注错测试系统、注错测试方法及相关装置与流程

本申请涉及存储设备应用领域，特别是涉及一种注错测试系统、注错测试方法及相关装置。

背景技术：

1、掉电非易失性设备，例如：闪存设备，是用于存储数据的掉电非易失性设备。闪存(nand flash)是闪存设备的主要存储介质，由于闪存自身特性或者软件逻辑缺陷，闪存设备在使用过程中会出现擦除错误、编程错误等错误，每种错误对应不同的处理流程。

2、由于闪存设备在正常使用过程中，很难触发到擦除错误和编程错误，无法快速验证每种错误处理流程的有效性和稳定性，因此，需要分别对闪存设备的擦除错误处理流程和编程错误处理流程进行主动验证。目前，通常采用老化测试触发错误，从而对各种错误处理流程进行主动验证。

3、在实现本申请过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：现有技术依赖长期的老化测试，需要进行批量规模测试才能稳定产生错误，耗时长。

技术实现思路

1、本申请实施例提供一种注错测试系统、注错测试方法及相关装置，以根据需求灵活注入擦除错误或编程错误，并且无需批量规模测试就能稳定产生错误，从而提高注入擦除错误或编程错误的效率。

2、本申请实施例提供以下技术方案：

3、第一方面，本申请实施例提供一种注错测试系统，该注错测试系统应用于掉电非易失性设备，该注错测试系统包括注错信息处理系统，注错信息处理系统用于根据注错信息向掉电非易失性设备注入擦除错误或编程错误，注错信息处理系统包括主处理器和协处理器；

4、主处理器用于根据注错信息中的命令错误类型，配置第一命令结构体中的错误类型标记位，并将第一命令结构体传输至协处理器；

5、协处理器用于接收第一命令结构体，并根据错误类型标记位更改操作状态中的第一标记位，或者更改闪存就绪状态中的就绪标志，以生成相应类型的擦除错误或编程错误，其中，操作状态包括写入状态或擦除状态。

6、第二方面，本申请实施例提供一种存储控制芯片，包括：

7、如第一方面的注错测试系统。

8、第三方面，本申请实施例提供一种掉电非易失性设备，包括：

9、如第二方面的存储控制芯片；

10、至少一个掉电非易失性介质，与存储控制芯片通信连接。

11、第四方面，本申请实施例提供一种注错测试方法，应用于第三方面的掉电非易失性设备，该注错测试方法包括：

12、根据注错信息中的命令错误类型，配置第一命令结构体中的错误类型标记位，其中，命令错误类型包括编程失败错误、编程超时错误、擦除失败错误或擦除超时错误；

13、根据错误类型标记位更改操作状态中的第一标记位，或者更改闪存就绪状态中的就绪标志，以生成相应类型的擦除错误或编程错误，其中，编程错误包括编程失败错误或编程超时错误，擦除错误包括擦除失败错误或擦除超时错误。

14、第五方面，本申请实施例还提供了一种非易失性计算机可读存储介质，非易失性计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令用于使掉电非易失性设备能够执行第四方面的注错测试方法。

15、本申请实施例的有益效果是：区别于现有技术的情况下，本申请实施例提供一种注错测试系统，该注错测试系统应用于掉电非易失性设备，该注错测试系统包括注错信息处理系统，注错信息处理系统用于根据注错信息向掉电非易失性设备注入擦除错误或编程错误，注错信息处理系统包括主处理器和协处理器；主处理器用于根据注错信息中的命令错误类型，配置第一命令结构体中的错误类型标记位，并将第一命令结构体传输至协处理器；协处理器用于接收第一命令结构体，根据错误类型标记位更改操作状态中的第一标记位，或者更改闪存就绪状态中的就绪标志，以生成相应类型的擦除错误或编程错误，其中，操作状态包括写入状态或擦除状态。

16、通过注错信息处理系统包括主处理器和协处理器，主处理器用于根据注错信息中的命令错误类型，配置第一命令结构体中的错误类型标记位，协处理器用于根据错误类型标记位更改操作状态中的第一标记位，或者更改闪存状态中的就绪标志，以生成相应类型的擦除错误或编程错误，本申请能够根据需求灵活注入擦除错误或编程错误，并且无需批量规模测试就能稳定产生错误，从而提高注入擦除错误或编程错误的效率。

技术特征：

1.一种注错测试系统，其特征在于，所述注错测试系统应用于掉电非易失性设备，所述注错测试系统包括注错信息处理系统，所述注错信息处理系统用于根据注错信息向掉电非易失性设备注入擦除错误或编程错误，所述注错信息处理系统包括主处理器和协处理器；

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述编程错误与所述命令错误类型均包括编程失败错误或编程超时错误，所述错误类型标记位包括编程失败错误的标记位或超时标记位；

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述第一标记位包括编程失败标记位；

4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述擦除错误与所述命令错误类型均包括擦除失败错误或擦除超时错误，所述错误类型标记位包括擦除失败错误的标记位或超时标记位；

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述第一标记位包括擦除失败标记位；

7.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，

8.根据权利要求1-7任一项所述的系统，其特征在于，所述注错测试系统还包括注错信息存储系统和注错信息传输系统，其中，

9.一种存储控制芯片，其特征在于，包括：

10.一种掉电非易失性设备，其特征在于，包括：

11.一种注错测试方法，其特征在于，应用于权利要求10所述的掉电非易失性设备，所述方法包括：

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述操作状态包括写入状态或擦除状态，所述错误类型标记位包括编程失败错误的标记位、擦除失败错误的标记位或超时标记位，所述第一标记位包括编程失败标记位或擦除失败标记位；

技术总结
本申请实施例涉及存储设备应用领域，公开了一种注错测试系统、注错测试方法及相关装置，注错测试系统包括注错信息处理系统，注错信息处理系统包括主处理器和协处理器，通过主处理器用于根据注错信息中的命令错误类型，配置第一命令结构体中的错误类型标记位，并将第一命令结构体传输至协处理器，协处理器用于接收第一命令结构体，根据错误类型标记位更改操作状态中的第一标记位，或者更改闪存就绪状态中的就绪标志，以生成相应类型的擦除错误或编程错误，本申请能够根据需求灵活注入擦除错误或编程错误，并且无需批量规模测试就能稳定产生错误，从而提高注入擦除错误或编程错误的效率。

技术研发人员：林创龙,张文刚
受保护的技术使用者：深圳大普微电子股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/24