光盘和物理地址格式的制作方法

专利名称：光盘和物理地址格式的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于以高密度记录信息(例如，数字视频信息) 的光盘介质以及用于该光盘介质的一种光盘装置和一种光盘再现方 法。
背景技术：
近来，光盘介质的记录密度已经变得不断增高。 一般地，可记录 光盘介质在其中事先有轨道凹槽，信息沿轨道凹槽记录，即，记录在 轨道凹槽或介于轨道凹槽之间的区域(称为"凸区(land)")上。轨道 凹槽是正弦状的摆动(wobble)，并且与基于摆动周期产生的时钟同 步地记录信息。沿着轨道凹槽提供地址，以便在光盘介质的记录表面 上的规定位置上记录信息。下面将描述用于提供地址的三个例示结 构。
(1) 日本公开文本No.6-309672公开了一种光盘，其中，在局部 间歇地形成摆动的轨道凹槽，并可以将地址信息再现为所谓的预凹坑
(pre-pit)。在这种情况下，在轨道凹槽上存在用于记录信息的单地 址区域和单数据区域。
(2) 日本公开文本No.5-189934公开了一种光盘，其中，提供了 频率调制摆动，并采用摆动频率记录地址信息(子信息)。在这种情 况下，将数据信息重写在地址信息上。
(3) 日本公开文本No.9-326138公开了一种光盘，其中，在相邻 轨道凹槽之间形成预凹坑，并由预凹坑形成地址。
考虑到在将来可能需要的更高的记录密度，所有上述结构都有其自己的问题。
在(1)的结构中，用于数据的空间由于地址所需的空间而减少 (所谓的"额外开销")。于是，存储容量不可避免地由于用于地址的 空间所减少。
(2)的结构具有下列问题。摆动最初主要是为产生用于记录信 息的时钟的目的而提供的，因此优选以单一频率来形成。当摆动以单 一频率形成时，可以仅仅通过采用PLL等相乘并同步一个摆动再现 信号来产生高度精确的记录时钟信号。然而，当摆动具有多个频率分 量时，PLL可以自适应的频带相对于摆动具有单一频率的情况需要被 减小，以避免PLL的伪锁定。然后，可能出现不希望的情况，即PLL 不能充分地跟随盘马达抖动或例如由盘的偏心产生的抖动。这导致在 记录信号中保留有抖动。
在光盘的记录表面上形成的记录薄膜是一个相变薄膜的情况下， 随着重写被重复，记录薄膜的S/N比会不合需要地被减小。即使在这 个出现时，对于一个较窄频带，具有单一频率的摆动允许采用带通滤 波器去除噪声分量。然而，当摆动是频率调制的时，要通过的频带需 要被放大，以便考虑所调制的频率。其结果是，噪声分量与摆动再现 信号混合，因此进一步增大抖动。抖动的这种增大不可取，因为随着 记录密度增大，抖动余量减小。
在(3)的结构中，预凹坑自然影响存储在相邻轨道凹槽中的信 息的读取。因此，难以提供足够数目的分别具有足够长度的预凹坑。 因此，存在一种不希望的可能性，即检测误差的数目在记录密度相当 高时尤其增大。
考虑到上述问题，本发明的目的是提供一种用于使额外开销最小 并以具有单一频率的摆动描述地址的光盘介质、用于再现光盘介质的
光盘装置和光盘再现方法。

发明内容
依据本发明的一个方面，光盘介质比较一个沿其记录主信息的轨 道凹槽。将轨道凹槽分成多个块。多个块中的每一块包括多个帧。多 个帧中的每一帧包括多个规定摆动形状中的指示子信息的一种摆动 形状。多个块中的每一块具有地址信息。地址信息由至少一条由多个 帧中的至少一帧的摆动形状所表示的子信息所组成的串来表示。
在本发明的一个实施例中，多个块中的每一块包括多个扇区。多 个扇区包括多个帧。地址信息由至少一条由至少一个扇区中包括的多 个帧中的至少一帧的摆动形状所表示的子信息所组成的串来表示。
在本发明的一个实施例中，多个块中的至少一个包括多条地址信 息。多条地址信息是相同的。多条地址信息中的每一个由所述至少一 条子信息所组成的串来表示。
在本发明的一个实施例中，多条地址信息中的每一个包括一个序 号，序号指示各条地址信息在多条地址信息中的次序。
在本发明的一个实施例中，地址信息由多个位表示，多个位由所 述至少一个子信息串从低位到高位表示。
在本发明的一个实施例中，多个块中的每一块包括多个扇区。多 个扇区包括多个帧。地址信息由多个扇区中包括的所述至少一个串表 示。指示在多个扇区中的扇区次序的信息由所述至少一条子信息的一 部分表示。
在本发明的一个实施例中，指示误差检测代码和误差校正代码中 的至少一个的信息由所述至少一条子信息的一部分表示。
在本发明的一个实施例中，轨道凹槽具有在其中提供的指示多个 块中的每一块的前端的标识标记。
在本发明的一个实施例中，标识标记通过切断轨道凹槽来提供。
在本发明的一个实施例中，标识标记通过局部改变轨道凹槽的宽 度来提供。在本发明的一个实施例中，标识标记通过局部改变摆动形状的振 幅来提供。
在本发明的一个实施例中，多个摆动形状包括在上升梯度和下降 梯度的至少一个上彼此不同的第一摆动形状和第二摆动形状，第一摆 动形状和第二摆动形状指示彼此不同的子信息条。
在本发明的一个实施例中，多个摆动形状包括在占空比上彼此不 同的第一摆动形状和第二摆动形状，第一摆动形状和第二摆动形状指 示彼此不同的子信息条。
在本发明的一个实施例中，多个摆动形状在轨道凹槽的一个边缘 上提供。
在本发明的一个实施例中，轨道凹槽包括一个指示所述至少一个 子信息串的前端和后端中的至少一个的标识标记。
在本发明的一个实施例中，多个块中的至少一个包括多个所述至 少一个子信息串。标识标记指示所述至少一个子信息串的前端。标识 标记与一块中的所述至少一个子信息串中的另一个标识标记具有相 同的形状。
在本发明的一个实施例中，多个块中的至少一个包括多个所述至 少一个子信息串。标识标记指示所述至少一个子信息串的前端。至少 一个标识标记与一块中的所述至少一个子信息串中的另一个标识标 记具有不同的形状。
在本发明的一个实施例中，标识标记指示所述至少一个子信息串 的后端。标识标记通过将在上升梯度和下降梯度中的至少一个上彼此 不同的第一摆动形状和第二摆动形状与具有正弦波形状的第三摆动 形状组合来形成。
在本发明的一个实施例中，多个块中的至少一个包括多个所述至 少一个子信息串。标识标记指示所述至少一个子信息串的后端。标识 标记与一块中的所述至少一个子信息串中的另一个标识标记具有相同的形状。
在本发明的一个实施例中，多个块中的至少一个包括多个所述至 少一个子信息串。标识标记指示所述至少一个子信息串的后端。至少 一个标识标记与一块中的所述至少一个子信息串中的另一个标识标 记具有不同的形状。
在本发明的一个实施例中，标识标记通过切断轨道凹槽的相邻部 分之间的凸区的一部分来提供。
在本发明的一个实施例中，标识标记通过切断轨道凹槽的相邻部 分之间的凸区来提供。
在本发明的一个实施例中，将单个频率假数据记录在标识标记上。
在本发明的一个实施例中，指示地址信息的一个较低位的子信息 的条数大于指示地址信息的一个较高位的子信息的条数。
依据本发明的另一个方面，光盘介质将一个记录再现区域和一个 盘管理区域进行比较。记录再现区域包括沿其记录主信息的第一轨道 凹槽。盘管理区域包括在光盘介质的内侧区域和外侧区域的至少一个 中提供的第二轨道凹槽。第二轨道凹槽包括多个规定摆动形状。光盘 介质的管理信息由多个规定摆动形状的组合来表示。
在本发明的一个实施例中，多个规定摆动形状包括在上升梯度和 下降梯度中的至少一个上彼此不同的第一摆动形状和第二摆动形状、 以及具有正弦波形状的第三摆动形状。
在本发明的一个实施例中，第一轨道凹槽包括多个规定摆动形 状。与在记录和再现区域中相比，在盘管理区域中的指示l位信息的 摆动形状的数目不同。
在本发明的一个实施例中，第一轨道凹槽包括多个规定摆动形 状。第一轨道凹槽和第二轨道凹槽在摆动形状的频率上彼此不同。
在本发明的一个实施例中，第一轨道凹槽包括多个规定摆动形状。第二轨道凹槽具有比第一轨道凹槽大的摆动形状振幅。
在本发明的一个实施例中，第二轨道凹槽的相邻部分在7T/2x(2n+l) 的摆动形状上具有一个恒定的相差，其中n是一个整数。
在本发明的一个实施例中，第二轨道凹槽具有比第一轨道凹槽大 的轨道间距。
在本发明的一个实施例中，标识标记通过改变轨道凹槽中的至少 一个摆动形状的相位来提供。 ，
在本发明的一个实施例中，标识标记通过改变轨道凹槽中的至少 一个摆动形状的频率来提供。
在本发明的一个实施例中，多个摆动形状以相同的周期提供。
依据本发明的又一个方面，提供了一种用于再现一个光盘介质的 光盘装置，所述光盘介质包括沿其记录主信息的轨道凹槽。将轨道凹 槽分成多个块。多个块中的每一块包括多个帧。多个帧中的每一帧包 括多个规定摆动形状中的指示子信息的一种摆动形状，多个块中的每 一块具有地址信息。地址信息由至少一条由多个帧中的至少一帧的摆 动形状所表示的子信息所组成的串来表示。光盘装置包括一个变换部 分，用于从光盘介质读取主信息和子信息并产生一个再现信号； 一个 再现信号计算部分，用于从再现信号产生一个TE信号和一个RF信 号； 一个基准时钟信号产生部分，用于从TE信号产生一个基准时钟 信号； 一个电平限幅脉冲信号产生部分，用于从TE信号产生一个电 平限幅脉冲信号； 一个块标记信号检测部分，用于从RF信号检测一 个块标记信号；以及， 一个子信息产生部分，用于从基准脉冲信号、 电平限幅脉冲信号和块标记信号产生一个子信息信号。
依据本发明的又一个方面，提供了一种用于再现一个光盘介质的 方法，所述光盘介质包括沿其记录主信息的轨道凹槽。将轨道凹槽分 成多个块。多个块中的每一块包括多个帧。多个帧中的每一帧包括多 个规定摆动形状中的指示子信息的一种摆动形状，多个块中的每一块具有地址信息。地址信息由至少一条由多个帧中的至少一帧的摆动形 状所表示的子信息所组成的串来表示。该方法包括如下步骤从光盘 介质读取主信息和子信息并产生一个再现信号；从再现信号产生一个 TE信号和一个RF信号；从TE信号产生一个基准时钟信号；从TE 信号产生一个电平限幅脉冲信号；从RF信号检测一个块标记信号； 以及，从基准脉冲信号、电平限幅脉冲信号和块标记信号产生一个子 信息信号。


图1显示了依据本发明的例1的光盘介质中的轨道凹槽； 图2显示了依据本发明的例1的光盘介质； 图3显示了依据本发明的例2的光盘介质中的轨道凹槽； 图4显示了依据本发明的例3的光盘介质中的轨道凹槽； 图5显示了依据本发明的例4的光盘介质中的轨道凹槽； 图6显示了依据本发明的例5的光盘介质中的轨道凹槽； 图7显示了依据本发明的例6的光盘介质中的轨道凹槽； 图8显示了依据本发明的例7的光盘介质中的轨道凹槽； 图9显示了依据本发明的例7的光盘介质； 图10显示了依据本发明的例7的光盘介质的地址结构；. 图11显示了依据本发明的例8的光盘介质中的轨道凹槽； 图12显示了依据本发明的例8的光盘介质的地址结构； 图13显示了依据本发明的例9的光盘介质中的轨道凹槽； 图14显示了依据本发明的例9的光盘介质的地址结构； 图15显示了依据本发明的例10的光盘介质中的轨道凹槽; 图16显示了依据本发明的例7的光盘介质的地址结构； 图17显示了依据本发明的例12的光盘介质中的轨道凹槽; 图18显示了依据本发明的例12的光盘介质中的轨道凹槽;图19显示了依据本发明的例12的光盘介质中的轨道凹槽； 图20显示了依据本发明的例12的光盘介质中的轨道凹槽； 图21显示了依据本发明的例13的光盘介质的地址结构； 图22显示了依据本发明的例11的光盘介质的地址结构； 图23A显示了依据本发明的例14的光盘装置的结构； 图23B是显示依据本发明的例14的用于再现光盘介质上的信息 的方法的流程图24显示了依据本发明的例15的光盘介质； 图25A显示了依据本发明的例15的光盘介质中的轨道凹槽； 图25B显示了依据本发明的例15的光盘介质中的轨道凹槽； 图26A显示了依据本发明的例15的光盘介质中的轨道凹槽； 图26B显示了依据本发明的例15的光盘介质中的轨道凹槽； 图27A显示了依据本发明的例16的光盘介质中的轨道凹槽； 图27B显示了依据本发明的例16的光盘介质中的轨道凹槽； 图28A显示了依据本发明的例17的光盘介质中的轨道凹槽； 图28B显示了依据本发明的例17的光盘介质中的轨道凹槽； 图29A显示了依据本发明的例18的光盘介质中的轨道凹槽； 图29B显示了依据本发明的例18的光盘介质中的轨道凹槽； 图30显示了一个常规光盘介质；
