记录功率修正方法及光盘记录再生装置的制作方法

专利名称：记录功率修正方法及光盘记录再生装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种对光盘进行数据记录时的记录功率的修正技术。
背景技术：
CD-R ( Compact Disk-Recordable ， 可记录光盘)、DVD士R ( Digital Versatile Disc土Recordable，可记录数字通用光盘)、HD-DVD-R (High Definition Digital Versatile Disc-Recordable,可记录高清数字通用光盘)或BD-R (Blu-ray Disc,可记录蓝光光盘) 等光盘具有如下构造，即，在透光性圆盘状基板的其中一面上形成着记录层、反射层以 及视需要形成着保护层。而且，在形成着记录层及反射层的所述基板的其中一面上，形 成着被称为凹槽的螺旋状或同心圆状的槽，在相邻的凹槽之间形成着被称为岸台的凸 部。对于所述光盘而言，是利用光盘记录再生装置， 一面使记录用激光束沿着槽进行追 踪， 一面将所述记录用激光束照射到凹槽上的记录层上，形成凹坑，由此进行记录。按 照所述凹坑的长度nT(将基准通道时钟间的比特的长度设为T，将n整数倍的长度设为 nT)、凹坑与凹坑之间的部分(以下称为空间)的长度nT、以及所述凹坑与空间的排列， 并通过照射再生用激光束将反射光转换为再生信号，进行再生。
进行所述记录及再生的光盘记录再生装置以如下方式进行设计，S卩，与因例如驱动 器、光盘(也称为媒体)、记录速度等而在对每个光盘进行记录时所不同的记录条件相 对应。为了符合并对应所述各记录条件，光盘记录再生装置采用对激光束强度(以下， 称为记录功率)进行最佳设定的方法。所述方法中具有将OPC (Optimal Power Calibration,最佳功率校准)设为一个选择机构的装置。所述OPC在进行数据记录前， 使输出到记录光盘内的测试区(功率校准区)的记录用激光束变化来进行测试记录。其 次，将在所述测试记录的结果中记录品质良好的最佳记录功率与预先注册的初始条件进 行比较，并进行选择设定。利用已设定的最佳记录功率的记录用激光束，对光盘的数据 记录区域进行记录。
接着，作为根据变更记录功率条件时的记录再生信号的变化表示记录状态的参数， 计算表示将记录波形再生而成的波形的非对称性的评价指标即一种不对称的P值，且使
所述P值以成为目标值或接近目标值的方式决定为最佳记录功率，且进行最佳记录修正。
而且，也众所周知采用了如下技术(ROPC: Running Optimal Power Calibration,运
行最佳功率校准)的装置，所述ROPC技术与依存于从所述光盘的内周到外周的膜厚及 光盘的翘曲的影响等的特性(灵敏度)变化相对应，因此，通过检测在数据记录中对记 录激光束的光点的光反馈(WRF)、或检测由于光学衍射而设置在主光点附近的次光点， 来获得与所述相同的P值、抖动(数字信号在时间轴方向上的波动)或与此相关的评价 指标的值，将所述各值输入到光盘本身或者光盘记录再生装置，实时地使记录功率条件 最佳化。
此外，作为所述技术的简单方法，也记载着采用了如下技术(WOPC: Walking Optimal Power Calibration,动态激光束智导)的装置，所述WOPC技术在从光盘的内周到外周 所实施的数据记录中，在特定的光盘位置，暂时停止记录动作，并再生之前刚记录的数 据区域，由此，来获得p值、抖动或与此相关的评价指标的值，并使记录功率条件最佳 化。例如，参考日本专利特开2004 — 234812号公报。
专利文献1日本专利特开2004_234812号公报
然而，在所述WOPC中，DVD (Digital Versatile Disc,数字通用光盘)中所使用的 将卩值作为指标的评价技术、与使用PRML (Partial Response Maximum Likelihood,局 部响应最大相似)信号处理方式的高密度记录再生用光盘记录再生系统(依照蓝光规格 或HD-DVD规格的系统)的对应不充分，从而无法适当修正记录功率。
而且，背景技术中存在如下问题无法适用于P值或与P相同而计算方法不同的评 价指标的不对称与记录功率不具有相关关系的高密度记录再生用光盘，从而无法适当修 正记录功率。

发明内容
本发明着眼于以上问题点，其目的在于提供一种也可以适用于高密度光记录再生用 光盘记录再生系统(以下，称为高密度光记录再生装置)的记录功率的修正技术。
而且，本发明的目的在于提供一种可以根据新颖的评价指标来适当修正记录功率的 技术。
