专利名称：光驱聚焦电压校正方法
技术领域：
本发明有关一种读写光盘片的光驱的控制方法，尤其是关于光驱利用检测聚焦电压升压快慢，校正聚焦电压的方法。
背景技术：
光驱利用控制读取头投射激光束，聚焦在高速转动光盘片的数据轨，并使激光束循着数据轨快速地移动，接收数据轨中细密记号的反射光束转换成信号，才能精确在光盘片读写数据。
请同时参考图I及图2，图I为已知光驱控制聚焦的功能方块图，图2为已知光驱调整聚焦的示意图。图I中已知光驱10控制光学读取头11发射激光束，经由物镜12投射在光盘片13。必须再移动物镜12，使物镜12接近光盘片13 —定距离，才能将投射激光束的焦点，精确地聚焦在光盘片13上，以获得较佳的光反射信号。因此已知光驱10通过光学读取头11的致动器14利用电压所产生的电磁力驱动物镜12上下移动，调整激光束的焦点投射在光盘片13上，再由光盘片13将激光束反射回光学读取头11，照射在光能转换器15。光能转换器15等分为A、B、C、D四个光接收部，分别接受反射光束中不同的区域，经放大器16放大接收的反射光量所转换的电信号，将信号(A+C)-(B+D)形成聚焦误差信号(Focus Error Signal，简称FE信号)，再将FE信号输入一聚焦伺服单元17产生一聚焦电压FOO (Focus Servo Output Voltage),聚焦电压F00,驱动物镜12上下移动，让投射激光束的焦点聚焦在光盘片13上。然而，如图2所示，当聚焦电压F00驱动物镜12上升或下降时，由于光驱系统的延迟，光学读取头并无法立即反应物镜12的相对位移，而造成焦点位置偏移，且驱动聚焦电压F00越大，物镜12的移动速度越快，焦点位置偏移越大。使得物镜12焦点位于光盘片13上a位置或c位置所测得信号，因系统的延迟所求得的焦点位置偏移至b位置或d位置，而无法精确地聚焦在光盘片13，以致影响读写信号的正确性。虽然以较小的聚焦电压F00较慢的上升或下降速度驱动物镜12，可以减少系统延迟所产生的焦点位置偏移，但需花费较多的时间，也会影响光驱的效能。光驱需适当调整的聚焦电压F00控制物镜12的聚焦移动速度，才能有效降低系统延迟的影响及降低焦点位置的偏移。因此先前技术光驱在聚焦电压F00的校正上，仍有问题亟待解决。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光驱聚焦电压校正方法，通过在预设聚焦电压区间，检测聚焦电压的变压时间，对不在允许变压时间范围的聚焦电压进行增益校正，以提升光驱效能。为了达到前述发明的目的，本发明的光驱聚焦电压校正方法，预设聚焦电压区间及变压时间范围，在预设聚焦电压区间检测聚焦所需的变压时间；检查检测的变压时间假如小于预设变压时间范围，减少聚焦电压的增益值；检测的变压时间假如大于预设变压时间范围，增加聚焦电压的增益值；检测的变压时间在预设变压时间范围内时，不校正聚焦电压。本发明提供了一种光驱聚焦电压校正方法，其步骤包含(1)预设一聚焦电压区间及一变压时间范围；(2)在预设聚焦电压区间检测聚焦所需的变压时间；(3)检查检测的变压时间是否小于预设变压时间范围？假如小于预设变压时间范围，则进入步骤(4)，否则不小于预设变压时间范围时进入步骤(5) ；(4)对聚焦电压进行校正，减少聚焦电压的增益值，再回到步骤(2) ;(5)检查检测的变压时间差是否大于预设变压时间范围？假如大于预设变压时间范围，则进入步骤(6)，假如不大于预设变压时间范围，则进入步骤(7) ；(6)对聚焦电压进行校正，增加聚焦电压的增益值，再回到步骤(2);及(7)结束校正。
图I为已知光驱控制聚焦的功能方块图。
图2为已知光驱调整聚焦的示意图。图3为聚焦电压的变化示意图。图4为本发明校正聚焦电压的示意图。图5为本发明光驱聚焦电压校正方法的流程图。[主要元件标号说明]10已知光驱11光学读取头 12物镜13光盘片14致动器15光能转换器16放大器17聚焦伺服单元
