一种测试装置的制作方法

本申请属于电子元件测试设备，尤其涉及一种测试装置。

背景技术：

1、现有的ssd(solid state disk或solid state drive，固态硬盘或固态驱动器)系列产品在测试时，通常可以将多个ssd产品分别放置在多个测试仓中进行测试。

2、其中，现有的测试设备中的多个测试仓可以沿竖直方向依次设置，且现有的测试仓一般抽拉式结构，即，测试仓的承载部可以自测试仓中伸出接收待测试的ssd产品，测试时，测试仓的承载部可以收回而进入测试仓内部进行测试。

3、用于测试仓为抽拉式结构，导致测试仓的承载部多次伸出测试仓后的位置部位置变化较大；因此在采用自动上料机构将ssd产品放置到该承载部上时，容易出现对位不准确的问题。

技术实现思路

1、本申请提供一种测试装置，以解决上述的技术问题。

2、为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种测试装置，其中，所述测试装置包括：

3、测试仓，包括第一仓体和第一支撑板，所述第一支撑板可活动地安装所述第一仓体上；所述第一支撑板具有位于所述第一仓体内的第一状态和至少部分位于所述第一仓体外的第二状态；所述第一支撑板用于承载待测试元件；

4、物料传输组件，包括驱动机构和连接于所述驱动机构的输出端的物料抓取件，所述物料抓取件用于抓取待测试元件，所述驱动机构用于驱动所述物料抓取件朝向所述第一仓体运动，以将所述物料抓取件上抓取的所述待测试元件运输至所述第一支撑板或者将所述第一支撑板上承载的待测试元件取出；

5、位移传感器，安装于所述物料抓取件，所述位移传感器用于对处于所述第二状态的所述第一支撑板进行检测，以对所述第一支撑板进行定位。

6、可选地，所述位移传感器包括第一位移传感器和第二位移传感器，第一位移传感器和第二位移传感器分别对所述第一支撑板位于所述第一仓体外的区域进行检测；

7、其中，所述第一位移传感器和第二位移传感器分别对所述第一支撑板的相对两侧进行检测，以对所述第一支撑板位于所述第一仓体外的区域进行定位。

8、可选地，所述驱动机构包括第一导轨、第二导轨以及第三导轨，所述第一导轨、第二导轨以及第三导轨中的任意二者相垂直设置；

9、所述第二导轨安装在所述第一导轨上以沿所述第一导轨进行往返运动；

10、所述第三导轨安装在所述第二导轨以沿所述第二导轨进行往返运动；

11、所述物料传输组件安装于所述第三导轨，以沿所述第三导轨进行往返运动。

12、可选地，所述第一导轨沿竖直方向延伸，所述第一导轨的数量至少为两根，且两根所述第一导轨平行且间隔设置；

13、每一所述第一导轨上均设置有第一滑动件，所述第一滑动件滑动安装于所述第一导轨；

14、其中，所述第二导轨的相对两端分别与两根所述第一导轨上的所述第一滑动件固定连接。

15、可选地，所述第二导轨上均设置有第二滑动件，所述第二滑动件滑动安装于所述第二导轨；所述第三导轨的中间部位与所述第二滑动件固定连接。

16、可选地，所述第二导轨上还安装有转存板，所述转存板与所述第二滑动件分别设置在所述第二导轨的相对两侧；所述转存板用于承载所述待测试元件。

17、可选地，所述第一仓体包括多个第一测试口，每一所述第一测试口中设置有一所述第一支撑板，多个所述第一测试口沿竖直方向依次层叠设置。

18、可选地，所述测试仓还包括多个第一伸缩机构，多个所述第一伸缩机构分别设置在多个所述第一仓体内；

19、每一所述第一伸缩机构的输出端与一所述第一支撑板连接，以驱动所述第一支撑板自所述第一状态和所述第二状态二者中进行切换。

20、可选地，所述测试装置还包括存储仓；所述存储仓包括第二仓体、第二支撑板以及第二伸缩机构，所述第二伸缩机构设置在所述第二仓体内；所述第二伸缩机构的输出端连接所述第二支撑板，以驱动所述第二支撑板部分伸出所述第二仓体；所述第二支撑板用于承载所述待测试元件；

21、所述存储仓与所述测试仓并排设置，且所述第二导轨的相对两端分别对应所述存储仓与所述测试仓设置。

22、可选地，所述测试装置还包括外框，所述测试仓、所述存储仓以及所述物料传输组件均安装在所述外框内。

23、本申请的有益效果是：本申请的方案中，通过设置位移传感器对第一支撑板位于第一仓体之外的部分进行定位，从而可以在第一支撑板每次伸出第一仓体后对该第一支撑板位于第一仓体外的部分进行准确定位，从而可以提高物料抓取件与伸缩式第一支撑板的对位精度，进而提高对待测试元件的上料或者下料定位精度。

24、进一步的，通过调整第一位移传感器和第二位移传感器检测方向，使得第一位移传感器和第二位移传感器可以分别对支撑板(第一支撑板或者第二支撑板或者)不同的侧面进行检测，在实现对支撑板的高度和支撑平面进行精确定位的同时，还可以对支撑板伸出仓体的长度进行检测，进而可以对待测试元件在支撑板上的放置位置进行精确定位。

技术特征：

1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述第二导轨上还安装有转存板，所述转存板与所述第二滑动件分别设置在所述第二导轨的相对两侧；所述转存板用于承载所述待测试元件。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，

9.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括存储仓；所述存储仓包括第二仓体、第二支撑板以及第二伸缩机构，所述第二伸缩机构设置在所述第二仓体内；所述第二伸缩机构的输出端连接所述第二支撑板，以驱动所述第二支撑板部分伸出所述第二仓体；所述第二支撑板用于承载所述待测试元件；

10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括外框，所述测试仓、所述存储仓以及所述物料传输组件均安装在所述外框内。

技术总结
本申请公开一种测试装置。测试装置包括：测试仓，包括第一仓体和第一支撑板，第一支撑板可活动地安装第一仓体上；第一支撑板具有位于第一仓体内的第一状态和至少部分位于第一仓体外的第二状态；第一支撑板用于承载待测试元件；物料传输组件，包括驱动机构和连接于驱动机构的输出端的物料抓取件，物料抓取件用于抓取待测试元件，驱动机构用于驱动物料抓取件朝向第一仓体运动，以将物料抓取件上抓取的待测试元件运输至第一支撑板或者将第一支撑板上承载的待测试元件取出；位移传感器，安装于物料抓取件，位移传感器用于对处于第二状态的第一支撑板进行检测，以对第一支撑板进行定位。通过上述方案可以提高对待检测元件的上料或者下料定位精度。

技术研发人员：孙登晴,付发田,郭明威
受保护的技术使用者：上海江波龙微电子技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13