此外，本发明的目的在于提供一种用以更新记录功率的修正数据以便更加正确地修 正高密度光记录再生装置的记录功率的技术。 [解决问题的技术手段]
本发明的第1发明的记录功率修正方法包括如下步骤在对光盘进行数据记录后暂 时停止，再生所述数据记录的固定期间，并检测基于所述再生的再生信号的步骤；根据
已检测出的所述再生信号，确定包含己预先规定的码的检测图案的步骤；检测符合所述 检测图案的所述再生信号的信号状态的步骤；以及根据已检测出的所述信号状态、以及 依据所述检测图案确定的基准状态，决定数据记录中的记录功率的修正方向与修正量的 步骤；由此，达成所述目的。
根据第1发明，以所述方式基于检测图案来进行处理，由此可以对采用PRML信号 处理方式的高密度光记录再生装置适当地进行记录功率修正。
而且，有时所述己预先规定的码是具有最接近再生激光束的光点有效直径的长度的 码。于下进行详细说明，通过着眼于所述码，可以对p或不对称与记录功率不具有相关 关系的光盘进行处理。
此外，有时以上所述的基准状态为与检测图案相对应的理论值。而且，有时根据在 数据记录前进行的记录功率的事前调整中所获得的数据，来决定所述基准状态。
而且，有时记录功率的修正量为已预先规定的固定量。即，在所述决定步骤中仅决 定修正方向，修正量为固定量。
另一方面，以上所述的决定步骤也可以包括如下步骤根据信号状态与基准状态的 差、以及信号状态与基准状态的已预先规定的关系，计算记录功率的修正量。以此方式， 通过基于新颖的评价指标即信号状态与基准状态的差来计算修正量，可以对高密度光记 录再生装置适当地进行记录功率修正。此外，信号状态与基准状态的差也可以包含极性 (例如正/负)的信息。
此外，也可以利用在数据记录前进行的记录功率的事前调整中所获得的、信号状态 与基准状态的关系式或表示该关系式的表格，来确定信号状态与基准状态的已预先规定 的关系。
而且，有时利用再生信号的振幅电平，来确定信号状态及基准状态。另一方面，有 时也利用在信号状态与基准状态的差所出现的范围内限制电平与再生信号交叉的2点间 的长度信息，来确定信号状态及基准状态。
本发明的第2发明的记录功率修正方法包括如下步骤在对光盘进行数据记录后暂 时停止，再生所述数据记录的固定期间，检测基于所述再生的再生信号的步骤；根据已 检测出的所述再生信号确定包含码的检测图案的步骤，所述码具有最接近再生激光束的 光点有效直径的长度；检测符合所述检测图案的所述再生信号的信号状态的步骤；以及 修正步骤，根据已检测出的所述信号状态，实施数据记录中的记录功率的修正；由此， 达成所述目的。
根据第2发明，以此方式，着眼于具有最接近再生激光束的光点有效直径的长度的 码，并利用所述新颖的评价指标实施记录功率的修正，由此可以更适当地修正记录功率。
而且，所述信号状态可以为振幅电平，此时，所述修正步骤可以包括计算码的不对 称值的步骤，所述码具有最接近再生激光束的光点有效直径的长度。以此方式，通过导 入新颖的评价指标，可以适当地设定记录功率的修正量。
此外，所述信号状态可以为振幅电平，此时，所述修正步骤可以包括计算码的孔径 比或振幅电平变动的值的步骤，所述码具有最接近再生激光束的光点有效直径的长度。 以此方式，可以导入新的评价指标。
本发明的第3发明的记录功率的修正方法包括如下步骤在对光盘进行数据记录后 暂时停止，再生所述数据记录的固定期间，检测基于所述再生的再生信号的步骤；根据 已检测出的所述再生信号，确定包含已预先规定的码的检测图案的步骤；检测符合所述 检测图案的所述再生信号的信号状态的步骤；评价值计算步骤，根据已检测出的所述信 号状态，计算评价值；以及使用所述数据记录中的记录功率与所述评价值，修正所述记 录功率的修正式或修正表的步骤；由此，达成所述目的。
根据第3发明，以此方式，通过修正记录功率的修正式或修正表，可以更新记录功 率的修正数据，以便可以在每次实施本发明的第3形态的记录功率修正方法时，修正记 录功率的修正式或修正表，更正确地修正记录功率，从而进行适当的数据记录。
而且，可以在所述评价值计算步骤中，进一步使用根据检测图案所确定的基准状态 来计算评价值。
此外，所述评价值可以是码的不对称值、孔径比或振幅电平变动，所述码具有最接 近再生激光束的光点有效直径的长度。
而且，所述评价值可以是基于已检测出的信号状态与根据检测图案所确定的基准状 态的差的值。而且，以上所述的评价值可以是特定的限制电平与再生信号交叉的2点间 的长度。
可以作成用以使处理器执行本发明的记录功率修正方法的程序，该程序存储在例如 软磁盘、CD-ROM (compact disc read-only memory'只读光盘存储器)等光盘，磁光盘、 半导体存储器、硬盘等存储媒体或存储装置中。而且，有时经由网络，利用数字信号进 行发布。此外，处理中途的数据暂时保管在处理器的存储器等存储装置中。


