技术总结
执行一种缺陷扫描方法以检测存储设备的存储介质中的缺陷部分，存储介质包括多个存储区，多个存储区包括第一存储区和第二存储区。该缺陷扫描方法包括：在存储设备连接到主机前，扫描存储介质的一部分存储区以检测其中的缺陷部分，所扫描的存储区包括第一存储区，未扫描的存储区包括第二存储区；将逻辑地址映射到第一存储区的非缺陷部分的物理地址；在存储设备连接到主机后，扫描第二存储区以检测其中的缺陷部分，并将逻辑地址映射到第二存储区的非缺陷部分的物理地址。
技术研发人员：川井康正
受保护的技术使用者：株式会社东芝
技术研发日：2016.08.31
技术公布日：2019.06.07