专利名称：光检取驱动装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光检取驱动装置，并且具体地涉及一种改进型的光检取装置，通过装备产生驱动物镜的驱动力的精细构形的跟踪线圈和精细构形的聚焦线圈，这种装置可以简化跟踪线圈及聚焦线圈的结构并且能够更容易地装配该系统。
参见
图1和图2，常规的光检取驱动装置包括一个物镜架1和一块印刷电路板(PCB)5，物镜架1包围着物镜6用于支承物镜6，而印刷电路板5安装在物镜架1的一侧上。
参见图4A，绕物镜架1的外表面缠绕着具有一定高度的一个聚焦线圈2。
此外，如图2和图3A中所示，分别在聚焦线圈2的左侧表面和右侧表面上安装多个蜗形跟踪线圈3。
聚焦线圈2和跟踪线圈3电连接到PCB5的预定部分上，以实现它们之间的电气互连。
同时，在物镜架1里形成多个矩形插入凹槽1a，每个矩形插入凹槽从物镜架1的顶表面上一直延伸到物镜架的底表面上。
另外，如图2中所示，构造多个矩形支脚9a，并把各个支脚9a插入到物镜架1的插入槽1a中。并且在左侧支脚9a和9b之间以及在右侧支脚9a和9b之间装设多个磁轭9，各个磁轭具有一个永久磁铁4，永久磁铁4用于与聚焦线圈2和跟踪线圈3协同来产生一定的磁力。
物镜架1包括在其中插着支脚9a的多个插入凹槽1a，绕物镜架1缠绕着带有跟踪线圈3的聚焦线圈2。
在附图中，参考数字7代表和物镜架1连接的导线弹簧。
如图3B中所示，当向跟踪线圈3提供电流时，因为常规光检取装置的永久磁铁4和跟踪线圈3目的是产生一定的磁场，根据Fleming左手理论(F＝B×I×L)光驱动装置在与左侧和右侧方向磁力一致的跟踪方向上被驱动。
在图3B中，参考字符“B”代表磁场的方向，参考字符“F”代表磁力的方向。
此外，当把电流施加到聚焦线圈2上时，由于根据Fleming左手理论(F＝B×I×L)的磁力沿向上和向下的方向驱动光检取驱动装置。
在图4B中，参考字符“B”代表磁场的方向，而参考字符“F”代表磁力的方向。
但是，常规的光检取驱动装置具有这样的缺点，即为了向聚焦线圈和跟踪线圈施加电压必须添加用来电连接聚焦线圈和跟踪线圈的一块印刷电路板。另外还需要绕线装置，以便把聚焦线圈缠绕在物镜架的外表面上并且用于形成跟踪线圈。同时另外还需要装配装置。这样增大了产品的生产成本。
此外，在制造聚焦线圈和跟踪线圈时，因为聚焦线圈和跟踪线圈是在机械过程中人工装配的，会出现制造误差，从而降低了光检取驱动装置的性能。
因此，本发明的一个目的是提供一种克服常规光检取装置所遇问题的光检取驱动装置。
本发明的另一目的是提供一种改进型的光检取装置，这种改进型的装置借助装备可产生驱动力以驱动物镜的精细构形的跟踪线圈和精细构形的聚焦线圈，该装置可以简化跟踪线圈以及聚焦线圈的结构并且可以更容易地装配该系统。
为了达到上述目的，提供了一种光检取装置。这种装置包括用于聚光的物镜；用于支承物镜的物镜架；与物镜架啮合并具有一块永久磁铁的磁轭以及一个精细构形的线圈，该线圈备有精细构形的跟踪部分和精细构形的聚焦部分，该线圈和物镜架啮合。并且和该永久磁铁一起构造磁路。
图1是一个透视图，表示常规光检取驱动装置。
图2是一个分解透视图，表示常规光检取驱动装置。
图3A是常规跟踪线圈的透视图。
图3B是表示常规跟踪线圈的平面图，以显示由跟踪线圈发生的磁场方向和磁力方向。
图4A是常规聚焦线圈的透视图。
图4B是表示常规聚焦线圈的平面图，以显示由聚焦线圈发生的磁场方向和磁力方向。
图5是一个图，表示根据本发明的第一实施方式的光检取驱动装置里采用的精细构形的线圈。
图6是一个透视图，表示根据本发明的第一实施方式的光检取驱动装置。
图7A是一个图，表示在光检取驱动装置中所采用的精细构形的线圈，以显示根据本发明的第一实施方式的运行状态。
图7B是一个图，表示在一种光检取驱动装置中所采用的精细构形的聚焦线圈，以显示根据本发明的第一实施方式的运行状态。
图7C是一个图，表示在一种光检取驱动装置中所采用的精细构形的跟踪线圈，以显示根据本发明的第一实施方式的运行状态。
图8是一个图，表示在根据本发明的第二实施方式的一种光检取驱动装置中采用的精细构形的线圈。
图9是一个透视图，表示在根据本发明的第二实施方式的一种光检取驱动装置中采用的精细构形的线圈。
图10A是一个图，表示在一种光检取驱动装置中采用的精细构形线圈，以显示根据本发明的第二实施方式的运行状态。
图10B是一个图，表示在一种光检取驱动装置中采用的精细构形聚焦线圈，以显示根据本发明的第二实施方式的运行状态。
图10C是一个图，表示在一种光检取驱动装置中采用的精细构形跟踪线圈，以显示根据本发明的第二实施方式的运行状态。
根据本发明的光检取驱动装置基本目的是把聚焦线圈和跟踪线圈整体形成为一个精细构形的线圈，从而有可能在该精细构形的线圈的协同下进行跟踪和聚焦。