图1是表示先前的不对称与记录功率的关系的图。
图2是表示数据码长与信号电压电平的关系的图。
图3 (a)及图3 (b)是表示光点有效直径与标记长度的关系的图。
图4是表示时间(nT长的标记)与再生时的振幅电平的关系的图。
图5是表示数据抽样与振幅电平的关系的图。
图6是本发明的实施形态的光盘记录再生系统的功能框图。
图7是表示本发明的实施形态的处理流程的图。
图8是表示再生4T标记时的数据抽样与振幅电平的关系的图。
图9是表示记录功率与评价指标ProfileGap的关系的图。
图IO是用以说明振幅电平的波形图。
图11是表示4T不对称与记录功率的关系的图。
图12是表示4T孔径比与记录功率的关系的图。
图13是表示振幅电平变动(差分)与记录功率的关系的图。
图14是表示振幅电平变动(比率)与记录功率的关系的图。
图15是用以说明特定的限制电平与信号的交叉点间的长度(时间)的图。
符号的说明
1光学单元(PU)
3前置均衡器(Pre-EQ)
5ADC
7均衡器
9维特比译码器
11控制部
13记录波形生成部
15光盘
111码识别部
113检测指示部
115检测部
117运算部
具体实施例方式
先前，使用了利用称作不对称或p的评价指标的值的变化来评价记录功率的方法，
但如图1所示，在高密度光记录再生用光盘(蓝光规格或HD-DVD规格的光盘，以下
仅称为"高密度光盘")中，存在所述指标与记录功率不具有相关关系的状态的可能性
较高。图1中，纵轴表示不对称值(程度)，横轴表示记录功率，描绘在使记录功率变 化时不对称如何变化。图1表示2T3T的不对称值的变化、2T8T的不对称值的变化、3T8T 的不对称值的情况。通常仅使用最短码与最长码的不对称，但仿效HD-DVD规格，采 用最短码与次短码的不对称值以及所述次短码与最长码的不对称值。尤其，着眼于2T8T 的不对称值及3T8T的不对称值可知，所述各不对称值均为以大致固定值为中心波动而 变化的曲线，与记录功率的相关关系非常低。
因此，将所述不对称值等仅用作评价指标时，无法适当评价记录功率的强弱。 此处所述的不对称与P相同，是表示眼图的非对称性的值，在DC (Direct current) (直流)连接的评价电路系统中，当通过利用光学拾波器读出记录数据而获得HF(High Frequency,高频)信号，且将空间侧的最大振幅电平设为I2S、将凹坑侧的最小振幅电 平设为I2P、将空间侧的最小振幅电平设为I8S、将凹坑侧的最大振幅电平设为I8P时， 所述不对称为利用下式求出的评价指标。
不对称={ (I2S + I2P) /2— (I8S + I8P) /2}/ (I8S —I8P)
因此，研究用以适当评价记录功率的强弱的新的评价指标。首先，最初考察用以检 测由记录功率引起的记录状态的变化的检测图案(标记与空间的出现图案)。
图2表示使记录功率变化时的各码(nT长的标记)的振幅电平的变化。S卩，图2 中，纵轴表示将振幅电平作为信号电压电平而表示，横轴表示数据码(如果是蓝光规格， 则nT长的标记的n为2至8的整数，如果是HD-DVD规格，则n为2至ll的整数)。 如根据图2可知，将记录功率作为参数，以任一记录功率，振幅电平在4T到6T之间均 达到峰值电平，与6T以上的长度码的振幅电平的差非常小。
这是因为，当使再生激光束聚光到凹坑等中时，激光束的光点具有有效直径(—0.4 pm)。原因如下如图3 (a)所示，当凹坑的标记长度小于再生激光束的光点的有效直 径时，作为振幅电平的信号电压电平与标记长度成比例地变化，如图3(b)所示，当标 记长度充分大于光点的有效直径时，信号电压电平基本上不受标记长度影响。
换言之，当光点有效直径〉标记长度时，标记的长度、宽度、深度的变化为振幅变 动的主要原因，与此相对，当光点有效直径<标记长度时，标记的长度的变化不会成为 振幅变动的主要原因，仅标记的宽度、深度的变化为振幅变动的主要原因。
以此方式，根据各振幅变动主要原因的综合的影响，并通过光点有效直径〉标记长 度的2T的标记的振幅电平、以及光点有效直径<标记长度的8T (或振幅为峰值电平的 其他码)的标记的振幅电平而计算的2T8T的不对称值为相对于记录功率基本无变化的 指标。
此处，图4仅表示图2所示的记录功率变化时的振幅变化范例的最小功率的变化与 最大功率的变化的概要。图4中，纵轴表示振幅电平、横轴表示时间以及与时间成比例
的对应数据码。此外，作为参考，以可以与振幅变化范例对应的方式图示着写入对应码
