一种测试装置以及测试方法与流程

本申请涉及半导体，特别是涉及一种测试装置以及测试方法。

背景技术：

1、目前，由于内存测试时需要频繁插拔，频繁的插拔对主板插槽有损伤，会导致主板插槽接触性问题，从而导致主板异常。

2、为解决此问题，于是发明了转接卡，其目的即是：通过转接卡，减少主板插槽的插拔次数；但问题又随着之而来，因为转接卡的频繁插拔，转接卡的连接脚(pin)也会损坏。目前，转接卡的使用管理存在缺陷，导致转接卡寿命的无法量化评估。

技术实现思路

1、本申请提供一种测试装置以及测试方法，该测试装置能够检测转接卡的使用参数，准确管理转接卡的使用，量化评估转接卡的使用寿命，提高测试装置中转接卡的寿命管理能力。

2、为解决上述技术问题，本申请提供的第一个技术方案为：提供一种测试装置，包括：转接卡，所述转接卡用于接入待测内存，响应于所述待测内存插入所述转接卡，所述转接卡输出脉冲信号；控制模块，与所述转接卡可拆卸连接，基于所述脉冲信号确定所述转接卡的使用参数，以及基于所述使用参数确定是否更换所述转接卡。

3、其中，所述转接卡包括：插槽，所述插槽用于接入所述待测内存；传感器组，连接所述插槽，在所述待测内存插入所述插槽时输出所述脉冲信号。

4、其中，所述传感器组包括：第一传感器和第二传感器；在所述待测内存插入所述插槽时，所述第一传感器输出第一脉冲信号，所述第二传感器输出第二脉冲信号；或者在所述待测内存插入所述插槽时，所述第一传感器输出第一脉冲信号或所述第二传感器输出第二脉冲信号；所述控制模块基于所述第一脉冲信号和/或所述第二脉冲信号确定所述使用参数。

5、其中，所述控制模块包括：判断模块，响应于所述判断模块接收到所述第一脉冲信号和所述第二脉冲信号，则基于所述第一脉冲信号和所述第二脉冲信号的时间差确定所述待测内存插入所述插槽的方式，并基于所述方式输出第一检测信号或第二检测信号；控制器，所述控制器连接所述判断模块，基于所述第一检测信号和所述第二检测信号进行计数，基于计数结果确定所述转接卡的使用参数。

6、其中，响应于所述判断模块确定所述时间差未超出预设范围，则确定所述待测内存以第一方式插入所述插槽，所述判断模块输出第一检测信号；以及响应于所述判断模块确定所述时间差超出所述预设范围，则确定所述待测内存以第二方式插入所述插槽，所述判断模块输出第二检测信号；所述控制器包括：第一计数器以及第二计数器，所述第一计数器基于所述第一检测信号进行计数，所述第二计数器基于所述第二检测信号进行计数；所述控制器基于所述第一计数器的计数结果与所述第二计数器的计数结果确定所述转接卡的使用参数。

7、其中，响应于所述判断模块仅接收到所述第一脉冲信号或者仅接收到所述第二脉冲信号，则输出所述第二检测信号；其中，所述第一检测信号表征所述待测内存正常插入所述插槽，所述第二检测信号表征所述待测内存非正常插入所述插槽。

8、其中，所述测试装置还包括：复位模块，所述复位模块用于在更换所述转接卡后将所述第一计数器以及所述第二计数器的技术结果清零。

9、其中，所述测试装置还包括：显示模块，连接所述控制模块，用于显示所述转接卡的使用参数。

10、为解决上述技术问题，本申请提供的第二个技术方案为：提供一种测试方法，包括：响应于待测内存插入转接卡，所述转接卡输出脉冲信号；基于所述脉冲信号确定所述转接卡的使用参数；基于所述使用参数确定是否更换所述转接卡。

11、其中，所述基于所述脉冲信号确定所述转接卡的使用参数的步骤，包括：响应于接收到第一脉冲信号和第二脉冲信号，则确定所述第一脉冲信号和所述第二脉冲信号的时间差是否超出所述预设范围；若所述时间差未超出所述预设范围，则确定所述待测内存以第一方式插入所述插槽，输出第一检测信号；若所述时间差未超出所述预设范围，则确定所述待测内存以第二方式插入所述插槽，输出第二检测信号；或者仅接收到所述第一脉冲信号或者仅接收到所述第二脉冲信号，则输出所述第二检测信号；第一计数器基于所述第一检测信号进行计数，第二计数器基于所述第二检测信号进行计数；基于所述第一计数器的计数结果与所述第二计数器的计数结果确定所述转接卡的使用参数；其中，所述第一检测信号表征所述待测内存正常插入所述插槽，所述第二检测信号表征所述待测内存非正常插入所述插槽。

12、本申请的有益效果，区别于现有技术的情况，本申请的测试装置在待测内存插入转接卡时，转接卡输出脉冲信号；控制模块与转接卡可拆卸连接，基于脉冲信号确定转接卡的使用参数，以及基于使用参数确定是否更换转接卡。具体的，该测试装置能够检测转接卡的使用参数，准确管理转接卡的使用，量化评估转接卡的使用寿命，提高测试装置中转接卡的寿命管理能力。

技术特征：

1.一种测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述转接卡包括：

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述传感器组包括：第一传感器和第二传感器；

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述控制模块包括：

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，响应于所述判断模块确定所述时间差未超出预设范围，则确定所述待测内存以第一方式插入所述插槽，所述判断模块输出第一检测信号；以及

6.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，响应于所述判断模块仅接收到所述第一脉冲信号或者仅接收到所述第二脉冲信号，则输出所述第二检测信号；

7.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：复位模块，所述复位模块用于在更换所述转接卡后将所述第一计数器以及所述第二计数器的技术结果清零。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：显示模块，连接所述控制模块，用于显示所述转接卡的使用参数。

9.一种测试方法，其特征在于，包括：

10.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述脉冲信号确定所述转接卡的使用参数的步骤，包括：

技术总结
本申请提供一种测试装置及测试方法，测试装置包括转接卡和控制模块；其中，转接卡用于接入待测内存，响应于待测内存插入转接卡，转接卡输出脉冲信号；控制模块与转接卡可拆卸连接，基于脉冲信号确定转接卡的使用参数，以及基于使用参数确定是否更换转接卡。具体的，该测试装置能够检测转接卡的使用参数，准确管理转接卡的使用，量化评估转接卡的使用寿命，提高测试装置中转接卡的寿命管理能力。

技术研发人员：张凯,殷鹏,宋炜哲,高旭东
受保护的技术使用者：西安紫光国芯半导体有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13