因为除了精细构形的线圈的结构之外本光检取驱动装置的结构和常规光检取驱动装置的结构是相同的，仅将说明不同的结构。
首先，如图5和图6中所示，在一个精细构形线圈110上整体形成根据本发明的第一实施方式的光检取驱动装置的聚焦线圈和跟踪线圈。
精细构形线圈110的造型象一个具有一定宽度的带子，并且当折叠它时形成上部和下部开口的矩形盒。
也就是说，当沿着折叠线111折叠精细构形线圈110时，在带状精细构形线圈110的相同表面上形成精细构形跟踪部分109和精细构形聚焦部分104。更详细地，在其两个表面上形成精细构形跟踪部分109和精细构形聚焦部分104。另外，在剩余的两个表面上形成多个焊接部分112并且把它们焊接到物镜架105的预定部分上。
精细构形聚焦部分104是用一对彼此隔开的三角形模式形成的，以便在向上和向下的方向上有效地控制聚焦操作。精细构形跟踪部分109是用一对彼此隔开的三角形模式形成的，以便在向左和向右的方向上有效地控制跟踪操作。因此，精细构形聚焦部分104和精细构形跟踪部分109是矩形的。
在精细构形线圈110的同一平面上形成精细构形跟踪部分109和精细构形聚焦部分104，该精细构形线圈110是和安装在磁轭119两端上的永久磁铁114隔开的，使得与精细构形线圈110协同产生一定的磁场。
在附图中，参考数106a代表在物镜架上形成的插入凹槽，113代表电流的方向，106代表物镜，而107代表导线弹簧。
同时，图8表示根据本发明的第二实施方式的一种光检取驱动装置，其包括精细构形跟踪部分211和精细构形聚焦部分212，精细构形跟踪部分211啮合在物镜架205的外表面上并且形成在物镜架205的两侧上使得与永久磁铁214协同产生一定的磁场，精细构形聚焦部分212形成在物镜架205的左侧和右侧表面的中心部分上。
在附图中，参考数206a代表形成在物镜架上的插入凹槽，而111代表折叠线111。
如上面所述并参考图7A和图10A，可以仅利用精细构形部分109或精细构形部分211中的一种达到跟踪和聚焦，实现跟踪和聚焦正是根据本发明的第一和第二实施方式的目的。
由精细构形跟踪部分109及211和由精细构形聚焦部分104及212产生的力根据Fleming的左手理论(F＝B×I×L)驱动物镜106和206。
更详细地，图7B表示电流供应方向113之间的组合力的方向，该组合力用于对与永久磁铁114和214相隔开的精细构形线圈110的精细构形聚焦部分104进行聚焦，使得根据其电流形成适当的磁场和聚焦方向。
此外，图7C表示电流供应方向113之间的组合力的方向，该组合力用于对与永久磁铁114相隔开的精细构形线圈110的精细构形跟踪部分109进行跟踪，使得根据其电流形成适当的磁场的跟踪方向。
在图10B中，参考字符“B”代表根据本发明的第二实施方式的精细构形聚焦线圈104的磁场的方向，而“F”代表聚焦力的方向。此外，在图10C中，参考字符“B”代表根据本发明的第二实施方式的精细构形跟踪线圈109的磁场的方向，而“F”代表跟踪力的方向。
如上面所述，根据本发明的光检取驱动装置目的是在同一平面上整体地提供聚焦线圈和跟踪线圈，从而不再需要跟踪线圈和聚焦线圈的互连过程。
另外，有可能减少装配过程的次数，并且和现有技术相比产品有可能更薄。并且有可能减少加工误差，从而可以提高光检取驱动装置的性能。
尽管本发明的最佳实施方式是按示意的目的公开的，熟练的技术人员可以理解在不违背附属权利要求书中所说明的范围和精神的前提下各种修改、增添及删减是可能的。
权利要求
1.一种光检取驱动装置，包括一个聚光的物镜；一个用于支承所述物镜的物镜架；一个和所述物镜架啮合并具有一个永久磁铁的磁轭；以及一个带有精细构形跟踪部分和精细构形聚焦部分的精细构形的线圈，该线圈啮合到该物镜架并且和所述永久磁铁一起构成磁路。
2.权利要求1的装置，其中该精细构形线圈的所述精细构形聚焦部分和所述精细构形跟踪部分是彼此分隔开的并且是相互相对形成的。
3.权利要求1的装置，其中该精细构形线圈的所述精细构形聚焦部分和所述精细构形跟踪部分是三角形。
4.权利要求1的装置，其中所述精细构形线圈包括在该物镜架的中心部分上安装的一个聚焦线圈，并包括沿该精细构形聚焦部分的两侧形成的一个精细构形的跟踪部分。
全文摘要
一种改进型的光检取装置，通过装备产生驱动物镜的驱动力的精细构形的跟踪线圈及聚焦线圈，这种装置可以简化跟踪线圈及聚焦线圈的结构并且可以更容易地装配该系统。该装置包括聚光的物镜；支承该物镜的物镜架；与该物镜架相啮合并且具有一个永久磁铁的磁轭；以及带有精细构形跟踪部分和精细构形聚焦部分的精细构形线圈，该线圈和物镜架啮合并且和永久磁铁一起构成磁路。
文档编号G11B7/135GK1159050SQ9610422
公开日1997年9月10日 申请日期1996年3月1日 优先权日1996年3月1日
发明者崔仁好, 朴镐万 申请人:Lg电子株式会社