数据的脉冲。参照图4时，越是高功率，直至振幅电平达到峰值为止越需要时间。例如， 如果是低功率，则达到峰值的时间仅需要相当于4T的时间。然而，如果是高功率，则 达到峰值的时间必须要相当于5T的时间。因此，根据所述数据可以确认，4T的标记时， 记录功率对所述峰值电平的影响最大。即，具有如下相关关系形成4T的标记时的记 录功率对再生4T的标记时的振幅电平造成影响。
引起所述现象的理由是，蓝光规格中的再生激光束的光点有效直径约为0.4pm， 4T 标记的码长为最接近光点有效直径的0.447 )Lun。即，根据记录功率的强弱，标记等的码 长发生变动，结果为，对再生时的振幅电平造成较大影响。作为参考表示3T的码长与 5T的码长的数值时，3T的码长为0.335 pm， 5T的码长为0.559 pm。
图5表示蓝光规格中所采用的PR (Partial Response,部分响应)(1、 2、 2、 1)的 理想状态推移图。所述PR是部分响应的简称，表示相对于用以实现无失真条件下的频 率响应，码间干扰残留的不完全的频率响应，且关于一种与最大似然解码技术组合来弥 补由于去除码间干扰而使信号品质降低的信号处理的方式。在所述图5中，以向上的曲 线表示4T标记的振幅电平，恰好达到振幅峰值电平(0至6电平)的峰值6。图5所示 的数据抽样的振幅电平的各标图是将理想信号转换为振幅电平的值，所述理想信号根据 4T的标记长度处于"低到高"条件时的剖面值(1、 3、 5、 6、 5、 3、 1)而获得。另一 方面，3T标记的振幅电平如图2及图4可知未达到振幅峰值电平。根据所述内容也可知， 4T标记时最容易受到记录功率的影响。而且，图5中向下的曲线表示4T的空间情况的 理想状态推移。如此可知，4T标记的振幅电平相应于记录功率而发生较大地变化。此外， 使4T的标记长度处于"高到低"条件下并根据维特比算法所计算的剖面值，被替换图5 的标记与空间的数据抽样的剖面值。
根据所述理由，以4T标记为中心，采用包含邻接空间的影响的码图案作为检测图 案，将所述记录状态作为信号状态加以把握，由此，可以调整记录功率。此外，较理想 的是，以不受空间码或图案影响的方式，将4T标记的前后的码条件确定为例如3T空间 以上的码条件，所述空间码的长度为不受码间干扰的影响的程度。因此，如果采用3T 空间、4T标记、3T空间的一组码图案，4T空间、4T标记、4T空间的一组码图案，5T 空间、4T标记、5T空间的一组码图案，6T空间、4T标记、6T空间的一组码图案，则 可以无误地达成本发明的目的。
此外，所述4T标记的码是根据蓝光规格的BD-R的再生激光束的光点有效直径而 确定的，当然，不一定所有情况下4T标记均适当。例如，对于HD-DVD规格所采用的 PR(l、 2、 2、 2、 1)而言，较好的是，以5T标记为中心，将包含邻接空间的影响的码 图案作为检测图案。此外，较理想的是，以不受空间码或图案影响的方式，将5T标记 的前后的码条件确定为例如4T空间以上的码条件，所述空间码的长度为不受码间干扰 的影响的程度。因此，如果采用4T空间、5T标记、4T空间的一组码图案，5T空间、 5T标记、5T空间的一组码图案，6T空间、5T标记、6T空间的一组码图案，7T空间、 5T标记、7T空间的一组码图案等，则可以无误地达成本发明的目的。
图6表示本发明的第1实施形态的高密度光记录再生装置的功能框图。本实施形态 的高密度光记录再生装置具有光学单元(PU) 1，用以对高密度光盘15照射激光束来 进行记录或再生；前置均衡器(Pre-EQ， Pre-equalizer) 3，对光学单元1中所包含的光 电探测器的电子信号进行易于转换为下一步骤的数字信号的波形均衡处理；ADC (Analog Digital Converter,模拟数字转换器)5，将模拟信号转换为数字信号；均衡器 7，进行使最短标记长度的振幅接近DVD等的振幅的波形的线性均衡，g卩，对于对己2 值化的数字信号进行的码间干扰残留的不完全的频率响应，按照理想信号的振幅电平的 比率，使4T标记的长度方向的中央位置的振幅电平为峰值、且受到与离开中央位置的 位置处邻接的3T空间影响的振幅电平的值均衡；维特比译码器9，从已利用均衡器7 通过转换进行的波形均衡的再生信号中选择解码为最可能的标准信号系列，输出不受杂 音影响的最大似然解码信号(返回到已2值化的数字信号的信号)；控制部11，使用均 衡器7及维特比译码器9的输出实施处理；以及记录波形生成部B，根据控制部ll的 设定输出，生成用于写入数据(Writedata)的记录波形，并输出到光学单元l中。所述 高密度光记录再生装置的构成为，例如，记录到高密度光盘的凹坑的最短标记长度为 0.149 pm，与DVD的情况相比，为其1/2.7，因此，接近光束可以识别凹坑的光学分辨 率的极限。而且，利用光束再生标记的凹坑列时的再生信号的振幅随着标记长度缩短而 降低，在分辨率的极限处变为零。此外，不仅振幅变为零，靠近的进行记录的标记列中 相邻的标记间产生干扰(称为码间干扰)，再生信号出现失真。考虑到所述特殊情况， 高密度光记录再生装置的构成采用进行PRML信号处理的构成。