图31显示了依据本发明的例20的光盘介质中的轨道凹槽；
图32显示了依据本发明的例21的光盘介质中的轨道凹槽；
图33显示了依据本发明的例22的光盘介质中的轨道凹槽；
图34显示了依据本发明的例14的光盘装置；
图35显示了依据本发明的例19的光盘介质中的轨道凹槽；以及
图36显示了依据本发明的例15的光盘介质中的轨道凹槽。
具体实施方式
此后，将参考附图以例示方式描述本发明。 (例1)
图2显示了依据本发明的例1的光盘介质20。光盘介质20具有 一个记录表面101，在记录表面101中形成有螺旋形轨道凹槽102。 如图1所示，轨道凹槽102的形状在逐块基础上不同。在图1中，块 标记(标识标记)210是轨道凹槽102中的切断部分，显示出一个指 示每块的前端的索引。
将每块分成N个扇区25 (N-32或16)，将每个扇区25 (子块) 分成M个帧糾到弁25 (M=26)。每帧(基本单元)以周期方式具有规 定数目的摆动26或27。摆动26和27具有彼此不同的规定形状，并 代表子信息("0"、 "1"或"S")。 一种类型的子信息("0"、 "1"或 "S")由一种摆动形状26或27表示。子信息的类型和摆动形状(摆 动26或27)是一对一的关系。更具体地，摆动26和27都具有通常 为锯齿形的形状，并具有不同的上升形状(或上升梯度)和下降形状 (下降梯度)。摆动26或27根据子信息的类型("0"或"1")来形 成。 一串子信息由摆动26和27的组合来表示。
摆动26和27之间的上升梯度和下降梯度上的差别可以容易地由 差分推挽检测信号如下来检测。将扫描激光束指向轨道凹槽102，并 产生这样一个差分信号(即，推挽信号)，该差分信号指示由沿垂直 于光盘介质20的轨道凹槽102的方向(径向)划分的光接收元件的 检测区域接收的光量之间的差。因此，获得具有根据子信息是"0" 还是"1"而变化的上升梯度和下降梯度的检测信号。上升梯度和下 降梯度上的这个差别例如可以通过对检测信号求差分来容易地识别。
于是，子信息的类型可以由作为差分结果而获得的值的大小来检 测。然而，当使用差分时，噪声分量也自然增大。在具有较差S/N比 的光盘介质中，检测误差被合理地预期。在这个例子中，摆动26和 27的每种模式被重复多次，以便增强检测的可靠性。主信息(例如，可重写用户数据)从块标记210开始沿轨道凹槽 102被记录在块单元241中。块单元241具有规定长度，例如64kB (或32kB)。主信息可以被记录为记录标记28。记录标记28通过执 行记录层的相变来记录。块单元是用于信息处理的单元，例如是ECC 块。当N=32时，块单元241被分成32个扇区25 (或当N=16时是 16个扇区25)。每个扇区25是具有2kB长度的子块。当M=26时， 将每个扇区25分成26个帧#0到#25。
帧是在轨道凹槽102上记录的信息的基本单位。在图1中，帧#0 由标号22表示，帧#1由标号23表示。如帧22和23所例示的，每 帧包括事先以周期方式形成的一种摆动类型。这样，在每帧22和23 中描述1位子信息"0"、 "1"或"S"。在每个扇区25中包括的26 位(M=26)子信息组指示对应的块单元241的块ID (地址信息)。 在帧#0到#25的每一个的前端，记录SYNC标记。SYNC标记是一个 被记录的同步信号，在将主信息记录为记录标记28时表示主信息的 每一帧的前端。摆动周期用作用于使光盘介质20的旋转同步和记录 信号的基准时钟，也用作再现地址信息时的同步信号。
除了表示地址的信息之外，块ID可以包括用于校正或检测检测 信号的误差校正代码、误差检测代码或奇偶校验码等。
帧22只包括具有平缓上升梯度和陡峭下降梯度的摆动26。帧23 只包括具有陡峭上升梯度和平缓下降梯度的摆动27。例如，当一帧 包括8个摆动时， 一个扇区25包括8x26=208个摆动(包括摆动26 和27)。
不管由噪声引起的一些检测误差，只要208个摆动26和27之间 的上升梯度和下降梯度中的差别可以被作为整体检测，记录在扇区 25中的子信息组就可以被正确地识别。读的可靠性通过重复同一块 ID32次(当N^32时)或16次(当N-16时)来进一步提高。依据 用于识别子信息组的例示特定技术，在每次上升和每次下降时采样和保持推挽信号的差分波形，并将上升梯度的逻辑积和下降梯度的逻辑 积相互进行比较。这样，取消噪声分量，可以只提取出子信息分量。
在这个例子中，块标记210是轨道凹槽102中的切断部分，因此 重写块标记210中的主信息不是最可取的。其原因是因为反射的光量 根据是否有凹槽而变化非常大，这个显著差别充当对再现信号的外部 干扰。在这个例子中，将包括块标记210的区域指定为VFO记录区 域21。 VFO记录区域21用于记录VF0 211， VF0211是用于调整用 于再现记录在VFO记录区域21之后的主信息的PLL的频率的单一 频率信号。即使在有轻微的外部波动时，VFO 211仅仅充当局部抖动， 不直接引起任何误差。另夕卜，VF0211具有单一频率，因此可以从频 率上分离由块标记210引起的外部干扰。
在这个例子中， 一个块单元241 (—块)被分成32个(或16个) 扇区25，每个扇区25被分成26帧(帧#0到#25)。在帧#0至扭25的 每一个中，事先形成具有对应于子信息的形状的摆动26或27。由于 记录在一个扇区25中的子信息组表示块ID，所以可以在块单元241 中包括的32个(或16个)扇区25中重复地形成同一块ID (地址信 息)。
在这种情况下，子信息组可以包括指示重复的块ID (地址信息) 的次序的序号，即每个块ID是否是第五、第十、等等。这种序号可 用于根据大多数最终确定地址号。另外，这样的序号提供用于信号处 理的有用信息，例如，块中的哪个扇区25现在在被读取，或块中的 哪一子信息组是不正确的。
在光盘介质具有多个记录表面或层的情况下，记录层的序号可以 被包括在子信息组中。这样，记录表面可以被容易地识别。
如上所述，在这个例子中，将一个信息块分成32 (N=32)或16 (N=16)个扇区，将一个扇区分成26 (M-26)帧。在26帧的每一 帧中，事先形成对应于子信息的摆动形状。在块中的32 (或16)个扇区中重复地形成一个块ID (地址信息)。因此，没有任何额外开销 地或不需要在凹槽之间所必需的预凹坑来形成地址。
虽然摆动根据子信息类型而具有不同的上升梯度和下降梯度，这 个例子中所用的摆动具有恒定的单一频率。因此，具有减少的抖动的 用于记录的时钟信号可以首先采用只允许摆动频率通过以便去除噪 声分量的带通滤波器，然后使用PLL同步并相乘所得的频率来提取 出来。
块ID的读取可靠性可以通过重复同一块ID来提高。
在这个例子中，与帧的数目一样，块ID具有26位。地址信息的 位数并不限于26个，而是可以是例如依据要记录在光盘介质上的数 据量或误差校正代码的类型和系统的任何所需数目。
在这个例子中，对于N=32，将块单元分成32个扇区(或对于 N-16是16个扇区)。本发明并不限于这样一个扇区数。
在这个例子中，对于M=26，子信息被记录在每个扇区中包括的 26帧中。本发明并不限于这样一个帧数。
在这个例子中，子信息在被调制成锯齿形状的摆动之后被记录。 本发明并不限于这样的摆动形状。如下所述，子信息可以在被调制成 具有例如如图4或7中所示形状的摆动之后被记录。
在这个例子中，块标记是轨道凹槽的切断部分。本发明并不限于 这样一种形式的块标记。例如，如下所述，块标记可以被调制成具有 例如如图5或6中所示形状的摆动。 (例2)
图3显示了依据本发明的例2的轨道凹槽10。代替图1所示的 轨道凹槽102，轨道凹槽10可以在图2所示的光盘介质20中形成。 在这个例子中，除了帧22中指示子信息"0"的摆动26和帧23中指 示子信息"1"的摆动27之外，轨道凹槽10具有指示记录在帧24中 的子信息"S"的摆动28。与在例1中一样，地址信息由子信息"0"和子信息"1"的组合来表示。子信息"s"在块的前端设置，用于代 替图1所示的块标记210来指示块的前端。这样，可以消除块标记 210所需的额外开销。在这个例子中，表示子信息"S"的摆动28具 有陡峭的上升梯度和陡峭的下降梯度。 (例3)
图4显示了依据本发明的例3的轨道凹槽11。代替图1所示的轨 道凹槽102，轨道凹槽11可以在图2中所示的光盘介质20中形成。 在第一和第二个例子中，对应于一种子信息类型周期性地重复一种摆 动类型，将具有不同上升梯度和不同下降梯度的摆动用于不同类型的 子信息。在这个例子中，形成摆动29和30，以便依据子信息的类型 具有不同的占空比。更具体地，如图4所示，指示记录在帧32中的 子信息"0"的摆动29在波峰或波谷中的一个上较宽(在图4的例子 中是波谷)，指示记录在帧34中的子信息"1"的摆动30在波峰或波 谷中的另一个上较宽(在图4的例子中是波峰)。这样的特征消除了 对用于识别子信息类型的再现信号差分的必要性。再现信号可以通过 采用时钟定时器等测量占空比来简单地识别。因此，可以减轻噪声的 影响。 (例4)
图5显示了依据本发明的例4的轨道凹槽200。代替图1所示的 轨道凹槽102，轨道凹槽200可以在图2中所示的光盘介质20中形 成。在例1中，切断轨道凹槽102的一部分，以便形成块标记210。 在这个例子中，采用通过局部增大轨道凹槽200的宽度而形成的块标 记212来替代块标记210。为了记录或再现主信息，可以通过检测块 标记212来识别块的前端。块标记212的使用避免轨道凹槽200被切 断，因此主信息也可以被记录在块标记212中。其结果是，可以减少 额外开销。 (例5)图6显示了依据本发明的例5的轨道凹槽201。代替图1所示的 轨道凹槽102，轨道凹槽201可以在图2中所示的光盘介质20中形 成。在例1中，切断轨道凹槽102的一部分，以便形成块标记210。 在这个例子中，采用通过局部增大摆动的振幅而形成的块标记213来 替代块标记210。为了记录或再现主信息，可以通过检测块标记213 来识别块的前端。与在例4中一样，块标记213的使用避免轨道凹槽 201被切断，因此主信息也可以被记录在块标记213中。 (例6)
图7显示了依据本发明的例6的轨道凹槽202和凸区203。在这 个例子中，光盘介质具有仅仅沿轨道凹槽202的一个边缘形成的摆动 220和230。例1到5涉及凹槽记录类型的光盘介质，其中，主信息 被记录在轨道凹槽中。被称为凸区-凹槽类型的另一种类型的光盘介 质是可用的。在这种类型的光盘介质中，主信息沿轨道凹槽202被记 录在凹槽和凸区(放在两个相邻凹槽中间的区域)中。例1到5可以 与在这个例子中描述的凹槽-凸区类型的光盘介质组合起来。
在图7中，子信息"0"和子信息"1"沿轨道凹槽202的一个边 缘被记录。在帧221中形成的摆动220指示子信息"0"，在帧231中 形成的摆动230指示子信息"1"。以这种方式，轨道凹槽202和与轨 道凹槽202相邻的凸区203用相同的地址表示。主信息被记录在轨道 凹槽202和凸区203中。通过以这种方式记录主信息，轨道间距变窄， 这样实现了更高密度的记录。 (例7)
