆动数据单元的内部。图15上的(b)和(c)示出了对应于调制区域的次要位置702的摆动数据单元的内部。如图15上的(a)和(b)所示，6个摆动分配到摆动汇点区域580中的IPW区域，4个摆动分配到由IPW区域包围的NPW区域。如图15上的(c)和(d)所示，摆动数据部分将四个摆动分配到IPW区域和所有地址位区域#2到#0中的每个。
图16示出了关于包含在一次写入型信息存储介质中的摆动地址信息中的数据结构的实施例。在图16的(a)中，为了便于比较，示出了包含在重写型信息存储介质中的摆动地址信息中的数据结构。图16的(b)和(c)示出了关于包含在一次写入型信息存储介质中的摆动地址信息中的数据结构的两个实施例。
在摆动地址区域610中，对12个摆动设置3地址位。即，1地址位包括连续的4个摆动。如上所述，本实施例采用了这样一种结构，即，每3地址位分散后再分配地址信息。如果摆动地址信息610集中记录在信息存储介质中的一个位置中，则当灰尘或划痕触及表面时，所有信息变得难于检测。如本实施例所述，有益效果如下每3地址位分散后再分配摆动地址信息610，这3地址位包括在摆动数据单元560到576的一个中；按每3地址位的整数倍地址位所收集的信息被记录；并且即使在由于灰尘或划痕的影响而使得难于检测包含在一个位置中的信息的情况下，也能够检测另外的数据项。
如上所述，摆动地址信息610以分散方式分配并且每1物理段完全分配摆动地址信息610，从而使得可以每物理段地识别地址信息。因此，当信息记录/再现设备提供访问时，可以以物理段为单位得知当前位置。
通过采用根据一个实施例的NRZ技术，在摆动地址区域610中连续的4个摆动中相位不改变。利用这个特性，设置了摆动汇点区域580。即，针对摆动汇点区域580设置了在摆动地址信息610中不能够产生的摆动图案，从而使得识别摆动汇点区域580的布局位置变得容易。本实施例的特征在于，针对采用连续4个摆动配置1个地址位的摆动地址区域586和587，在摆动汇点区域580的位置以非4个摆动的长度来设置1个地址位长度。即，在摆动汇点区域580中，如图15上的(a)所示，摆动位设置为“1”的区域(IPW区域)被称作与4摆动不同的“6摆动→4摆动→6摆动”。如图15上的(c)和(d)所示，设置了在摆动数据部分不能够发生的摆动图案改变。针对摆动汇点区域580利用上述的改变摆动周期的方法作为用来设置在摆动数据部分不能够产生的摆动图案的具体方法，本实施例的特性在于(1)能够稳定地连续进行摆动检测(摆动信号判断)，而不会使关于在摆动信号检测单元执行的摆动的槽位置的PLL失真；(2)由于由摆动信号检测单元执行的地址位边界位置的偏移，使得可以更加容易地执行摆动汇点区域580和调制开始标记561和582的检测。此外，本实施例的特征还在于以12摆动周期形成摆动汇点区域580，并且摆动汇点区域580的长度符合3地址位长度。这样，通过将包含在一个摆动数据单元#0560中的所有调制区域(16摆动)分配到摆动汇点区域580，降低了摆动地址信息610的开始位置(摆动汇点区域580的布局位置)的检测难度。该摆动汇点区域580被分配到物理段中的第一摆动数据单元。这样，产生了如下有益效果摆动汇点区域580被分配到物理段中的开始位置，从而仅仅通过检测摆动汇点区域580的位置就能够容易地对物理段的边界位置进行取样。
如图15上的(c)和(d)所示，在摆动数据单元#1561到#11571中，用作调制开始标记的IPW区域分配到开始位置，该开始位置在地址位#2到#0之前。在分配到它们之前的位置上的非调制区域592和593中，连续产生NPW波形，从而在摆动信号检测单元检测从NRW到IPW的变换并且将调制开始标记的位置进行取样。
作为参考，在图16上的(a)中所示的重写型信息存储介质中记录了摆动地址信息610的以下内容。
(1)物理段地址601---指示包含在轨道(信息存储介质221中的一圈)中的物理段号的信息。
(2)带地址602---该地址指示包含在信息存储介质221中的带号。
(3)奇偶校验信息605---在从摆动地址信息610再现时，该信息被设置用于纠错。将从保留信息604到带地址602的14个地址位以地址位为单位单独相加，显示该相加结果是奇数还是偶数。设置奇偶校验信息605的值，使得针对包括该地址奇偶校验信息605的1地址位的全部15地址位通过以地址位为单位进行异或获得的结果变成“1”。