控制部ll具有码识别部lll，使均衡器7的输出(使波形线性地均衡后所得的再 生的RF (Radio Frequency,射频)信号)与维特比译码器9的输出(最大似然解码的码 数据)相对应；检测指示部113，根据码识别部111的码数据，检测已预先设定的检测
图案、例如受到邻接的3T空间的影响的4T标记振幅电平的记录状态的出现时，对振幅 电平的检测进行特定指示；检测部115，根据检测指示部113的指示，对码识别部111 的RF信号，检测处理振幅电平的信号状态；以及运算部117，具有未图示的存储器且
根据检测部115的输出生成基准状态，实施于下所述的运算，且对记录波形生成部13 进行设定。有时运算部117通过与处理器组合，来实现例如用以实施以下所说明的功能
的程序。此时，有时也在处理器内的存储器中存储着程序。
其次，使用图6至图8，来说明图6所示的高密度光记录再生装置的处理内容。最 初，在进行称为功率校准的记录时，实施进行适当记录的激光束的强度(称为记录功率) 的决定，获得初始基准数据(步骤S1)。例如，控制部111的运算部117以数种记录功 率，将特定的图案写入例如设置在光盘15的最内周的试写区域，根据已预先规定的基 准，决定此光盘15的初始的记录功率。各种文献中记载着所述具体顺序，因为并非是 本实施形态中的主要部分，所以省略所述说明。
与所述功率校准中进行的再生动作并行地实施如下所述的初始基准数据的获得。以 下，说明将RF信号确定为检测图案并设定在检测指示部113中的情况，所述RF信号 将"3T空间、4T标记、3T空间"的已预先规定的码作为一组图案。检测指示部113根 据与码识别部111的码数据等效的RF信号，检测如上所述的检测图案时，将检测指示 输出到检测部115。根据所述输出，检测部115对于码识别部111的RF信号，响应检测 指示，将"3T空间、4T标记、3T空间"的已预先规定的码作为检测图案，且将所述信 号状态作为受到前后的3T空间影响的4T标记的振幅电平，进行检测。
使用图8，利用已检测到的信号中受到前后的3T空间影响的进行了 4T标记长度的 振幅电平的运算所得的曲线值、与4T的标记长度的利用理想信号的维特比算法计算出 的理想状态的剖面值的关系，说明检测部115的处理。图8中，纵轴表示振幅电平，横 轴表示数据抽样编号。检测部115根据检测指示部113的指示，以图8所示的检测信号 b的例如峰值为中心，检测7点的振幅电平(数据抽样值)，并输出到运算部117。此外， 图8的7点为一例。只要处于本发明宗旨的范围内，则检测对象的码长的长度，例如， 为4T标记时，可进一步扩大4T的检测长度范围，或为5T标记时，可进一步扩大5T 的检测长度范围，例如，可以扩大为8T等的检测长度范围，来获得较多的数据抽样。
运算部117将以由图8的虚线A包围的峰值为中心的3点确定为运算抽样，利用以 下算式，计算评价值ProfileGap。此外，所述3点仅为一例。
ProfileGap =乞W — * W}(l)
此处，D (x)是将例如图8所示的检测信号b的值设为数据抽样值，R (x)是图8 所示的理想信号a的值。x是数据剖面编号(数据抽样编号)，a是运算开始数据剖面编 号，n是数据抽样数。图9的例中，a为3， n为7。
算式(1)利用由虚线A包围的3点，来合计检测信号b与理想信号a的分离量， 如图8所示，当检测信号b低于理想信号a时，记录功率不足，相反，当检测信号b超 过理想信号时，记录功率过量。可以利用评价值ProfikGap的码对所述情况进行判断， 且可以求出记录功率不足以及记录功率过量的修正方向、与所述修正量。
在每次对检测图案进行检测时实施所述处理，计算评价值ProfileGap的平均值，且 与各时的记录功率值相对应，将所述评价值ProfileGap的平均值存储在运算部117的存 储器中。
此外，运算部117具有如下功能进行回归计算，来计算表示评价值ProfileGap (具 体而言是平均值)与记录功率的关系的直线的比例系数。
图9表示评价值ProfileGap (纵轴x)与记录功率(横轴y)的关系。图9中，纵轴 表示评价值ProfileGap,横轴表示记录功率。而且，图9的图表一面以每个记录功率图 9的横轴所示的记录功率来改变图8所示的测定， 一面描绘评价值ProfileGap,所述各 数值存储到运算部117中的存储器中。其结果为，通过对图9所示的菱形的各点实施回 归计算，来计算直线的算式(比例系数及截距)。也可以在步骤S1中实施所述回归计算， 在最初的步骤S13中使用。