图9显示了依据本发明的例7的光盘介质800。光盘介质800具 有在其中形成有螺旋形轨道凹槽802的记录表面801 。如图8中所示， 轨道凹槽802具有逐块不同的形状。在图8中，块标记(标识标记) 810为轨道凹槽802中的切断部分并且显示指示每一个块的前端的索 引。每一个块被分成N个扇区825 (N=32或16)，并且每一个扇区 825被分成M个帧#0到#25 (M=26)。每一个帧具有规定数量的周期 方式的摆动826或827。摆动826和827具有彼此不同的规定形状， 并表示子信息("0"、 "1"或"S")。 一种类型的子信息("0"、 "1" 或"S")由一种摆动形状826或827来表示。子信息的类型和摆动形 状(摆动826或827)是一一对应的关系。更具体地，摆动826或827 都具有通常的锯齿形状，并且具有不同的上升形状(或上升梯度)和 下降形状(下降梯度)。摆动826或827依据子信息的类型("0"或 "1")形成。子信息串由摆动826和827的组合表示。子信息串由摆 动826和827的组合表示。
摆动826或827之间在上升梯度和下降梯度上的差别可以由差分 推挽检测信号容易地检测如下。扫描激光束射向轨道凹槽802，产生 了指示由沿垂直于光盘介质800的轨道凹槽802的方向(径向)划分 的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即推挽信 号)。这样，获得了具有依据子信息是"0"或"1"来变化的上升梯 度和下降梯度的检测信号。上升梯度和下降梯度中的这个差别例如可 以通过对检测信号进行差分来容易地识别。
这样，子信息的类型可以利用作为差分结果而获得的值的大小来 检测。但是，当使用差分时，噪声分量自然地增加了。在具有较差 S/N比的光盘介质中，检测错误被合理地预期到。在这个例子中，摆 动826或827的每一种模式被重复多次以增强检测的可靠性。
主信息被记录在从块标记810起沿轨道凹槽802的块单元841中。 块单元841具有规定长度，例如64kB (或32kB)。主信息可以被记 录为记录标记28。块单元是用于信息处理的单元，例如是ECC块。 当N=32时块单元841被分成32个扇区825 (或当N=16时分成16 个扇区)。每一个扇区25是具有2kB长度的子块。当M=26时每一个 扇区25被分成#0至1」#25的26个帧。在每一个帧#0到#25的前端，SYNC标记被记录为用于再现数据的同步信号。
帧是记录在轨道凹槽802上的信息的基本单位。在图8中，帧#0 由标号822表示，帧#1由标号823表示。如帧822和823所示例， 每一个帧包括预先以周期方式形成的一种类型的摆动。以这种方式， 在每一个帧822和823中描述1位子信息"0"、 "1"或"S"。包括在 每一个扇区825中的26位(M-26)子信息组指示对应的块单元841 的块ID (地址信息)的至少一部分。
1位信息被分配给帧#0至1」#25中的每一个。例如，8帧(即8位) 被分配作为块ID的1字节部分。接着的8帧被分配作为块ID的1 字节奇偶校验。接着的5帧被分配作为5位字节扇区号。剩下的5帧 被分配作为扇区号的5位奇偶校验。扇区号指示多个扇区中扇区的次 序(即第5扇区、第10扇区等)。每一个奇偶校验指示误差检测码或 误差校正码中的至少一个。
例如，如上面所描述的被分配的一个扇区的子信息被排列在4个 扇区825 (即扇区组825，)上。通过排列块ID的一部分，即4个扇 区的每一个l个字节，可以表示32位块ID (8位x4-32位)。
图10显示了记录在块单元841中的扇区825和帧#0至扭25中的 子信息的示例格式。在图10中，最左部分显示了扇区号。其右边， 显示了记录在每一个扇区的帧中的子信息。假设块单元841包括32 个扇区。括号"()"中的扇区号是在块单元841包括16个扇区的情 况中的扇区号。帧糾至1」#25的每一个包括1位子信息。在这个例子中， 块单元841是ECC块。
将描述扇区0的内容。在扇区0的帧#0到#25中，在帧#0到#7 中，从LSB开始顺序地填盖了 ECC块地址的4字节(32位)中第一 个1字节。在帧#8到#15中，填盖了 ECC块地址的奇偶校验的4字 节中第一个1字节的子信息。在帧#16到#20中，填盖了代表扇区号 的5位子信息。在帧#21至1」#25中，填盖了代表扇区号的奇偶校验的5位子信息。如图8中所示，在扇区0中，1字节"01h"被填盖为块 ID的一部分。
将描述扇区1的内容。在扇区1的帧#0至1」#25中，在帧#0到#7 中，从最低位开始顺序地填盖了ECC块地址的4字节(32位)中第 二个1字节。在帧#8至U弁15中，填盖了 ECC块地址的奇偶校验的4 字节中第二个1字节的子信息。在帧弁16至U弁20中，填盖了代表扇区 号的5位子信息。在帧#21至1」#25中，填盖了代表扇区号的奇偶校验 的5位子信息。如图8中所示，在扇区1中，1字节"23h"信息被 填盖为块ID的一部分。
将描述扇区2的内容。在扇区2的帧#0至脾25中，在帧#0到#7 中，从最低位开始顺序地填盖了ECC块地址的4字节(32位)中第 三个1字节。在帧#8至1」#15中，填盖了 ECC块地址的奇偶校验的4 字节中第三个1字节的子信息。在帧#16至纟#20中，填盖了代表扇区 号的5位子信息。在帧#21至1」#25中，填盖了代表扇区号的奇偶校验 的5位子信息。如图8中所示，在扇区2中，1字节"45h"信息被 填盖为块ID的一部分。
将描述扇区3的内容。在扇区3的帧#0至脾25中，在帧#0到#7 中，从最低位开始顺序地填盖了 ECC块地址的4字节(32位)中第 四个1字节。在帧#8至1」#15中，填盖了 ECC块地址的奇偶校验的4 字节中第四个1字节的子信息。在帧#16到#20中，填盖了代表扇区 号的5位子信息。在帧#21到#25中，填盖了代表扇区号的奇偶校验 的5位子信息。如图8中所示，在扇区3中，1字节"67h"信息被 填盖为块ID的一部分。
以这种方式，32位块ID"76543210h"通过组合来自4个扇区825 中的每一个的1字节信息来表示。
扇区825中的4字节块ID最好以读取顺序排列，即顺序地从第 一个被读取的扇区825到最后一个被读取的扇区825，并且从块ID的最低位到最高位。
将描述扇区4以及下列等等的内容。在扇区4到7中，扇区0到 3的内容将被重复地描述。类似地，在扇区8到11， 12到15， 16到 19， 20到23， 24到27以及28到31中，扇区0到3的内容将被重 复描述。
以这种方式，在4个扇区中的信息被描述8次(当块单元841包 括16个扇区时是4次)。这样，用于实现误差校正的奇偶校验信息将 被加到每一个块单元841中。可以增强块ID的读取可靠性。
由于描述了扇区号，即使当块ID的l字节丢失时，丢失的这个l 字节也可以通过读取扇区号来容易地识别。这样，可以增强块ID的 读取可靠性。
由于描述了扇区号，所以提供了下面的优点。例如当在搜索操作 后数据没有被连续地读取时，在搜索操作后扇区825的扇区号可以立 即被读取，替代了在前端从块标记810开始读取块单元841。由于这 样操作，块ID可以通过读取从任意扇区825开始的4个扇区825的 子信息来最终确定。
由于通过仅仅读取每一个都包括4个扇区(8kB=2kBx4)的扇区 组825，的任意一个来最终确定块ID，后处理(数据读取、数据记录 等)可以被迅速地完成。
即使当由于盘划痕(缺陷)造成块ID的大约4个扇区被不正确 地读取时，正确的块ID也可以由没有缺陷的扇区组来读取。这样， 保证了显著高水平读取块ID的可靠性。
替代扇区号，将描述指示一个扇区组825'中的4个扇区825中扇 区的次序(即，第一扇区、第二扇区等)的ID号。其中图10显示了 帧#16到#25中的5位扇区号和扇区号的5位奇偶校验，图16显示了 帧#16到#25中的指示重复的块ID的次序的2位ID号、ID号的2位 奇偶校验和重复的块ID的6位序号。当使用ID号时，每一个扇区号需要的5位子信息可以减少到2 位。使用剩下的8位(帧#18到#25)，可以提高ID号的误差校正能 力，或可以描述块ID的序号。
由于描述了 ID号，可以提供如下的优点。例如当在搜索操作后 数据没有被连续地读取时，在搜索操作后扇区825的ID号可以立即 被读取，替代了在前端从块标记810开始读取块单元841。由于这样 操作，块ID可以通过读取从任意扇区825开始的4个扇区825的子 信息来最终确定。
在子信息包括块ID的序号的情况中，序号可以根据大多数被用 于最终确定地址号。另外，这样的序号提供了用于信号处理的有用信 息，例如，块中的哪一个扇区825现在被读取或块中哪一个子信息组 是不正确的。
在光盘介质具有多个记录表面或层的情况中，记录层的序号可以 包括在子信息组中。以这种方式，记录表面可以被容易地识别。例如， 图16中的四个相同序号中的一个可以用记录层的序号替代。这样， 记录表面可以容易地识别。
在这个例子中，块ID有32位。地址信息的位的数量不局限于32， 而是可以是依据例如将要记录在光盘介质上的数据量或误差校正码 的类型和系统的任何需要的数量。
在这个例子中，当N=32时，块单元被分为32个扇区(或当N=16 时分为16个扇区)。本发明不局限于这样数量的扇区。
在这个例子中，当M=26时子信息被记录在包括在每一个扇区中 的26个帧中。本发明不限于这样数量的帧。
在这个例子中，子信息在被调制为锯齿状摆动之后被记录。本发 明不局限于这样的摆动形状。子信息可以在被调制为具有例如图4或 7中所示的形状的摆动后被记录。
在这个例子中，块标记是轨道凹槽的切断部分。本发明不局限于这样的块标记的形式。例如，块标记可以被调制为例如具有如图5或 6中所示的形状的摆动。 (例8)
图11显示了依据本发明的例8的轨道凹槽1102。轨道凹槽1102 可以在图2中所示的光盘介质20中形成，来代替图1中所示的轨道 凹槽102。如图ll中所示，轨道凹槽1102具有逐块不同的形状。在 图11中，块标记(标识标记)1110为轨道凹槽1102中的切断部分， 并且显示指示每一个块的前端的索引。
每一个块被分成N个扇区1125 (N-32或16)，并且每一个扇区 1125被分成M个帧糾到弁25 (M=26)。每一个帧具有规定数量的周 期方式的摆动1126或1127。摆动1126或1127具有彼此不同的规定 形状，并表示子信息("0"、 "1"或"S")。 一种类型的子信息("0"、
"1"或"S")由一种摆动形状1126或1127来表示。子信息的类型 和摆动的形状(摆动1126或1127)是一一对应的关系。更具体地， 摆动1126和1127都具有通常的锯齿形状并且具有不同的上升形状
(或上升梯度)和下降形状(下降梯度)。摆动1126或1127依据子 信息的类型("0"或"1")形成。子信息串由摆动1126和1127的组 合表示。
摆动1126和1127之间上升梯度和下降梯度的差别可以由差分推 挽检测信号容易地检测如下。扫描激光束射向轨道凹槽1102，产生 了指示由沿垂直于光盘介质20的轨道凹槽1102的方向(径向)划分 的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即推挽信 号)。这样，获得了具有依据子信息是"0"或"1"来变化的上升梯 度和下降梯度的检测信号。上升梯度和下降梯度中的差别例如可以通 过对检测信号差分容易地识别。
这样，子信息的类型可以利用作为差分的结果获得的值的大小来 检测。但是当使用差分时，噪声成分自然地增加了。在具有较差S/N比的光盘介质中，检测错误被合理地预期。在这个例子中，摆动1126 和1127的每一种模式被重复多次以增强检测的可靠性。
