专利名称：光盘机读取方法
技术领域：
本发明涉及一种光盘机读取方法，尤其涉及光盘机在发生数据读取错误时，设定 最高重试读取错误数据次数的方法。
背景技术：
光盘上微小的数据记号，经常受到灰尘、污渍、刮伤、烧录品质或读取过程中噪声 的影响因素，造成读取错误。光盘机需要多次重试读取光盘，以求在灰尘、污渍、或噪声等可 变动因素消失时，完成数据的读取。先前技术光盘机的读取方法，在接收主机读取数据的命令后，设定读取数据的标 的所在，并进行读取光盘上标的数据记号。利用错误校正码(Error Correct Code，简称ECC 校正码)，将读取的数据记号进行校正解码，调制出原来的数据。假如不能顺利解码则产生 读取错误，而无法读出光盘的数据。为了避免灰尘、污渍、或噪声等非永久性因素一时所造 成的读取错误，将重试读取该笔数据。由于无法确认读取错误产生的原因，先前技术预设一 固定的重试次数，作为重试读取次数的上限，尝试读出数据。并检查重试读取次数一到达预 设的重试次数，则回报主机读取错误，及结束读取流程，以便等待下一读取命令。先前技术光盘机读取方法，虽然利用预设重试次数，尝试多次读取错误数据，达成 读取命令。然而，先前技术预设的重试次数为固定，亦即对造成读取错误的因素，不分可变 动或不可变动消失，均需再重试预设次数。例如对光盘信号品质较差的数据记号，如仍采行 相同的重试次数，光盘机需耗费相当多的时间在重试上，且无法改变读取错误，而造成无谓 的重试。尤其对于记号相对微小的高容量蓝光光盘，重试机率更多，耗费时间更长，将降低 整体光盘机的读取效率。因此，已知光盘机读取方法在重试次数的设定上，仍有问题亟待解 决。
发明内容
本发明的目的在提供一种光盘机读取方法，对读取过程数据校正解码错误量低的 区域，采取高设定重试次数，以增加成功读取的机会。而对错误量高的区域，则采取低设定 重试次数，以降低重试的时间。本发明的另一目的在提供一种光盘机读取方法，通过根据读取过程的数据解码错 误量高低，分级设定重试次数，以提升读取效率。本发明再一目的在提供一种光盘机读取方法，利用读取数据的区块平均解码错误 量，设定重试次数，以精确设定重试次数。为了达到前述发明的目的，本发明的光盘机读取方法，首先设定及读取数据，校正 解码读取数据及计算校正解码的错误量。产生读取错误时设定重试读取该笔数据，且将重 试累计次数增加一次。根据错误量，高的错误量，设定低的设定重试次数，低的错误量则设 定高的设定重试次数。在重试次数未到达设定重试次数，重试读取该笔错误数据。在重试 次数到达设定重试次数，则确定为读取错误。
本发明的光盘机读取方法，在设定重试次数时，将校正解码错误量分成多级范围， 并预设相对级数的设定重试次数。此外，也可撷取读取数据的数据区块数，将校正解码的错 误量除以数据区块数，求得数据区块的平均错误量，再根据数据区块的平均错误量，设定重 试次数，以达到精确设定重试次数。
图1为本发明光盘机读取方法的流程图。
图2为本发明光盘机读取方法实际运用的流程图。
图3为本发明设定重试次数的流程图。
图4为本发明另一设定重试次_改的流程图。
主要元件符号说明
P1开始读取步骤
P2设定及读取数据步骤
P3校正解码及计算错误量步骤
P4产生读取错误步骤
P5设定重试读取数据步骤
P6重试计次步骤
P7根据校正解码错误量设定重试次数步骤
P8检查重试次数到达固定预设次数步骤
P9确定读取错误步骤
P10结束读取步骤
R1读取命令步骤
R2设定及读取数据标的步骤
R3解码校正步骤
R4计算错误量步骤
R5检查产生读取错误步骤
R6检查数据传输完成步骤
R7结束读取步骤
R8重试读取数据步骤
R9重试计次步骤
R10根据校正解码错误量设定试次数步骤
R11检查重试读取次数达设定试次数步骤
R12回报主机读取错误步骤
S1开始设定步骤
S2撷取解码错误量步骤
S3检查解码错误量级数步骤
S4第三重试次数步骤
S5第二重试次数步骤
S6第一重试次数步骤
S7结束设定步骤T1开始设定步骤T2撷取读取数据解码错误量步骤T3撷取读取的数据区块数步骤T4计算数据区块平均错误量步骤T5设定重试次数步骤T6结束设定步骤
