技术特征：
技术总结
本发明涉及芯片可靠性设计中的方法。针对芯片设计中因引脚有限、小型化要求等限制，内部很多关键电路难以测试和检测，当多路离散量信号处理时电路复杂，出现故障时难以快速有效定位问题，提出了一种自定义的高可靠性自测试电路，达到上电自测试的目的。一种用于离散量信号处理芯片的自检方法，当电路上电启动时对内部的基准模块、比较器及输出通路进行检测，当输出数据与预期一致时电路可进入正常工作模式，当输出数据与预期不一致时通过fault信号指示出来，数据输出端口相应的指示具体的哪一路信号出错发起自检，分别包括“0/1”和“1/0”两种方式。本发明提出的自检电路减少外围电路的硬件开销，并且不会对芯片内部电路产生误操作和干扰。
技术研发人员：刘敏侠;田泽;邵刚;王晋;郭蒙;龙强
受保护的技术使用者：中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所
技术研发日：2016.12.12
技术公布日：2018.10.02