主信息被记录在从块标记1110起沿轨道凹槽1102的块单元1141 中。块单元1141具有规定长度，例如64kB (或32kB)。主信息可以 被记录为记录标记28。块单元是用于信息处理的单元，例如是ECC 块。当N=32时块单元1141被分成32个扇区1125 (或当N=16时分 成16个扇区)。每一个扇区1125是具有2kB长度的子块。当1V^26 时每一个扇区1125被分成#0到#25的26个帧。在每一个帧#0到#25 的前端，SYNC标记被记录为用于再现数据的同步信号。
帧是记录在轨道凹槽1102上的信息的基本单位。在图11中，帧 #0由标号1122表示，帧#1由标号1123表示。如帧1122和1123所 示例，每一个帧包括预先以周期方式形成的一种类型的摆动。以这种 方式，1位子信息"0"、 "1"或"S"在每一个帧1122和1123中描 述。包括在每一个扇区1125中的26位(M-26)子信息组指示了对 应的块单元1141的块ID (地址信息)的至少一部分。
除指示地址的信息外，块ID可以包括用于校正或检测检测信号 的误差校正码、误差检测码或奇偶校验码等。
例如，每一个扇区1125中的26帧被分成第一个13帧(帧#0到 #12;第一帧组)和第二个13帧(帧#13到#25;第二帧组)。l位子 信息被记录在每13帧中作为块ID的一部分。这样，2位子信息被记 录在每一个扇区1125中作为块ID的一部分。
图12显示了记录在块单元1141中的扇区1125和帧#0至1」#25中的 子信息的示例格式。在图12中，最左部分显示了扇区号。其右边， 显示了记录在每一个扇区的帧中的子信息。1位子信息被记录在第一 个13帧中，以及1位子信息被记录在第二个13帧(帧组)中。在这 个例子中，块单元1141是ECC块。B0到B31的每一个指示ECC块 地址中的位的序号(即，对应的位是否是第一位、第二位等)。将描述扇区0的内容。在扇区0的帧#0至U弁25中，在帧弁0至lj弁12 (第一帧组)中，填盖了ECC块地址(LSB)的32位中第一个1位。 在帧#13至1」#25 (第二帧组)中，填盖了 ECC块地址的32个位中第 二个l位的子信息。如图ll中所示，在扇区0中，2位信息("0"或 "1")被填盖为块地址的一部分。
在扇区0的第一帧组中，指示ECC块地址的开始的SYNC码"S" 被填盖来替代ECC块地址(LSB)的第一个l位。SYNC码"S"可 以用作用于再现ECC块地址的同步信号或用作用于检测ECC块地址 的开始的检测标记。
将描述扇区1的内容。在扇区1的帧#0到#25中，在帧洲至1」#12 中，填盖了ECC块地址的32位中的第三个1位。在帧#13到#25中， 填盖了 ECC块地址的32位中的第四个1位的子信息。如图11中所 示，在扇区1中，2位信息("0"或"1")被填盖为块地址的一部 分。
以这种方式，32位块ID通过组合来自16个扇区1125中的每一 个的2位信息来表示。
在ECC块具有32kB的长度并且块单元1141被分成16个扇区 1125的情况中，32位块可以通过在每一个扇区1125中记录2位子信 息来获得。
在ECC块具有32kB长度的情况中， 一个块ID如上所述由16个 扇区表示。在ECC块具有64kB长度的情况中， 一个块单元1141具 有32个扇区1125。在扇区16到31中，扇区0到15的内容被重复 地描述。即，在16个扇区中的信息(子信息组)被描述两次。
因为子信息被重复记录在块单元1141中，块ID通过仅仅读取16 个扇区、即32kB (2kxl6)来最终确定。因此，后处理(数据读取、 数据记录等)可以迅速地完成。因为块ID在块单元1141中被重复两 次，可以增强块ID的读取的可靠性。替代在块单元1141中记录两次块ID，可以包括除块ID之外的信 息。例如，块ID的序号可以包括在子信息组中。序号可以用于基于 大多数来最终确定地址号。另外，这样的序号提供了对于信号处理有 用的信息，例如，块中哪一个扇区1125现在被读取或块中哪一个子 信息组是不正确的。
在光盘介质具有多个记录表面或层的情况中，记录层的序号可以 包括在子信息组中。以这种方法，记录表面可以如上面参照图16所 描述的容易地被识别。
在这个例子中，块ID具有32位。地址信息的位数不局限于32， 而可以是依据例如将要记录在光盘介质上的数据量或误差校正码的 类型和系统的任意需要的数量。
在这个例子中，N=32时块单元被分成32个扇区(或N46时分 成16个扇区)。本发明不局限于这样的扇区数量。
在这个例子中，M=26时子信息被记录在包括在每一个扇区中的 26个帧中。本发明不不局限于这样的帧数量。
在这个例子中，子信息在被调制为锯齿形状的摆动后被记录。本 发明不局限于这样的摆动形状。子信息可以在被调制为具有例如图4 或7中显示的形状后被记录。
在这个例子中，块标记是轨道凹槽的切断部分。本发明不局限于 这种形式的块标记。例如，块标记可以被调制为具有例如图5或6中 显示的形状的摆动。 (例9)
图13显示了依据本发明的例9的轨道凹槽1302。轨道凹槽1302 可以在图2中所示的光盘介质20中形成来代替图1中所示的轨道凹 槽102。如图13中所示，轨道凹槽1302具有逐块不同的形状。在图 13中，块标记(标识标记)1310为轨道凹槽1302中的切断部分并且 显示指示每一个块的前端的索引。每一个块被分成N个扇区1325 (N:32或16)，并且每一个扇区 1325被分成M个帧糾到#25 (M=26)。每一个帧具有规定数量的周 期方式的摆动1326或1327。摆动1326或1327具有彼此不同的规定 形状，表示子信息("0"、 "1"或"S")。 一种类型的子信息("0"、
"1"或"S")由一种形状的摆动1326或1327来表示。子信息的类 型和摆动的形状(摆动1326或1327)是一一对应的关系。更具体地， 摆动1326和1327都具有通常的锯齿形状并且具有不同的上升形状
(或上升梯度)和下降形状(下降梯度)。摆动1326或1327依据子 信息的类型("0"或"1")形成。子信息串由摆动1326和1327的组 合表示。
摆动1326和1327之间的上升梯度和下降梯度的差别可以容易地 由差分推挽检测信号来检测如下。扫描激光束射到轨道凹槽1302， 产生了指示由沿着垂直于光盘介质20的轨道凹槽1302的方向(径向) 划分的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即， 推挽信号)。这样，获得了具有依据子信息是"0"或"1"来变化的 上升梯度和下降梯度的检测信号。例如，上升梯度和下降梯度中的这 个差别可以通过对检测信号差分容易地识别。
这样，子信息的类型可以利用作为差分的结果获得的值的大小来 检测。但是，当使用差分时，噪声成分自然地增加了。在具有较差 S/N比的光盘介质中，检测错误被合理地预期。在这个例子中，摆动 1326和1327的每一种模式被重复多次以增强检测的可靠性。
主信息被记录在从块标记1310开始沿轨道凹槽1302的块单元 1341中。块单元1341具有规定长度，例如64kB (或32 kB)。主信 息可以被记录为记录标记28。块单元是用于信息处理的单元，例如 是ECC块。当N-32时块单元1341被分成32个扇区1325(或当N-16 时分成16个扇区1325)。每一个扇区1325是具有2kB长度的子块。 当M=26时每一个扇区1325被分成26个帧#0到#25。在每一个帧糾到#25的前端，SYNC标记被记录为用于再现数据的同步信号。
帧是记录在轨道凹槽1302上的信息的基本单位。在图13中，帧 #0由标号1322表示，帧#1由标号1323表示。如帧1322和1323所 示例的，每一个帧包括预先以周期的形式形成的一种类型的摆动。以 这种方式，1位子信息"0"、 "1"或"S"在每一个帧1322和1323 中描述。包括在每一个扇区1325中的26位(M=26)子信息组指示 对应的块单元1341的块ID (地址信息)的至少一部分。
例如，每一个扇区1325中的26个帧被分成第一个13帧(帧#0 到#12;第一帧组)和第二个13帧(帧#13到#25;第二帧组)。在第 一帧组中的13个帧中，预先以周期的方式形成相同形状的摆动。在 第二帧组中的13个帧中，预先以周期的方式形成相同形状的摆动。 这样，2位子信息"0"、 "1"或"S"在每一个扇区1325中描述。在 每一个扇区1325中的32位子信息指示对应的块单元1341的块ID(地 址信息)的至少一部分。
除指示地址的信息外，块ID还可以包括用于校正或检测检测信 号的误差校正码、误差检测码或奇偶校验码等。
图14显示了记录在块单元1341中的扇区1325和帧#0至脾25中 的子信息的示例格式。在图14中，最左边部分显示了扇区号。其右 边显示了记录在每一个扇区的帧中的子信息。
将描述扇区0的内容。在扇区0的所有帧#0到#25中，在ECC 块地址(LSB)的32位中的第一个1位被填盖。如图14中所示，在 扇区0中，1位子信息B0 ("0"或"1")被填盖。
将描述扇区1的内容。在扇区1的所有帧#0至1』#25中，在ECC 块地址(LSB)的32位中的第一个1位被填盖。如图14中所示，在 扇区1中，1位子信息B0 ("0"或"1")被填盖。
在扇区1中，填盖在扇区0中的子信息BO被重复描述。
接着将描述扇区2的内容。在扇区2的所有帧#0至1」#25中，在ECC块地址的32位中的第二个1位被填盖。如图14中所示，在扇区2中， 1位子信息B1 ("0"或"1")被填盖。
将描述扇区3的内容。在扇区3的所有帧#0到#25中，在ECC 块地址的32位中的第二个1位被填盖。如图14中所示，在扇区3中， 1位子信息B1 ("0"或"1")被填盖。
在扇区3中，填盖在扇区2中的子信息B1被重复描述。
以这种方式，在直到扇区12的偶数扇区中，ECC块地址的32位 中第三、第四、第五、第六和第七个1位分别地被填盖。在直到扇区 13的奇数(N)扇区中，与偶数(N-l)扇区中相同的子信息被填盖。
扇区14到24的内容将被描述。
扇区14的内容将被描述。在扇区14的所有帧#0到#25中，在ECC 块地址的32位中的第8个1位被填盖。如图14中所示，在扇区14 中，1位子信息B7 ("0"或"1")被填盖。
扇区15的内容将被描述。在扇区15的所有帧#0到#25中，在ECC 块地址的32位中的第9个1位被填盖。如图14中所示，在扇区15 中，1位子信息B8 ("0"或"1")被填盖。
直到扇区24的1位子信息被类似地描述。
扇区25到31的内容将被描述。
扇区25的内容将被描述。在扇区25的帧#0到#25中，在帧#0到 #12 (第一帧组)中，在ECC块地址的32位中的第19个1位被填盖。 如图14中所示，在扇区25的第一帧组中，1位子信息B18 ("0"或 "1")被填盖。
在扇区25的帧#0到#25中，在帧#13到#25 (第二帧组)中，在 ECC块地址的32位中的第20个1位被填盖。如图14中所示，在扇 区25的第二帧组中，1位子信息B19 ("0"或"1")被填盖。
扇区26的内容将被描述。在扇区26的帧#0到#25中，在帧#0到 #12 (第一帧组)中，在ECC块地址的32位中的第21个1位被填盖。如图14中所示，在扇区26的第一帧组中，1位子信息B20 ("0"或 "1")被填盖。
在扇区26的帧#0到#25中，在帧#13至一25 (第二帧组)中，在 ECC块地址的32位中的第22个1位被填盖。如图14中所示，在扇 区26的第二帧组中，1位子信息B21 ("0"或"1")被填盖。
直到扇区31的1位子信息被类似地描述。
如上所述，在这个例子中，其中描述子信息的扇区的数量和帧的 数量依据块ID的位的位置(即，较低位或较高位)而变化。在这个 例子中，子信息BO是LSB，子信息B31是HSB。
