一种固态硬盘检查方法、装置及电子设备和存储介质与流程

本技术涉及计算机，更具体地说，涉及一种固态硬盘检查方法、装置及电子设备和存储介质。

背景技术：

1、随着国内互联网相关产业的快速发展，人工智能、云存储、分布式存储等相关产业也快速的发展与壮大，对存储设备的需求量也在井喷式发展。固态硬盘(solid statedrive，ssd)作为高效的存储设备，具有速度快、防震、耗电量较少等优势，被视为取代传统式硬盘的磁盘存储设备。企业客户还对产品包含使用寿命、稳定可靠、功耗控制、系统兼容、数据纠错、数据保存能力在内的多方面性能提出了严格的要求。

2、为了提高性能，ssd产品在研发过程中尽快适配最新代的存储介质，但是，最新代的往往处于正处于研发阶段，只能提供工厂样品(engineering sample，es)，而工厂样品往往性能不稳定，需要在固态硬盘的研发过程中判断发生读错误问题是代码固件导致的还是由于存储介质芯片本身导致的。

3、因此，如何检测固件硬盘中读错误的原因是本领域技术人员需要解决的技术问题。

技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种固态硬盘检查方法、装置及电子设备和存储介质，实现了对固件硬盘中读错误原因的检查。

2、为实现上述目的，本技术提供了一种固态硬盘检查方法，包括：

3、对固态硬盘执行全盘写操作和全盘读操作；其中，所述固态硬盘包括多个通道，每个所述通道包含多个芯片使能信号；

4、获取所述全盘读操作返回的多个比特错误率，并统计不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况；

5、根据不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况对所述固态硬盘中的存储介质芯片进行检查。

6、其中，所述获取所述全盘读操作返回的多个比特错误率之前，还包括：

7、初始化三维数组变量；其中，所述三维数组变量的第一维度对应所述固态硬盘的通道，第二维度对应所述通道的芯片使能信号，第三维度对应所述比特错误率的数值范围，所述比特错误率被划分为不重叠的多个数值范围；

8、相应的，所述获取所述全盘读操作返回的多个比特错误率，包括：

9、当接收到读操作的完成消息之后，获取所述读操作对应的通道、芯片使能信号和所述读操作的比特错误率；其中，所述全盘读操作包括多个所述读操作；

10、根据所述读操作对应的通道、芯片使能信号、所述读操作的比特错误率所属的数值范围更新所述三维数组变量。

11、其中，所述统计不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况，包括：

12、遍历所述三维数组变量，统计不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率在不同数值范围的次数。

13、其中，所述根据不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况对所述固态硬盘中的存储介质芯片进行检查，包括：

14、若所述通道、所述芯片使能信号对应的比特错误率在第一数值范围的次数占所述通道、所述芯片使能信号对应的比特错误率总数量的比例小于第一预设值，则判定所述固态硬盘中的存储介质芯片存在问题；其中，所述第一数值范围包含的数值的均值在所有所述数值范围中最小。

15、其中，所述根据不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况对所述固态硬盘中的存储介质芯片进行检查，包括：

16、若所述通道、所述芯片使能信号对应的比特错误率在第二数值范围的次数占所述通道、所述芯片使能信号对应的比特错误率总数量的比例大于第二预设值，则判定所述固态硬盘中的存储介质芯片存在问题；其中，所述第二数值范围为除第一数值范围之外的数值范围，所述第一数值范围包含的数值的均值在所有所述数值范围中最小。

17、其中，所述对固态硬盘执行全盘写操作和全盘读操作，包括：

18、对工厂样品阶段的固态硬盘执行全盘写操作和全盘读操作；

19、相应的，所述获取所述全盘读操作返回的多个比特错误率，并统计不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况，包括：

20、获取所述工厂样品阶段的固态硬盘的全盘读操作返回的多个比特错误率，并统计所述工厂样品阶段的固态硬盘的不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况；

21、相应的，所述根据不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况对所述固态硬盘中的存储介质芯片进行检查之前，还包括：

22、对标准固态硬盘执行全盘写操作和全盘读操作，获取所述标准固态硬盘的全盘读操作返回的多个比特错误率，并统计所述标准固态硬盘的不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况；

23、相应的，所述根据不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况对所述固态硬盘中的存储介质芯片进行检查，包括：

24、通过对比所述工厂样品阶段的固态硬盘和所述标准固态硬盘分别对应的相同通道的相同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况，对所述工厂样品阶段的固态硬盘中的存储介质芯片进行检查。

25、其中，所述统计所述工厂样品阶段的固态硬盘的不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况，包括：

26、统计所述工厂样品阶段的固态硬盘的不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率在不同数值范围的次数，以拟合第一分布曲线；

27、相应的，所述统计所述标准固态硬盘的不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况，包括：

28、统计所述标准固态硬盘的不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率在不同数值范围的次数，以拟合第二分布曲线；

