专利名称：光雕片信号偏移校正方法
技术领域：
本发明有关一种光碟机，尤其是关于光碟机对光雕片标签面的操作特征区中，内 外环信号偏移的校正方法。
背景技术：
一般的光盘有两面，一面为数据面，一面为标签面，已知制作标签的方法为利用笔 或标签贴纸在标签面上做记号以为识别。近来发展出光雕(Light Scribe)标签的技术，利 用光碟机的光学读取头(Pick-up Head)发射一雷射光，将使用者所需的图形文字刻划在光 雕片的标签面上，制作美观且个人化的光盘。如图1 (a)及(b)所示，为先前技术光碟机读取光雕片操作特征区信号的示意图。 图1(a)中光雕片10的操作特征区(Control Feature hne) 11包含了外环(Outer Ring) 12 以及设置有400个幅丝(Spoke)的内环(Inner Ring) 13，前述幅丝以等角度的方式平均分 布在操作特征区11内环13。光检测器(Optical Encoder) 14固定于光碟机15中，发出光 束照射于内环13用以产生一如图1 (b)所示的幅丝信号，并提供光学读取头16在标签面17 进行描绘时相对位置的角度定位。外环12则提供了光雕片10的相关信息图案，例如媒体 ID (Media ID Field)、锯齿型(sawtooth)以及索引标记(index mark)等记号部，由光学 读取头16读取外环12信息图案形成如图1 (b)所示的信息图案信号。由于光雕片10的规格将起始幅丝的位置设定接续在外环12的索引标记终点。当 光雕片10置入光碟机15进行标签面17的描绘时，光碟机15必须同时利用内环13与外环 12 二个部分的图案来找出起始幅丝的位置。当起始幅丝的位置确定之后，光碟机15只要持 续计数经过内环13幅丝信号的数目即可得知光雕片10的旋转角度，及光学读取头16正读 取何种外环12信息图案信号。然而，光检测器14与光学读取头16为二个分离的元件，各元件电气处理信号的快 慢不同有所延迟或超前。因此，如图1(b)所示，产生的外环信息图案信号及内环幅丝信号 不可能同步，存在偏移d。此外，工厂制造光雕片的误差及品质，也使得外环信息图案不能全 然与规格所定的内环幅丝一一对齐，或盘片出现翘曲或不平整，亦会造成内环幅丝信号与 外环信息图案信号的偏移更加明显，导致读取的外环信息图案信号无法顺利解码，或让光 学读取头无法精确达到径向校正，进而影响后续的标签绘制正确性。因此，光碟机在读取内 外环信号偏移的校正上，仍有问题亟待解决。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光雕片信号偏移的校正方法，通过分别测量一记号部 中，各信息图案与内环幅丝的信号偏移量，利用平均信号偏移量，以校正内外环信号的偏 移。本发明另一目的在于提供一种光雕片信号偏移的校正方法，通过多记号部中各信 息图案与内环幅丝的平均信号偏移量，以减少整体的信号偏移。
为了达到前述发明的目的，本发明的光雕片信号偏移的校正方法，利用内环幅丝 信号计数，至预定记号部读取外环信息图案；测量信号偏移量；检查已经过预定个的内环 幅丝信号，未达到则继续测量信号偏移量，达到则计算平均信号偏移量；利用平均信号偏移 量，在光雕片径向校正或解码校正时校正外环信息图案的信号偏移。本发明计算平均信号偏移量的预定记号部，可为锯齿型记号部及媒体ID记号部， 或单一的媒体ID记号部或锯齿型记号部第一部或第二部。而测量信号偏移量的方法，是归 零计时；当产生外环信息图案信号时开始计时；当产生内环幅丝信号时停止计时；计算信 号偏移量则为利用开始计时及停止计时时间差，测量一个内环幅丝信号的单位时间，比较 时间差小于1/2单位时间，该时间差即为超前信号偏移量，如否，则以单位时间减去该时间 差作为延迟信号偏移量。
图l(a)-(b)为先前技术光碟机读取光雕片操作特征区信号的示意图。图2为光雕片操作特征区的局部放大的示意图。图3为本发明读取锯齿型信息图案延迟信号的示意图。图4为本发明读取锯齿型信息图案超前信号的示意图。图5为本发明记号部信息图案与幅丝的信号偏移量的示意图。图6(a)_(b)为本发明测量信息图案信号偏移量的示意图。图7为本发明光雕片信号偏移校正方法的流程图。主要元件符号说明20操作特征区21夕卜环22 内环23信息图案24 幅丝25读取头光束26内环幅丝信号
