一种测试LPDDR4颗粒的系统及方法与流程

本发明涉及芯片测试，尤其是一种测试lpddr4颗粒的系统及方法。

背景技术：

1、lpddr4芯片有不同封装的颗粒，包括双通道设计与四通道设计，双通道的lpddr4颗粒有ab两个独立通道，四通道的lpddr4颗粒有abcd四个独立的通道。所有的lpddr4颗粒都需要经过测试，测试达标后才会进入下一流程。现有技术对测试lpddr4颗粒的方案及存在问题包括：其一、采用pop的贴片方式的lpddr4颗粒，不利于做成测试治具，测试治具设计难度和成本都会极大的提高，测试耗费资源大；其二、采用soc芯片测试，但现有的soc芯片一般只有2个通道的控制器，只能测试两通道，对于四通道的lpddr4颗粒无法测试。

2、因此，上述的技术问题亟待解决。

技术实现思路

1、有鉴于此，本发明实施例提供一种测试lpddr4颗粒的系统及方法，以简单高效地测试双通道和四通道的lpddr4颗粒。

2、本发明实施例的一方面提供了一种测试lpddr4颗粒的系统，包括：soc主控模块、ddr模块、电源模块以及待测试的lpddr4颗粒；

3、所述soc主控模块，与所述ddr模块连接，用于通过所述ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒发送写入指令，通过ddr模块接收写入指令对应的响应信号，根据所述响应信号确定待测试的lpddr4颗粒的测试结果；所述soc主控模块采用双通道控制器的soc芯片，所述soc主控模块的复位引脚和nc引脚分别与所述待测试的lpddr4颗粒的复位引脚连接；所述待测试的lpddr4颗粒为双通道或四通道的lpddr4颗粒，且被配置为可180度旋转；

4、所述ddr模块，用于与所述待测试的lpddr4颗粒连接；

5、所述电源模块，用于向所述soc主控模块与所述ddr模块供电。

6、可选地，所述电源模块包括pmic主电源模块与输入电源模块；

7、所述输入电源模块，与外部电源电连接，用于为所述pmic主电源模块供电；

8、所述pmic主电源模块，用于将所述输入电源模块输出的电压转换为所述soc主控模块所需的电压和所述ddr模块所需的电压。

9、可选地，所述待测的lpddr4颗粒包括四通道的366球颗粒或四通道的556球颗粒。

10、可选地，若所述待测的lpddr4颗粒为双通道的lpddr4颗粒，则所述soc主控模块的复位引脚与所述双通道的lpddr4颗粒a、b通道的第一复位引脚连接，所述soc主控模块的nc引脚与所述双通道的lpddr4颗粒a、b通道的第二复位引脚连接；

11、若所述待测的lpddr4颗粒为四通道的lpddr4颗粒，则所述soc主控模块的复位引脚与所述四通道的lpddr4颗粒a、b通道的第三复位引脚连接，所述soc主控模块的nc引脚与所述双通道的lpddr4颗粒a、b通道的第四复位引脚连接；且在所述四通道的lpddr4颗粒旋转180度后，所述soc主控模块的复位引脚与所述四通道的lpddr4颗粒c、d通道的第五复位引脚连接，所述soc主控模块的nc引脚与所述四通道的lpddr4颗粒c、d通道的第六复位引脚连接。

12、本发明实施例的另一方面还提供了一种测试lpddr4颗粒的方法，应用于上述的一种测试lpddr4颗粒的系统，包括：

13、获取对待测试的lpddr4颗粒的配置文件；

14、利用所述soc主控模块通过ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据，并通过所述ddr模块从所述待测试的lpddr4颗粒中读取与所述目标数据对应的测试数据；

15、根据所述测试数据确定所述待测试的lpddr4颗粒的测试结果。

16、可选地，所述方法还包括：

17、将所述待测试的lpddr4颗粒的测试结果发送至所述上位机。

18、可选地，所述获取对待测试的lpddr4颗粒的配置文件，包括：

19、通过soc主控模块的通信端口从上位机获取对待测试的lpddr4颗粒的配置文件。

20、可选地，所述利用所述soc主控模块通过ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据，包括以下之一：

21、利用所述soc主控模块通过所述ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据，以使所述待测试的lpddr4颗粒按照第一时间间隔刷新所述目标数据；

22、或，

23、利用所述soc主控模块按照第二时间间隔通过所述ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据；

24、或，

25、利用所述soc主控模块通过所述ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒的存储单元依次写入与所述配置文件对应的目标数据，所述目标数据为32位的数据且相邻两个数据位的数据不同；

26、或，

27、利用所述soc主控模块按照设定写入速度通过所述ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据；

28、或，

29、利用所述soc主控模块随机通过所述ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒的存储单元写入任意格式的目标数据，直至所述待测试的lpddr4颗粒的所有内存单元被写入数据。

30、可选地，所述利用所述soc主控模块通过ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据，还包括：

31、若所述待测试的lpddr4颗粒为双通道的lpddr4颗粒，则利用所述soc主控模块通过所述ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒a、b通道的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据；

32、若所述待测试的lpddr4颗粒为四通道的lpddr4颗粒，则利用所述soc主控模块通过所述ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒a、b通道的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据；当所述待测试的lpddr4颗粒a、b通道的存储单元测试完成后，利用所述soc主控模块通过所述ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒c、d通道的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据。

33、可选地，所述当所述待测试的lpddr4颗粒a、b通道的存储单元测试完成后，利用所述soc主控模块通过所述ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒c、d通道的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据，包括：

34、当所述待测试的lpddr4颗粒a、b通道的存储单元测试完成，且在所述待测试的lpddr4颗粒被旋转180度，所述soc主控模块的复位引脚与所述待测试的lpddr4颗粒c、d通道的第五复位引脚连接，所述soc主控模块的nc引脚与所述待测试的lpddr4颗粒c、d通道的第六复位引脚连接后，利用所述soc主控模块通过所述ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒c、d通道的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据。

35、本发明提供的一种测试lpddr4颗粒的系统及方法，将soc主控模块的复位引脚和nc引脚分别与待测试的lpddr4颗粒的复位引脚连接，即可实现对lpddr4颗粒的双通道测试，无需花费大量资源在设计测试平台上，简单高效；而且，针对四通道的lpddr4颗粒，可以先测试其中两个通道，然后将lpddr4颗粒参照中心点旋转180度后，再次将soc主控模块的复位引脚和nc引脚分别与待测试的lpddr4颗粒的复位引脚连接，即可实现对另外两个通道的测试，本发明既可以测试双通道也可以测试四通道的lpddr4颗粒，无需针对不同通道数的lpddr4颗粒设计不同的测试方案，提高了测试lpddr4颗粒的效率。