此外，图9的例中，记录功率增加时，评价值ProfileGap减少。这表示，与记录功 率的增加相应，并相对于振幅电平为峰值的长码的标记，4T标记的振幅减小。
而且，本实施形态中，表示了在步骤Sl中获得用以计算如图9所示的直线的原始 数据的例，但例如也可以预先将用以计算如图9所示的直线的原始数据存储在运算部117
的存储器中，使用所述结果。
此外，为了进行以下处理，在步骤Sl中，保持关于根据其他基准而在功率校准中 设为最佳的记录功率的评价值ProfileGap及剖面数据(图8的检测信号b的各数据抽样 值)。各数据抽样值采用例如平均值。
返回图7的说明，运算部117最初根据功率校准的结果设定记录条件，之后根据于 后所述的步骤S13的结果，将记录条件设定在记录波形生成部13中(步骤S3)。
并且，记录波形生成部13根据写入数据生成记录波形，经由光学单元1，对光盘 15实施数据记录(步骤S5)。所述处理与先前完全相同。本实施形态中，例如在记录特 定量的数据后、经过特定时间后、或变更记录速度后，控制部11判断数据记录是否结 束(步骤S7)。数据记录已结束时(步骤S7: Yes路径)，结束处理。另一方面，应记录 的数据仍有残留时(步骤S7: No路径)，控制部11暂时停止数据记录(步骤S9)。并 且，控制部11实施前次数据记录停止后进行数据记录的部分的再生(检测)(步骤Sll)。
与已在步骤Sll中说明的相同，使步骤Sl进行相同的操作。在所述操作中，检测 指示部113根据码识别部111的码数据，检测"3T空间、4T标记、3T空间"的检测图 案时，将检测指示输出到检测部115。检测部115响应检测指示，对于码识别部111的 RF信号，检测振幅电平，并输出到运算部117。
运算部117将由图8的虚线A包围的以峰值为中心的3点确定为运算抽样，利用算 式(1)，计算评价值ProfileGap。在所述算式(1)中，R (x)的值可以直接使用图8 所示的理想信号a的值，也可以使用例如在步骤Sl的功率校准中所获得的最佳记录功 率时的剖面数据。
在每次对检测图案进行检测时实施所述处理，计算评价值ProfileGap的平均值，且 与此时的记录功率值相应，将所述评价值ProfileGap的平均值存储在运算部117的存储 器中。并且，运算部117对存储在存储器中的评价值ProfileGap的平均值与记录功率的 组进行回归计算，对表示评价值ProfileGap (具体而言是平均值)与记录功率的关系的 直线的比例系数进行再计算。
并且，运算部117使用直线的比例系数，来计算记录功率的修正量(包含增加/减少) (步骤S13)，且返回到步骤S3，对记录波形生成部13设定记录条件，其中所述直线表 示此次所计算出的评价值ProfileGap与最佳记录功率时的评价值ProfileGap的差、以及 之前已计算出的评价值ProfileGap (具体而言是平均值)与记录功率的关系。此处，通 过此次所计算出的评价值ProfileGap与最佳记录功率时的评价值ProfileGap的差x比例 系数，来计算修正量。
以此方式，可以一面进行学习来修正表示评价值ProfileGap (具体而言是平均值) 与记录功率的关系的直线， 一面确定更适当的修正量。
此外，以上表示了进行学习的例，但也可以不进行回归计算，仅判断评价值 ProfileGap是正值或负值，将已预先规定的固定值(根据测定数据算出的值)确定为修
在第1实施形态中导入了作为新的评价指标的ProfileGap，但本实施形态中导入其 他评价指标，即不仅仅是不对称的4T的不对称。
为了进行以下说明，使用图ll说明振幅电平的名称。如图IO所示，将4T码的振 幅电平设为14H及I4L，将振幅电平为峰值或与峰值同等的码长为nT的码的振幅电平设 为InH及InL。
并且，4T不对称利用以下算式进行计算。
Asym.4T二( (InH + InL) — (I4H + I4L) }/{2x (InH —InL) } (2)
本实施形态中，代替第1实施形态中的评价指标ProfileGap，使用4T不对称。处理 流程本身与第1实施形态相同。此外，先前以来使用最短码与最长码、最短码与次短码 的不对称，但并非至今注目4T的不对称作为最接近光点有效直径的码长的不对称，而 是以所述4T的不对称为基准构想与记录功率的大致比例关系本身较为新颖。
