存储装置的测试方法、装置、系统及可读存储介质与流程

1.本技术涉及存储装置测试技术领域，特别是涉及存储装置的测试方法、装置、系统及可读存储介质。


背景技术：

2.在存储装置的生产过程中，需要对存储装置进行测试，以区分出存储装置中的良品和不良品。
3.目前的存储装置生产当中，存储装置相应设置了低功耗功能，但是在对存储装置进行测试时，相关技术中无法对存储装置的低功耗功能进行测试，导致对存储装置的测试不全面。


技术实现要素：

4.本技术主要解决的技术问题是提供一种存储装置的测试方法、装置、系统及可读存储介质，能够对待测试存储装置的低功耗功能进行测试，节约测试成本。
5.为了解决上述问题，本技术采用的一种技术方案是提供一种存储装置的测试方法，该测试方法应用于测试装置，测试装置通过转接装置与待测试存储装置连接，该测试方法包括：运行读写脚本，以对待测试存储装置进行读写操作；控制读写脚本执行多次暂停；统计待测试存储装置的低功耗功能的启动次数；根据启动次数得到待测试存储装置的测试结果。
6.其中，控制读写脚本执行多次暂停，包括：运行暂停脚本；利用暂停脚本对读写脚本执行多次暂停。
7.其中，利用暂停脚本对读写脚本执行多次暂停，包括：获取暂停脚本中的目标暂停开始时间和目标暂停结束时间；在目标暂停开始时间达到时，控制读写脚本执行暂停操作；在目标暂停结束时间到达时，控制读写脚本继续运行。
8.其中，统计待测试存储装置的低功耗功能的启动次数，包括：统计在读写脚本执行多次暂停的时间内的待测试存储装置的低功耗功能的启动次数。
9.其中，根据启动次数得到待测试存储装置的测试结果，包括：判断启动次数是否随读写脚本执行多次暂停的次数增加而相应增加；若是，则确定待测试存储装置正常；若否，则确定待测试存储装置异常。
10.为了解决上述问题，本技术采用的另一种技术方案是提供一种存储装置的测试装置，该测试装置包括处理器以及与处理器连接的存储器和通信接口；其中，通信接口用于连接转接装置，存储器用于存储程序数据，处理器用于执行程序数据，以实现如上述技术方案提供的方法。
11.为了解决上述问题，本技术采用的另一种技术方案是提供一种存储装置的测试系统，该测试系统包括：转接装置，用于连接待测试存储装置；测试装置，与转接装置连接；其中，测试装置如上述技术方案提供的测试装置。
12.其中，该转接装置包括：第一通信接口，用于连接待测试存储装置；第二通信接口，与第一通信接口连接，用于连接测试装置的通信接口。
13.其中，第一通信接口采用nvm express通信协议。
14.为了解决上述问题，本技术采用的另一种技术方案是提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质用于存储程序数据，程序数据在被处理器执行时，用于实现如上述技术方案提供的方法。
15.本技术的有益效果是：区别于现有技术的情况，本技术的一种存储装置的测试方法，利用转接装置将测试装置与待测试存储装置连接，对读写脚本进行多次暂停以统计低功耗功能的启动次数，无需使用特定的协议测试设备，便能够对待测试存储装置的低功耗功能进行测试，节约测试成本。
附图说明
16.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：
17.图1是本技术提供的存储装置的测试方法一实施例流程示意图；
18.图2是本技术提供的存储装置的测试方法应用场景示意图；
19.图3是本技术提供的存储装置的测试方法另一实施例流程示意图；
20.图4是本技术提供的步骤33的具体流程示意图；
21.图5是本技术提供的步骤35的具体流程示意图；
22.图6是本技术提供的存储装置的测试装置一实施例结构示意图；
23.图7是本技术提供的存储装置的测试系统一实施例结构示意图；
24.图8是本技术提供的转接装置一实施例的结构示意图；
25.图9是本技术提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图。
具体实施方式
26.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部结构。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
27.本技术中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
28.在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同
