本发明属于电子电路设计领域，涉及芯片可靠性设计中用于离散量信号处理芯片的自检方法。
背景技术：
针对离散量信号处理芯片设计中因引脚有限、小型化要求等限制，芯片内部很多关键电路难以测试和检测，影响芯片的使用。
技术实现要素：
本发明的目的是提出一种用于离散量信号处理芯片的自检方法，达到上电自检测芯片是否存在故障的目的。
本发明的技术方案：依照本发明的自检电路和方法实施可有效对n路离散量信号处理芯片进行自动检测和故障指示。
一种用于离散量信号处理芯片的自检方法，当电路上电启动时对内部的基准模块、比较器及输出通路进行检测，当输出数据与预期一致时电路可进入正常工作模式，当输出数据与预期不一致时通过fault信号指示出来，数据输出端口相应的指示具体的哪一路信号出错发起自检，分别包括“0/1”和“1/0”两种方式，具体包括下列步骤，
“0/1”自检按照以下步骤进行：
1)“0/1”自检寄存器位配置成功后，发出自检使能信号test_en＝1，并屏蔽离散量输入端口；
2)启动低边自检使能test_lo＝1，同时发出“0”自检控制信号test_sel0_reg＝1，test_sel1_reg＝0；
3)若输出数据td<n:0>不全部为“0”，则将fault引脚置为“1”，终止自检；若输出数据td<n:0>数据全部为“0”，
表示自检数据正确，可进行下一步；
4)发出“1”自检控制信号test_sel0_reg＝0，test_sel1_reg＝1；
5)若输出数据td<n:0>不全部为“1”，则将fault引脚置为“1”，终止自检；若输出数据td<n:0>全部为“1”，表示自检数据正确，可进行下一步；
6)启动高边自检使能(test_hi＝1)，同时发出“0”自检控制信号test_sel0_reg＝1，test_sel1_reg＝0；
7)重复步骤3)，4)和5)一次，之后进行下一步；
8)将fault引脚置为“0”，表示此次自检无错，设置“0/1”＝0；
“1/0”自检按照以下步骤进行：
1)“1/0”自检寄存器位配置成功后，发出自检使能信号test_en＝1，并封锁离散量输入端口；
2)启动低边自检使能test_lo＝1，同时发出“1”自检控制信号test_sel0_reg＝0，test_sel1_reg＝1；
3)若输出数据td<n:0>不全部为“1”，则将fault引脚置为“1”，终止自检；若输出数据td<n:0>全部为“1”，表示自检数据正确，可进行下一步；
4)发出“0”自检控制信号test_sel0_reg＝1，test_sel1_reg＝0)
5)若输出数据td<n:0>不全部为“0”，则将fault引脚置为“1”，终止自检；若输出数据td<n:0>全部为“0”，表示自检数据正确，可进行下一步；
6)启动高边自检使能test_hi＝1，同时发出“1”自检控制信号test_sel0_reg＝0，test_sel1_reg＝1；
7)重复步骤3)，4)和5)一次，之后进行下一步；
8)将fault引脚置为“0”，表示此次自检无错，设置“1/0”＝0。
本发明具有的优点效果：
1.本发明提出的自检测方法可有效实现多路离散量信号处理时的故障检测，具有可靠性高、操作简单、使用方便的特点；
2.本发明提出的自检电路减少外围电路的硬件开销，并且不会对芯片内部电路产生误操作和干扰；
3.本发明提出的自检方法可实现0/1和1/0自检。
附图说明
图1为自检状态图，
图2为自检时序图。
具体实施方式
本发明用于离散量信号处理芯片的自检方法，当电路上电启动时对内部的基准模块、比较器及输出通路进行检测，当输出数据与预期一致时电路可进入正常工作模式，当输出数据与预期不一致时通过fault信号指示出来，数据输出端口相应的指示具体的哪一路信号出错发起自检，分别包括“0/1”和“1/0”两种方式，具体包括下列步骤，
“0/1”自检按照以下步骤进行：
1)“0/1”自检寄存器位配置成功后，发出自检使能信号(test_en＝1)，并屏蔽离散量输入端口；
2)启动低边自检使能(test_lo＝1)，同时发出“0”自检控制信号(test_sel0_reg＝1，test_sel1_reg＝0)；
3)若输出数据td<n:0>不全部为“0”，则将fault引脚置为“1”，终止自检；若输出数据td<n:0>数据全部为“0”，表示自检数据正确，可进行下一步；
4)发出“1”自检控制信号(test_sel0_reg＝0，test_sel1_reg＝1)；
5)若输出数据td<n:0>不全部为“1”，则将fault引脚置为“1”，终止自检；若输出数据td<n:0>全部为“1”，表示自检数据正确，可进行下一步；
6)启动高边自检使能(test_hi＝1)，同时发出“0”自检控制信号(test_sel0_reg＝1，test_sel1_reg＝0)；
7)重复步骤3)，4)和5)一次，之后进行下一步；
8)将fault引脚置为“0”，表示此次自检无错，设置“0/1”＝0；
“1/0”自检按照以下步骤进行：
1)“1/0”自检寄存器位配置成功后，发出自检使能信号(test_en＝1)，并封锁离散量输入端口；
2)启动低边自检使能(test_lo＝1)，同时发出“1”自检控制信号(test_sel0_reg＝0，test_sel1_reg＝1)；
3)若输出数据td<n:0>不全部为“1”，则将fault引脚置为“1”，终止自检；若输出数据td<n:0>全部为“1”，表示自检数据正确，可进行下一步；
4)发出“0”自检控制信号(test_sel0_reg＝1，test_sel1_reg＝0)；
5)若输出数据td<n:0>不全部为“0”，则将fault引脚置为“1”，终止自检；若输出数据td<n:0>全部为“0”，表示自检数据正确，可进行下一步；
6)启动高边自检使能(test_hi＝1)，同时发出“1”自检控制信号(test_sel0_reg＝0，test_sel1_reg＝1)；
7)重复步骤3)，4)和5)一次，之后进行下一步；
8)将fault引脚置为“0”，表示此次自检无错，设置“1/0”＝0。
最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。