(4)统一区域608---如上所述，每个摆动数据单元的内部设置为包括16个摆动的调制区域598和68个摆动的非调制区域592和593，并且非调制区域592和593与调制区域598的占空比显著增大。此外，非调制区域592和593的占空比的增加，提高了取样(产生)再现基准时钟或记录基准时钟的精确度和稳定度。NPW区域在统一区域608的内部完全连续，并且变成在一致相位下的非调制区域。
图16上的(a)示出了分配到上述的每个信息项的地址位的数目。如上所述，摆动地址信息610的内部分别按3个地址位分开，并且被分散和分配在每个摆动数据单元中。即使由于信息存储介质的表面上的灰尘和划痕导致产生突发错误，该错误延伸超过不同摆动数据单元的可能性也很低。因此，进行发明，使得跨越作为记录相同信息项的位置的不同摆动单元的计数降低到最小，并且使得每个信息项的变换和摆动数据单元的边界位置彼此一致。这样，即使由于信息存储介质的表面上的灰尘和划痕导致产生突发错误并且不能够读取具体信息，也能够通过读取记录在任何其它摆动数据单元中的其它信息项来提高摆动地址信息的再现可靠性。
如图16上的(b)和(c)所示，在一次写入型信息存储介质中，像在重写型信息存储介质中一样，摆动汇点区域580分配在物理段的开始位置，便于物理段的开始位置或相邻物理段之间的边界位置的检测。像上述的摆动汇点区域580中的摆动汇点图案一样，图16上的(b)所示的物理段上的类型标识信息721指示物理段中调制区域的布局位置。这样，存在下面有益效果能够提前预测相同物理段中的其它调制区域598的布局位置，并且能够准备检测下一个即将来临的调制区域，从而使得可以提高在调制区域中信号检测(判断)精确度。
图16上的(b)中所示的一次写入型信息存储介质中的层号信息722代表指示出的是单面的1记录层还是单面的2记录层。该信息表示为-当设置为“0”时，在单面的1记录层介质或单面的2记录层的情况下的“L0层”(激光束入射侧的前层)。
-当设置为“1”时，单面的2记录层的“L1层”(激光束入射侧的深度侧的层)。
物理段顺序信息724指示相同物理段块中的相对物理段的布局顺序。从与图16上的(a)比较可以清楚看出，在摆动地址信息610中的物理段顺序信息724的开始位置与重写型信息存储介质中的物理段地址601的开始位置一致。通过将物理段顺序信息位置调整到重写型，介质类型之间的兼容性被增强。此外，在既可使用重写型信息存储介质又可使用一次写入型信息存储介质的信息记录/再现设备中，通过共享使用摆动信号的地址检测控制，可以实现简化。
图16上的(b)所示的数据段地址725用数字描述了关于数据段的地址信息。如上所述，在本实施例中1个ECC块包括32个扇区。因此，分配在具体ECC块中的开始位置的扇区的物理扇区号的最低有效5位与分配到相邻ECC块中的开始位置的扇区的扇区号一致。在设置物理扇区号来使得分配到ECC块中的开始位置的扇区的物理扇区号的最低有效5位变成“00000”的情况下，存在于相同ECC块中的所有扇区的物理扇区号的最低有效第6位和随后的位彼此一致。因此，存在于相同ECC块中的扇区的物理扇区号的最低有效5位数据被消除，然后通过仅仅对关于最低有效第6位和随后的位的数据进行取样所获得的地址信息被定义为ECC块地址(或ECC块地址号)。通过摆动调制预先记录的数据段地址725(或物理段块号信息)与上述的ECC块地址一致。因此，如果通过数据段地址显示关于依靠摆动调制的物理段块的位置信息，则产生下面有益效果数据量逐5位地减少，与通过物理段号显示信息的情况相比，简化了访问时的当前位置检测。
在图16的(b)和(c)所示的CRC码726的情况下，即使关于从物理段的类型标识信息721到数据段地址725的24地址位的CRC码(纠错码)和从段信息727到物理段顺序信息724的24地址位的CRC码部分错误地读取了摆动调制信号，也能够通过该CRC码726来部分地修正这样错误读取的信号。
在一次写入型信息存储介质中，等价于保留15地址位的区域被分配到统一区域609，并且从第12到第16数据单元的5个摆动数据单元的内部全部作为NPW(调制区域598不存在)。