的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
29.参阅图1，图1是本技术提供的存储装置的测试方法第一实施例流程示意图。该测试方法包括：
30.步骤11：运行读写脚本，以对待测试存储装置进行读写操作。
31.在本实施例中，该测试方法应用于测试装置，测试装置通过转接装置与待测试存储装置连接。
32.测试装置可以是pc(personal computer，个人计算机)，也可以是能够运行读写脚本的其他电子设备。
33.在其他实施例中，读写脚本可以读写测试程序，通过读写脚本对待测试存储装置进行读写操作，以对待测试存储装置进行读写测试。
34.待测试存储装置可以是ram(random access memory，随机存取存储器)、rom(read-only memory，只读存储器)；也可以是硬盘，如机械硬盘、固态硬盘以及移动硬盘等。
35.步骤12：控制读写脚本执行多次暂停。
36.在一些实施例中，在读写脚本中可写入用于控制读写脚本暂停和运行的指令，将这些指令穿插于读写操作指令中。在运行至该暂停指令时，控制读写脚本暂停，运行至运行指令时，控制读写脚本运行，以继续执行后续的读写操作指令，当再次运行至下一暂停指令时，控制读写脚本再次暂停。通过这种方式，实现对读写脚本的多次暂停。
37.步骤13：统计待测试存储装置的低功耗功能的启动次数。
38.在本实施例中，待测试存储装置在生产时，相应的为待测试存储装置导入了低功耗功能。
39.若待测试存储装置的低功耗功能正常时，待测试存储装置的低功耗功能会在读写脚本暂停时启动。则可根据读写脚本的多次暂停，对待测试存储装置的低功耗功能的启动次数进行统计。
40.待测试存储装置的低功耗功能可以是自动电源状态切换功能。通过启动该功能，能够降低待测试存储装置的功耗。
41.步骤14：根据启动次数得到待测试存储装置的测试结果。
42.在一些实施例中，若启动次数与读写脚本的暂停次数呈正相关，则表示待测试存储装置的测试结果为低功耗功能正常。若启动次数与读写脚本的暂停次数没有明显相关，则表示待测试存储装置的测试结果为低功耗功能异常。
43.在一应用场景中，参阅图2，进行说明：
44.测试装置10与转接装置20连接，转接装置20与待测试存储装置30连接。在测试装置10上运行读写脚本，以通过转接装置20将读写脚本中的读写指令传输至待测试存储装置30中，以对待测试存储装置30进行读写操作。在读写操作过程中，测试装置10控制读写脚本执行多次暂停，以停止对待测试存储装置30进行读写操作。在每次暂停时，统计待测试存储装置30的低功耗功能的启动次数。测试装置10根据启动次数得到待测试存储装置30的测试结果。
45.在本实施例中，利用转接装置20将测试装置10与待测试存储装置30连接，对读写脚本进行多次暂停以统计待测试存储装置30的低功耗功能的启动次数，无需使用特定的协
议测试设备，便能够对待测试存储装置30的低功耗功能进行测试，节约测试成本。
46.另外，相比于现有测试设备只能查验待测试存储装置是否支持低功耗功能，并不能对该低功耗功能进行长时间的压力测试，本实施例利用上述方式，能够对待测试存储装置30的低功耗功能进行测试，增加了对待测试存储装置30的测试方案，能够提高对待测试存储装置30进行测试的准确性和全面性。
47.参阅图3，图3是本技术提供的存储装置的测试方法另一实施例流程示意图。该测试方法应用于测试装置，测试装置通过转接装置与待测试存储装置连接。该测试方法包括：
48.步骤31：运行读写脚本，以对待测试存储装置进行读写操作。
49.步骤32：运行暂停脚本。
50.在本实施例中，测试装置中设置有暂停脚本，该暂停脚本中设置有暂停指令，能够对读写脚本暂停或运行。如在暂停脚本中设置一控制指令，该控制指令具体为在读写脚本每运行10分钟，对读写脚本进行暂停，暂停时间5分钟。
51.可以理解，在运行读写脚本之前对暂停脚本中的控制指令进行设置，以设置对读写脚本的暂停周期。
52.在其他实施中，也可以根据读写脚本的实际运行时间，在暂停脚本中无序的设置控制指令，以使对读写脚本进行暂停。如，读写脚本的运行时间为10小时，暂停脚本中的控制指令可以是：在读写脚本运行30分钟时，执行第一控制指令，对读写脚本进行暂停，暂停时间为5分钟；在读写脚本运行80分钟时，执行第二控制指令，对读写脚本进行暂停，暂停时间为10分钟；在读写脚本运行120分钟时，执行第三控制指令，对读写脚本进行暂停，暂停时间为8分钟；在读写脚本运行240分钟时，执行第四控制指令，对读写脚本进行暂停，暂停时间为15分钟；在读写脚本运行320分钟时，执行第五控制指令，对读写脚本进行暂停，暂停时间为3分钟；在读写脚本运行500分钟时，执行第六控制指令，对读写脚本进行暂停，暂停时间为12分钟。通过上述方式，使读写脚本的暂停无序化，让待测试存储装置的低功耗功能的测试更加接近实际使用环境，提升测试的准确性。
