1.一种半导体存储器测试数据的存储方法，其特征在于，一个半导体存储器芯片为一个芯片测试单元，一个芯片测试单元包括多个片选块，一个片选块包括多个块，一个块包括多个页面，一个页面包括多个数据块，一个数据块包括多个字节，该存储方法包括：
将写入半导体存储器芯片数据块的数据与实际数据进行对比，根据对比情况判断存在的坏块；
对坏块进行编号并统计，对坏块信息进行存储，其中，坏块信息包括坏块编号、坏块编号对应的片选块、坏块编号对应的芯片测试单元以及坏块数量；
对数据块中写入的数据与实际数据进行对比，并记录对比后的数据块信息，对数据块信息进行存储，其中，数据块信息为写入数据块中的数据与实际数据不同的bit位数，坏块信息、数据块信息用以表征测试的结果；
设置坏块信息与数据块信息之间的对应关系；
根据坏块信息与数据块信息之间的对应关系定位坏块对应的数据块信息。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将写入半导体存储器芯片的数据与实际数据进行对比，根据对比情况判断存在的坏块，包括：
将写入数据块中的数据与实际数据进行对比，若有第一预设数量的bit不一致，则判定该数据块为失败；
判断失败的数据块的数量是否超过第一门限值，如果超过，则判定数据块所在的页面为失败；
判断失败的页面的数量是否超过第二门限值，如果超过，则判定页面所在的块为失败，将失败的块作为坏块。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对坏块进行编号并统计，对坏块信息进行存储，包括：
对坏块进行编号；
确定坏块所在的片选块，对每个片选块包含的坏块数量进行统计；确定片选块所在的芯片测试单元；
以第一文件的形式对坏块编号、坏块编号对应的片选块、坏块编号对应的芯片测试单元以及片选块包含的坏块数量进行存储。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对数据块中写入的数据与实际数据进行对比，并记录对比后的数据块信息，对数据块信息进行存储，包括：
对数据块中写入的数据与实际数据进行对比，并记录对比后的数据块信息；
确定数据块所在的页面；
确定页面所在的坏块；
以第二文件的形式对数据块所在的页面、页面所在的坏块的坏块编号以及数据块信息进行存储。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
对坏块进行分段，将第二预设数量的坏块划分为一个坏块段；
将一个坏块段包含的数据块信息通过一个文件进行存储。
6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，存储坏块信息的为第一文件，坏块信息与数据块信息之间的对应关系为存储坏块信息的第一文件与存储数据块信息的第二文件之间的对应关系，根据坏块信息与数据块信息之间的对应关系定位坏块对应的数据块信息，包括：
根据第一文件与第二文件之间的对应关系，在第二文件中定位与坏块对应的页面；
根据与坏块对应的页面，在第二文件中定位与页面对应的数据块；
根据与页面对应的数据块，在第二文件中定位测试数据中与坏块对应的数据块信息。
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
根据不同的测试操作，存储与测试操作对应的坏块信息。
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
对一个半导体存储器芯片中的数据进行抽样读取，获得第三预设数量的块；
从第三预设数量的块中选取出目标页面；
对目标页面包含的数据进行存储。
9.一种半导体存储器测试数据的存储装置，其特征在于，一个半导体存储器芯片为一个芯片测试单元，一个芯片测试单元包括多个片选块，一个片选块包括多个块，一个块包括多个页面，一个页面包括多个数据块，一个数据块包括多个字节，该存储装置包括：
判断模块，用于将写入半导体存储器芯片数据块的数据与实际数据进行对比，根据对比情况判断存在的坏块；
坏块管理模块，用于对对坏块进行编号并统计，对坏块信息进行存储，其中，坏块信息包括坏块编号、坏块编号对应的片选块、坏块编号对应的芯片测试单元以及坏块数量；
失败字节统计模块，用于对数据块中写入的数据与实际数据进行对比，并记录对比后的数据块信息，对数据块信息进行存储，其中，数据块信息为写入数据块中的数据与实际数据不同的bit位数，坏块信息、数据块信息用以表征测试的结果；
对应关系设置模块，用于设置坏块信息与数据块信息之间的对应关系；
定位模块，用于根据坏块信息与数据块信息之间的对应关系定位坏块对应的数据块信息。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被执行时实现如权利要求1至8中任一项权利要求所述的方法。