具体实施例方式有关本发明为达成上述目的，所采用的技术手段及其效果，现在举优选实施例，并 配合附图加以说明如下。请参考图2，为光雕片操作特征区的局部放大。操作特征区20包含外环21与内 环22，外环21具有光雕片的多个记号部的信息图案23，内环22则为并排的幅丝24。光雕 片规格设定每一外环21的信息图案23起头，各自对齐第特定根的幅丝24，并含盖特定数根 幅丝对，作为信号判读区。以锯齿型记号部为例，锯齿型记号部相隔分为第一部及第二部， 每一部包含8个锯齿图案，第一部锯齿图案自第64根幅丝M起，每一锯齿图案含盖8根幅 丝24，而第二部锯齿图案则自第264根幅丝M起，每一锯齿图案含盖8根幅丝M。因此， 随着工厂制造误差及品质，造成外环21信息图案23与内环22的幅丝M无法对齐产生偏 移量D，将影响信号判读区的精确性。
如图3所示，为读取一锯齿型信息图案23的延迟信号。读取锯齿型信息图案23的 信号时，光雕片以转动方向R旋转，读取头光束25投射在线L上。当内环幅丝的信号沈，计 数至特定第64+Sn或沈4+811根幅丝信号出现时，读取头光束25即触及锯齿型信息图案23， 出现读取的高信号(Level High)，直到离开锯齿型信息图案23为止，并利用光碟机的单位 脉冲计时其高信号长度X。读取头光束25 —离开锯齿型信息图案23，就出现读取的低信号 (Level Low)，并于含盖的8根幅丝信号终止，结束读取信号，并利用光碟机的单位脉冲计时 其低信号长度1。由高信号长度χ与低信号长度y的比值，即可计算出读取头光束25径向 移动位置h，作为读取头径向移动校正的依据。然而，信息图案23与幅丝无法对齐产生的偏 移量D，延迟出现的信息图案23信号，将在8根幅丝信号终止，结束读取低信号，使未完的低 信号被截断，而减少低信号的长度y，造成高信号长度χ与低信号长度ι的比值的错误，影响 径向校正精确度。如图4所示，为读取一锯齿型信息图案23的超前信号。在信息图案23与幅丝无 法对齐产生的超前偏移量D，超前出现的信息图案23信号，在信息图案23经过后，仍未到达 8根幅丝信号终点，继续读取低信号，而增加低信号的长度y，造成高信号长度χ与低信号长 度y的比值的错误。同样造成读取高信号长度χ与低信号长度y的变动，高信号长度χ与 低信号长度y的比值一改变，径向移动位置h就会跟着改变，而无法精确径向校正。此外，如图5所示，为记号部中每一信息图案与幅丝的信号偏移量。记号部每一信 息图案与其相对应幅丝不对齐的信号偏移量D各有不同，校正的信息图案一改变，精确性 也会改变，将导致前后绘制的标签无法对正。因此，本发明针对锯齿型记号部的第一部或第 二部或两部，测量其中每一信息图案与幅丝的信号偏移量D1、D2、D3. . . Dn，计算平均信号偏 移量DA = (D1+D2+D3+. . . +Dn)/n，作为校正每一信息图案与幅丝的信号偏移量，让高信号 长度χ与低信号长度y维持一定的关系，以提高校正的精确性。请参考图6 (a)及(b)，为测量信息图案信号超前或是延迟偏移。测量时，首先测量 一个内环幅丝信号的单位时间ts，归零计时，遇到外环信息图案信号时开始计时，遇到内环 幅丝信号时停止计时。如图4(a)所示，为信息图案信号超前偏移的情形，首先归零计时，遇 到外环信息图案信号时开始计时，遇到内环幅丝信号时停止计时，测量开始计时与停止计 时的时间差，比较时间差小于1/2单位时间ts，即为超前信号偏移量ta。如图4(b)所示， 为信息图案信号延迟偏移的情形，归零计时，遇到外环信息图案信号开始计时，遇到内环幅 丝信号停止计时，测量时间差tb，比较时间差tb不小于1/2单位时间ts时，将单位时间ts 减去偏移时间差tb，即为延迟信号偏移量td。前述虽以读取锯齿型记号部的信息图案作为说明，但在读取媒体ID记号部的信 息图案时，媒体ID记号部的每一方块型的信息图案含盖2根幅丝，信息图案读取的高信号， 视为数字信号1，离开者为低信号则视为数字信号0。高信号长度低于预定长度时，不能撷 取作为信号。因此，信息图案与幅丝无法对齐产生的信号偏移量，所产生高信号长度变化， 同样会影响媒体ID的正确解码。锯齿型记号部的信号偏移量校正也可适用于媒体ID记号 部。请参考图7，为本发明的光雕片信号偏移校正方法的流程图。