在用于读取存储在例如光盘中的连续数据的系统中，被连续读取 的数据的块ID从较低位顺序地增大。在两个相邻块ID之间，块ID 的值仅仅差"l"。因此，块ID可以仅仅通过读取所读取的块ID的几 个较低位来确定，因为剩下的较高位可以由从紧挨着的前一个块ID 读取的值或由从先于当前块ID —个确定数的块ID读取的值来估算。 在这种情况中，块ID的几个较低位的读取可靠性很重要。在这个例 子中，块ID的较低位被排列在多个扇区上，即以大于其他较高位的 数目来排列，如图14所示。因此，可以提高块ID的较低位的读取可 靠性，因而提高块ED的读取效率。
在这个例子中，块ED具有32位。地址信息的位数不局限于32， 而可以是依据例如将要被记录在光盘介质上的数据量或误差校正码 的类型和系统任意需要的数量。
在这个例子中，当N=32时块单元被分成32个扇区(N=16时为 16个扇区)。本发明不局限于这样的扇区数量。
在这个例子中，M=26时子信息被记录在包括在每一个扇区中的 26个帧中。本发明不局限于这样的帧的数量。
在这个例子中，子信息在被调制为锯齿形状的摆动后被记录。本 发明不局限于这样的摆动形状。子信息可以在被调制为具有例如图4或7中显示的形状后被记录。
在这个例子中，块标记是轨道凹槽的切断部分。本发明不局限于 这种形式的块标记。例如，块标记可以被调制为具有例如图5或6中 显示的形状的摆动。 (例10)
图15显示了依据本发明的例10的轨道凹槽1502。轨道凹槽1502 可以在图2中所示的光盘介质20中形成来代替图1中所示的轨道凹 槽102。如图15中所示，轨道凹槽1502具有逐块不同的形状。在图 15中，块标记(标识标记)1510为轨道凹槽1502中的切断部分并且 显示指示每一个块的前端的索引。
每一个块被分成N个扇区1525 (N-32或16)，每一个扇区1525 被分成M个帧糾到#25 (M=26)。每一个帧以周期的方式具有规定数 量的摆动1526和1527。摆动1526和1527彼此具有不同的规定形状， 并且代表子信息("0"、 "1"或"S")。 一种类型的子信息("0"、 "1" 或"S")由一种形状的摆动1526或1527来表示。子信息的类型和摆 动的形状(摆动1526和1527)具有一一对应的关系。更具体地，摆 动1526和1527都具有通常的锯齿形状，并且具有不同的上升形状(或 上升梯度)和下降形状(或下降梯度)。摆动1526或1527依据子信 息("0"或"1")的类型来形成。子信息串由摆动1526和1527的组 合来表示。
在摆动1526和1527之间的上升梯度和下降梯度中的差别可以由 差分推挽检测信号容易地检测如下。扫描激光束射向轨道凹槽1502， 产生了指示由沿垂直于光盘介质20的轨道凹槽102的方向(径向) 划分的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即推 挽信号)。这样，获得了具有依据子信息是"0"或"1"来变化的上 升梯度和下降梯度的检测信号。上升梯度和下降梯度中的差别例如可 以通过对检测信号差分容易地识别。这样，子信息的类型可以通过作为差分的结果获得的值的大小来
检测。但是，当使用差分时，噪声成分自然增加了。在具有较差S/N 比的光盘介质中，检测错误被合理地预期到。在这个例子中，摆动 1526和1527的每一个模式被重复多次以增强检测的可靠性。
主信息从块标记1510沿着轨道凹槽1502被记录在块单元1541 中。块单元1541具有规定长度，例如64kB (或32kB)。主信息可以 被记录为记录标记28。块单元是用于信息处理的单元，并且例如是 ECC块。当N=32时块单元1541被分成32个扇区1525 (或当N=16 时分成16个扇区1525 )。每一个扇区1525都是具有2kB长度的子块。 当M=26时每一个扇区1525被分为26个帧#0到#25。在每一个帧弁0 到#25的前端，SYNC标记被记录为用于再现数据的同步信号。
帧是记录在轨道凹槽1502上的信息的基本单位。在图15中，帧 #0由标号1522表示，帧#1由标号1523表示。如帧1522和1523所 示例，每一帧包括预先以周期的方式形成的一种类型的摆动。以这种 方式，1位的子信息"0"、 "1"或"S"在每一个帧1522和1523中 描述。子信息被描述为SYNC信息。包括在每一个扇区1525中的26 位(M=26)子信息组指示了对应的块单元1541的块ID (地址信息) 的至少一部分。
1位子信息被分配给一帧，这样32位块ID被填盖在连续的32帧 (子信息组)中。
除了指示地址的信息外，块ID可以包括用于校正或检测检测信 号的误差校正码、误差检测码或奇偶校验码等。
如上所述，块ID通过组合分配给32帧中的每一个的1位信息来 表示。即整个块ID由32位子信息组来表示。
当ECC块具有64kB的长度时，每一个块包括32个扇区。因此， 一个块包括832帧(=32x26)。当块ID由32帧(一个帧组)来表示 时，块ID可以在块单元1541中被重复26次(即相同的块ID在26个帧组中描述)。
当ECC块具有32kB的长度时，每一个块包括16个扇区。因此， 一个块包括416个帧(=16x26)。当块ID由32个帧(一个帧组)来 表示时，块ID可以在块单元1541中被重复13次(即相同的块ID在 13个帧组中描述)。
以这种方式，块ID由32帧(一个帧组)来表示，并且该ID块 在块单元1541中被描述很多次。
这样，块ID最后通过仅仅读取32帧来确定。因此，可以很快地 执行后处理(数据读取、数据记录等)。
由于块ID在块单元1541中被重复多次，可以增强块ID的读取 可靠性。
如上面参照图16描述的，可以包括不同于块ID的信息，尽管在 块单元1541中重复块ID的次数在这种情况中减少了。例如，块ID 的序号可以包括在子信息组中。序号可以用于在大多数的基础上最后 确定地址号。此外，这样的号提供了用于信号处理的有用信息，例如， 块中的哪一个扇区1525现在被读取或块中哪一个子信息组是不正确 的。
在光盘介质具有多个记录表面或层的情况中，记录层的序号可以 包括在子信息组中'。以这种方式，记录表面可以容易地被识别。例如， 图16中的四个相同序号中的一个可以用记录层的序号替代。这样， 记录表面可以容易地识别。
在这个例子中，块ID有32位。地址信息的位数不局限于32，而 是可以是依据例如将要记录在光盘介质上的数据量或误差校正码的 类型和系统的任何需要的数量。
在这个例子中，当N-32时块单元被分为32个扇区(或当N-16 分为16个扇区)。本发明不局限于这样的扇区数量。
在这个例子中，当M=26时子信息被记录在包括在每一个扇区中的26帧中。本发明不限于这样的帧数量。
在这个例子中，子信息在被调制为锯齿状摆动后被记录。本发明 不局限于这样的摆动形状。子信息可以在被调制为具有例如图4或7 中所示的形状的摆动后被记录。
在这个例子中，块标记是轨道凹槽的切断部分。本发明不局限于 这种块标记的形式。例如，块标记可以被调制为具有例如图5或6中 所示的形状的摆动。 (例11)
图22显示了依据本发明的例11的轨道凹槽1602。轨道凹槽1602 可以在图2中所示的光盘介质20中形成来替代图1中所示的轨道凹 槽102。如图22中所示，轨道凹槽1602具有逐块不同的形状。
参照图22，作为形成块地址的单元的ECC块被分成4个PID部 分PIDO至U PID3。 PID部分PIDO、 PID1 、 PID 2禾口 PID3分另lj由*示号 2202、 2204、 2206和2208来指示。PID部分2202、 2204、 2206和 2208的前面分别是附加部分0到3。附加部分O、 1、 2和3分别由标 号2201、 2203、 2205和2207来指示。附加部分2201、 2203、 2205 和2207的每一个都包括块标记(标识标记)2220。在图22中，块标 记(标识标记)2220是轨道凹槽1602中的切断部分并且显示了指示 每一个PID部分的前端的索引。
如上所述，块被分为四个PID部分(N=4)，并且每一个PID部 分还被分成M帧(M=52)。每一帧(例如，每一帧2222、 2223、 2224 和2225)从块标记2220沿轨道凹槽1602具有规定数量的摆动2226、 2227、 2229或2230。摆动2226、 2227、 2229和2230具有彼此不同 的规定形状，代表子信息("0"、 "1"、 "S"或"B")。 一种类型的子 信息("0"、 "1"、 "S"或"B")由一种摆动形状2226、 2227、 2229 或2230来表示。子信息的类型和摆动的形状(摆动2226、 2227、 2229 或2230)是一一对应的关系。更具体地，摆动2226、 2227和2228都具有通常的锯齿形状，摆动2230具有正弦波形状。摆动2226、2227、 2228或2230具有不同的上升形状(或上升梯度)和下降形状(或下 降梯度)。摆动2226、 2227、 2229或2230依据子信息("0"、 "1"、
"S"或"B")的类型来形成。
摆动2226、 2227、 2229和2230中的上升梯度和下降梯度中的差 别可以通过差分推挽检测信号容易地检测如下。扫描激光束射向轨道 凹槽1602，产生了指示由沿垂直于光盘介质20的轨道凹槽1602的 方向(径向)划分的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差的差 分信号(即推挽信号)。这样，获得了具有依据子信息是"0"、 "1"、
"S"或"B"来变化的上升梯度和下降梯度的检测信号。上升梯度 和下降梯度中的差别例如可以通过对检测信号差分容易地识别。
这样，子信息的类型可以通过作为差分结果获得的值的大小来检 测。但是，当使用差分时，噪声成分自然地增加了。在具有较差S/N 比的光盘介质中，检测错误被合理地预期到。在这个例子中，摆动 2226、 2227、 2229和2230的每一个模式被重复多次以增强检测的可 靠性。
PID部分的内容将被描述。每一个PID部分包括每一个都具有372 个字节的52帧，这样具有19344字节的长度(-372字节x52)。 PID 部分2202 (PID0)包括8位PID信息2209、 24位块地址信息2210、 16位IED信息2211和4位地址标记(AM) 2212。
PID信息2209表示对应的PID部分的号(即，PID部分是否是 PID0、 PID1、 PID2或PID3)。块地址信息2210是分配给每一个块的 地址信息，并且在相同的ECC块的PIDO到PID3中是共同的。IED 信息2211是从PID信息2209和块地址信息2210产生的ID误差检测 码。
地址标记2212位于PID部分2202的后端(后端)并且用于检测 紧随PID部分2202的PID部分2204的前端。除子信息"0"、 "1"或"S"之外，地址标记2211包括使用正弦波形状的摆动、例如在帧 2225中的摆动2230的子信息"B"。地址标记2212通过组合由帧2224 中的摆动2229记录的子信息"S"和子信息"B"来表示。例如，地 址标记2212具有4位信息"SBBS"。当这种模式被检测时，准备下 面的附加部分或PID部分的检测。
由于子信息"B"仅仅被用于地址标记，地址标记容易与具有其 他信息的部分区别开。这样，可以增强地址标记的检测精度。
附加部分的内容将被描述。不象PID部分，每一个附加部分具有 预先记录在盘上的块标记2220。块标记2220例如是镜像标记，它是 如在下面描述的图17中所示的轨道凹槽1602中的切断部分。附加部 分2201位于PID部分2202 (PIDO)之前并且也是ECC块的前端。
附加部分0到3预先分别在PIDO到PID3之前被提供，并且每一 个都具有93字节的长度。块标记(镜像标记)2220具有大约2个字 节的长度。在每一个附加部分，假数据可以被记录以增加块标记2220 的检测精度。