53.步骤33：利用暂停脚本对读写脚本执行多次暂停。
54.在一些实施例中，参阅图4，步骤33可以是如下流程：
55.步骤331：获取暂停脚本中的目标暂停开始时间和目标暂停结束时间。
56.在本实施例中，暂停脚本基于读写脚本的运行时间设置了多个控制指令，以控制读写脚本暂停或运行。
57.在读写脚本运行时，同步运行暂停脚本，并获取暂停脚本中的目标暂停开始时间和目标暂停结束时间。
58.步骤332：在目标暂停开始时间达到时，控制读写脚本执行暂停操作。
59.在一些实施例中，在目标暂停开始时间达到时，获取读写脚本在测试装置中对应的运行线程，控制运行线程执行暂停操作。
60.在一些实施例中，在读写脚本运行时，获取读写脚本在测试装置中对应的运行线程，在目标暂停开始时间达到时，控制运行线程执行暂停操作。
61.步骤333：在目标暂停结束时间到达时，控制读写脚本继续运行。
62.在一些实施例中，在目标暂停结束时间到达时，控制读写脚本的运行线程执行继续运行，以使读写脚本继续对待测试存储装置进行读写操作。
63.在一些实施例中，可利用读写脚本对待测试存储装置进行读写操作，以对待测试存储装置的读写功能进行测试。
64.步骤34：统计待测试存储装置的低功耗功能的启动次数。
65.在一些实施例中，每次读写脚本执行暂停操作时，检测待测试存储装置的低功耗功能是否启动，若是，则对当前启动次数进行更新。若否，则不对当前启动次数进行任何操作。
66.步骤35：根据启动次数得到待测试存储装置的测试结果。
67.在一应用场景中，根据暂停脚本中设定的暂停次数，设置一基础启动次数，并在每次检测待测试存储装置的低功耗功能启动时，基础启动次数减一，在读写脚本运行结束时，若基础启动次数小于设定值，则确定待测试存储装置正常，若基础启动次数大于设定值，则确定待测试存储装置异常。
68.在另一应用场景中，根据暂停脚本中设定的暂停次数，设置一基础启动次数，基础启动次数为0，并在每次检测待测试存储装置的低功耗功能启动时，基础启动次数加一，在读写脚本运行结束时，若基础启动次数小于设定值，则确定待测试存储装置异常，若基础启动次数大于设定值，则确定待测试存储装置正常。
69.在一些实施例中，参阅图5，步骤35可以是如下流程：
70.步骤351：判断启动次数是否随读写脚本执行多次暂停的次数增加而相应增加。
71.若判断启动次数随读写脚本执行多次暂停的次数增加而相应增加，执行步骤352；若判断启动次数没有随读写脚本执行多次暂停的次数增加而相应增加，执行步骤353。
72.可以理解，若待测试存储装置正常，则其低功耗功能正常，在读写脚本执行暂停操作时，低功耗功能会启动，以在未进行读写操作时减少待测试存储装置的功耗。
73.步骤352：确定待测试存储装置正常。
74.步骤353：确定待测试存储装置异常。
75.在一应用场景中，测试装置预装windows10系统。通过转接装置将待测试存储装置与测试装置连接。运行测试装置中的读写脚本，以对待测试存储装置进行读写操作。并运行暂停脚本，对读写脚本执行多次暂停。在读写脚本运行时间结束时，通过待测试存储装置的调试信息判断低功耗功能是否读写脚本执行多次暂停的次数增加而相应增加。其中，待测试存储装置为固态硬盘，固态硬盘的通信协议为nvm express通信协议。
76.在一些实例中，读写脚本对待测试存储装置进行读写操作并不是一直都在执行的，因此有部分时间是没有对待测试存储装置进行读写操作，此时，正常的待测试存储装置的低功耗功能会启动，会被检测装置检测。因此，在读写脚本运行时间结束时，判断低功耗功能是否随时间增加而相应增加，若是，则确定待测试存储装置的低功耗功能正常，若否，则确定待测试存储装置的低功耗功能异常。
77.在一些实施例中，读写脚本和暂停脚本能够在测试装置上进行图形化界面显示，使测试人员能够直观的了解测试流程，能够简化测试人员的操作流程。
78.在一些实施例中，测试装置可设置多个通信接口，每个通信接口连接一转接装置，每一转接装置连接一待测试存储装置。测试装置利用多个读写脚本分别对待测试存储装置进行测试。具体地，每一待测试存储装置的测试可参阅上述任一实施例的方法，这里不做赘述。通过这种方式，实现同时对多个待测试存储装置的低功耗功能进行测试，提高测试效
率。