29、相应的，所述通过对比所述工厂样品阶段的固态硬盘和所述标准固态硬盘分别对应的相同通道的相同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况，对所述工厂样品阶段的固态硬盘中的存储介质芯片进行检查，包括：

30、对比所述第一分布曲线与所述第二分布曲线，若所述第一分布曲线与所述第二分布曲线之间的相似度大于预设相似度，则判定所述工厂样品阶段的固态硬盘中的存储介质芯片存在问题。

31、为实现上述目的，本技术提供了一种固态硬盘检查装置，包括：

32、执行模块，用于对固态硬盘执行全盘写操作和全盘读操作；其中，所述固态硬盘包括多个通道，每个所述通道包含多个芯片使能信号；

33、第一统计模块，用于获取所述全盘读操作返回的多个比特错误率，并统计不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况；

34、检查模块，用于根据不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况对所述固态硬盘中的存储介质芯片进行检查。

35、其中，还包括：

36、初始化模块，用于初始化三维数组变量；其中，所述三维数组变量的第一维度对应所述固态硬盘的通道，第二维度对应所述通道的芯片使能信号，第三维度对应所述比特错误率的数值范围，所述比特错误率被划分为不重叠的多个数值范围；

37、相应的，所述第一统计模块具体用于：当接收到读操作的完成消息之后，获取所述读操作对应的通道、芯片使能信号和所述读操作的比特错误率；其中，所述全盘读操作包括多个所述读操作；根据所述读操作对应的通道、芯片使能信号、所述读操作的比特错误率所属的数值范围更新所述三维数组变量；遍历所述三维数组变量，统计不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率在不同数值范围的次数。

38、其中，所述检查模块具体用于：若所述通道、所述芯片使能信号对应的比特错误率在第一数值范围的次数占所述通道、所述芯片使能信号对应的比特错误率总数量的比例小于第一预设值，则判定所述固态硬盘中的存储介质芯片存在问题；其中，所述第一数值范围包含的数值的均值在所有所述数值范围中最小。

39、其中，所述检查模块具体用于：若所述通道、所述芯片使能信号对应的比特错误率在第二数值范围的次数占所述通道、所述芯片使能信号对应的比特错误率总数量的比例大于第二预设值，则判定所述固态硬盘中的存储介质芯片存在问题；其中，所述第二数值范围为除第一数值范围之外的数值范围，所述第一数值范围包含的数值的均值在所有所述数值范围中最小。

40、其中，所述执行模块具体用于：对工厂样品阶段的固态硬盘执行全盘写操作和全盘读操作；

41、相应的，所述第一统计模块具体用于：获取所述工厂样品阶段的固态硬盘的全盘读操作返回的多个比特错误率，并统计所述工厂样品阶段的固态硬盘的不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况；

42、相应的，还包括：

43、第二统计模块，用于对标准固态硬盘执行全盘写操作和全盘读操作，获取所述标准固态硬盘的全盘读操作返回的多个比特错误率，并统计所述标准固态硬盘的不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况；

44、相应的，所述检查模块具体用于：通过对比所述工厂样品阶段的固态硬盘和所述标准固态硬盘分别对应的相同通道的相同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况，对所述工厂样品阶段的固态硬盘中的存储介质芯片进行检查。

45、其中，所述第一统计模块具体用于：统计所述工厂样品阶段的固态硬盘的不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率在不同数值范围的次数，以拟合第一分布曲线；

46、相应的，所述第二统计模块具体用于：统计所述标准固态硬盘的不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率在不同数值范围的次数，以拟合第二分布曲线；

47、相应的，所述检查模块具体用于：对比所述第一分布曲线与所述第二分布曲线，若所述第一分布曲线与所述第二分布曲线之间的相似度大于预设相似度，则判定所述工厂样品阶段的固态硬盘中的存储介质芯片存在问题。

48、为实现上述目的，本技术提供了一种电子设备，包括：

49、存储器，用于存储计算机程序；

50、处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述固态硬盘检查方法的步骤。

51、为实现上述目的，本技术提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述固态硬盘检查方法的步骤。

52、通过以上方案可知，本技术提供的一种固态硬盘检查方法，包括：对固态硬盘执行全盘写操作和全盘读操作；其中，所述固态硬盘包括多个通道，每个所述通道包含多个芯片使能信号；获取所述全盘读操作返回的多个比特错误率，并统计不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况；根据不同通道的不同芯片使能信号对应的比特错误率的分布情况对所述固态硬盘中的存储介质芯片进行检查。

53、本技术提供的固态硬盘检查方法，检查固态硬盘全盘写操作、全盘读操作测试过程中读状态返回的比特错误率，通过比特错误率的分布情况对固态硬盘中的存储介质芯片进行检查，判断读错误是否与存储介质芯片本身有关。由此可见，本技术提供的固态硬盘检查方法，实现了对固件硬盘中读错误原因的检查。本技术还公开了一种固态硬盘检查装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质，同样能实现上述技术效果。

54、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本技术。