可使用的假数据例如可以是包括简单重复的4T标记和4T空间的 信息。这样，单个频率分量的记录标记和块标记可以是在频率上分开 的，以便更容易检测。这样，块标记可以更容易地被检测。
如上所述， 一个ECC块被分成4个PID部分，并且每一个PID 部分前面是附加部分。在每一个附加部分，形成了指示PID部分的前 端的块标记。在ECC块中重复这样的PID部分。因为块ID最终通过 仅仅读取ECC块的1/4来确定，后处理(数据读取，数据记录等) 可以快速地执行。
因为块ID在ECC块中重复多次，增强了块ID的读取可靠性。
在这个例子中， 一个ECC块被分成4个PID部分。本发明不局 限于这样数量的PID部分。一个ECC块可以被分成任意整数多个PID部分。在这个例子中，子信息在被调制成锯齿形状的摆动后被记录。本
发明不局限于这样的摆动形状。子信息可以在被调制成具有例如图4 或7中显示的形状的摆动后被记录。
在这个例子中，块标记是轨道凹槽的切断部分。本发明不局限于 这样的块标记的形式。例如，块标记可以被调制成具有例如图5或6 中显示的形状的摆动。或者，块标记可以被调制成具有例如图17、 18或19中显示的形状的摆动。 (例12)
图17显示了依据本发明的例12的轨道凹槽1702。轨道凹槽1702 通过修改图22中显示的轨道凹槽1602的附加部分来获得。
在图17中，标号1701表示附加部分0， 1705表示附加部分1到 3中的每一个。具有连续多个正弦波状摆动的形状的轨道凹槽1702 预先在盘中形成，每一个附加部分具有93字节的长度。附加部分包 括9个摆动。附加部分0具有每一个都作为轨道凹槽1702的切断部 分的块标记1703和1704，附加部分1到3每一个都具有作为轨道凹 槽1702的切断部分的块标记1706。
如例11屮所描述的，附加部分0到3先于各自的PID部分并且 可以是地址信息的前端。因此，需要提供对附加部分0到3的令人满 意的高水平的读取可靠性。在块标记在附加部分中重复多次(例如， 两次)的情况中，即在附加部分中提供了多个相同的块标记的情况中， 即使当一个块标记由于外部干扰例如噪声或故障而不能被检测时，块 标记也能以高水平的可靠性被检测。在块标记以特定的间隔被重复多 次的情况中，正确的块标记可以容易地区别于由噪声、故障等产生的 假的块标记。
在附加部分0到3中形成的块标记的数量和形状可以相同。例如， 一个块标记1703可以在附加部分0到3的每一个中提供。或者，如 图17中所示，在附加部分0到3中形成的块标记的数量和形状可以在附加部分0到3之间不同。例如，附加部分0中的块标记的数量可 以与附加部分1到3中的块标记的数量不同。在这种情况中，可以在 附加部分0中提供比其他附加部分中更多数量的块标记，以增强对作 为ECC块的前端的附加部分O的读取的可靠性。在图17中，在附加 部分0中提供了两个块标记1703和1704，而在附加部分1到3的每 一个中提供了一个块标记1706。当在附加部分0中形成的块标记的 数量或形状不同于附加部分1到3中形成的时，附加部分0中的块标 记可以容易地区别于其他附加部分的块标记。这样，可以不用读取 PID部分的全部而最终地确定ECC块的前端地址。
在图17中，按照摆动的相位在相同的位置提供多个块标记。或 者，如图18中所示，块标记可以在具有摆动的180度相差的位置提 供(块标记1703和1804)。
在这个例子中，每一个块标记具有2个字节的物理长度，但是本 发明不局限于这样的长度。可以选择基于光点直径确定的最佳设计长 度。例如，如图19中所示，块标记可以具有4个字节的物理长度。
当块标记可以具有如图19中所示的4个字节的物理长度时，附 加部分0中的块标记的物理长度可以与附加部分1到3中的不同。这 样，附加部分O中的块标记的读取可靠性可以被增强。当在附加部分 0中形成的块标记的长度与附加部分1到3中形成的不同时，附加部 分0中的块标记可以容易地区别于其他附加部分的块标记。
参照图20，将描述其中块标记是在凸区中形成的预凹坑的光盘介 质。图20显示了在这样的光盘介质中的轨道凹槽2002。轨道凹槽2002 通过修改图22中显示的轨道凹槽1602的附加部分来获得。在图20 中，标号2001表示附加部分0， 2005表示附加部分1到3中的每一 个。块标记2004在附加部分0的轨道凹槽2002的相邻部分之间的凸 区2003中形成。块标记2004是凸区2003中的切断部分。当用光点 2007扫描轨道凹槽2002时，块标记2004在从光点2007的中心偏移了半个轨道的状态被扫描。
如图20中所示在凸区2003上形成的块标记2004可以使用指示 由光接收元件的两个分开的检测区域接收的光量之间的差的差分信 号(即，推挽信号)来检测。使用这样的差分信号来检测上述的PID 部分。块地址可以使用类似的差分信号来检测。因此，块地址和PID 部分可以被检测而不用将差分信号切换成总和信号。这样，信号检测 部分可以具有更简单的电路配置。
在类似图20中的块标记2004的一个附加部分中提供多个相同的 块标记的情况中，块标记的数量可以在附加部分0中和在附加部分1 到3中之间存在差别。
例如，当附加部分0包括两个块标记2204并且附加部分1到3 中的每一个都具有一个块标记2204时，可以增强附加部分0中的块 标记的读取可靠性。当在附加部分0中形成的块标记的数量不同于在 附加部分1到3中形成的时，附加部分0中的块标记可以容易地区别 于其他附加部分的块标记。
在每一个附加部分中，假数据可以被记录以增加块标记的检测精度。
可使用的假数据例如可以是包括简单地重复的4T标记和4T空间 的信息。这样，单一频率分量的记录标记和块标记可以是在频率上分 幵的，以便更容易检测。这样，块标记可以更容易地被检测。 (例13)
图21显示了依据本发明的例13的光盘介质的PID部分2100。PID 部分2100通过修改图22中所示的PIDO到PID3来获得。PID部分 2100包括每一个都具有372个字节的52帧，因此具有19344字节的 长度(-372字节x52)。 PID部分2100包括8位PID信息2209、 24 位块地址信息2210、 16位IED信息2211和作为标识标记的4位地址 标记(AM) 2212。 PID信息2209、块地址信息2210和正D信息2211类似于例11中的对应部分。
地址标记2211位于PID部分2100的后端并且用于检测紧随PID 部分2100的PID部分的前端。地址标记2211是除子信息"0"、 "1" 或"S"之外还包括子信息"B"的4信息单元。地址标记2211通过 组合子信息"S"和子信息"B"来表示。地址标记可以是每一个PID 部分2100中的子信息的不同组合。例如，如图21中所示，PID3的 地址标记2107包括4位信息"SSSS"。当这种组合被检测时，识别 出这是PID3的地址标记2107。这样，可以准备紧随其后的PIDO之
PIDO的地址标记2101、 PID1的地址标记2103和PID2的地址标 记2105中的每一个都包括不同于PID3的地址标记2107中的 "SBBS"。由于PID3的地址标记的内容不同于PIDO到PID2的地址 标记的内容，所以PID3的地址标记容易地区别于其他PID部分的地 址标记。这样，增加了PID3的地址标记的检测精度。g卩，块的前端 可以更容易地由子信息的这样的不同组合来检测。
PID0到PID2的地址标记可以由相同形状的摆动来形成(即，子 信息的相同组合)。例如，PIDO到PID2的地址标记可以都包括 "SBBS"。
图21中所示的具有用轨道凹槽的摆动表示的信息的地址标记 2101、 2103、 2105和2107可以使用指示由光接收元件的两个分开的 检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即，推挽信号)来检测。 使用这样的差分信号来检测PID信息2209、块地址信息2210和IED 信息2211。在每一个PID部分之前的块地址或标识标记可以使用类 似的差分信号来检测。因此，每一个PID部分的前端、块的前端和块 地址都可以被检测而不用把差分信号切换成总和信号和差分信号。这 样，信号检测部分可以具有更简单的电路配置。
为了增加地址标记2101、 2103、 2105和2107的检测精度，假数据可以被记录在对应于地址标记的轨道凹槽的部分。
可使用的假数据例如可以是包括简单地重复的4T标记和4T空 间的信息。这样，单一频率分量的记录标记和块标记可以在频率上分 开，以便更容易检测。这样，块标记可以更容易地被检测。图21中 显示的地址标记可以使用上述的差分信号来检测。因此，地址标记可 以通过在对应于地址标记的轨道凹槽的部分中记录正确的用户数据 以替代假数据来检测。
附加部分中的标识标记和地址标记可以组合使用。例如，附加部 分中的标识标记是2字节的镜象标记，这样以非常高水平的位置精度 来提供。因此，这样的组合使用可以增加在链接时开始记录的位置的 精度以供额外地写或重写。 (例14)
图23A显示了依据本发明的例14的光盘装置2300。光盘装置 2300再现利用前面的例子中描述的多个摆动形状的组合记录在光盘 介质上的子信息，以便记录和再现主信息。图23是显示在图23A中 的光盘装置2300的操作的流程图。
光盘装置2300包括变换部分2330、再现信号计算部分2308、聚 焦位置控制部分2309、跟踪位置控制部分2310、子信息检测部分 2312、激光驱动部分2313、再现信号处理部分2314和地址信息/盘管 理信息处理部分2315。变换部分2330包括半导体激光器2302、准直 透镜23(B、分束器2304、会聚部分2305、集光透镜2306、光检测部 分2307以及传动器2311。光盘装置2300将光束射向光盘介质2301 使得读取记录在光盘介质2301上的主信息和子信息并且把该主信息 和子信息转换为再现信号。
参照图23A和23B，半导体激光器2302发射出的光束通过准直 透镜2303、分束器2304和光会聚部分2305被收集在光盘介质2301 的信息表面上。然后所收集的光被光盘介质2301反射和折射并且通过光会聚部分2305、分束器2304和集光透镜2306被收集在光检测 部分2307上。光检测部分2307的光接收元件A、 B、 C和D的每一 个都依据接收到的光的总量来输出电压信号作为再现信号2320 (步 骤SIOO)。
再现信号计算部分2308利用加、减、乘或除来处理再现信号2320。 从再现信号计算部分2308输出的作为这样的计算结果的FE (聚焦误 差)信号2321被发送到聚焦位置控制部分2309。从再现信号计算部 分2308输出的作为这样的计算结果的TE (跟踪误差)信号2322被 发送到跟踪位置控制部分2310。从再现信号计算部分2308输出的作 为这样的计算结果的RF (射频)信号2323被发送到子信息检测部分 2312和再现信号处理部分2314 (步骤S200)。
聚焦位置控制部分2309通过依据FE信号2321输出的电压驱动 传动器2311，以便控制在光盘介质2301的信息表面上的光点的聚焦 位置。跟踪位置控制部分2310通过依据TE信号2322输出的电压驱 动传动器2311，以便控制在光盘介质2301的信息表面上的光点的跟 踪位置。根据聚焦位置和跟踪位置控制的光点被用于读取预凹坑或光 盘介质2301上的标记和空间。作为一种相差类型的光盘介质2301中 的标记和空间以不同的反射比反射光。这样，记录在光盘介质2301 上的信息被读取。在推挽系统的情况中，TE信号2322是由光检测部 分2307的两个光接收部分接收的光的总量之间的差的输出。这两个 光接收部分的每一个都包括四个光接收元件A、 B、 C和D中的两个 并且由平行于跟踪方向的一条线来定义。这里，差为(A+D)-(B+C)。 RF信号2323是由四个光接收元件A、 B、 C和D接收的光的总量的 和的输出。这里，和为(A+ B+C + D)。在象散系统的情况中，FE 信号2321是(A+C) - (B+D)的输出。