图16上的(c)中所示的物理段块地址728作为对用7个物理段配置1个单元的每个物理段块所设置的地址。与数据导入DTRDI中的第一物理段块有关的物理段块地址被设置为“1358h”。包括数据区域DTA，从数据导入DTLDI中的第一物理段块到数据导出DTLDO中的最后物理段块，顺序逐一地增加物理段块地址的值。
物理段顺序信息724表示1个物理段块中的物理段的顺序，针对第一物理段设置为“0”，针对最后物理段设置为“6”。
图16上的(c)中所示的实施例的特征在于物理段块地址728被分配到物理段顺序信息724之前的位置。例如，如在表18所示的RMD字段1中一样，经常通过该物理段块地址来管理地址信息。在根据这些管理信息项访问预定物理段块地址的情况下，摆动信号检测单元首先检测图16上的(c)中所示的摆动汇点区域580的位置，然后从紧接着记录在摆动汇点区域580之后的信息开始来顺序将信息解码。在物理段块地址存在于物理段顺序信息724之前的位置的情况下，可以首先将物理段块地址解码，并且判断其是否是预定物理段块地址而不用将物理段顺序信息724解码。因此，存在有益效果使用摆动地址提高了可访问性。
段信息727的内部由类型标识信息721和保留区域723组成。
本实施例的特征在于类型标识信息721紧接着分配在图16上的(c)中的摆动汇点区域580之后。如上所述，尽管没有示出，但是摆动信号检测单元首先检测图16上的(c)中的摆动汇点区域580，然后从紧接着记录在摆动汇点区域580之后的信息开始顺序解码信息。因此，通过将类型标识信息721紧接着分配到摆动汇点区域580之后，能够进行物理段中调制区域的布局位置检验，从而可以使用摆动地址来实现高速度访问处理。
(测量摆动检测信号的方法)参照图18所示的流程图，描述用于测量摆动检测信号的最大幅值(Wppmax)和最小幅值(Wppmin)以指明再现信号质量从而将摆动信号的串扰量限制为等于或小于特定量的方法。如步骤ST01所示，摆动信号输入到频谱分析仪。这里，该频谱分析仪的参数设置如下中心频率 697kHz频率宽度 0Hz分辨带宽度10kHz视频带宽度30Hz接下来，在步骤ST02，通过改变盘的旋转频率来调整线速度，以便以预定值设置摆动信号频率。
在本实施例中，由于使用H格式，所以摆动的信号频率的预定值被设置为697kHz。
现在将描述测量摆动检测信号的载波水平的最大值(Cwmax)和最小值(Cwmin)的例子。
由于根据本实施例的一次写入型存储介质使用CLV(恒定线速度)记录系统，所以相邻轨道之间的摆动相位根据轨道位置而改变。在相邻轨道之间的摆动相位一致的情况下，摆动检测信号的载波水平变得最高，然后获得最大值(Cwmax)。此外，当相邻轨道之间的摆动相位相反时，在相邻轨道的串扰的影响下摆动检测信号变得最低，从而获得最小值(Cwmin)。因此，在沿着轨道从内圆周到外圆周来执行寻道的情况下，要被检测的摆动检测信号的载波的幅值以4轨道周期波动。
在本实施例中，逐4轨道地检测摆动载波信号，然后逐4轨道地测量最大值(Cwmax)和最小值(Cwmin)。然后，在步骤S03中，一对最大值(Cwmax)和最小值(Cwmin)被存储为30或更多对的数据。
接下来，在步骤ST04中使用下面的计算公式从最大值(Cwmax)和最小值(Cwmin)的平均值计算最大幅值(Wppmax)和最小幅值(Wppmin)。
在下面的公式中，R表示频谱分析仪的端电阻值。现在将描述从Cwmax和Cwmin计算Wppmax和Wppmin的公式。
在dBm单位系统中，0dBm＝1mW定义为基准。这里，当获得功率Wa＝1mW时的电压幅值Vo如下Wao＝IVo＝Vo×Vo/R＝1/1000W。
因此，获得Vo＝(R/1000)1/2。
接下来，获得摆动幅值Wpp[V]与由频谱分析仪监视的载波水平Cw[dBm]之间的关系如下。这里，Wpp是正弦波，因此当该幅值表示为有效值时，其满足Wpp-rms＝Wpp/(2×21/2)得到Cw＝20×log(Wpp-rms/Vo)[dBm]。
因此，其满足Cw＝10×log(Wpp-rms/Vo)2当在上述公式中进行对数变换时，其满足(Wpp-rms/Vo)2＝10(Cw/10)＝{[Wpp/(2×21/2)/Vo]}2＝{Wpp/(2×22)/(R/1000)1/2}2＝(Wpp2/8)/(R/1000)Wpp22＝(8×R)/(1000×10(Cw/10))