本发明利用平均信 号偏移量，进行校正外环信号的详细步骤说明如下首先进入步骤Sl开始对光雕片进行信 号偏移校正；在步骤S2，利用内环幅丝信号计数，至预定的记号部读取外环信息图案，预定的记号部包含锯齿型记号部的第一部或第二部或媒体ID记号部等；进入步骤S3开始计时 器，计时的方式可为归零后开始计时，或计数单位脉冲数计时；步骤S4,当产生外环信息图 案信号时开始计时；进入步骤S5，当产生内环幅丝信号时停止计时；进入步骤S6，计算信号 偏移量；进入步骤S7，检查是否已经过预定个的内环幅丝信号？若未达到预定个幅丝信号 则回到步骤S3 ；若达到预定个幅丝信号则进入步骤S8，计算取得平均信号偏移量；最后进 入步骤S9，利用平均偏移量在光雕片，例如径向校正或是解码校正时，校正外环信息图案的 信号偏移。因此，本发明光雕片信号偏移校正方法，即可通过分别测量外环记号部中，各信息 图案与内环幅丝的信号偏移量，利用单一记号部或多记号部的平均信号偏移量，校正内外 环信号的偏移，达到减少整体的信号偏移，改善外环数字信号与内环幅丝信号的同步性，降 低径向校正的失败机会，正确移动光学读取头，以利光雕片描绘标签。以上所述者，仅用以方便说明本发明的优选实施例，本发明的范围不限于这些优 选实施例，凡依本发明所做的任何变更，在不脱离本发明的精神下，皆属本发明权利要求书 要求保护的范围。
权利要求
1.一种光雕片信号偏移校正方法，其步骤包含(1)利用内环幅丝信号计数，至预定记号部读取外环信息图案；(2)测量信号偏移量；(3)检查是否已经过预定个的内环幅丝信号？若未达到则回到步骤0)，如果达到则 进入步骤⑷；(4)计算平均信号偏移量；及(5)利用平均信号偏移量校正外环信息图案的信号偏移。
2.如权利要求1所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该预定记号部为锯齿型记号部。
3.如权利要求2所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该预定记号部为锯齿型记号部第一部或第二部。
4.如权利要求3所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该锯齿型记号部的每一部包含 预定8个锯齿信息图案，作为计算平均信号偏移量。
5.如权利要求1所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该预定记号部为媒体ID记号部。
6.如权利要求1所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该预定记号部为锯齿型记号部 及媒体ID记号部。
7.如权利要求1所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该步骤(2)测量信号偏移量包 含步骤(2a)计时；(2b)当产生外环信息图案信号时开始计时；(2c)当产生内环幅丝信号时停止计时；及(2d)利用开始计时及停止计时时间差，计算信号偏移量。
8.如权利要求7所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该计时为归零后开始计时。
9.如权利要求7所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该计时为计数单位脉冲数计时。
10.如权利要求7所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该步骤Qd)计算信号偏移量 包含步骤(2e)测量一个内环幅丝信号的单位时间；(2f)比较时间差是否小于1/2单位时间？如是，该时间差即为超前信号偏移量，如否， 则以单位时间减去该时间差作为延迟信号偏移量。
11.如权利要求1所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该平均信号偏移量是在光雕 片径向校正或解码校正时，进行校正外环信息图案的信号偏移。
全文摘要
一种光雕片信号偏移校正方法，利用内环幅丝(spoke)信号计数，至预定记号部读取外环信息图案，测量信息图案信号偏移量。检查已经过预定个的内环幅丝信号，未达到则续测量信号偏移量，达到则计算平均信号偏移量。利用平均信号偏移量，在光雕片径向校正或解码校正时，校正外环信息图案的信号偏移。
文档编号G11B7/09GK102044269SQ20091017404
公开日2011年5月4日 申请日期2009年10月20日 优先权日2009年10月20日
发明者蔡家怡, 赖俊文, 郭起祥 申请人:广明光电股份有限公司