一种测试LPDDR4颗粒的系统及方法与流程

文档序号:34820732发布日期:2023-07-20 01:18阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种测试lpddr4颗粒的系统,其特征在于,包括:soc主控模块、ddr模块、电源模块以及待测试的lpddr4颗粒;

2.根据权利要求1所述的一种测试lpddr4颗粒的系统,其特征在于,所述电源模块包括pmic主电源模块与输入电源模块;

3.根据权利要求1所述的一种测试lpddr4颗粒的系统,其特征在于,所述待测的lpddr4颗粒包括四通道的366球颗粒或四通道的556球颗粒。

4.根据权利要求1所述的一种测试lpddr4颗粒的系统,其特征在于,

5.一种测试lpddr4颗粒的方法,其特征在于,应用于权利要求1至4任一项所述的一种测试lpddr4颗粒的系统,包括:

6.根据权利要求5所述的一种测试lpddr4颗粒的方法,其特征在于,所述方法还包括:

7.根据权利要求5所述的一种测试lpddr4颗粒的方法,其特征在于,所述获取对待测试的lpddr4颗粒的配置文件,包括:

8.根据权利要求5所述的一种测试lpddr4颗粒的方法,其特征在于,所述利用所述soc主控模块通过ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据,包括以下之一:

9.根据权利要求5所述的一种测试lpddr4颗粒的方法,其特征在于,所述利用所述soc主控模块通过ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据,还包括:

10.根据权利要求9所述的一种测试lpddr4颗粒的方法,其特征在于,所述当所述待测试的lpddr4颗粒a、b通道的存储单元测试完成后,利用所述soc主控模块通过所述ddr模块向所述待测试的lpddr4颗粒c、d通道的存储单元写入与所述配置文件对应的目标数据,包括:


技术总结
本发明公开了一种测试LPDDR4颗粒的系统及方法,系统包括:双通道的SOC主控模块,用于向待测试的LPDDR4颗粒发送写入指令,通过DDR模块接收写入指令对应的响应信号,根据响应信号确定待测试的LPDDR4颗粒的测试结果;SOC主控模块的复位引脚和NC引脚分别与待测试的LPDDR4颗粒的复位引脚连接;待测试的LPDDR4颗粒为双通道或四通道的LPDDR4颗粒,且被配置为可180度旋转;DDR模块,用于与待测试的LPDDR4颗粒连接;电源模块,用于向SOC主控模块与DDR模块供电。本发明可以简单高效地测试双通道和四通道的LPDDR4颗粒,可广泛应用于芯片测试技术领域。

技术研发人员:谢登煌,卢浩,黄哲
受保护的技术使用者:深圳市晶存科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/13
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