＝8×R×10(-3)×10(Cw/10)＝8×R×10(Cw/10)(-3)Wpp＝{8×R×10(Cw/10)(-3)}1/2(61)现在，图19示出了摆动信号和轨道移位检测信号的特性。
接下来，尽管没有示出，但是作为由图19的(a)所示的光头检测的轨道移位检测信号的信号(I1-I2)被输入到摆动信号检测单元。
现在将描述存在于信息记录/再现单元中的光头的内部结构。如图19上的(a)所示，从半导体激光器1021发出的激光束通过准直透镜1022而变成平行光束。该平行光束通过分束器1023而聚焦在物镜1028上。然后，该聚焦的光束照射到信息存储介质1001的预制沟槽区域1011。预制沟槽区域1011执行很小摆动。从摆动的预制沟槽区域1011反射的光束穿过物镜1028；该穿过的光束被分束器1023反射；该反射的光束通过聚焦透镜1024照射到光检测器1025。
光检测器1025由光检测单元1025a和光检测单元1025b组成。能够获得从各检测单元1025a和1025b检测的信号I1和信号I2之间的差，然后，尽管没有示出，但是这些信号被输入到摆动信号检测单元。如图19上的(a)所示，光头能够检测推挽系统的摆动信号和轨道移位检测信号中的任何一个。
当轨道环路处于ON时，摆动频率的带宽高于寻道带宽，从而能够从光头检测到摆动信号。这里，当相邻轨道之间的预制沟槽的摆动相位彼此相同时，获得最大幅值Wppmax。当摆动相位反向时，在相邻轨道的串扰的影响下摆动信号幅值降低，并且获得最小幅值Wppmin。
在本发明中，进行发明创造来指明在最大幅值(Wppmax)和最小幅值(Wppmin)之间的条件，并且实现更稳定的摆动检测。即，将摆动信号检测单元设计为即使摆动检测信号的幅值改变为最大值的3倍，也能够稳定进行信号检测。此外，希望在串扰的影响下摆动检测信号的幅值的改变率等于或小于1/2。
因此，在本实施例中，采取了中间值，并且通过用允许的摆动信号的最大值除以摆动信号的最小值所获得的值(Wppmax÷Wppmin)被设置为2.3或更小。
在本实施例中，(Wppmax÷Wppmin)的值被设置为2.3或更小，然而鉴于摆动信号检测单元的性能，即使值(Wppmax÷Wppmin)为3或更大，也能够稳定检测信号。此外，在高精确度执行摆动信号检测的情况下，(Wppmax÷Wppmin)的值可以是2或更小。预制沟槽区域1011的摆动幅值被设置为满足上述的条件。
如图19上的(b)所示，在轨道环路处于OFF的情况下，从光头出现轨道移位检测信号。此时，轨道移位检测信号的最大幅值表示为(I1-I2)pp。通过获得从光检测单元1025a检测的信号I1和从光检测单元1025b检测的信号I2之间的差获得该值(I1-I2)pp。因此获得的信号通过关闭频率(截止频率)为30kHz的低通滤波器后被信号处理。该低通滤波器由初级滤波器组成。此外，通过未记录区域中的未记录数据区域(DTA)和数据导入区域(DTLDI)或数据导出区域(DTLDO)来测量值(I1-I2)pp。
现在将参照图20来描述用于测量轨道移位检测信号的幅值(I1-I2)pp的方法。
在步骤ST11中，从图19A中所示的光头获得的信号(I1-I2)pp被输入到关闭频率(截止频率)fc＝30kHz的低通滤波器。
在步骤ST12中，响应于低通滤波器输出逐轨道地测量幅值，并且累积30个或更多采样。
在步骤ST13中，通过采取在步骤ST12中获得的采样的平均值获得(I1-I2)pp。
尽管没有示出，但是摆动信号检测单元通过使用相同检测器电路来检测摆动信号和轨道移位检测信号，从而能够通过一个检测器电路来处理(共享)两个工作，因此能够促进电路简化。
(测量NBSNR的方法)现在，参照图22所示的流程图来描述用于测量NBSNR的具体方法。首先，400条或更多轨道是连续的随机数据被记录在信息存储介质上(步骤ST21)。接下来，在步骤ST21中记录的轨道上无轨道跳跃地执行寻道，测量载波水平和噪声水平(步骤ST22)。根据按照步骤ST22测量的载波水平和噪声水平之间的差获得NBSNR。