具体实施例方式有关本发明为达成上述目的，所采用的技术手段及其效果，现在举优选实施例，并 配合附图加以说明如下。由于先前技术光盘机读取光盘上的数据记号后，需经由ECC校正码解码成原来的 数据。在解码过程中，先前技术的ECC校正码利用其特定的编码排列格式，对读取数据记号 的错误信号，一一进行校正，并累计错误量。假如能校正所有读取的错误信号，就能成功读 取数据，否则校正失败将造成读取错误。因此ECC校正码的错误量，代表读取数据区域中数 据记号品质的好坏。本发明的光盘机读取方法，即利用先前技术ECC校正码的错误量，作为判断光盘 各区域数据记号品质。对于ECC校正码错误量较低的区域，也就是数据记号品质较好的区 域，设定高的重试次数，尝试多次读取数据，提高校正错误信号的机会，达成读取命令。反 之，对于ECC校正码错误量较高的区域，也就是数据记号品质较差，成功校正错误信号机会 相对低的区域，设定低的重试次数，减少无谓重试的时间，以加快更换读取下一个数据区 域。请参图1，为本发明光盘机读取方法的流程。本发明光盘机读取方法根据ECC校正 码错误量，机动调整读取错误重试次数的详细步骤，说明如下在步骤P1，开始进行读取光 盘上的数据。进入步骤P2，设定及读取需要读取的数据。再进入步骤P3利用ECC校正码校 正解码读取的数据，并计算校正解码过程所发生的校正解码错误量。进入步骤P4当无法顺 利校正解码时，则产生读取错误。在步骤P5设定重试读取该笔数据，并在步骤P6将重试次 数累计增加一次。进入步骤P7根据步骤P3校正解码的错误量，对高错误量将设定重试次 数调整至预设低重试次数，而对低错误量将设定重试次数调整至预设高的重试次数。再进 入步骤P8检查重试次数是否已到达设定重试次数？假如未到达设定重试次数，则回至步 骤P2重新设定及读取该笔错误数据，进行重试读取。假如到达设定重试次数，则进入步骤 P9，确定为读取错误，然后进入步骤P10，结束读取流程。如图2所示，为本发明光盘机读取方法实际运用的流程。当光盘机与主机相连接， 让本发明光盘机读取方法在主机上应用的详细步骤，说明如下在步骤R1，光盘机接收主 机读取数据的命令。进入步骤R2，根据读取命令所需的数据，设定读取数据的标的，并进行 读取标的所在的光盘数据记号。再进入步骤R3利用ECC校正码校正解码读取的数据记号， 并在步骤R4计算校正解码过程所发生的错误量。接着在步骤R5，检查是否产生读取错误？ 假如读取数据未产生错误，则进入步骤R6检查数据传输是否已完成？假如未完成，则回至 步骤R2，继续设定及读取数据，假如已完成读取数据，则进入步骤R7，结束该读取流程，静待主机读取另一笔数据的命令。当步骤R5检查产生读取错误时，则进入步骤R8设定重试读取该笔数据，并在步骤 R9将重试次数累计增加一次。进入步骤R10根据步骤R4校正解码的错误量，对高错误量 将设定重试次数调整至预设低重试次数，而对低错误量将设定重试次数调整至预设高的重 试次数。再进入步骤R11检查重试次数是否已到达设定重试次数？假如未到达设定重试次 数，则回至步骤R2重新设定及读取该笔错误数据，进行重试读取。假如到达设定重试次数， 则进入步骤R12，确定为读取错误，并回报主机读取错误，然后进入步骤R6，结束读取流程。前述步骤R10将调整设定重试次数分成高低两级为例作说明。但不限于此，也可 将设定重试次数的级数分成多级。如图3所示，为举例将设定重试次数的级数分成三级的 流程。预先将校正解码的错误量依大小分成三个范围，即第一级错误量范围A1 >第二级错 误量范围A2 >第三级错误量范围A3，并预先设定相对的重试次数，即第一重试次数B1 <第 二重试次数B2 <第三重试次数B3。在步骤S1，开始进行设定重试次数。进入步骤S2撷取前述步骤R4校正解码的错 误量。再进入步骤S3，根据预设的错误量范围A1、A2、A3，检查校正解码的错误量所在的错 误量范围，假如校正解码的错误量在较高的第一级错误量范围A1，则进入步骤S4，将重试 次数设定在较低的第一重试次数B1。假如校正解码的错误量在中间的第二级错误量范围 A2，则进入步骤S5，将重试次数设定在中间的第二重试次数B2。