存储系统及操作其的方法与流程

本发明构思的各种示例实施例涉及存储系统和/或操作其的方法。

背景技术：

1、在存储系统内部的存储装置中可能发生电源故障。电源故障可以是例如spo(突然断电)、npo(正常断电)、lvdf(低电压故障f)和/或lvdh(低电压故障h)等。

2、可以执行驱动存储装置的固件来为存储装置中发生的电源故障作准备。然而，当存储装置中发生电源故障时，期望和/或有必要测试固件是否被正常地执行。因此，需要如下功能：通过将电源故障故意注入和/或引入存储装置来测试固件以确定固件是否按预期的那样进行操作。

技术实现思路

1、示例实施例的各个方面提供一种存储系统，在所述存储系统中在发生电源故障时的模拟过程中，提高了归因于发生了所述电源故障的固件的操作验证准确性。

2、然而，本发明构思的示例实施例的各方面不局限于本文阐述的方面。对本发明构思所属领域的普通技术人员而言，通过参考在下面给出的本发明构思的示例实施例的详细描述，本发明构思的示例实施例的上述和其他方面将变得更明了。

3、根据本发明构思的至少一个示例实施例的一个方面，提供了一种存储系统，所述存储系统包括：主机装置，所述主机装置包括处理电路；以及存储装置，所述存储装置被配置为与所述主机装置通信，并且所述处理电路被配置为：基于存储在设置值表中的电源故障设置信息生成测试电源故障，并且基于所述电源故障设置信息将所述测试电源故障注入到所述存储装置中。

4、根据本发明构思的至少一个示例实施例的一个方面，提供了一种存储系统，所述存储系统包括处理电路，所述处理电路被配置为运行计算机可读指令以基于电源故障设置信息生成测试电源故障，并且将所述测试电源故障注入到存储装置中。

5、根据本发明构思的至少一个示例实施例的一个方面，提供了一种存储系统的操作方法，所述方法包括：使用处理电路将与测试电源故障注入设置相关的电源故障设置信息存储在主机装置中所包括的设置值表中；使用所述处理电路基于所存储的电源故障设置信息生成测试电源故障；使用所述处理电路根据所存储的电源故障设置信息将所述测试电源故障注入到存储装置中；使用所述处理电路检测由所述存储装置响应于所注入的测试电源故障生成的触发条件；以及使用所述处理电路检查响应于所述测试电源故障在所述存储装置处执行的恢复操作。

技术特征：

1.一种存储系统，所述存储系统包括：

2.根据权利要求1所述的存储系统，其中，所述处理电路还被配置为：

3.根据权利要求2所述的存储系统，其中，所述处理电路还被配置为：

4.根据权利要求1所述的存储系统，其中，所述电源故障设置信息至少包括与期望测试电源故障类型设置相关的信息，所述期望测试电源故障类型设置指示要由所述主机装置生成的测试电源故障的类型。

5.根据权利要求4所述的存储系统，其中，所述期望测试电源故障类型是spo、npo、lvdf、lvdh中的至少一者或它们的任何组合，所述spo即突然断电，所述npo即正常断电，所述lvdf即低电压故障f，所述lvdh即低电压故障h。

6.根据权利要求1所述的存储系统，其中，所述电源故障设置信息至少包括期望时间点设置，所述期望时间点设置指示所述测试电源故障被注入到所述存储装置中的时间。

7.根据权利要求1所述的存储系统，其中，所述电源故障设置信息至少包括期望位置设置，所述期望位置指示所述存储装置中发生所述测试电源故障的部件。

8.根据权利要求1所述的存储系统，其中，所述电源故障设置信息至少包括期望发生率设置，所述期望发生率设置指示发生所述测试电源故障的次数。

9.根据权利要求1所述的存储系统，其中，所述电源故障设置信息至少包括期望概率设置，所述期望概率设置指示发生所述测试电源故障的概率。

10.一种存储系统，所述存储系统包括：

11.根据权利要求10所述的存储系统，其中，所述处理电路还被配置为：

12.根据权利要求11所述的存储系统，其中，所述处理电路还被配置为：

13.根据权利要求10所述的存储系统，其中，所述电源故障设置信息至少包括与期望测试电源故障类型设置相关的信息，所述期望测试电源故障类型设置指示要由所述处理电路生成的测试电源故障的类型。

14.根据权利要求13所述的存储系统，其中，所述期望测试电源故障类型是spo、npo、lvdf、lvdh中的至少一者或它们的任何组合，所述spo即突然断电，所述npo即正常断电，所述lvdf即低电压故障f，所述lvdh即低电压故障h。

15.根据权利要求10所述的存储系统，其中，所述电源故障设置信息至少包括期望时间点设置，所述期望时间点设置指示所述测试电源故障被注入到所述存储装置中的时间。

16.根据权利要求10所述的存储系统，其中，所述电源故障设置信息至少包括期望位置设置，所述期望位置设置指示所述存储装置中发生所述测试电源故障的部件。

17.根据权利要求10所述的存储系统，其中，所述电源故障设置信息至少包括期望发生率设置，所述期望发生率设置指示发生所述测试电源故障的次数。

18.根据权利要求10所述的存储系统，其中，所述电源故障设置信息至少包括期望概率设置，所述期望概率设置指示发生所述测试电源故障的概率。

19.一种操作存储系统的方法，所述方法包括：

20.根据权利要求19所述的操作存储系统的方法，其中，所述设置值表包括以下各项中的至少一项：

技术总结
提供了存储系统及操作其的方法。一种存储系统可以包括：主机装置，所述主机装置包括处理电路；以及存储装置，所述存储装置被配置为与所述主机装置通信，并且所述处理电路被配置为：基于存储在设置值表中的电源故障设置信息生成测试电源故障，并且基于所述电源故障设置信息将所述测试电源故障注入到所述存储装置中。

技术研发人员：金世镐,卢慧悧
受保护的技术使用者：三星电子株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13