具体实施例方式有关本发明为达成上述目的，所采用的技术手段及其功效，兹举较佳实施例，并配合图式加以说明如下。请参考图3，为聚焦电压FOO的变化示意图。由于光学读取头的物镜的升降移动速度，由聚焦电压FOO所控制，聚焦电压FOO越大，物镜的移动速度越快。反之，聚焦电压FOO越小，物镜的移动速度越慢。因此聚焦电压FOO与物镜的移动速度存在一定关系。本发明根据聚焦电压FOO与物镜的移动速度的关系，由控制聚焦电压FOO间接控制物镜的移动速度，使物镜以适当的速度进行聚焦，减少系统延迟对聚焦偏移的影响。光驱升降物镜进行聚焦，以上升物镜为例，光驱移动物镜时，在某一固定的聚焦电压区间，例如从聚焦电压FOOl的时间t0开始计时，测量到达聚焦电压F002的时间，不同斜率SL的聚焦电压曲线L1、L2、L3，因At = (F002-F001)/SL，具有不同的变压时间(tl_t0)、(t2-t0)及(t3-t0)。由于测量的聚焦电压区间固定，比较所需变压时间的长短，就可判断聚焦电压增加快慢的变化。变压时间越短，聚焦电压增加越快，相对驱动物镜的移动速度就越快。反之，变压时间越长，聚焦电压增加越慢，相对驱动物镜的移动速度越慢。因此本发明在一固定的预设聚焦电压区间，利用实测不同斜率SL的聚焦电压，比较光驱读写信号质量及其相对变压时间，可决定一标准变压时间，以获的较佳的读写信号质量及其较有效率的相对变压时间。
请参考图4，为本发明校正聚焦电压的示意图。本发明首先预设一固定的聚焦电压区间，从起点聚焦电压FOOA至终点聚焦电压F00B。由前述选定的标准变压时间，例如标准聚焦电压曲线Fs，也就是当聚焦电压增压至预设聚焦电压区间的起点聚焦电压F00A，开始计时t0，到达预设聚焦电压区间终点聚焦电压FOOB的时间ts，将所需的变压时间(ts-tO)设定为标准变压时间Ts。并在维持读写质量及聚焦效率下，扩大适用的误差标准变压时间At，以其下限(Ts-At)至上限(Ts+At)为变压时间范围，例如介于聚焦电压曲线Fa与Fb误差范围，以节省调整聚焦电压的时间。当光驱聚焦时，对移动物镜的聚焦电压的升压变化，在预设的聚焦电压区间FOOA至F00B，检测所需的变压时间Tn，再与标准变 压时间Ts比较，假如变压时间在变压时间范围(Ts-At)至(Ts+At)内，则接受聚焦电压的升压变化可以正确的速度驱动物镜，减少系统延迟影响。假如变压时间在变压时间范围(Ts-At)至(Ts+At)外，则判断聚焦电压的升压变化无法以正确的速度驱动物镜，为提高效能，必需对聚焦电压进行校正。例如当测得聚焦电压曲线Fe所需的变压时间Tnl，变压时间Tnl小于变压时间范围(Ts-At)至(Ts+At)时，表示物镜的移动速度太快，需对聚焦电压曲线Fe进行校正，使聚焦电压依次减少增益K，直到检测其变压时间Tnl移至变压时间范围(Ts-At)至(Ts+At)内，才停止校正。反之，当测得聚焦电压曲线Fd所需的变压时间Tn2，变压时间Tn2大于变压时间范围(Ts-At)至(Ts+At)时，表示物镜的移动速度太慢，需对聚焦电压曲线Fd进行校正，使聚焦电压依次加上增益K，直到检测其变压时间Tn2移至变压时间范围(Ts-At)至(Ts+At)内，再停止校正。藉控制聚焦电压，使物镜以适当的速度进行聚焦。前述的增益K可以预设为固定值或变动值。请参考图5，为本发明光驱聚焦电压校正方法的流程图。本发明校正聚焦电压的详细步骤说明如下首先由步骤SI启动光驱开始进行聚焦，再进入步骤S2预设一聚焦电压区间作为固定测量聚焦电压的定点，以及预设一变压时间范围以控制移动物镜的速度。接着进入步骤S3，在聚焦电压区间计时检测聚焦所需的变压时间，在步骤S4，检查检测的变压时间是否小于预设的变压时间范围？