子信息用下面的方式再现。
由再现信号计算部分2308产生的TE信号2322和RF信号2323被输出到子信息检测部分2312并且被用于译码子信息。由子信息检 测部分2312检测的子信息被输出到地址信息/盘管理信息处理部分 2315和激光驱动部分2313。
如图34中所示，子信息检测部分2312包括基准时钟产生部分 3410、电平限幅脉冲信号产生部分(level-slicedpulse signal generation section) 3411、作为块标记信号检测部分的第三BPF (带通滤波器) 3403和子信息产生部分3412。
基准时钟产生部分3410包括第一 BPF 3401和同步检测部分 3404。电平限幅脉冲信号产生部分3411包括第二 BPF 3402、比较器 3405和积分器3408。子信息产生部分3412包括多数确定部分3406 和子信息译码器3407。
第一 BPF 3401被设计为具有这样的一个滤波常数，以便提取出 调制成TE信号2322的摆动信号。基于TE信号2322，第一 BPF 3401 产生包含具有与轨道凹槽中的摆动同步的正弦波形的基波分量的输 出信号3401，。同步检测部分3404接收输出信号3401，并且产生与 从光盘介质2301 (图23A)读取的信号同步的基准时钟信号3404'(步 骤S300)。基准时钟信号3404，被用于同步子信息信号。
第二 BPF 3402是用于检测被调制为TE信号2322的锯齿波形的 陡边的差分滤波器。根据陡边的相位(或方向)，第二 BPF 3402产生 一个向上或向下差分脉冲信号3402，。差分脉冲信号3402'被输出到 比较器3405。比较器3405将通过积分器3408反馈的调节限幅电压 和差分脉冲信号3402'相比较，并且产生电平限幅脉冲信号3405'， 差分脉冲信号3402，的向上状态和向下状态为"0"和"1"(步骤S400)。 电平限幅脉冲信号3405'被输出到多数确定部分3406。
第三BPF 3403滤波RF信号2323以检测块标记信号3403，并且最 终确定子信息组的前端(步骤S500)。所检测的块标记信号3403'被 输出到多数确定部分3406，在那里所检测的块标记信号3403'被用于计时同步。
基于从基准时钟信号3404'和块标记信号3403'产生的同步信号， 在特定的时间区间内，多数确定部分3406比较电平限幅脉冲信号 3405,的"0"脉冲和"1"脉冲的数量。然后，多数确定部分3406把 在特定的时间区间内占所有脉冲的大多数的脉冲输出到子信息译码 器3407作为电平限幅数据信号3406'。子信息译码器3407检查在电 平限幅数据信号3406'中是否有错误。当在电平限幅数据信号3406' 中没有错误时，子信息译码器3407输出电平限幅数据信号3406'作为 子信息信号3420 (例如，地址信息)(步骤S600)。
通过上述过程，记录在光盘介质2301上的子信息信号3420被再 现。基于包括在再现的子信息信号3420中的地址信息，光盘装置2300 可以确定在轨道凹槽中的信息的哪一块现在被再现。当在光盘介质 2301上记录主信息时，确定紧挨在要记录主信息的块之前的块的地 址，然后预测出下一块是要记录主信息的块。这样，可以从目标块的 ^i的前端开始记录主信息。 (例15)
将描述依据本发明的例15的光盘介质的导入区和导出区。 参照图30，常规的光盘介质3001的导入区和导出区将被描述。 光盘介质3001包括在内周边区域中提供的导入区3003、在外周边区 域中提供的导出区3004和在导入区3003和导出区3004之间提供的 记录和再现区域。在图30中，部分3007被放大了。导入区3003具 有预先形成的预凹坑3006。通过读取在预凹坑和保留区域之间的反 射比之间的差，"0"和"1"的信息被读取。导入区3003具有预先记 录的盘管理信息。例如，盘管理信息包括盘再现功率信息、伺服信息 和最佳记录功率的信息。记录和再现区域3004具有预先形成的轨道 凹槽3002。通过沿轨道凹槽3002执行跟踪控制，可重写数据被记录 在轨道凹槽3002中或记录在轨道凹槽3002中的数据被擦除。在常规的光盘介质3001中，导入区3003和导出区3005与记录 和再现区域3004在预凹坑3006的形状和轨道凹槽3002的形状方面 不同。因此，两个跟踪系统不得不以切换的方式使用。更具体地，差 分相位系统(DPD)的跟踪被用于导入区3003和导出区3005，利用 轨道凹槽3002的衍射的推挽系统的跟踪被用于记录和再现区域 3004。
在本发明的例15中，提供了允许同样的跟踪系统被用于导入区、 导出区和记录和再现区域的光盘介质。这样的光盘介质可以简化跟踪 操作。
下面，将描述依据例15的光盘介质。
图24显示了依据例15的光盘介质2400。光盘介质2400包括导 入区2401、记录和再现区域2402和导出区2403。导入区2401和导 出区2403具有预先记录的盘管理信息。导入区2401和导出区2403 中的每一个可以进一步具有不同于用于记录用户数据的区域的区域， 即用于试验记录的区域。在图24中，导入区2401可以在从具有距光 盘介质2400的中心22.59mm的半径的圆的边缘到具有距光盘介质 2400的中心24.02mm的半径的圆的边缘的区域中提供。导入区2401 包括具有预先记录的盘管理信息的盘管理区域(从具有距中心 22.59mm的半径的圆的边缘到具有距中心24.000mm的半径的圆的边 缘的区域)。导入区2401还可以包括用于在光盘介质或驱动器上试验 记录的可重写区域。在盘管理区域中的信息原则上被禁止重写。在这 个例子中，导入区2401和导出区2403意味着盘管理区域。
参照图36，将描述以螺旋方式在光盘介质2400的记录表面中形 成的轨道凹槽3631。轨道凹槽3631在导入区2401和导出区2403中 形成。轨道凹槽3631以周期方式带有规定形状的摆动3626、 3627和 3628。摆动3626、 3627和3628具有彼此不同的规定的形状，表示子 信息("0"， "1"， "S"或"B")。 一种类型的子信息("0"， "1"， "S"或"B")由一种摆动形状3626、 3627或3628来表示。子信息的类 型和摆动的形状(摆动3626、 3627或3628)是一一对应的关系。更 具体地，具有通常的锯齿形状的摆动3626和3627和具有通常的正弦 波形的摆动3628具有如图36中所示的不同的上升形状(或上升梯度) 和下降形状(下降梯度)。盘管理信息由摆动3626、 3627和3628的 组合所示的子信息串表示。
在摆动3626、 3627和3628中的上升梯度和下降梯度的差别可以 容易地被差分推挽检测信号检测如下。扫描激光束直射到轨道凹槽 3631，产生了指示由沿垂直于光盘介质3400的轨道凹槽3631的方向 (径向)划分的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差的差分信 号(即，推挽信号)。这样，获得了具有依据子信息是"0"还是"1" 变化的上升梯度和下降梯度的检测信号。例如，这个上升梯度和下降 梯度的差可以由检测信号的差分容易地确定。子信息的类型可以由作 为差分的结果获得的值的大小来检测。在导入区2401和导出区2403 中，子信息被用作记录和再现区域2402的盘管理信息。
在图36中，包括块标记3630的帧3620具有预先形成的9个摆 动3628以指示子信息"B"。在块标记3630后的52个帧3621的每 一个具有总共36个摆动3626和3627以指示子信息"O"和子信息"1 "。 在CLV格式的这个例子中的光盘介质2400的情况中，形成摆动3626 和3627的物理频率从最里面的轨道到最外面的轨道恒定在fb。
参照图25A和25B,导入区2401和导出区2403将与记录和再现 区域2402比较。
图25A显示了记录和再现区域2402中的轨道凹槽2502。包括块 标记2520的帧2510具有预先形成的9个摆动2528 (正弦波形)以 指示子信息"B"。在块标记2520后的52个帧2511的每一个具有总 共36个摆动2526和2527 (锯齿波形)以指示子信息"0"和子信息 "1"。在CLV格式的这个例子中的光盘介质2400的情况中，形成摆动2526、 2527和2528的物理频率从最里面的轨道到最外面的轨道(l 个摆动124个信道位)恒定在fa。摆动的摆动量恒定在22.5nmpp。
在记录和再现区域2402中，记录标记在调制后被记录。在这个 例子中，运行周期被限制为2T (最小长度)的46D调制的信号被记 录在轨道凹槽2502中。在这点上信道位长度为0.0771pm。用于记录 和再现信号的激光具有405nm (+10 nm， -5 nm)的波长的平均值和 0.85±0.01的数值孔径(NA)。
图25B显示了导入区2401和导出区2403中的轨道凹槽3631 。轨 道凹槽3631的细节如上述参照图36所描述的。形成导入区2401和 导出区2403中的摆动3626、 3627和3628的物理频率fb比形成记录 和再现区域2402中的摆动2526、 2527和2528的物理频率fa高10 倍。通过把摆动的频率设置得更高，可以增加包括在单位区域中的信
息里o
在导入区2401和导出区2403中，多个摆动指示1位子信息。在 导入区2401和导出区2403与记录和再现区域2402之间，指示作为 子信息的最小单元的1位信息的摆动的数量可以不同。与记录和再现 区域2402相比，通过减小导入区2401和导出区2403中指示1位信 息的摆动的数量，指示盘管理信息的摆动可以在导入区2401和导出 区2403中相对小的区域中有效地形成。
如上所述，导入区2401和导出区2403包括具有规定的以周期形 式形成的摆动形状的轨道凹槽3631，并且在轨道凹槽3631中每一个 摆动形状表示盘管理信息。因为摆动也以周期形式在包括在记录和再 现区域2402中的轨道凹槽2502中形成，因此相同系统的跟踪可以用 于整个光盘介质2400。因为在导入区2401和导出区2403中摆动的 频率比记录和再现区域2402中的高10倍，并且一个摆动指示1位子 信息，所以记录在单位区域中的信息量增加了。这样，指示盘管理信 息的摆动可以有效地记录在导入区2401和导出区2403中的有限的区域内。
在这个例子中，在导入区2401和导出区2403中的摆动的频率比 记录和再现区域2402中的高10倍，本发明不局限于这样的数值。
在这个例子中，描述了锯齿形状的摆动。依据本发明摆动不局限 于这样的形状。
在这个例子中， 一个摆动指示l位信息。多个摆动可以指示l位
"f曰息o
或者，如图26A和26B中所示，导入区2401和导出区2403中的 摆动的频率fb可以低于记录和再现区域2402中的摆动的频率fa。以 这种方式，可以增大在检测导入区2401和导出区2403中的摆动时的 S/N比。这样，在导入区2401和导出区2403中的盘管理信息的可靠 性可以被增强。
在这个例子中，在导入区2401和导出区2403中的摆动有相同的 频率，该频率与记录和再现区域2402中的摆动的频率不同。在盘管 理信息仅仅记录在导入区2401中的情况中，仅仅在导入区2401中的 摆动的频率可以与记录和再现区域2402中的摆动的频率不同。
在这个例子中，光盘介质2400包括导入区2401和导出区2403。 除记录和再现区域2402之外，光盘介质2400可以仅仅包括导入区 2401或仅仅包括导出区2403。 (例16)
图27A和27B显示了依据本发明的例16的光盘介质的轨道凹槽 2502和2731。