图ll表示记录功率、4T的不对称、nT的不对称的关系的一例。图12中，横轴表 示记录功率，纵轴表示不对称值。图il中，当11 = 6吋，即表示4T6T不对称，当n二8 时，即表示4T8T不对称。任一情况下，记录功率增加时4T不对称值均减小。这是因为， 记录功率增加时，对于振幅电平为峰值的长码的标记，4T标记的热平衡破坏。
此外，也可以导入其他评价指标。作为本实施形态的评价指标，4T的孔径比14/In 以如下所示的方式而计算。
I4/In= (I4H—I4L) / (InH—InL) (3)
本实施形态中，代替第1实施形态中的评价指标ProfileGap,使用4T的孔径比I4/In。 处理流程本身与第1实施形态相同。
图12表示记录功率与4T的孔径比的关系的一例。图13中，横轴表示记录功率， 纵轴表示孔径比。图13中，当n二6时，即表示孔径比14/16，当n二8时，即表示孔径 比14/18。任一情况下，记录功率增加时，相对于振幅电平为峰值的长码的标记，标记 4T的孔径比均减小。
此外，也可以导入其他评价指标。利用以下算式(4)或算式(5)，计算本实施形 态的评价指标4T的振幅电平变动(I4H/InH)。 I4H/InH (差分)=(14H — InH) /InH (4) I4H/InH (比率)=I4H/InH (5)
本实施形态中，代替第1实施形态中的评价指标ProfileGap，使用4T的振幅电平变 动(14H/InH)。处理流程本身与第1实施形态相同。
图13表示记录功率与4T的振幅电平变动(差分)的关系的一例。图14中，横轴 表示记录功率，纵轴表示振幅电平变动。图13中，当n=6时，即表示振幅电平变动 14H/I6H，当n二8时，即表示振幅电平变动I4H/I8H。任一情况下，记录功率增加时， 相对于振幅电平为峰值的长码的标记，标记4T的振幅电平变动均减小。
同样，图14表示记录功率与4T的振幅电平变动(比率)的关系的一例。图15中， 横轴表示记录功率，纵轴表示振幅电平变动。图15中，当11=6时，即表示振幅电平变 动I4H/I6H，当n二8时，即表示振幅电平变动I4H/I8H。任一情况下，记录功率增加时， 相对于振幅电平为峰值的长码的标记，标记4T的振幅电平变动均减小。
此外，也可以导入其他评价指标。本实施形态中，将例如"3T空间、4T标记、3T 空间"作为检测图案进行检测，如图15所示，将理想信号与检测信号的振幅电平的差 所存在的范围设为限制电平，将此检测图案的检测信号与图示的限制电平的交叉点间的 时间(检测长度)t设为D (x)，将理想信号与所述限制电平的交叉点间的时间(理想 长度)t'设为R (x)。其中，t及t'的值仅存在1组。并且，根据第1实施形态中的处理 流程进行处理。以此方式，可以获得与第1实施形态相同的效果。
以上，说明了本发明的实施形态，但本发明并不限定于此。例如，图7所示的光记 录再生系统的功能框图为一例，只要可以实现以上所述的功能，则并不限于图6的功能 块构成。
而且，关于第2实施形态至第4的实施形态，也可以在功率校准中获得记录功率与 评价指标的关系，将该关系用于计算修正量，且可以预先将相同的数据保持在存储器中。 而且，也可以不保持算式的比例系数，而保持例如与所述算式对应的修正量表。
权利要求
1.一种记录功率修正方法，其特征在于包括如下步骤在对光盘进行数据记录后暂时停止，再生所述数据记录的固定期间，检测基于所述再生的再生信号的步骤；根据已检测出的所述再生信号，确定包含已预先规定的码的检测图案的步骤；检测符合所述检测图案的所述再生信号的信号状态的步骤；以及基于已检测出的所述信号状态、以及依据所述检测图案所确定的基准状态，决定数据记录中的记录功率的修正方向与修正量的步骤。
2. 根据权利要求1所述的记录功率修正方法，其特征在于所述已预先规定的码是具有最接近再生激光束的光点有效直径的长度的码。
3. 根据权利要求1所述的记录功率修正方法，其特征在于所述基准状态为与所述检测图案相对应的理论值。
4. 根据权利要求1所述的记录功率修正方法，其特征在于根据在所述数据记录前进行的所述记录功率的事前调整中所获得的检测图案， 来决定所述基准状态。
5. 根据权利要求l所述的记录功率修正方法，其特征在于所述记录功率的修正量为已预先规定的固定量。
6. 根据权利要求1所述的记录功率修正方法，其特征在于决定所述修正方向与修正量的步骤包括如下步骤，即，根据以所述信号状态与 所述基准状态的其中一个为基准所获得的差、以及所述信号状态与所述基准状态的 己预先规定的关系，进行计算。
7. 根据权利要求6所述的记录功率修正方法，其特征在于利用在所述数据记录前进行的所述记录功率的事前调整中所获得的、所述信号 状态与所述基准状态的关系式或表示该关系式的表，来确定所述信号状态与所述基 准状态的已预先规定的关系。