假如检测的变压时间小于预设的变压时间范围，则进入步骤S5，否则检测的变压时间不小于预设的变压时间范围时，则进入步骤S6。在步骤S5，对聚焦电压进行校正，减少聚焦电压的增益值，降低物镜移动的速度，再回到步骤S3继续检测所需的变压时间；在步骤S6，检查检测的变压时间是否大于预设的变压时间范围？假如检测的变压时间大于预设的变压时间范围，则进入步骤S7，否则检测的变压时间不大于预设的变压时间范围时，则进入步骤S8，在步骤S7，对聚焦电压进行校正，增加聚焦电压的增益值，增加物镜移动的速度，再回到步骤S3继续检测所需的变压时间；在步骤S8，当检查检测的变压时间在预设的变压时间范围内时，则不需校正聚焦电压，而可结束校正程序。本发明前述实施例的步骤3在预设的聚焦电压区间，检测所需的变压时间，虽然该聚焦电压区间可依需要预设长或短，但为了避免过慢的物镜移动速度，增加校正的时间，步骤3亦可在预设的聚焦电压区间的起点聚焦电压开始计时，在计时超过变压时间的上限时，虽未到达终点聚焦电压，就可停止计时并将变压时间视为大于变压时间范围，不需检测完整过慢速度移动物镜的变压时间，以提升校正效率。因此，由前述本发明光驱聚焦电压的校正方法，即可通过预设聚焦电压区间及选择适当的变压时间范围，在聚焦电压区间检测聚焦电压的变压时间，对不在允许变压时间范围的聚焦电压进行增益校正，让物镜以允许的速度移动，达到降低系统延迟的影响，以提升光驱的整体效率。以上所述者，仅用以方便说明本发明的较佳实施例，本发明的范围不限于该等较 佳实施例，凡依本发明所做的任何变更，于不脱离本发明的精神下，皆属本发明权利要求的范围。
权利要求
1.一种光驱聚焦电压校正方法，其步骤包含 (1)预设一聚焦电压区间及一变压时间范围； (2)在预设聚焦电压区间检测聚焦所需的变压时间； (3)检查检测的变压时间是否小于预设变压时间范围？假如小于预设变压时间范围，则进入步骤(4)，否则不小于预设变压时间范围时进入步骤(5)； (4)对聚焦电压进行校正，减少聚焦电压的增益值，再回到步骤(2); (5)检查检测的变压时间差是否大于预设变压时间范围？假如大于预设变压时间范围，则进入步骤(6)，假如不大于预设变压时间范围，则进入步骤(7)； (6)对聚焦电压进行校正，增加聚焦电压的增益值，再回到步骤(2);及 (7)结束校正。
2.根据权利要求I所述的光驱聚焦电压校正方法，其中该预设聚焦电压区间为固定测量聚焦电压的定点。
3.根据权利要求I所述的光驱聚焦电压校正方法，其中该变压时间范围是由一选定的标准变压时间，再扩大上下限的误差标准变压时间所形成的时间范围。
4.根据权利要求I所述的光驱聚焦电压校正方法，其中该步骤(2)检测聚焦所需的变压时间时，在预设的聚焦电压区间的起点聚焦电压开始计时，至到达终点聚焦电压开始为止。
5.根据权利要求I所述的光驱聚焦电压校正方法，其中该步骤(2)检测聚焦所需的变压时间时，当计时超过变压时间范围的上限时，且未到达终点聚焦电压，就可停止计时。
6.根据权利要求5所述的光驱聚焦电压校正方法，其中该变压时间视为大于变压时间范围。
7.根据权利要求I所述的光驱聚焦电压校正方法，其中该增益值为一固定值。
8.根据权利要求I所述的光驱聚焦电压校正方法，其中该增益值为一变动值。
全文摘要
一种光驱聚焦电压校正方法，预设聚焦电压区间及变压时间范围，在预设聚焦电压区间检测聚焦所需的变压时间；检查检测的变压时间假如小于预设变压时间范围，减少聚焦电压的增益值；检测的变压时间假如大于预设变压时间范围，增加聚焦电压的增益值；检测的变压时间在预设变压时间范围内时，不校正聚焦电压，作为聚焦电压，以提高效能。
文档编号G11B7/095GK102800335SQ20111013761
公开日2012年11月28日 申请日期2011年5月25日 优先权日2011年5月25日
发明者赖俊文, 郭起祥, 黄识忠 申请人:广明光电股份有限公司