在图27A中所示的轨道凹槽2502与上面参照图25A描述的轨道 凹槽2502相同，是在图24中所示的光盘介质2400的记录和再现区 域2402中形成的。图27B中所示的轨道凹槽2731可以在导入区2401 和导出区2403中形成。
包括块标记2520的帧2510具有9个正弦波形状的摆动2528'，以指示子信息"B"。跟在块标记2520之后的52帧2511中的每一个 具有总共36个锯齿形状的摆动2526'和2527'，以指示子信息"0" 和子信息"l "。在这个例子中的CLV格式的光盘介质2400的情况下， 形成摆动2526、 2527和2528的物理频率从最内侧轨道向最外侧轨道 恒定为fa (1个摆动124个信道位)。表示摆动的摆动量的摆动振幅 恒定为Ca。
图27A和27B中所示的轨道凹槽在表示摆动的摆动量的摆动振幅 上与图25A和25B中所示的不同。其中，图27A中的记录和再现区 域2402中的轨道凹槽2502的摆动振幅为Ca，图27B中的导入区2401 和导出区2403中的轨道凹槽2731的摆动振幅为Cb，其中Cb>Ca。
再现时的摆动信号振幅与摆动量成比例。因此，当导入区2401 和导出区2403的摆动振幅大于记录和再现区域2402中的摆动振幅 时，提高了在再现的时候检测摆动时的S/N比。这样，可以增强盘管 理信息的读取可靠性。
在这个例子中，光盘介质2400包括导入区2401和导出区2403。 除记录和再现区域2402之外，光盘介质2400可以仅仅包括导入区 2401或仅仅包括导出区2403。 (例17)
图28A和28B显示了依据本发明的例17的光盘介质的轨道凹槽 2502和2831。
在图28A中，摆动2826用CLV格式形成，摆动2826的物理频 率从最里面的轨道到最外面的轨道是恒定的。因此，两个相邻摆动 2826的相位依据轨道位置和径向位置来偏移。在再现的时候，相邻 轨道的干扰的影响由于相差而变得明显，由再现信号检测到的摆动信 号振幅以周期的方式在相差上变化。在变化的摆动信号振幅为最小的 摆动中，S/N比减小了。
在图28A和28B中所示的轨道凹槽与图25A和25B中所示的轨道凹槽有下面几点不同。在轨道凹槽2831中，摆动2827由CAV格 式形成，这样两个相邻轨道之间的摆动2827的相差总是7i/2。
当记录和再现区域2402、导入区2401和导出区2403中的摆动由 CAV格式形成时，在再现时的摆动信号振幅为常数。这样，增强了 摆动的检测可靠性。
在这个例子中，相差是在上升处在相位为0的位置上和在 下降处相位为7c的位置上摆动通常具有陡峭的边缘。当在71/2和3x兀/2 以及Ti/2x(2n+l) (n是整数)的位置安排陡峭边缘时，可以减小来自 相邻轨道的串扰的影响。相差不局限于这样的值，而可以是任意其他 的常数值。
在记录和再现区域2402、导入区2401和导出区2403中的摆动可 以由在DVD-RAM中使用的ZCLV格式替代CAV格式来形成。
通过由CAV格式或ZCLV格式替代CLV格式形成摆动，从记录 和再现区域2402再现的地址信息的可靠性可以被增强。
在这个例子中，光盘介质2400包括导入区2401和导出区2403。 除记录和再现区域2402之外，光盘介质2400可以仅仅包括导入区 2401或仅仅包括导出区2403。 (例18)
图29A和29B显示了依据本发明的例18的光盘介质的轨道凹槽 2502和2931。
图29A中所示的轨道凹槽2502与上面参照图25A描述的相同并 且在图24中所示的光盘介质2400的记录和再现区域2402中形成。 在图29B中所示的轨道凹槽2931可以在导入区2401和导出区2403 中形成。
在图29A中所示的轨道凹槽2502具有TPa的轨道间距(两个相 邻轨道之间的距离)。主信息通过凹槽记录系统记录在轨道凹槽2502 中。在图29A和29B中所示的轨道凹槽与图25A和25B中所示的轨 道凹槽在轨道间距上不同。其中图29A中记录和再现区域2402中的 轨道凹槽2502的轨道间距是TPa，图29B中导入区2401和导出区 2403中的轨道凹槽2931的轨道间距是TPb，其中TPb>TPa。例如， 当使用具有405nm的波长和0.85的NA作为光学常数的光点来再现 记录在具有轨道间距TPa=0.32pm (两个相邻凹槽之间的距离)的凹 槽记录系统光盘介质上的信息时，由推挽系统获得的跟踪误差信号的 振幅相当小。当轨道间距增大时，跟踪误差信号的振幅因此而增大。 当摆动的摆动量恒定时，摆动信号振幅基本上与跟踪误差信号的振幅 成比例地增大。因此，当轨道间距增加时，再现时的摆动信号振幅增 大了。
这样，与记录和再现区域2402中的轨道间距TPa相比，通过增 加导入区2401和导出区2403中的轨道间距TPb，检测摆动时的S/N 比可以被增强。
或者，当TPb〈TPa时，指示盘管理信息的摆动可以有效地记录在 导入区2401和导出区2403中的有限的区域中。
在例15到18中，导入区2401和导出区2403中的摆动频率、摆 动振幅、相对于相邻轨道中的相位的摆动相差、轨道间距等与记录和 再现区域2402中的不同。导入区和导出区2401和2403与记录和再 现区域2402之间的多个这样的因素可以不同。
在导入区2401和导出区2403的盘管理区域中的轨道中，没有形 成记录标记。这样，盘管理区域的再现信号的S/N比可以被增加，其 结果是，盘管理区域的读取可靠性可以被增强。
在这个例子中，光盘介质2400包括导入区2401和导出区2403。 除记录和再现区域2402之外，光盘介质2400可以仅仅包括导入区 2401或仅仅包括导出区2403。 (例19)图35显示了依据本发明的例19的光盘介质的轨道凹槽3531。 在图35中所示的轨道凹槽3531可以在图24中所示的光盘介质 2400的导入区2401和导出区2403中形成。
在图35中所示的轨道凹槽3531与图25B中所示的轨道凹槽3631 不同，因为轨道凹槽3531具有以一次写入的方式记录在导入区2401 和导出区2403 (即，轨道凹槽3531)中的单频率记录标记。例如， 具有0.0771nm的记录信道位长度的记录标记以一次写入的方式通过 提供具有在具有盘管理信息的轨道凹槽3531中重复的8T记录标记和 8T空间的信号来记录。这样，信息可以由不允许推挽系统的跟踪的 再现装置(DPD系统跟踪的装置)来再现。装置之间的兼容性可以 提高。
在这个例子中，光盘介质2400包括导入区2401和导出区2403。 除记录和再现区域2402之外，光盘介质2400可以仅仅包括导入区 2401或仅仅包括导出区2403。 (例20)
图31显示了依据本发明的例20的光盘介质的轨道凹槽3101。 在例1中，块标记210通过切断轨道凹槽102来提供。在这个例 子中，块标记3104通过局部地反转轨道凹槽3101中的摆动3126的 相位来形成。这样形成的块标记3104不切断轨道凹槽3101，这样信 息可以被记录在块标记3104上。结果，额外开销可以被减小。 (例21)
图32显示了依据本发明的例21的光盘介质的轨道凹槽3201。 在例1中，块标记210通过切断轨道凹槽102来提供。在这个例 子中，多个块标记3204a和3204b通过局部地反转轨道凹槽3201中 的摆动3226的相位来形成。这样形成的块标记3204a和3204b不切 断轨道凹槽3201，另外，除在块标记3204a和3204b之间插入的部 分外，保持摆动3226相位的连续性。因此，再现可以在没有实质地改变摆动的时钟的相位并且不在PLL中产生相差的情况下完成。主 信息可以被记录在块标记3204a和3204b上。结果，额外开销可以被 减小。 (例22)
图33显示了依据本发明的例22的光盘介质的轨道凹槽3301。 在例1中，块标记210通过切断轨道凹槽102来提供。在这个例 子中，块标记3304由具有比摆动26的频率局部增大的频率的摆动 3326来形成。这样形成的块标记3304不切断轨道凹槽3301，这样信 息可以被记录在块标记3304上。结果，额外开销可以被减小。
在例l、 4、 5、 7到12、 15、 16以及19到22中，公开了具有块 标记的轨道凹槽。轨道凹槽可以在不具有块标记的光盘介质上提供。
工业实用性
如上所述，依据本发明，在以逐块为基础记录主信息的轨道凹槽 上形成多个规定形状的摆动。摆动显示出在通过以规定数K除所述 块所获得的一帧中描述的特定子信息。通过在该块的多个帧中、即多 次形成指示子信息的摆动，可以在没有或几乎没有额外开销的情况下 形成地址信息。可以获得单频率摆动再现信号(即，同步信号)。这 样，可以提供适合于高密度记录的光盘介质。
作为子信息组的一部分的子信息指示一个ID号的扇区号。当数 据未被连续读取时，例如，在一个寻找操作之后，紧接在寻找操作之 后的扇区的扇区号或ID号可以被读取，而不是在该块的前端的块标 记。这样，可以从一个任意扇区读取块ID。通过仅仅读取包括块中 的多个扇区的一个扇区组来最终确定块ID，可以迅速地执行后处理 (数据读取、数据记录等等)。
块ID在一个块中被重复多次。这样，可以增强块ID的读取可靠性。在导入区和导出区中，盘管理信息由预先形成的锯齿形状的摆动 来指示。这样，相同的跟踪系统可以用于整个盘。光盘装置可以被简 化。
使摆动频率在引入和导出区和记录和再现区域之间不同。盘管理 区域可以被有效地记录在盘内侧部分中的导入区和盘外侧部分的导 出区的有限区域中。
权利要求
1. 一种信息载体，包括轨道凹槽，其中所述轨道凹槽被分成多个块，所述多个块中的每一块包括多个帧，所述多个帧中的每一帧包括多种摆动形状中的一种摆动形状的多个摆动，所述多个摆动表示子信息，所述多种摆动形状包括第一摆动形状和第二摆动形状，所述第一摆动形状和所述第二摆动形状指示彼此不同的子信息，所述多个块中的每一块具有地址信息，以及所述地址信息由所述多个帧中的至少一帧的所述摆动形状的多个摆动所表示的至少一条子信息所组成的串来表示。
2. 如权利要求1所述的信息载体的再现方法，该方法包括 用光照射所述信息载体；基于从所述信息载体反射的所述光的一部分，生成电信号；以及 基于所述电信号检测所述子信息。
3. 如权利要求1所述的信息载体的记录方法，该方法包括-用光照射所述信息载体；基于从所述信息载体反射的所述光的一部分，生成电信号； 基于所述电信号检测所述子信息；以及 基于所述子信息向所述信息载体进行记录。
4. 一种信息载体，包括-记录/再现区域，和盘管理区域， 其中所述记录/再现区域包括第一轨道凹槽，所述盘管理区域包括在所述信息载体的内侧区域和外侧区域中 的至少一个中提供的第二轨道凹槽，所述第二轨道凹槽包括指示子信息的多种规定形状的多个摆动， 以及所述信息载体的管理信息由所述多种规定形状的多个摆动的组 合来表示。
5. 如权利要求4所述的信息载体的再现方法，该方法包括 从所述信息载体读取信息以生成再现信号；以及 基于所述再现信号生成指示所述子信息的子信息信号。
6. 如权利要求4所述的信息载体的记录方法，该方法包括 从所述信息载体读取信息以生成再现信号； 基于所述再现信号生成指示所述子信息的子信息信号；以及 基于所述子信息向所述信息载体进行记录。
全文摘要
一种光盘介质，包括一个沿其记录主信息的轨道凹槽。将轨道凹槽分成多个块。多个块中的每一块包括多个帧。多个帧中的每一帧包括多个规定摆动形状中的指示子信息的一种摆动形状。多个块中的每一块具有地址信息。地址信息由至少一条由多个帧中的至少一帧的摆动形状所表示的子信息所组成的串来表示。
文档编号G11B7/007GK101447196SQ200810215960
公开日2009年6月3日 申请日期2001年8月29日 优先权日2000年8月31日
发明者东海林卫, 中村敦史, 南野顺一, 古宫成, 石桥広道, 石田隆 申请人:松下电器产业株式会社