技术总结
本申请涉及一种定位故障内存颗粒所在rank的方法、装置、存储介质，所述方法包括：获取rank映射表，获取目标双rank内存条上目标故障内存颗粒对应的报错地址，根据rank映射表获取报错地址中的rank地址位，获取报错地址中的rank地址位对应的取值得到目标故障内存颗粒所在rank对应的rank地址，根据目标故障内存颗粒所在rank对应的rank地址和rank映射表定位目标故障内存颗粒在目标双rank内存条上所在的rank。通过本申请的方法，能够快速定位故障内存条上的故障内存颗粒在故障内存条上的哪个rank上。
技术研发人员：李创锋;梁春意;农腾飞;曹祥
受保护的技术使用者：深圳市金泰克半导体有限公司
技术研发日：2019.08.21
技术公布日：2020.01.21