8. 根据权利要求l所述的记录功率修正方法，其特征在于利用再生信号的振幅电平，来确定所述信号状态及所述基准状态。
9. 根据权利要求l所述的记录功率修正方法，其特征在于利用所述信号状态与所述基准状态的差所存在的范围内的限制电平与再生信 号交叉的2点间的长度信息，来确定所述信号状态及所述基准状态。
10. —种记录功率修正方法，其特征在于包括如下步骤在对光盘进行数据记录后暂时停止，再生所述数据记录的固定期间，检测基于 所述再生的再生信号的步骤；根据已检测出的所述再生信号确定包含码的检测图案的步骤，所述码具有最接 近再生激光束的光点有效直径的长度；检测符合所述检测图案的所述再生信号的信号状态的步骤；以及修正步骤，根据已检测出的所述信号状态，实施数据记录中的记录功率的修正。
11. 根据权利要求IO所述的记录功率修正方法，其特征在于所述信号状态为振幅电平，所述修正步骤包括计算码的不对称值的步骤，所述 码具有最接近所述再生激光束的光点有效直径的长度。
12. 根据权利要求IO所述的记录功率修正方法，其特征在于所述信号状态为振幅电平，所述修正步骤包括计算码的孔径比或振幅电平变动 的值的步骤，所述码具有最接近所述再生激光束的光点有效直径的长度。
13. —种记录功率修正方法，其特征在于包括如下步骤在对光盘进行数据记录后暂时停止，再生所述数据记录的固定期间，检测基于所述再生的再生信号的步骤；根据已检测出的所述再生信号，确定包含已预先规定的码的检测图案的步骤； 检测符合所述检测图案的所述再生信号的信号状态的步骤； 评价值计算步骤，根据已检测出的所述信号状态，计算评价值；以及 使用所述数据记录中的记录功率与所述评价值，修正所述记录功率的修正式或修正表的步骤。
14. 根据权利要求13所述的记录功率修正方法，其特征在于在所述评价值计算步骤中，进一步使用根据所述检测图案所确定的基准状态， 计算所述评价值。
15. 根据权利要求13所述的记录功率修正方法，其特征在于所述评价值是码的不对称值、孔径比或振幅电平的变动，所述码具有最接近所 述再生激光束的光点有效直径的长度。
16. 根据权利要求14所述的记录功率修正方法，其特征在于所述评价值是基于已检测出的所述信号状态与根据所述检测图案所确定的基 准状态的差的值。
17. 根据权利要求14所述的记录功率修正方法，其特征在于所述评价值是所述信号状态及所述基准状态的状态的差所存在的范围内的限 制电平与再生信号交叉的2点间的长度。
18. —种光盘记录再生装置，其特征在于包括如下机构在对光盘进行数据记录后暂时停止，再生所述数据记录的固定期间，检测基于所述再生的再生信号的机构；根据巳检测出的所述再生信号，确定包含已预先规定的码的检测图案的机构； 检测符合所述检测图案的所述再生信号的信号状态的机构；以及 決定定机构，其基于己检测出的所述信号状态、以及根据所述检测图案所确定的基准状态，決定数据记录中的记录功率的至少修正方向。
19. 一种光盘记录再生装置，其特征在于包括如下机构在对光盘进行数据记录后暂时停止，再生所述数据记录的固定期间，检测基于 所述再生的再生信号的机构；根据已检测出的所述再生信号确定包含码的检测图案的机构，所述码具有最接 近再生激光束的光点有效直径的长度；检测符合所述检测图案的所述再生信号的信号状态的机构；以及修正机构，其根据已检测出的所述信号状态，实施数据记录中的记录功率的修正。
20. —种光盘记录再生装置，其特征在于包括如下机构在对光盘进行数据记录后暂时停止，再生所述数据记录的固定期间，检测基于所述再生的再生信号的机构；根据已检测出的所述再生信号，确定包含已预先规定的码的检测图案的机构； 检测符合所述检测图案的所述再生信号的信号状态的机构； 评价值计算机构，其根据已检测出的所述信号状态，计算评价值；以及 使用所述数据记录中的记录功率及所述评价值，修正所述记录功率的修正式或修正表的机构。
全文摘要
本发明适当地对光盘的记录功率进行修正。本记录功率修正方法包括如下步骤暂时停止对光盘的数据记录，再生该数据记录的结果，在再生信号中确定包含已预先规定的码的检测图案的步骤；检测符合检测图案的再生信号的信号状态的步骤；以及基于已检测出的信号状态及依据检测图案所确定的基准状态，来决定数据记录中的记录功率的至少修正方向的决定步骤。以此方式，通过基于检测图案进行处理，也可以对采用PRML信号处理方式的光盘记录再生系统进行处理。
文档编号G11B7/125GK101183540SQ200710187109
公开日2008年5月21日 申请日期2007年11月14日 优先权日2006年11月16日
发明者垣本博哉 申请人:太阳诱电株式会社