假如校正解码的错误量在 较低的第三级错误量范围A3，则进入步骤S6，将重试次数设定在较高的第三重试次数B3。 所有设定完成后，最后进入步骤S7，结束设定。如图4所示，为本发明光盘机读取方法另一设定重试次数的流程。由于每一次读 取的数据区域，容量大小不一，容量大的数据区域相对较容量小的数据区域错误量大，仅以 每一次读取的错误量作为设定重试次数，将使大容量的数据区域较不易读取成功。为使设 定重试次数的基准较为准确，将每一次读取的数据区域的错误量，利用该数据区域所包含 多个存储单位的数据区块(SECTOR)，取得数据区块的平均错误量，作为调整设定重试次数 的根据。在步骤T1，开始进行设定重试次数。进入步骤T2撷取前述步骤R4校正解码的错 误量。再进入步骤T3撷取前述步骤R3读取数据区域的数据区块数。在步骤T4，将校正解 码的错误量除以数据区块数，求得数据区块的平均错误量。进入步骤T5根据数据区块的平 均错误量，依预设的错误量级数，相对调整至预先设定重试次数级数，且让高错误量级数， 对应低设定重试次数级数。最后进入步骤T6，结束设定。因此，本发明光盘机读取方法，即可根据读取过程的数据解码错误量高低，预先分 级设定重试次数，对校正解码错误量低的区域，采取高设定重试次数，以增加成功读取的机 会。而对错误量高的区域，则采取低设定重试次数，减少无谓的重试时间，达到提升读取效 率的目的。此外，本发明光盘机读取方法，利用读取数据的区块平均解码错误量，作为设定 重试次数基准，可正确设定重试次数。上面的描述，仅用以方便说明本发明的优选实施例，本发明的范围不限于这些优 选实施例，凡依本发明所做的任何变更，在不脱离本发明的精神下，皆属本发明要求保护的 范围。
权利要求
一种光盘机读取方法，包含(1)设定及读取数据；(2)校正解码读取数据及计算校正解码的错误量；(3)产生读取错误，设定重试读取该笔数据，且将重试累计次数增加一次；(4)根据该错误量，高的错误量，设定低的设定重试次数，低的错误量则设定高的设定重试次数；以及(5)检查重试次数是否已到达该设定重试次数？假如未到达，则回至步骤(1)重试读取该笔错误数据，假如到达设定重试次数，则确定为读取错误。
2.如权利要求1所述的光盘机读取方法，其中该步骤⑵利用ECC校正码校正解码读 取的数据。
3.如权利要求1所述的光盘机读取方法，其中该步骤(2)校正解码后，进一步包含步骤(2-1)检查是否无法校正解码产生读取错误？假如未产生读取错误，则传输该数据，假 如产生读取错误，则进入步骤(3)。
4.如权利要求3所述的光盘机读取方法，其中该步骤(2-1)传输数据后，进一步包含步骤(2-2)检查数据是否已完成传输？假如未完成，则回至步骤(1)，假如已完成数据传 输，则结束读取流程。
5.如权利要求1所述的光盘机读取方法，其中该校正解码错误量分成多级范围，并预 设相对级数的设定重试次数。
6.如权利要求5所述的光盘机读取方法，其中该校正解码错误量范围及设定重试次数 分成相对的三级。
7.如权利要求1所述的光盘机读取方法，其中该步骤(4)设定重试次数时，进一步包含 步骤(4-1)撷取读取数据的数据区块数；(4-2)将校正解码的错误量除以数据区块数，求得数据区块的平均错误量； (4-3)根据数据区块的平均错误量，设定重试次数。
8.如权利要求7所述的光盘机读取方法，其中该数据区块的平均错误量，为高错误量 级数，对应低设定重试次数级数。
全文摘要
一种光盘机读取方法，设定及读取数据，校正解码读取数据及计算校正解码的错误量。产生读取错误时设定重试读取该笔数据，且将重试累计次数增加一次。根据错误量，高错误量设定低的设定重试次数，低错误量则设定高的设定重试次数。在重试次数未到达设定重试次数，重试读取该笔错误数据。在重试次数到达设定重试次数，则确定为读取错误，以提高读取效率。
文档编号G11B20/18GK101877236SQ20091013772
公开日2010年11月3日 申请日期2009年4月29日 优先权日2009年4月29日
发明者朱修明, 许锦发, 陈世国 申请人:广明光电股份有限公司