79.参阅图6，图6是本技术提供的存储装置的测试装置一实施例结构示意图。该测试装置10包括处理器101以及与处理器101连接的存储器102和通信接口103；其中，通信接口103用于连接转接装置，存储器102用于存储程序数据，处理器101用于执行程序数据，以实现以下的方法：
80.运行读写脚本，以对待测试存储装置进行读写操作；控制读写脚本执行多次暂停；统计待测试存储装置的低功耗功能的启动次数；根据启动次数得到待测试存储装置的测试结果。
81.可以理解的，处理器101还用于执行程序数据，以实现上述任一实施例中的方法，其具体的实施步骤可以参考上述实施例，这里不再赘述。
82.参阅图7，图7是本技术提供的存储装置的测试系统一实施例结构示意图。该测试系统100包括测试装置10与转接装置20。
83.其中，转接装置20用于连接待测试存储装置。
84.测试装置10与转接装置20连接；其中，测试装置10如上述任一实施例中提及的测试装置。
85.参阅图8，该转接装置20包括第一通信接口201和第二通信接口202。其中，第一通信接口201用于连接待测试存储装置；第二通信接口202与第一通信接口201连接，用于连接测试装置10的通信接口。
86.其中，第二通信接口202与测试装置10的通信接口适配。如测试装置10的通信接口为usb(universal serial bus，通用串行总线)接口，则第二通信接口202为usb接口，如测试装置10的通信接口为雷电接口，则第二通信接口202为雷电接口。可以理解，不同的接口的通信协议不同。
87.第一通信接口201与待测试存储装置的通信接口适配，如待测试存储装置的通信接口的通信协议为nvm express通信协议，则通信接口为m.2接口，则第一通信接口201也为m.2接口。待测试存储装置可以是采用nvm express通信协议的固态硬盘，则第一通信接口201也采用nvm express通信协议。
88.转接装置20用于在待测试存储装置和测试装置10之间进行不同接口的转换以及不同通信协议的转换。
89.通过上述方式，利用转接装置20将测试装置10与待测试存储装置连接，以实现上述任一实施例中的方法，对读写脚本进行多次暂停以统计待测试存储装置的低功耗功能的启动次数，无需使用特定的协议测试设备，便能够对待测试存储装置的低功耗功能进行测试，节约测试成本。
90.参阅图9，图9是本技术提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图。该计算机可读存储介质90用于存储程序数据91，程序数据91在被处理器执行时，用于实现以下的方法步骤：
91.运行读写脚本，以对待测试存储装置进行读写操作；控制读写脚本执行多次暂停；统计待测试存储装置的低功耗功能的启动次数；根据启动次数得到待测试存储装置的测试结果。
92.可以理解的，本实施例中的计算机可读存储介质90应用于上述任一实施例提供的
测试装置，以实现上述任一实施例中的方法，其具体的实施步骤可以参考上述实施例，这里不再赘述。
93.在本技术中，通过上述实施例中描述的方案，能够解决现有协议测试设备价格昂贵，脚本使用需要授权，测试成本高，无法做到批量测试的问题。以及能够解决现有协议测试设备测试开发周期较长，需要测试开发人员掌握协议测试设备厂商自定义的语法来实现测试脚本。以及能够解决现有测试设备只能查验存储装置是否支持低功耗功能，不能对该功能进行长时间的压力测试的问题。
94.在本技术所提供的几个实施方式中，应该理解到，所揭露的方法以及设备，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的设备实施方式仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
95.所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施方式方案的目的。
96.另外，在本技术各个实施方式中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
97.上述其他实施方式中的集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本技术的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本技术各个实施方式所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
98.以上所述仅为本技术的实施方式，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本技术的专利保护范围内。