现在，将描述为何将平方电路(图21中的1033)用于测量摆动检测信号的C/N比的原因。如图23所示，在H格式实施例中，通过相位调制提供摆动检测信号。在相位调制的情况下，如图23的(a)所示，在相位的变换部分(NPW和IPW之间)的变换部分α出现一些频率分量。
因此，当通过频谱分析仪1034分析图23上的(a)中所示的摆动检测信号的波长时，如图24所示，在载波的外围出现大的峰值。因此，指明噪声水平变得困难。
相反，如图23上的(b)所示，当采用通过相位调制所调制的摆动检测信号的平方时，IPW区域和NPW区域之间的波形的平方变得相同。因此，诸如相位变换的部分没有出现，获得了非常稳定的信号，并且消除了图24所示的载波信号的外围的高耸部分。结果，获得了单个峰值的载波水平的信号。
本领域技术人员能够根据上述多种实施例来实现本发明。此外，对本领域技术人员显而易见的是，可以构思出这些实施例的多种变型例子。即使一个人不具备发明创造能力，本发明也能够应用到多种实施例。因此，在不脱离所公开的原理和新颖特征的情况下，本发明覆盖了宽的范围并且不限于上述的实施例。
权利要求
1.一种光盘，其特征在于包含基片层(11)，其折射率从1.50到1.70，并且厚度X(μm)等于或大于f(n)-13μm；第一信息层(12)，形成于所述基片层上；粘合层(13)，形成于所述第一信息层上并且厚度Y(μm)等于或大于20μm；以及第二信息层(14)，形成于所述粘合层上，其中，满足X+Y≤f(n)+30μm并且f(n)＜X+Y/2，其中f(n)由下面公式给出f(n)＝(A1×n3)(n2+A2)/(n2-1)(n2+A3)×1000(μm)，其中，“n”是所述基片层的折射率，A1是0.26200，A2是-0.32400，A3是0.00595。
2.如权利要求1所述的光盘，其特征在于在所述第一信息层和第二信息层中，与用于记录/再现的激光束的波长有关的反射率在3％到10％的范围内。
3.如权利要求1所述的光盘，其特征在于所述第二信息层的反射率是在所述第一信息层的反射率的0.8到1.2倍的范围内。
4.如权利要求1所述的光盘，其特征在于所述第一信息层和第二信息层的每个的导槽深度均是从25nm到100nm。
5.如权利要求1所述的光盘，其特征在于所述第一信息层和第二信息层的每个的导槽宽度均等于或小于0.4μm。
6.如权利要求1所述的光盘，其特征在于所述第一和第二信息层中的至少一个是使用光可逆地执行记录/擦除操作的层，并且所述一个信息层包括基片、能够可逆地改变原子序列的记录膜、保护膜和反射膜。
7.如权利要求1所述的光盘，其特征在于所述第一和第二信息层中的至少一个是使用光可逆地执行记录/擦除操作的层，并且所述一个信息层包括基片、能够可逆地改变原子序列的记录膜、具有结晶促进功能并且与所述记录膜接触的膜、保护膜和反射膜。
8.如权利要求1所述的光盘，其特征在于所述第一和第二信息层中的至少一个是使用光可逆地执行记录/擦除操作的层，并且包括有机颜料材料，所述有机颜料材料在使用的激光束的范围内能够进行光吸收。
9.如权利要求1所述的光盘，其特征在于在形成于所述第一和第二信息层中的导槽中，仅仅对靠近激光入射侧的导槽执行记录。
10.如权利要求1所述的光盘，其特征在于在形成于所述第一和第二信息层中的导槽中，仅仅对远离激光入射侧的导槽执行记录。
11.如权利要求1所述的光盘，其特征在于在形成于所述第一和第二信息层中的导槽中，对这两个导槽都执行记录。
12.如权利要求1所述的光盘，其特征在于对根据权利要求1的光盘执行信息记录和再现处理操作。
全文摘要
本发明提供了一种光盘，根据一个实施例，所述光盘包括基片层(11)，其折射率从1.50到1.70，并且厚度X(μm)等于或大于f(n)－13μm；第一信息层(12)，形成于所述基片层上；粘合层(13)，形成于所述第一信息层上并且厚度Y(μm)等于或大于20μm；以及第二信息层(14)，形成于所述粘合层上，其中，满足X+Y≤f(n)+30μm并且f(n)＜X+Y/2，f(n)由下面公式给出f(n)＝(A
文档编号G11B7/085GK101038765SQ20071008743
公开日2007年9月19日 申请日期2007年3月16日 优先权日2006年3月17日
发明者大间知范威, 中居司, 中村直正, 柚须圭一郎, 芦田纯生 申请人:株式会社东芝